「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 17 18 19 20 21 22 23 24 25 .... 78 79 次へ＞- PROBE WITH MINUTE PROTRUSION AND ITS MANUFACTURING METHOD
微小突起を有するプローブ、及びその製造方法 - 特許庁 - GENE MANIPULATION METHOD USING SPIN PROBE AND DEVICE THEREFOR
スピンプローブによる遺伝子操作方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER AND APPARATUS USED THEREIN
プローブ担体の製造方法及びそれに用いる装置 - 特許庁 - OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL HEAD
光プローブおよびその製造方法ならびに光ヘッド - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE CARD FOR ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION
電子部品検査用コンタクトプローブカードの製造方法 - 特許庁 - OPTICAL FIBER PROBE, INSPECTION METHOD AND EQUIPMENT
光ファイバープローブおよび検査方法および検査装置 - 特許庁 - PROBE CARRIER, ITS PRODUCING SYSTEM AND PRODUCING METHOD
プローブ担体、その製造装置およびその製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING TEST SUBSTANCE USING NUCLEIC ACID PROBE
核酸プローブを用いる被検物質の検出方法 - 特許庁 - PROBE CARD AND METHOD OF DESIGNING AND TESTING THE SAME
プローブカード、プローブカードの設計方法及びテスト方法 - 特許庁 - PHASED ARRAY PROBE AND METHOD FOR DETERMINING SPECIFICATION OF THE SAME
フェイズドアレイ探触子及びその仕様決定方法 - 特許庁 - SURFACE SHAPE MEASUREMENT PROBE AND CALIBRATION METHOD THEREOF
表面形状測定プローブおよびその校正方法 - 特許庁 - PACKING CONTAINER, METHOD OF PACKING OPTICAL PROBE, LASER SYSTEM, AND CHECKING METHOD
梱包容器、光プローブの梱包方法、レーザ装置及びチェック方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD, MANUFACTURING EQUIPMENT AND QUALITY GUARANTEE METHOD FOR PROBE CARRIER
プローブ担体の製造方法、製造装置及び品質保証方法 - 特許庁 - CAPTURE METHOD OF MICROPARTICLE, ARRANGEMENT METHOD THEREOF, AND PROBE USED FOR THE SAME
微粒子の捕獲方法、配置方法及びこれに使用するプローブ - 特許庁 - DETERIORATION CORRECTION METHOD OF ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC INSPECTION METHOD
超音波プローブの劣化補正方法および超音波検査方法 - 特許庁 - To provide an array probe and an array probe device in which crosstalk can be suppressed, and to provide a method of manufacturing the array probe.
クロストークを抑制することのできるアレイ探触子、アレイ探触子デバイス、およびアレイ探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card from which a probe substrate can be easily removed when a probe is repaired and to provide a method for manufacturing the same.
プローブを修復する際に、プローブ基板を容易に取り外すことができるプローブカード及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DESIGNING PROBE NUCLEIC ACID SEQUENCE, PROBE NUCLEIC ACID, DETECTION SURFACE, PROGRAM, INFORMATION-MEMORIZING MEDIUM, AND SYSTEM FOR DESIGNING PROBE NUCLEIC ACID
プローブ核酸配列設計方法、プローブ核酸、検出表面、プログラム、情報記憶媒体、並びにプローブ核酸設計システム - 特許庁 - METHOD AND COMPOSITION TO GENERATE UNIQUE SEQUENCE DNA PROBE, LABELING OF DNA PROBE, AND USE OF THE PROBE
ユニーク配列のＤＮＡプローブを作製するための方法および組成物、ＤＮＡプローブの標識、ならびにこれらプローブの使用 - 特許庁 - To provide a method for selecting a probe having a further high specificity as the probe for a probe-immobilized carrier such as a microarray, etc.
