「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 25 26 27 28 29 30 31 32 33 .... 78 79 次へ＞- HANDICAPPED PERSON PROBE INFORMATION COLLECTION SYSTEM, INFORMATION COLLECTION SERVER, HANDICAPPED PERSON PROBE INFORMATION COLLECTION METHOD, AND HANDICAPPED PERSON PROBE INFORMATION COLLECTION PROGRAM
障害者プローブ情報収集システム、情報収集サーバ、障害者プローブ情報収集方法および障害者プローブ情報収集プログラム - 特許庁 - To provide a planarization device which can assure planarity between a probe card and a wafer in manufacturing the probe card, and to provide a method for obtaining the planarity of the probe card.
プローブカード製造においてプローブカードとウエハとのプラナリティを保証するプラナリゼーション装置および、プローブカードのプラナリティを得る方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING INTERMOLECULAR INTERACTION WITH PROBE MOLECULE, CARRIER HAVING PROBE MOLECULE FIXED THERETO AND KIT FOR DETECTING INTERMOLECULAR INTERACTION WITH PROBE MOLECULE
プローブ分子との分子間相互作用を検出する方法、プローブ分子が固定された担体およびプローブ分子の分子間相互作用を検出するキット - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe card which enables high-accuracy positioning, regarding height and plane directions of the tip of a probe, and also to provide a probe card.
プローブ先端の高さ方向および平面方向に関して高精度に位置決め可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method of a probe card, which enables a user to correctly know a replacement time of the probe card, based on a result of a conduction test in the probe card.
プローブカードにおける導通試験の結果に基づきプローブカードの交換時期を的確に知ることのできるプローブカードの検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of adjusting a probe card for quickly adjusting the inclination of the probe card by eliminating an influence of irregularity of needle edge height of a probe.
プローブの針先高さのバラツキの影響をなくし、迅速にプローブカードの傾きを調整することができるプローブカードの傾き調整方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for maintaining plane parallelism between a probe card and its probe substrate, which can satisfactorily maintain plane parallelism of tip parts of a probe group.
本発明は、プローブ群先端部の面平行度を良好に維持できるプローブカード及びそのプローブ基板の面平行度の保持方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe data collection system for surely collecting the probe data of a desired section and the operation method of the probe data collection system.
所望する区間のプローブデータを確実に収集することができる、プローブデータ収集システムおよびプローブデータ収集システムの動作方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a drying processing method for a probe fixing face capable of preventing a component of a probe solution used for fixing a probe from being left ununiformly on a probe fixing face, when the probe fixing face on a substrate is dried.
基板上のプローブの固定面を乾燥処理する際に、プローブの固定に用いたプローブ溶液の成分が不均一にプローブ固定面に残存することを防止できるプローブ固定面の乾燥処理方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe system, a probe device and a probe, allowing an operator to operate the device only with the probe for probing a subject without touching a control part such as a keyboard of a body of the device, and a method of controlling the probe system.
被検物を探触する探触子のみで本体のキーボードなどの操作部に触れることなく装置を操作することができる探触システム、探触装置及び探触子並びに探触システム制御方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR ARRANGING BONDING PAD AND PROBE-CARD BOARD FORMED ACCORDING TO THE METHOD
ボンディングパッド配置方法及びこの方法に応じて形成されたプローブカード基板 - 特許庁 - PADLOCK PROBE, CYCLIC GENE, AMPLIFICATION METHOD OF GENE AND DETECTION METHOD OF MUTATION
パドロックプローブ、環状遺伝子、遺伝子増幅方法および突然変異検出方法 - 特許庁 - BEAM MEASURING DEVICE, BEAM MEASURING METHOD, AND PUMP/PROBE MEASURING METHOD USING THE DEVICE
ビーム測定装置、ビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法 - 特許庁 - PROBE POSITIONING METHOD AND APPARATUS AND METHOD OF EVALUATING MEMBER USING THE SAME
プローブの位置決め方法および装置およびこれを利用した部材の評価方法 - 特許庁 - CONTACT PROBE, TESTER FOR ELECTRIC INSPECTION USING THE CONTACT PROBE, AND METHOD OF MANUFACTURING PRINTED BOARD UNIT USING THE SAME
コンタクトプローブ、コンタクトプローブを使用する電気検査用試験機及びこれを用いたプリント板ユニットの製造方法 - 特許庁 - PROBE HAVING MICROOPENING, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE HAVING THIS PROBE AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING METHOD
微小開口を有するプローブと、該プローブを備えた情報記録再生装置及び情報記録再生方法 - 特許庁 - To provide an ultrasonic probe that has an electromagnetic shield and improves heat management, and to provide a method for forming the probe.
電磁シールドを有し、熱管理を改善した超音波プローブ、およびプローブを形成する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe machining method for easily machining a probe having a contact ball with high face quality.
面品位が高い接触球を有するプローブを簡便に加工することができるプローブ加工方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser atom probe system and a method for analyzing a specimen by laser atom probe tomography.
優れたレーザーアトムプローブシステム、およびレーザーアトムプローブトモグラフィによって試料を分析するための方法を提供する。 - 特許庁 - GRAIN-LIKE SAMPLE OBSERVATION METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE AND GRAIN-LIKE SAMPLE BODY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法及び走査プローブ顕微鏡用粒子状試料体 - 特許庁 - NUCLEIC ACID DETECTION METHOD USING ASYMMETRIC PCR, POLYNUCLEOTIDE PROBE, PROBE-IMMOBILIZING CARRIER FOR IMMOBILIZING THE SAME AND KIT
非対称ＰＣＲを用いた核酸の検出方法、ポリヌクレオチドプローブ、それを固定するプローブ固定化担体およびキット - 特許庁 - SURFACE OBSERVING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INSPECTION DEVICE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法および走査型プローブ顕微鏡による表面検査装置 - 特許庁 - To provide an inspection method for probe heads with long endurance period and capable of elongating endurance period of probe heads.
