「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 24 25 26 27 28 29 30 31 32 .... 78 79 次へ＞- METHOD FOR DETERMINING PROGNOSIS OF PROSTATIC CANCER, AND PROBE SET
前立腺癌の予後を決定するための方法およびプローブセット - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MANUFACTURING EQUIPMENT, PROCESSING METHOD AND WAFER POTENTIAL PROBE
半導体製造装置および処理方法、およびウエハ電位プローブ - 特許庁 - ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MULTILAYER WIRING BOARD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND PROBE APPARATUS
多層配線板およびその製造方法並びにプローブ装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE DEVICE, WAFER TEST DEVICE, AND WAFER TEST METHOD
半導体ウェハ、プローブ装置、ウェハテスト装置及びウェハテスト方法 - 特許庁 - NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE SPECTRAL METHOD TYPE CATHETER PROBE WITH MINIMUM INVASION
最少侵襲性の核磁気共鳴分光法式カテーテル・プローブ - 特許庁 - TERMINAL DEVICE, ANALYSIS SERVER, PROBE INFORMATION ANALYSIS SYSTEM AND METHOD
端末装置、分析サーバ、プローブ情報分析システムおよび方法。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF PROBE IMMOBILIZATION CARRIER FOR REDUCING NONSPECIFIC ADSORPTION
非特異吸着を低減するプローブ固定担体の製造方法 - 特許庁 - PROBE, KIT AND METHOD FOR DETECTION AND DIFFERENTIATION OF MYCOBACTERIUM TUBERCULOSIS
結核菌の検出及び分化のためのブローブ、キット及び方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY
走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE APPARATUS, WAFER TESTING APPARATUS, AND WAFER TESTING METHOD
半導体ウエハ，プローブ装置，ウエハテスト装置およびウエハテスト方法 - 特許庁 - EMISSION PROBE WITH REDOX RESPONSIVENESS AND METHOD USING THE SAME
レドックス応答性発光プローブ及びそれを用いる検出方法 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT
走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING PROBE INFORMATION AND TESTING METHOD
プローブ情報を用いた半導体検査装置及び検査方法 - 特許庁 - CONNECTION APPARATUS AND CONNECTION METHOD FOR CONTROLLING ULTRASOUND PROBE
超音波プローブを制御するための接続装置および方法 - 特許庁 - SKIN WASHING METHOD BY PROBE IN BATHTUB, FACE WASHING CONTAINER, OR THE LIKE
浴槽、洗顔容器等におけるプローブの皮膚洗浄方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC IMAGING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
超音波探触子、超音波映像装置及びその製造方法 - 特許庁 - FINE PROBE, AND MEASURING APPARATUS AND METHOD USING THE SAME
微細プローブおよびそれを用いた計測装置と計測方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE FOR SUPPORTING SPINAL OPERATION AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
脊椎手術支援用超音波プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - FREE-CUTTING CERAMIC, PRODUCTION METHOD THEREOF AND PROBE GUIDING PARTS
快削性セラミックスとその製造方法およびプローブ案内部品 - 特許庁 - To provide an evaluation method of heat permeability using a thermal probe.