マイクロアレイ等のプローブ固定担体のプローブとして、より一層特異性の高いプローブを選択する方法を提供すること。 - 特許庁 - DATA PROCESSING SYSTEM OF PROBE TRAFFIC INFORMATION, DATA PROCESSOR OF PROBE TRAFFIC INFORMATION, AND DATA PROCESSING METHOD OF PROBE TRAFFIC INFORMATION
プローブ交通情報のデータ処理システム、プローブ交通情報のデータ処理装置、およびプローブ交通情報のデータ処理方法 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC VIBRATOR FOR ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSIS APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING PIEZOELECTRIC VIBRATOR FOR ULTRASONIC PROBE
超音波プローブの圧電振動子、超音波プローブ、超音波診断装置及び超音波プローブにおける圧電振動子の製造方法 - 特許庁 - ACOUSTIC LENS FOR ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC IMAGE DISPLAY DEVICE AND PRODUCTION METHOD OF ACOUSTIC LENS FOR ULTRASONIC PROBE
超音波プローブの音響レンズ、超音波プローブ、超音波画像表示装置及び超音波プローブの音響レンズの製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER, METHOD FOR MANUFACTURING ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC TRANSDUCER
超音波トランスデューサの製造方法、超音波プロ−ブの製造方法、超音波プローブ、および超音波トランスデューサ - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR PROBE WITH RESISTIVE CHIP
抵抗性チップを備える半導体探針の製造方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE
コンタクトプローブの製造方法およびコンタクトプローブ製造装置 - 特許庁 - PROBE STORAGE DEVICE AND METHOD OF DETECTING DATA
プローブ記憶装置及びデータを検出するための方法 - 特許庁 - TEST PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTROOPTIC DEVICE
検査用プローブおよび電気光学装置の製造方法 - 特許庁 - CIRCUIT AND METHOD FOR MEASURING CONTACT RESISTANCE OF PROBE
プローブの接触抵抗測定回路及び測定方法 - 特許庁 - TWEEZER-EQUIPPED SCANNING PROBE MICROSCOPE AND TRANSFER METHOD
ピンセット付き走査型プローブ顕微鏡および搬送方法 - 特許庁 - CONTACT PRESSURE INSPECTION MECHANISM FOR MOVABLE PROBE PIN AND ITS METHOD
可動プローブピンの接触圧検査機構およびその方法 - 特許庁 - METHOD FOR CONTROLLING Z-AXIS DIRECTION OF PROBE, AND APPARATUS
プローブのＺ軸方向位置制御方法及び装置 - 特許庁 - FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT
プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡による測定方法 - 特許庁 - TRANSMITTER, DETECTOR, CABLE PROBE AND CABLE PROBING METHOD
送信器、検出器、ケーブル探査機及びケーブル探査方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR PROBE AND RECORDING AND REPRODUCING METHOD
半導体プローブ及びこれを用いた記録再生方法 - 特許庁 - POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD
渦電流探傷プローブと渦電流探傷方法 - 特許庁 - PROBE SOLIDIFYING REACTION ARRAY AND MANUFACTURING METHOD OF ARRAY
プローブ固相化反応アレイおよび該アレイの製造方法 - 特許庁 - PROBE DEVICE AND OSCILLOSCOPE FREQUENCY RESPONSE ADJUSTING METHOD
プローブ装置及びオシロスコープ周波数応答調整方法 - 特許庁 - PROBE CARD AND METHOD FOR FORMING ALIGNMENT MARK THERETO
プローブカード及びこれにアライメントマークを形成する方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, TESTER, AND PROBE CARD
半導体チップの検査方法、検査装置、及びプローブカード - 特許庁 - PROBE CARD ASSEMBLY AND KIT, AND METHOD FOR USING THEM
プロ—ブカ—ド・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF PROBE IMMOBILIZING CARRIER HAVING FINE PATTERN
微細パターンを有するプローブ固定担体の製造方法 - 特許庁 - INSPECTION STAGE AND INSPECTION METHOD FOR VACUUM PROBE APPARATUS
真空プローブ装置のための検査ステージと検査方法 - 特許庁 - WIRING STRUCTURE, PROBE FOR INSPECTION, AND ITS MANUFACTURING METHOD
配線構造体、検査用プローブ、およびその製造方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE AND ELECTRON SOURCE
プローブ及び電子源の製造装置及び製造方法 - 特許庁 - PROBE APPARATUS FOR IP NETWORK AND TRAFFIC STATISTIC METHOD
ＩＰネットワーク用プローブ装置及びトラフィック統計方法 - 特許庁 - SAMPLE BASE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVING METHOD
走査型プローブ顕微鏡の試料台及び観察方法 - 特許庁
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