「Probe method」を含む例文一覧(3948)
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半導体装置の試験方法、中継回路、及びプローブカード - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR ION TEMPERATURE AND FLOW VELOCITY BY DOUBLE PROBE
ダブルプローブによるイオン温度並びに流速の測定方法 - 特許庁 - MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - CANTILEVER FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD OF MODIFYING NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE
ナノチューブの改質方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁 - FIBER OPTIC PROBE, PHOTODETECTION APPARATUS, AND PHOTODETECTION METHOD
光ファイバープローブ、光検出装置及び光検出方法 - 特許庁 - CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁 - NUCLEIC ACID PROBE MICROARRAY AND ASSAYING METHOD USING THE SAME
核酸プローブマイクロアレイ、ならびにそれを用いるアッセイ方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR OPPORTUNISTIC TRANSMISSION OF TEST PROBE METADATA
テストプローブメタデータを便宜的に送信するシステムおよび方法 - 特許庁 - IC TEST METHOD, PROBE GUARD, TEST PROBER, AND IC TESTER
ＩＣテスト方法、プローブカード、検査プローバー、及びＩＣテスト装置 - 特許庁 - INCLUSION ANALYSIS METHOD OF SAMPLE BY ELECTRON PROBE MICROANALYZER
電子プロ—ブマイクロアナライザによる試料の介在物分析方法 - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁 - PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE NEEDLE
プローブ針の針先位置の検出方法及び検出装置 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING PROBE CARD, AND INSPECTION BOARD USED THEREFOR
プローブカードの検査方法及びこれに用いる検査用ボード - 特許庁 - The method for detecting the bacterial DNA comprises using the probe and primer.
及びそれらを用いる、該細菌ＤＮＡの検出方法。 - 特許庁 - MULTIFUNCTIONAL PROBE, MICROFABRICATION DEVICE, AND MICROFABRICATION METHOD
多機能プローブ及び微細加工装置並びに微細加工方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING CONDITION OF MEASUREMENT PROBE
測定プローブのコンディションの判定方法及び判定装置 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING CONTACT PROBE OF THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING APPARATUS
三次元形状測定装置の接触プローブ測定方法 - 特許庁 - METHOD FOR CHECKING COUPLING OF ULTRASONIC PROBE AND COMPUTER PROGRAM
超音波探触子のカップリングチェック方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁 - PROBE, INSPECTING METHOD USING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
プローブ及びこれを用いた検査方法及び半導体装置 - 特許庁 - JUNCTION-TYPE PROBE FOR ELECTRICAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
電気特性測定用接合型プローブとその製造方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT SCATTERING-USE PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
近接場光散乱用プローブおよびその製造方法 - 特許庁 - MAGNETIC FIELD PROBE, MAGNETIC FIELD MEASUREMENT DEVICE, AND MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD
磁界プローブ、磁界測定装置、及び磁界測定方法 - 特許庁 - ULTRASONIC IMAGE PICKUP DEVICE AND METHOD, AND PROBE
超音波撮像装置、超音波撮像方法及び探触子 - 特許庁 - ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND ULTRASONIC PROBE FOR PLASTIC PIPE
プラスチック管の超音波探傷法及び超音波探触子 - 特許庁 - ELECTROMAGNETIC FIELD DETECTION PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME
電磁界検知プローブおよび電磁界検知プローブ製作方法 - 特許庁 - APERTURE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR NEAR FIELD OPTICAL PROBE
近接場用光プローブの開口測定装置及び方法 - 特許庁 - INTEGRALLY MOLDED CONDUCTIVE PROBE AND ITS SIGNAL TRANSMISSION METHOD
一体成形導電プローブ及びその信号伝送方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PROBE, INSPECTION DEVICE, AND ELECTRIC OPTICAL DEVICE
プローブ、検査装置および電気光学装置の製造方法 - 特許庁 - MEASURING INSTRUMENT, MEASURING PROBE, AND MEASURING METHOD OF INDUCTANCE
インダクタンスの測定装置と測定用プローブと測定方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPIC INSPECTION
原子間力顕微鏡検査用のプローブを製造する方法 - 特許庁 - SENSOR AND METHOD FOR DETECTING/MEASURING ELECTROSENSING ANTIBODY PROBE
電気感知式抗体プローブ検出／測定センサ及び方法 - 特許庁 - PLANARIZATION DEVICE AND METHOD FOR OBTAINING PLANARITY OF PROBE CARD
プラナリゼーション装置および、プローブカードのプラナリティを得る方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE PRODUCING APPARATUS AND PRODUCING METHOD OF THE SAME
近接場光プローブ作製装置及びその作製方法 - 特許庁 - PROBE SUBSTRATE FOR USE IN LSI INSPECTION AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME
ＬＳＩ検査用プローブ基板およびその製造方法 - 特許庁 - MEDICAL ILLUMINATOR PROBE AND METHOD FOR MONITORING TISSUE OXYGENATION
医用照明器プローブ及び組織酸素付与をモニタする方法 - 特許庁 - PROBE, METHOD AND DEVICE FOR ATTACHING PROBE ONTO SUBSTRATE, ELECTRICAL CONNECTION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRICAL CONNECTION DEVICE
プローブ、基板へのプローブの取り付け方法及び装置、電気的接続装置、並びに電気的接続装置の製造方法 - 特許庁 - DISCRIMINATION METHOD FOR KIND OF PLASTIC MATERIAL AND PROBE FOR DISCRIMINATION
プラスチック材の種類判別方法及び判別用プローブ - 特許庁 - PROBE FOR ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
超音波診断装置用プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND DEVICE USING ARRAY PROBE
アレイ探触子を用いた超音波探傷方法及び装置 - 特許庁 - PROBE NAVIGATION METHOD AND DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE
プローブナビゲーション方法及び装置並びに不良検査装置 - 特許庁 - DETACHABLE PROBE COVER FOR EAR THERMOMETER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
組立式耳式体温計プローブカバー及びその製造方法 - 特許庁 - PROBE FOR ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
超音波診断装置用プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - MICRO-SHAPE MEASURING PROBE AND MICRO-SHAPE MEASURING METHOD
微細形状測定プローブおよび微細形状測定方法 - 特許庁 - METHOD AND INSTRUMENT FOR DETECTING MOVEMENT OF MEASURING PROBE
測定用プローブの動きの検出方法および測定機器 - 特許庁 - WASHING METHOD OF PROBE FOR HANDLING LIQUID AND ANALYZER
液体ハンドリング用プローブの洗浄方法および分析装置 - 特許庁 - STRUCTURE FORMING METHOD AND APPARATUS, AND PROBE PIN
構造物形成方法，プローブピン及び構造物形成装置 - 特許庁 - PROBE CARD TRANSFER AUXILIARY DEVICE, INSPECTION EQUIPMENT AND INSPECTION METHOD
プローブカード移載補助装置、検査設備及び検査方法 - 特許庁
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