「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 28 29 30 31 32 33 34 35 36 .... 78 79 次へ＞- To provide a method of manufacturing an optical fiber probe, especially of an optical fiber probe detecting a Raman signal.
本発明は、光ファイバー探針の製造方法に係り、特に、ラマン信号を検出する光ファイバー探針に関する。 - 特許庁 - HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF MICROSIGNAL SUPPERPOSED ON TUNNEL CURRENT USING IT
ヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁 - HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT
ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁 - PHOTODEGRADABLE COMPOUND, SUBSTRATE FOR OLIGOMER PROBE ARRAY COUPLED WITH THE PHOTODEGRADABLE COMPOUND, OLIGOMER PROBE ARRAY AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
光分解性化合物と前記化合物がカップリングしたオリゴマープローブアレイ用基板、オリゴマープローブアレイおよびその製造方法 - 特許庁 - ANTENNA COIL FOR NMR PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, LOW MAGNETISM SUPERCONDUCTING WIRE FOR NMR PROBE ANTENNA COIL, AND NMR SYSTEM
ＮＭＲプローブ用アンテナコイルとその製造方法、ＮＭＲプローブアンテナコイル用低磁性超電導線材及びＮＭＲシステム - 特許庁 - To provide an inspection probe insertion device, for inserting an inspection probe into a thin tube, and a method therefor.
細管内に検査プローブを挿入する検査プローブの挿入装置及びその方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To automatically detect the wear of a probe pin in a normal test measuring process concerning a method of monitoring probe pin wear.
プローブピン摩耗の監視方法に関し、プローブピンの摩耗を通常の試験測定工程において自動的に検出する。 - 特許庁 - METHOD FOR EXTRACTING TARGET GENE AND PARTICLE HAVING PROBE DNA BOUND THERETO
目的遺伝子の抽出方法およびプローブＤＮＡ結合粒子 - 特許庁 - To provide a probe unit hardly causing breakage of a probe pin and an inspection object and a manufacturing method thereof, an energization inspection device, and a energization inspection method.
プローブピンおよび被検査対象物が破損し難いプローブユニットおよびその製造方法、通電検査装置、通電検査方法を提供する。 - 特許庁 - STYLUS TYPE SURFACE PROFILE MEASURING INSTRUMENT AND METHOD OF INSTALLING PROBE THEREOF
触針式表面形状測定器及びそれの探針の取付け方法 - 特許庁 - MEASUREMENT CURRENT VALUE DETERMINING METHOD AND FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASURING APPARATUS
測定電流値決定方法及び４探針抵抗率測定装置 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC AND ITS PRODUCING METHOD AND ULTRASONIC PROBE COMPRISING IT
圧電体およびその製造方法とそれを用いた超音波探触子 - 特許庁 - PROBE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND INSPECTION APPARATUS
半導体装置の検査用プローブおよびその製造方法、検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR OBTAINING OFFSET AMOUNT OF PROBE PIN IN CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE
回路基板検査装置におけるプローブピンのオフセット量取得方法 - 特許庁 - HAIR REMOVAL METHOD USING LIGHT ENERGY AND PROBE OF LIGHT ENERGY HAIR REMOVER
光エネルギーによる脱毛方法および光エネルギー脱毛装置のプローブ - 特許庁 - FRET PROBE, EXPRESSION VECTOR, CELL, AND METHOD FOR MEASURING FRET
ＦＲＥＴプローブ、発現ベクター、細胞、およびＦＲＥＴ測定方法 - 特許庁 - WAFER INSPECTING PROBE CARD, WAFER INSPECTION DEVICE, AND WAFER INSPECTION METHOD
ウエハ検査用プローブカード並びにウエハ検査装置およびウエハ検査方法 - 特許庁 - DISPLACEMENT MEASURING METHOD, INSTRUMENT THEREFOR, STAGE DEVICE, AND PROBE MICROSCOPE
変位計測方法及びその装置、ステージ装置並びにプローブ顕微鏡 - 特許庁 - CLEANING MEMBER FOR PROBE END, AND ATTACHING METHOD THEREOF
プローブ先端クリーニング部材及びプローブ先端クリーニング部材の取付方法 - 特許庁 - PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
プローブカード、半導体検査装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-A ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME
ＨＬＡ−Ａアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁 - PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-C ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME
ＨＬＡ−Ｃアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁 - PROBE SET FOR IDENTIFYING HLA-B ALLELE AND METHOD FOR IDENTIFYING THE SAME
ＨＬＡ−Ｂアレルを同定するためのプローブセット及び特定方法 - 特許庁 - SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS APPARATUS, SURFACE CHARACTERISTIC ANALYSIS METHOD, AND PROBE UNIT
表面特性解析装置、表面特性解析方法およびプローブユニット - 特許庁 - LIQUID DISCHARGE UNIT FOR PROBE ARRAY MANUFACTURING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
プローブ・アレイ作製装置用の液体吐出ユニットとその製造方法 - 特許庁 - PROBE FOR SURFACE ENHANCED VIBRATION SPECTROSCOPIC ANALYSIS, AND ITS MANUFACTURING METHOD
表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法 - 特許庁 - PROBE CARD AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER
プローブカード、半導体ウエハの検査装置および半導体ウエハの検査方法 - 特許庁 - CORRECTION METHOD OF INCLINED SURFACE ERROR FOR LASER PROBE TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT
レーザープローブ式形状測定器における傾斜面誤差の補正方法 - 特許庁 - METHOD, APPARATUS AND PROBE FOR TESTING CIRCUIT BOARD
回路基板検査方法およびその装置ならびに回路基板検査プローブ - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE
走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁 - FREQUENCY DETECTING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
周波数検出方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - To provide a sensor for a scanning probe microscope, and its manufacturing method.