耐久期間が長いプローブヘッド及びプローブヘッドの耐久期間を延長できる検査方法を提供する。 - 特許庁 - WAVE TRANSMITTING AND RECEIVING ELEMENT FOR ULTRASONIC PROBE, ITS PRODUCTION METHOD AND ULTRASONIC PROBE USING THE SAME ELEMENT
超音波探触子用送受波素子及びその製造方法並びに該送受波素子を用いた超音波探触子 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe whose uniformity is improved while the production cost of the probe is being reduced.
プローブの製造コストを削減しつつ、より改善された均一性を備えるプローブの製造方法に関する。 - 特許庁 - To provide an irrigated probe for an invasive medical procedure and an efficient method for manufacturing such a probe.
侵襲性医療処置のための灌注プローブ、並びにかかるプローブの効率的な製造方法を提供する。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF LIGHT IRRADIATING OR LIGHT DETECTING PROBE AND LIGHT IRRADIATING OR LIGHT DETECTING PROBE
光照射用または光検出用プローブの製造方法、および光照射用または光検出用プローブ - 特許庁 - To provide a probe pin having high reliability, a probe card, an inspection device and a control method of the inspection device.
高い信頼性を有するプローブピン、プローブカード、検査装置および検査装置の制御方法を提供する。 - 特許庁 - ULTRASONIC WAVE OSCILLATING ELEMENT, ULTRASONIC WAVE PROBE HEAD, MANUFACTURING METHOD FOR THE ULTRASONIC WAVE PROBE HEAD, AND ULTRASONIC WAVE DIAGNOSTIC DEVICE
超音波発振素子、超音波プローブヘッド、超音波プローブヘッドの製造方法、及び超音波診断装置 - 特許庁 - NEAR FIELD PROBE, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING METHOD HAVING NEAR FIELD PROBE
近接場プローブ、この近接場プローブを備えた電気的特性測定装置及び電気的特性測定方法 - 特許庁 - To provide a method of causing a probe to contact a surface of a sample in a safe and efficient manner after monitoring the height of the probe.
プローブ高さをモニタして、安全かつ効率的に試料表面にプローブを接触させる方法の提供。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe carrier capable of dealing with various probe pitches without replacing an ink jet-type liquid discharge head (a block) for different probe pitches, to provide an apparatus used for the method and to provide the probe carrier manufactured by the method.
異なるプローブピッチごとにインクジェット方式の液体吐出ヘッド（ブロック）を交換することなく種々のプローブピッチに対応できるプローブ担体の製造方法、それに用いる装置、および該方法によって製造されるプローブ担体を提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND PROBE FOR MEASURING CONCENTRATION AND VELOCITY OF GAS CONCURRENTLY
気体の濃度及び速度の同時測定法、及び測定用プローブ - 特許庁 - NEAR-FIELD PROBE USING SOI SUBSTRATE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
ＳＯＩ基板を用いた近接場探針及びその製造方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER, AND LIQUID DISCHARGE DEVICE
プローブ担体の製造装置および製造方法、液体吐出装置 - 特許庁 - CERAMIC PRODUCT, PROBE CARD, AND METHOD FOR PRODUCTION OF CERAMIC PRODUCT
セラミック製品及びプローブカード並びにセラミック製品の製造方法 - 特許庁 - PHANTOM DEVICE AND MEASURING METHOD OF ROTARY SCANNING TYPE ULTRASONIC PROBE
回転走査式超音波プローブのファントム装置及び測定方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD AND DEVICE OF PROBE ELEMENT AND HOLLOW FORMING DEVICE
プローブ要素の製作方法及び装置並びに窪み形成装置 - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL, METHOD FOR MANUFACTURING THE CRYSTAL AND PROBE
３次元フォトニック結晶およびその製造方法ならびにプローブ - 特許庁 - PROBE REACTIVE CHIP, SAMPLE ANALYZER AND SAMPLE ANALYZING METHOD
プローブ反応性チップ、試料解析装置および試料解析方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING QUARTZ TYPE OPTICAL FIBER PROBE
石英系光ファイバプローブの作製方法およびプローブ作製装置 - 特許庁 - MULTI-COIL TYPE PROBE OF EDDY CURRENT FLAW DETECTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD
渦流探傷装置のマルチコイル式プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR PROBE EQUIPPED WITH RESISTANCE CHIP AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
抵抗性チップを備える半導体探針及びその製造方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS
超音波プローブ及びその製造方法、並びに、超音波診断装置 - 特許庁 - PROBE TIP GENERATING METHOD FOR NANOSTRUCTURE AND ITS GENERATING DEVICE
ナノ構造物の探針先端生成方法及びその生成装置 - 特許庁 - PROBE CARD FOR FULL WAFER MEASUREMENT AND INSPECTION AND ITS MANUFACTURING METHOD
ウェハ一括型測定検査用プローブカード及びその製造方法 - 特許庁 - POSITIONING SYSTEM MOUNTED ON PROBE MEMORY DEVICE, AND ITS POSITIONING METHOD
プローブメモリ装置に搭載される位置決めシステムとその位置決め方法 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ULTRASONIC PROBE
超音波トランスデューサ、およびその製造方法、並びに超音波プローブ - 特許庁 - METHOD FOR SURVEYING GENERATION SOURCE OF ELECTROMAGNETIC WAVES, AND CURRENT PROBE USED THEREFOR
電磁波発生源探査方法及びそれに用いる電流プローブ - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
