「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 30 31 32 33 34 35 36 37 38 .... 78 79 次へ＞- MANUFACTURE AND TEST METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT USING HIGH DENSITY PROBE POINT
高密度探触点を使用した集積回路の製作および試験方法 - 特許庁 - To provide an electric inspection probe having a long life and a manufacturing method of the same, and a manufacturing method of a semiconductor device using this electric inspection probe.
寿命が長い電気検査用プローブ及びその製造方法、並びにこの電気検査用プローブを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, BACKING MATERIAL FOR FORMING SIGNAL LINE PATTERN AND ITS MANUFACTURING METHOD
超音波プローブ、信号線パターン形成バッキング材およびその製造方法 - 特許庁 - OPTICAL TOMOGRAPHIC IMAGING DEVICE AND METHOD FOR ESTIMATING PRESSING FORCE OF ITS OPTICAL PROBE
光断層画像化装置、及び、その光プローブ押付力推定方法 - 特許庁 - PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-DQ ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME
ＨＬＡ−ＤＱアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁 - ORGANIC POLYMER PARTICLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND PROBE-BINDING PARTICLE
有機ポリマー粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子 - 特許庁 - INSPECTION AND/OR REGULATION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, AND CONTACT STRUCTURE OF PROBE PIN
電子デバイスの検査及び／又は調整方法、プローブピンの接触構造 - 特許庁 - METHOD FOR REDUCING NON-SPECIFIC BINDING TO NUCLEIC ACID PROBE ARRAY
核酸プローブアレイに対する非特異的な結合を減少させるための方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING EXTREMELY SMALL MULTIPLE PROBE AND SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS
極微小多探針プローブの製造方法及び表面特性解析装置 - 特許庁 - PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-DR ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME
ＨＬＡ−ＤＲアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE, INSPECTION DEVICE OF INSULATING FAILURE AND INSPECTION METHOD OF INSULATING FAILURE
プローブ顕微鏡及び絶縁不良の検査装置，絶縁不良検査方法 - 特許庁 - PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-MICA ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME
ＨＬＡ−ＭＩＣＡアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁 - PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-DP ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME
ＨＬＡ−ＤＰアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁 - To provide a probe unit having high dimensional precision of conduction wires which are prevented removal from a substrate, and to provide a conduction inspection method using the probe unit and its manufacturing method.
導線と基板の剥離が防止され、導線の寸法精度が高いプローブユニットと、それを用いた導通検査方法と、その製造方法とを提供する。 - 特許庁 - To realize a probe radar and a probing method while considering the directivity of an antenna.
アンテナの指向性を考慮した探査レーダ及び探査方法の実現。 - 特許庁 - PROBE CARD AND ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET MANUFACTURING METHOD USED FOR THE SAME
プローブカード及びそれに用いられる異方性導電シートの製造方法 - 特許庁 - PROBE DRIVE MECHANISM AND MANUFACTURING METHOD OF PIEZOELECTRIC ACTUATOR USING THE SAME
探針駆動機構並びに該機構を用いた圧電式アクチュエータの製造方法 - 特許庁 - ULTRASOUND PROBE, ULTRASONIC WAVE MEASURING UNIT AND ULTRASONIC WAVE THICKNESS MEASURING METHOD
超音波探触子、超音波測定器、及び、超音波厚み測定方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTING PROBE, EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND EDDY CURRENT FLAW DETECTING METHOD
渦流探傷プローブ、渦流探傷装置および渦流探傷方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, EDDY CURRENT FLAW DETECTION DEVICE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD
渦流探傷プローブ、渦流探傷装置、及び渦流探傷方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁 - PROBE IMMOBILIZING GEL HOLDING MICRO-ARRAY AND SPECIMEN DETECTION METHOD USING IT
プローブ固定化ゲル保持マイクロアレイ及びこれを用いた検体検出方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS DISTRIBUTION USING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた膜厚分布測定方法 - 特許庁 - WASH LIQUID FOR PROBE FOR CLINICAL TEST AUTOMATIC ANALYZER AND METHOD FOR WASHING
臨床検査自動分析装置用プローブの洗滌液および洗滌法 - 特許庁 - PROBE FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND APPARATUS FOR INSPECTION
半導体装置の検査用プローブおよびその製造方法、検査装置 - 特許庁 - PROBE COVER OF EAR THERMOMETER, AND ITS MANUFACTURING EQUIPMENT AND METHOD THEREOF
耳式体温計のプローブカバー、およびその製造装置並びに製造方法 - 特許庁 - To form a contact probe having a plurality of curved parts by a simple method.
