「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 31 32 33 34 35 36 37 38 39 .... 78 79 次へ＞- JIG FOR WIRE PROBE, AND INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME
ワイヤープローブ用治具並びにこれを用いた検査装置並びに検査方法 - 特許庁 - PROBE FOR INSPECTION OF ELECTRO-OPTICAL DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND APPARATUS FOR INSPECTION
電気光学装置の検査用プローブおよびその製造方法、検査装置 - 特許庁 - A method for immobilizing a probe nucleic acid fragment on an insoluble substrate is also provided.
また、不溶性支持体にプローブ核酸断片を固定化するための方法。 - 特許庁 - To provide a ceramic substrate for a probe card and a method of manufacturing the same.
本発明は、プローブカード用セラミック基板及びその製造方法に関する。 - 特許庁 - To provide a resistance measuring method capable of using a thick probe.
太いプローブを使用することができる抵抗測定方法を提供する。 - 特許庁 - INSPECTION PROBE FOR ELECTROOPTICAL DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND INSPECTION DEVICE
電気光学装置の検査用プローブおよびその製造方法、検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING AND CHECKING POSITION OF CONTACT OF TOUCH-PROBE TYPE MEASUREMENT MECHANISM PART
タッチプローブ型測定機構部の接触子の位置補正及び確認方法 - 特許庁 - BIOCHEMICAL ANALYZING UNIT AND PROBE AND TARGET REACTION METHOD USING IT
生化学解析用ユニット及びこれを用いたプローブとターゲットの反応方法 - 特許庁 - NEUTRALIZED DEPTH MEASURING METHOD FOR CONCRETE STRUCTURE AND PROBE USED THEREFOR
コンクリート構造物の中性化深さ測定方法およびこれに用いるプローブ - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe card for improved yield.
歩留りを向上することができるプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a ceramic substrate for a probe card and a manufacturing method thereof.
本発明はプローブカード用セラミック基板及びその製造方法に関する。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC TREATMENT DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME
超音波プローブ及び超音波処置装置、並びに、それらの製造方法 - 特許庁 - CONTACT MEASURING METHOD AND DEVICE OF INSPECTION PROBE FOR WIRING BOARD INSPECTION
配線基板検査用の検査プローブ接触測定方法及びその装置 - 特許庁 - ULTRASONIC FLAW DETECTION APPARATUS, ITS PROBE HOLDER, AND ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD
超音波探傷装置とその探触子ホルダ及び超音波探傷方法 - 特許庁 - PROBE MANUFACTURING METHOD AND APPARATUS AND FAILURE INSPECTION SYSTEM USING IT
プローブ作製方法および装置並びにこれをもちいた不良検査装置 - 特許庁 - ORGANIC POLYMER PARTICLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND PROBE-BINDING PARTICLE
有機ポリマー粒子およびその製造方法、ならびにプローブ結合粒子 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING ACYL COA:N-ACYL TRANSFERASE, PROBE AND KIT THEREFOR
アシルＣｏＡ：Ｎ−アシル転移酵素の測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁 - ULTRASONIC INSPECTION METHOD OF NOISY CAST MATERIAL AND RELATED PROBE
雑音のある鋳造材料の超音波検査方法及び関連するプローブ - 特許庁 - To provide a method of reducing costs by accurately identifying the state of tips of probe pins arranged on a probe card and improving operation efficiency of an inspecting method.
プローブカードに配設されたプローブピンの先端の状態を正確に識別し、検査方法の作業効率を向上させ、低コスト化を図る方法の提供。 - 特許庁 - ULTRASONIC IMAGING APPARATUS AND METHOD FOR LEVEL ADJUSTMENT OF ARRAY PROBE USED IN THE SAME
超音波映像装置およびそのアレイ探触子水平調整方法 - 特許庁 - To provide a ceramic substrate for a probe card and a manufacturing method thereof.
