「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 26 27 28 29 30 31 32 33 34 .... 78 79 次へ＞- DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE FOR INTRAVASCULAR DIAGNOSIS AND ITS MANUFACTURING METHOD
血管内診断のための超音波探触子及びその製造方法 - 特許庁 - MANIPULATOR TYPE PROBE EQUIPMENT AND METHOD FOR POSITIONING PROBES PIN THEREOF
マニピュレータ型プローブ装置およびそのプローブピンの位置調整方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD IN WAFER LEVEL FOR PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR ELEMENT
プローブカードおよび半導体素子のウェーハレベルにおける評価方法 - 特許庁 - PROBE CARD FOR TEST, TEST DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
試験用プローブカード、試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF DETECTION PORTION OF OXYGEN PARTIAL PRESSURE OF RESISTANCE TYPE OXYGEN PROBE
抵抗型酸素センサの酸素分圧検出部分の製造方法 - 特許庁 - FIBER OPTIC PROBE, AND METHOD FOR MEASURING WATER IN STEAM TURBINE
ファイバオプチックプローブおよび水蒸気タービン中の水分の測定方法 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING SEMICONDUCTOR WAFER BY OXIDE REINFORCEMENT PROBE
酸化物増強プローブによって半導体ウエハを測定する方法 - 特許庁 - SUBSTRATE FOR PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
プローブカード用基板、半導体検査装置、およびその製造方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING PHOSPHATIZYL INOSITOL TRIPHOSPHATE USING PX PROBE
ＰＸプローブを用いたフォスファチジルイノシトール３リン酸の検出方法 - 特許庁 - PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INSPECTION METHOD
プローブカード並びに半導体検査装置及び半導体検査方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE
走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁 - SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF
走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁 - SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE
走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINATION OF HUMAN ABC TRANSPORTER, AND PROBE AND KIT THEREFOR
ヒトＡＢＣトランスポーターの測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁 - CHIP FOR NEEDLE, SEMICONDUCTOR WAFER HAVING THE SAME, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE APPARATUS AND INSPECTING METHOD USING THEM
ニードル用チップ、ニードル用チップを備えた半導体ウエハ、プローブカード及びその製造方法、プローブ装置及びこれを用いた検査方法 - 特許庁 - MULTIPLE PROBE POWER FEED SYSTEM AND METHOD FOR ULTRASONIC WELDING
超音波溶接のためのマルチプローブパワー供給システム及び方法 - 特許庁 - COPYING CONTROL METHOD FOR CONTACT TYPE PROBE, AND CONTACT TYPE MEASURING MACHINE
接触式プローブの倣い制御方法及び接触式測定機 - 特許庁 - METHOD FOR NON-LABEL DETECTION OF TARGET DNA USING DNA PROBE ARRAY
ＤＮＡプローブアレイを用いた標的ＤＮＡのノンラベル検出法 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC SINGLE CRYSTAL, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, PIEZOELECTRIC ELEMENT, AND ULTRASONIC PROBE
圧電単結晶及びその製造方法、圧電素子、超音波プローブ - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SCANNING SAMPLE WITH SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いたサンプル走査方法および装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR ACTIVELY COOLING ULTRASOUND PROBE
超音波探触子を能動的に冷却するためのシステム及び方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, CATHETER USING THE SAME, AND ITS MANUFACTURING METHOD
超音波プローブ及びそれを用いたカテーテル並びにその製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYZING GENE EXPRESSION AND PROBE KIT FOR ANALYZING GENE EXPRESSION
遺伝子発現解析法及び遺伝子発現解析用プローブキット - 特許庁 - STANDARD SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルおよびその製造方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁 - OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ELECTROLESS NICKEL PLATING LIQUID
光プローブ及びその製造方法並びに無電解ニッケルめっき液 - 特許庁 - ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MEMBER
異方導電性コネクターおよびその製造方法並びにプローブ部材 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD
走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法 - 特許庁 - DETECTING METHOD OF ATTACHMENT POSITION DISPLACEMENT OF PROBE CARD, AND PROBER DEVICE
プローブカードの取り付け位置ずれの検出方法及びプローバ装置 - 特許庁 - SURFACE ANALYSIS METHOD OF MATERIAL IN ARBITRARY SHAPE BY ELECTRONIC PROBE MICROANALYZER
電子プローブマイクロアナライザによる任意形状試料の面分析法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SEMICONDUCTOR WAFER USING PROBE CARD
プローブカードを用いる半導体ウェハの測定方法および測定装置 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING GLUTATHIONE S-TRANSFERASE, PROBE AND KIT THEREFOR
グルタチオンＳ−転移酵素の測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁 - PROBE FOR MONITORING DEW POINT CORROSION AND MONITORING METHOD OF DEW POINT CORROSION
露点腐食モニタリング用プローブおよび露点腐食モニタリング方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR ADJUSTING GAIN IN ULTRASOUND PROBE
超音波プローブ内で利得を調節するためのシステム及び方法 - 特許庁 - METHOD FOR QUANTIFYING HUMAN ADENOVIRUS AND PRIMER AND PROBE THEREFOR
ヒトアデノウイルスの定量方法並びにそのためのプライマー及びプローブ - 特許庁 - PROBE FOR DETECTING PSEUDOMONAS AERUGINOSA AND METHOD USING THE SAME
シュードモナス・アエルギノーザ菌の検出用プローブおよびそれを用いた方法 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND HEATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE
試料ホルダ、走査プローブ顕微鏡及び半導体試料加熱方法 - 特許庁 - UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE
ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁 - BACKING MATERIAL, AND PRODUCTION METHOD OF BACKING MATERIAL, AND ULTRASOUND PROBE
バッキング材、およびバッキング材の製造方法、並びに超音波プローブ - 特許庁 - CONCENTRATION DETERMINATION APPARATUS, PROBE, CONCENTRATION DETERMINATION METHOD, AND PROGRAM
濃度定量装置とプローブ及び濃度定量方法並びにプログラム - 特許庁 - PROBE FOR MASS SPECTROMETRY AND MASS SPECTROMETRY METHOD USING THE SAME
質量分析用プローブ及びそれを用いた質量分析方法 - 特許庁 - ULTRASONOGRAPHIC DEVICE, ULTRASONIC PROBE, AND METHOD FOR PROCESSING SIGNAL
超音波診断装置、超音波探触子及び信号処理方法 - 特許庁 - SINGLE PROBE MOLECULAR ELEMENT, AND MANUFACTURING METHOD OF SAME
単一プローブ分子素子及び単一プローブ分子素子の製造方法 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE
走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁 - MAGNETIC PARTICLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND PROBE-BOUND PARTICLE
磁性粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子 - 特許庁 - PROBE FOR DETECTING GENE VARIATION AND METHOD FOR DETECTING THE GENE VARIATION
遺伝子変異検出用プローブ及び遺伝子変異検出方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING TRUNCATED PROBE FOR PERPENDICULAR RECORDING
垂直記録用切頭形状プローブを提供する方法と装置 - 特許庁 - METHOD FOR FIXATION OF PROBE ESPECIALLY FOR PRODUCTION OF BIOLOGICAL CHIPS
特に生物学的チップの生産のためのプローブの固定化方法 - 特許庁 - PROBE SHOE FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION AND METHOD FOR HOLDING CONTACT MEDIUM
超音波探傷用探触子シューおよび接触媒質保持方法 - 特許庁
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