湾曲部を複数有するコンタクトプローブを簡単な方法で形成する。 - 特許庁 - PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM
走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁 - SIGNAL PROCESSING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING SYSTEM, PROBE, SIGNAL PROCESSING METHOD AND PROGRAM
信号処理装置、信号処理システム、プローブ、信号処理方法、および、プログラム - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD THEREOF AND PROBE CARD
半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁 - NEEDLE TRACK INSPECTING APPARATUS, PROBE APPARATUS, NEEDLE TRACK INSPECTING METHOD, AND STORAGE MEDIUM
針跡検査装置、プローブ装置、及び針跡検査方法、並びに記憶媒体 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND MEMBRANE TYPE PROBE CARD
半導体集積回路装置の製造方法およびメンブレン型のプローブ・カード - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, FLAW DETECTION DEVICE FOR TURBINE BLADE AND ITS FLAW DETECTION METHOD
超音波探触子およびタービンブレード用探傷装置とその探傷方法 - 特許庁 - ULTRASONIC FLAW DETECTING METHOD BY SH-WAVES AND SH- WAVE SKEW ANGLE PROBE
ＳＨ波による超音波探傷方法及びＳＨ波斜角探触子 - 特許庁 - POSITION DETECTION METHOD OF PROBE NEEDLE, SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS
プローブ針の位置検出方法、半導体装置および半導体検査装置 - 特許庁 - METHOD OF SIMULTANEOUSLY IMAGING SODIUM/CALCIUM ACTIVITIES USING TWO-PHOTON FLUORESCENT PROBE OF MUTUALLY DIFFERENT FLUORESCENT COLORS AND PREPARATION METHOD OF TWO-PHOTON FLUORESCENT PROBE
相異なる蛍光色の二光子蛍光プローブを用いてナトリウム／カルシウム活性を同時にイメージ化する方法及び二光子蛍光プローブの製造方法 - 特許庁 - PROBE FOR DIAGNOSIS OF MARFAN'S SYNDROME AND SCREENING METHOD USING THE SAME
マルファン症候群診断用プローブ、及び当該プローブを用いたスクリーニング法 - 特許庁 - METHOD OF PROCESSING DETECTOR HAVING PROBE MOLECULE FIXED THERETO AND AQUEOUS PROCESSING SOLUTION
プローブ分子が固定された検出具の処理方法及び水性処理液 - 特許庁 - PRIMER SET, PROBE, ASSAY KIT, AND METHOD FOR DETECTION FOR β-ACTIN GENE
βアクチン遺伝子のためのプライマーセット、プローブ、アッセイキットおよび検出方法 - 特許庁 - PROBER AND ITS PROBE MAINTENANCE METHOD, PROCESS FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE
プローバー装置及びその探針メンテナンス方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR VISUALIZATION OF ULTRASOUND PROBE RELATIVE TO OBJECT
対象物に対して超音波プローブを可視化するためのシステムおよび方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁 - COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁 - ENZYME ACTIVITY SENSING PROBE AND METHOD FOR SENSING ENZYME ACTIVITY USING THE SAME
酵素活性検知用プローブおよびそれを用いる酵素活性検知方法 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe for a scanning probe microscope equipped with a peak part made of monolayer carbon nanotubes, its inspection method, and its usage.
単層カーボンナノチューブから成る尖頭部を備えた走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法およｂ使用方法を提供する。 - 特許庁 - MOUNTING BAND AND METHOD FOR MOUNTING BIOSIGNAL MEASURING PROBE ON LIVING BODY
装着バンド及び生体信号測定用プローブの生体への装着方法。 - 特許庁 - METHOD AND PROBE FOR MEASURING REMAINING THICKNESS OF WORN MEMBER
損耗部材の残存厚み測定方法、及び残存厚み測定用プローブ - 特許庁 - PROBE-CONTACTING STATE DETECTING METHOD AND DETECTING DEVICE THEREOF
プローブ接触状態検出方法およびプローブ接触状態検出装置 - 特許庁 - To provide a method of recording data on a storage device using a probe technique.
探針技術を利用した保存機器のデータ記録方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor probe and a recording and reproducing method using the same.
半導体プローブ及びこれを用いた記録再生方法を提供する。 - 特許庁
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