本発明は、プローブカード用セラミック基板及びその製造方法に関する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR PROBE HAVING PROJECTING RESISTIVE TIP AND MANUFACTURING METHOD FOR IT
凸状の抵抗性チップを備えた半導体探針およびその製造方法 - 特許庁 - PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND AUTOMATIC CALIBRATION METHOD
表面形状測定用触針式段差計及びその自動較正方法 - 特許庁 - The probe manufacturing method further comprises a probe forming step for removing parts except the probe body on a substrate to form a probe, after the contact part is formed on a substrate to be the probe body at the contact part forming step, and at least one of the contact part and the substrate to be the probe body is shaped by the cutting tool at the shaping step.
接点形成段階は、プローブ本体となる基板上に接点部を形成し、整形段階において接点部およびプローブ本体となる基板の少なくとも一方を切削工具により整形した後に、基板におけるプローブ本体以外の部分を除いてプローブを形成するプローブ形成段階を更に備える。 - 特許庁 - VERY THIN COAXIAL LINE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING VERY THIN PIN PROBE USING THE SAME
極細同軸線とその製造方法、ならびに、これを利用した極細ピンプローブの製造方法 - 特許庁 - CONTROL METHOD FOR COOKING HEATING PROCESS AND COOKING HEATING PROCESS PROBE FOR USE IN THAT METHOD
加熱調理プロセスの制御方法およびこの方法で使用可能な加熱調理プロセスプローブ - 特許庁 - SPUTTERING TARGET, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND METHOD FOR MANUFACTURING ALLOY FILM AND PROBE PIN
スパッタターゲット、スパッタターゲットの製造方法、合金膜の製造方法及びプローブピンの製造方法 - 特許庁 - DETECTION SURFACE, ITS MANUFACTURING METHOD AND CONTROL METHOD OF FIXING DENSITY OF PROBE SUBSTANCE
検出表面と該検出表面の作製方法、並びにプローブ物質の固定密度制御方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER CASSETTE, METHOD OF SUPPLYING CANTILEVER, AND METHOD OF MANAGING STATE OF CANTILEVER
走査型プローブ顕微鏡、カンチレバーカセット、カンチレバーの供給方法および状態管理方法 - 特許庁 - TWO-PHOTON FLUORESCENT PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND REAL-TIME MONITORING METHOD OF INTRACELLULAR MAGNESIUM
二光子励起蛍光プローブとその製造方法及び細胞内マグネシウムのリアルタイムモニタリング方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID HAVING TARGET NUCLEOTIDE SEQUENCE, PROBE SET AND METHOD FOR IDENTIFYING NUCLEIC ACID
標的ヌクレオチド配列を有する核酸の検出方法、プローブセット、及び核酸の識別方法 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING TERMINAL-LABELED PROBE ARRAY, AND METHOD FOR EVALUATING TARGET MATERIAL QUANTITY USING THE SAME
末端標識プローブアレイの製造方法、並びにそれを用いた標的物質量の評価方法 - 特許庁 - CONNECTION STRUCTURE OF MINUTE PATTERN WIRING, METHOD THEREFOR, CONTACT PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
微細パターン配線の接続構造及び接続方法、並びにコンタクトプローブ及びその製造方法 - 特許庁 - To provide a method for producing a probe DNA used for a DNA hybridization detection method.
ＤＮＡハイブリダイゼーション検出方法に使用されるプローブＤＮＡの製造方法の提供。 - 特許庁 - METHOD FOR EXAMINING DRUG-METABOLIZING CAPACITY OF CYP2C8, AND PROBE AND EXAMINATION KIT USED IN THE METHOD
ＣＹＰ２Ｃ８の薬物代謝能の検査方法、該方法に用いられるプローブおよび検査キット。 - 特許庁 - OPTICAL FIBER PROBE, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE DEVICE AND OPTICAL RECORDING MEDIUM REPRODUCING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL FIBER PROBE
光ファイバプローブ、走査近接場光顕微鏡装置及び光記録媒体再生装置並びに光ファイバプローブの製造方法 - 特許庁 - To provide a method for global calibration of a stereo vision probe system which can calibrate distortion errors, as well as, probe form errors.