走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法の提供。 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE
渦流探傷方法、渦流探傷装置及び渦流探傷プローブ - 特許庁 - CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION APPARATUS FOR ELECTRIC FIELD PROBE, AND COMPUTER PROGRAM
電界プローブの校正方法及び校正装置、並びにコンピュータプログラム - 特許庁 - PROBE, SPECIFIC MATERIAL ANALYZER, AND SPECIFIC MATERIAL ANALYSIS METHOD
プローブ及び特定物質解析装置並びに特定物質解析方法 - 特許庁 - ULTRASONIC WAVE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND ULTRASONIC WAVE PHOTOGRAPHING DEVICE
超音波プローブおよびその製造方法並びに超音波撮影装置 - 特許庁 - INFORMATION DETECTOR HAVING SCANNING PROBE AND INFORMATION DETECTING METHOD
走査型プローブを有する情報検出装置及び情報検出方法 - 特許庁 - PROBE FOR SURFACE RESISTIVITY MEASUREMENT AND SURFACE RESISTIVITY MEASUREMENT METHOD
表面抵抗率計測用プローブ及び表面抵抗率の計測方法 - 特許庁 - PROBE SET, CLASSIFICATION METHOD AND KIT FOR GENE TYPE OF HBV
ＨＢＶの遺伝子型分類のためのプローブセット、分類方法及びキット - 特許庁 - METHOD FOR OPTIMIZING PROBE CARD ANALYSIS AND SCRUB MARK ANALYSIS DATA
プローブカード解析及びスクラブマーク解析データを最適化するための方法 - 特許庁 - BREAKAGE PREVENTING MECHANISM FOR FINE SHAPE MEASURING PROBE AND METHOD OF CONTROLLING IT
微細形状測定プローブの破損防止機構およびその制御方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
走査プローブ顕微鏡及びそれを用いた表面形状計測方法 - 特許庁 - THIN-FILM CIRCUIT CARRYING MICRO MACHINE PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND APPLICATION THEREFOR
マイクロマシンプローブを搭載した薄膜回路及びその製造法と応用 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MUTATION OF CYP2C19, AND NUCLEIC ACID PROBE THEREFOR
ＣＹＰ２Ｃ１９の変異の検出法およびそのための核酸プローブ - 特許庁 - PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS
アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁 - MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MAGNETIZING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE
磁気力顕微鏡及び磁気力顕微鏡用探針の磁化方法 - 特許庁 - PRIMER FOR HBV GENE REAL-TIME DETECTION PCR METHOD AND PROBE
ＨＢＶ遺伝子のリアルタイム検出ＰＣＲ法用プライマーおよびプローブ - 特許庁 - PACKET MEASURING SYSTEM, PACKET MEASURING PROGRAM, PROBE, AND PACKET MEASURING METHOD
パケット測定システム、パケット測定プログラム、プローブおよびパケット測定方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LOCAL THIN FILM ADHESION EVALUATION METHOD
走査型プローブ顕微鏡及び局所薄膜密着性評価方法 - 特許庁 - SHEET-LIKE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ITS APPLICATION
シート状プローブおよびシート状プローブの製造方法ならびにその応用 - 特許庁
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