「Probe method」を含む例文一覧(3948)
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プローブカード用セラミック基板及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD
プローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡 - 特許庁 - MACHINING DEVICE AND METHOD WITH SCANNING-TYPE PROBE
走査型プローブによる加工装置及び加工方法 - 特許庁 - DOUBLE ELASTIC MECHANISM PROBE CARD AND ITS METHOD FOR MANUFACTURING
二重弾性機構プローブカードとその製造方法 - 特許庁 - POSITIONING AND TRACKING MECHANISM OF PROBE AND METHOD THEREFOR
プローブの位置決め及びトラッキング機構とその方法 - 特許庁 - STYLUS PRESSURE ADJUSTMENT PROBE CARD, STYLUS PRESSURE ADJUSTMENT METHOD FOR PROBE STYLUS, AND CHARACTERISTICS INSPECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
針圧調整用プローブカード、プローブ針の針圧調整方法および半導体装置の特性検査方法 - 特許庁 - CAPILLARY ELECTROPHORESIS PROBE AND METHOD USING THE SAME
毛管電気泳動プローブ及びそれを用いる方法 - 特許庁 - SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD
走査型プローブ顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME
走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁 - QUALITY CONTROL METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡による品質管理方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR SOCKET AND METHOD OF REPLACING ITS PROBE
半導体ソケットおよび該ソケットのプローブ交換方法 - 特許庁 - TEST PROBE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE AND TEST METHOD
半導体パッケージのテスト用プローブ及びテスト方法 - 特許庁 - SIGNAL-PROCESSING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
信号処理方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER MANAGEMENT METHOD
走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法 - 特許庁 - METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁 - GEOLOGICAL AGE MEASURING METHOD BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER
電子プローブマイクロアナライザによる地質年代測定法 - 特許庁 - WAFER TEST SYSTEM, PROBER, WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD
ウエハテストシステム、プローバ、ウエハテスト方法及びプローブカード - 特許庁 - EXCITATION METHOD OF CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE METHOD
走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法ならびにその方法による走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING RHODANESE, PROBE AND KIT THEREFOR
ロダネーゼの測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁 - CONTINUITY TEST METHOD, AND PROBE UNIT USED THEREFOR
導通試験方法及びそれに用いるプローブユニット - 特許庁 - SCANNING PROBE MIROSCOPE AND MEASURING METHOD THEREOF
走査型プロ−ブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING POSITION OF PROBE BEADS OF CAPILLARY BEAD ARRAY
キャピラリビーズアレイのプローブビーズの位置検出方法 - 特許庁 - PROBE COVER FOR EAR THERMOMETER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
耳式体温計プローブカバー及びその製造方法 - 特許庁 - PROBE NEEDLE WITH INSULATING COATING, AND ITS MANUFACTURING METHOD
絶縁被膜付きプローブ針及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING STYLUS TYPE PROBE MECHANISM
触針式プローブ機構の制御方法及び装置 - 特許庁 - PROBE VOID CONTROL METHOD AND RECORDING/ REPRODUCING DEVICE
探針空隙制御方法、及び、記録再生装置 - 特許庁 - PROBE FOR FREEZING TREATMENT AND METHOD FOR FREEZING TREATMENT
凍結治療用プローブ及び凍結治療方法 - 特許庁 - PROBE HOLDER, METHOD AND APPARATUS FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION
探触子ホルダー、超音波探傷方法及び装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR OBSERVATING SAMPLE
走査探針顕微鏡および試料観察方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD
近接場光学用プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - DIVIDED RESISTOR PROBE CHIP STRUCTURE AND MEASURING METHOD
分割抵抗器プローブチップ構造及び測定方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
渦電流探傷プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - ATOM PROBE DEVICE AND SAMPLE PRE-PROCESSING METHOD THEREOF
アトムプローブ装置及びその試料予備加工方法 - 特許庁 - PROBE APPROACHING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
プローブのアプローチ方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - UNIVERSAL PROBE AND METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID
核酸検出のための万能プローブおよび方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING PROBE MARK
プローブ痕測定方法およびプローブ痕測定装置 - 特許庁 - PROBE AND METHOD FOR INSPECTING EDDY CURRENT FLAW
渦流探傷用プローブ及び渦流探傷方法 - 特許庁 - PLUNGER FOR CONTACT PROBE PIN, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
コンタクトプローブピン用プランジャー及びその製造方法 - 特許庁 - MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE
マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe chip capable of forming the probe chip without using a die for a probe.
プローブ用金型を用いることなくプローブチップを形成することができるプローブチップの製造方法を提供すること - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND DETECTION METHOD OF BIOLOGICAL RELEVANT SUBSTANCE USING THEM
走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用探針とそれらを用いた生体関連物質の検出方法 - 特許庁 - PROBE SOLUTION CONTAINING TAG MOLECULE FOR DETERMINING KIND OF PROBE AND METHOD FOR DETERMINING KIND OF PROBE USING THE TAG MOLECULE
プローブ種類の判別用タグ分子を添加したプローブ溶液および該タグ分子を利用したプローブ種類の判別方法 - 特許庁 - To provide a probe position error detecting method of a data storage system utilizing a probe, and a probe position error detecting apparatus.
プローブを利用したデータ保存システムのプローブ位置誤差検出方法及びプローブ位置誤差検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a high-accuracy probe card which is easy in repairing a probe unit, when mounting the probe unit on a substrate, and to provide a method of manufacturing the probe card.
プローブユニットを基板に搭載する際に、プローブユニットを簡単にリペア可能で、高精度のプローブカードおよびプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a multichip probe card of a structure that a local crowding of probes is avoided, the repair of the probe card and the maintenance of the probe card are easy and the reliability of the probe card is high, and to provide a chip region sorting method using the probe card.
探針の局所的な密集を避け、修理、メンテナンスも容易で高信頼性の多数個取りのプローブカード及びを用いたチップ領域ソート方法を提供する。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE DIAGNOSTIC DEVICE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND ULTRASONIC PROBE DIAGNOSTIC METHOD
超音波プローブ診断装置、超音波診断装置および超音波プローブ診断方法 - 特許庁 - METHOD FOR BRINGING PROBE PIN INTO CONTACT IN CHARACTERISTICS TEST, PROBE HEAD, AND CHARACTERISTICS INSPECTION DEVICE
特性検査におけるプローブピンの接触方法、並びにプローブヘッド、および特性検査装置 - 特許庁 - MOUNTING METHOD FOR PROBE CARD, AND PROBE CARD TRANSFERRING AND LOADING ASSISTING DEVICE USED THEREFOR
プローブカードの装着方法及びこの方法に用いられるプローブカード移載補助装置 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING MEMS PROBE AVAILABLE FOR PROBE CARD TO REUSABLE SUBSTRATE
プローブカードに応用するための再利用可能な基板上へのＭＥＭＳプローブの製造方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, INSERTION TYPE PROBE AND EDDY CURRENT FLAW DETECTOR USING INSERTION TYPE PROBE
渦流探傷方法、挿入型プローブ該挿入型プローブを用いた渦流探傷装置 - 特許庁
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