フレーム歪み誤差と並んでプローブ形状誤差をも校正できるステレオビジョンプローブシステムの包括的校正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe card, capable of highly precisely positioning a probe tip in height and plane directions.
プローブ先端の高さ方向および平面方向に関して高精度に位置決め可能なプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a calibration method of a probe for high frequency characteristic measurement capable of calibrating the probe without utilizing an expensive calibration substrate.
高価な校正基板を利用せずに、プローブの校正を行うことができる高周波特性測定用プローブの校正方法。 - 特許庁 - This method can be used for detecting a variant, selecting a probe and intensifying the adjustment of the probe array manufacturing quality.
本発明の方法は、変異体検出、プローブ選択およびプローブアレイ製造品質調節を増強するために使用され得る。 - 特許庁 - To provide a probe machining method and machine for machining a probe with a fine tip ball for providing good measuring sensitivity.
測定感度が良好となる微細な先端球を有するプローブを加工するプローブ加工方法および加工機を提供する。 - 特許庁 - PROBE FIXING CARRIER FOR DETERMINING LIVING THING SPECIES, METHOD OF MANUFACTURING IT, AND KIT FOR DETERMINING LIVING THING SPECIES CONTAINING PROBE FIXING CARRIER
生物種判定用のプローブ固定担体及びその製造方法、並びに、このプローブ固定担体を含む生物種判定用のキット - 特許庁 - SEMICONDUCTOR APPARATUS FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, SYSTEM FOR DETECTING POOR PROBE NEEDLE PRESSURE, AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR APPARATUS
プローブ針圧力不良検出用の半導体装置、プローブ針圧力不良検出システム及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - Also a mask used for manufacturing the oligomer probe array chip, and a hybridization analysis method using the oligomer probe array chip are provided.
オリゴマープローブアレイチップの製造に使用されるマスク、オリゴマープローブアレイチップを使用したハイブリダイゼーション分析方法もまた提供される。 - 特許庁 - CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁 - The method of forming the probe array includes forming a layer of tip material 101 over a block of probe material 102.
プローブアレイを形成する方法は、プローブ材料１０２のブロックにわたって先端部材料１０１の層を形成することを含む。 - 特許庁 - To realize a manufacturing method for a plane type probe having a micro opening smaller than that in a conventional plane type probe.
従来の平面型プローブにおけるよりも更に小さい微小開口を持つ平面型プローブの製造方法を実現する - 特許庁 - To provide a high-strength probe unit which is highly stable in the form against changes in temperature, and to provide a method for manufacturing the probe unit.
温度変化による形状安定性が高く、強度が高いプローブユニット及びプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁 - CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC, PROBE STRUCTURE, PROBE CARD AND MANUFACTURING METHOD OF CONTACT NEEDLE FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC
電気的特性評価用接触針、プローブ構造体、プローブカード、および電気的特性評価用接触針の製造方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR TREATING BONE AND FOR TREATING TISSUE, METHOD FOR DISPOSING PROBE INSIDE BONE AND FOR TREATING TISSUE AND BONE, APPARATUS FOR GUIDING PROBE, METHOD FOR DISPOSING PROBE INSIDE TISSUE AND DISPOSING PROBE INSIDE HARD TISSUE, AND APPARATUS FOR ADVANCING TREATMENT PROBE
骨を治療するための装置、組織を治療するための装置、骨内にプローブを配置するための方法、組織を治療するための方法、骨を治療するための方法、プローブを案内するための装置、組織内にプローブを配置するための方法、硬組織内にプローブを配置するための方法、および、治療用プローブを前進させるための装置 - 特許庁
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