サーマルプローブを用いた熱浸透率の評価方法の提供。 - 特許庁 - WATER SEAL TYPE PROBE HOLDING DEVICE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME
封水型探触子保持装置及びこれを用いた検査方法 - 特許庁 - INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND PROBE UNIT USED FOR INSPECTION DEVICE
検査装置、検査方法及び検査装置に用いるプローブユニット - 特許庁 - INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP, AND PROBE CARD USED FOR THE SAME
半導体チップの検査方法及びそれに用いるプローブカード - 特許庁 - PROBE TERMINAL AND METHOD FOR MEASURING MEASURED OBJECTS USING THE SAME
プローブ端子及びこれを用いた被測定物の測定方法 - 特許庁 - FREE-CUTTING CERAMIC, ITS PRODUCTION METHOD, AND PROBE GUIDING PART
快削性セラミックスとその製造方法およびプローブ案内部品 - 特許庁 - METHOD AND ARRANGEMENT FOR INSPECTING PROBE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェーハ検査用プローブの検査装置及び検査方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING PROBE POINT OF NANOSTRUCTURE
ナノ構造物の探針先端生成方法及びその生成装置 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR COMPENSATING THERMALLY INDUCED MOTION OF PROBE CARDS
プローブカードの熱誘発動作を補償する方法およびシステム - 特許庁 - PROBE CARD AND APPARATUS, AND METHOD FOR INSPECTING SOLID-STATE IMAGE SENSOR
プローブカード及び固体撮像素子の検査装置並びに方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT PROBE UNIT PRODUCING DEVICE AND ITS PRODUCING METHOD
近接場光プローブユニット作製装置及びその作製方法 - 特許庁 - METHOD OF ALIGNING PROBE POINT WITH ELECTRODE OF INSPECTION BODY
プローブの針先と被検査体の電極との位置合わせ方法 - 特許庁 - SKIN ANALYZING DEVICE HAVING ULTRASONIC PROBE AND ANALYTICAL METHOD
超音波プローブを具備した皮膚分析装置及び分析方法 - 特許庁 - DISPENSER, DISPENSING AMOUNT CORRECTION METHOD FOR PROBE, AND ANALYZER
分注装置、プローブの分注量補正方法及び分析装置 - 特許庁 - CANTILEVERED NEAR-FIELD PROBE STRUCTURE AND ITS MANUFACTURING METHOD
カンチレバー型近接場探針構造体及びその作製方法 - 特許庁 - STRUCTURE OF PROBE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MAKING THE SAME
半導体装置検査用プローブ構造とその製造方法 - 特許庁 - PROBE JOINTING PARTICLE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND BLOCKING AGENT
プローブ結合粒子およびその製造方法ならびにブロッキング剤 - 特許庁 - CONTROL DEVICE FOR SCANNING PROBE, WORKING DEVICE AND OBSERVATION DEVICE THEREBY, VIBRATING METHOD FOR PROBE AND WORKING METHOD USING THE SAME
走査型プローブの制御装置とそれによる加工装置および観察装置、プローブの加振方法とそれを用いた加工方法 - 特許庁 - BLOCKING AGENT, PROBE-BOUND PARTICLE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
ブロッキング剤ならびにプローブ結合粒子およびその製造方法 - 特許庁 - NOVEL FLUORESCENT PROBE FOR LABELLING BIOSAMPLE AND ITS PREPARATION METHOD
新規生体試料標識用蛍光プローブとその調製法 - 特許庁 - CONTACTING PROBE OF CHARGING AND DISCHARGING DEVICE AND CHARGING AND DISCHARGING METHOD THEREOF
充放電装置のコンタクトプローブ及びその充放電方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND MANUFACTURING METHOD
近接場光プローブ及び近接場光プローブの作製方法 - 特許庁 - CONTROL METHOD OF ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS
超音波探触子の制御方法および超音波診断装置 - 特許庁 - CONTACT INSPECTION METHOD OF PROBE PIN, AND TFT ARRAY INSPECTION DEVICE
プローブピンの接触検査方法およびＴＦＴアレイ検査装置 - 特許庁 - To provide an optical scanning probe and an optical scanning probe device which achieve low-voltage high-speed driving by a simple structure, and a method for controlling the optical scanning probe.
簡単な構造で低電圧高速駆動が可能となる光走査プローブおよび光走査プローブ装置並びに光走査プローブの制御方法を得る。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe unit having high bonding strength between a probe and a substrate, capable of forming highly accurately the probe bent three-dimensionally by plating.
立体的に曲がったプローブをめっきにより高精度に形成でき、プローブと基板の接合強度が高い、プローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe for detecting nucleic acid, excellent in detection accuracy and having two or more probe domains, and to provide a detection method using such a probe.
検出精度の優れた、２以上のプローブ領域を有する核酸検出用プローブ、および、そのようなプローブを用いる検出方法の提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a semiconductor-inspecting apparatus for preventing a probe from being damaged in handling by retaining a probe surface where the probe is formed.
プローブが形成されたプローブ面を保持してハンドリングを行う際に、プローブの破損を防止することができる半導体検査装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide probe manufacturing method by which a probe can rather easily be peeled off a base after depositing metal material for the probe on the base.
基台上にプローブのための金属材料を堆積させた後、比較的容易に基台からプローブを剥離できるプローブ製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting a probe shortening an inspection time when the probe for the chip of a semiconductor wafer is inspected by exchanging a probe card.
プローブカードを交換して半導体ウエハのチップのプローブ検査を行う際に、その検査時間の短縮化を図るようにしたプローブ検査方法の提供。 - 特許庁
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