「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 27 28 29 30 31 32 33 34 35 .... 78 79 次へ＞- To provide a small high-performance probe, and its manufacturing method.
小型で、高性能なプローブ、及びプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, ITS MANUFACTURING METHOD AND ULTRASONIC PROBE
超音波トランスデューサ及びその製造方法、並びに、超音波探触子 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING TARGET BASE SEQUENCE AND PROBE FOR THE DETECTION
標的塩基配列を検出する方法および検出用プローブ - 特許庁 - PROBE FOR DETECTING HAEMOPHILUS INFLUENZAE AND DETECTION METHOD USING THE SAME
ヘモフィリスインフルエンザ菌の検出用プローブおよびそれを用いた方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE
超音波探触子、その製造方法および超音波診断装置 - 特許庁 - A system and a method for synthesizing a probe on a substrate are prepared.
基板上にプローブを合成するシステムおよび方法を用意する。 - 特許庁 - MULTI-LIGHT PATH ARRAY TYPE FIBER, PROBE, OPTICAL HEAD, AND ITS MANUFACTURING METHOD
多光路アレイ型ファイバー、プローブ、光ヘッド及びその製造方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR PROBE POSITION FIXATION-TYPE MEASUREMENT OF VERY SMALL FORCE
プローブ位置固定式微小力測定装置及び測定方法 - 特許庁 - METHOD, APPARATUS, AND PROBE FOR MEASURING CONCENTRATION OF PHOSPHORUS IN MOLTEN IRON
溶銑の燐濃度測定方法及びその装置並びにそのプローブ - 特許庁 - SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD
走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁 - MULTILAYER WIRING BOARD, PROBE CARD, AND METHOD OF MANUFACTURING MULTILAYER WIRING BOARD
多層配線基板、プローブカード、及び、多層配線基板の製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR QUANTIFYING TARGET SUBSTANCE AND PROBE CARRIER USED THEREIN
標的物質の定量方法および該方法に用いるプローブ担体 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC METHOD
超音波プローブ、超音波診断装置及び超音波診断方法 - 特許庁 - METHOD OF CONTROLLING SAMPLE STATIC ELIMINATOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡における試料除電器の制御方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING VIROID AND CAPTURE PROBE USED FOR DETECTION OF VIROID
ウイロイド検出方法およびウイロイド検出に用いるキャプチャープローブ - 特許庁 - To provide a probe end detection method which can surely prevent damages to probe cards during alignment thereof by surely and accurately detecting the heights of the probe ends of the probe cards at the time of alignment, even if the probe cards are of different type or there are manufacturing variations between the probe cards.
例えば品種の異なるプローブカードや製造上バラツキのあるプローブカードであっても、アライメント時にプローブカードのプローブの先端の高さを確実且つ高精度に検出し、アライメント時に、プローブカードの損傷を確実に防止することができるプローブ先端の検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an easily-manufacturable probe capable of measuring accurately an electric characteristic of a measuring object, and to provide a method for manufacturing the probe, and an electric characteristic measuring method using the probe.
測定対象物の電気特性を正確に測定することができ、製造容易であるプローブおよびその製造方法、ならびにこのプローブを用いた電気特性測定方法を実現する。 - 特許庁 - PROBE FOR MEASURING PLASMA DENSITY INFORMATION, METHOD AND DEVICE FOR MEASURING PLASMA DENSITY INFORMATION USING THE PROBE, AND METHOD AND DEVICE FOR PLASMA TREATMENT USING THE PROBE
プラズマ密度情報測定用プローブおよびそれを用いたプラズマ密度情報測定方法並びにその装置、プラズマ密度情報測定用プローブを用いたプラズマ処理方法およびその装置 - 特許庁 - To provide a probe evaluation method capable of simply measuring a depth when a contact type probe pierces an object to be measured, and to provide a chip set used for the probe evaluation method.
接触式の探針が測定対象を突き刺す深さを簡便に測定することができる探針評価方法及び当該探針評価方法に用いられるチップセットを提供する。 - 特許庁 - To provide a probe array manufacturing member capable of manufacturing a desired probe array immediately after determining an array for probes, and a probe array manufacturing method using the probe array manufacturing member.
プローブの配列が決定した後、直ちに所望のプローブアレイを製造することができるプローブアレイ製造用部材及び該プローブアレイ製造用部材を利用したプローブアレイの製造方法を提供する。 - 特許庁 - PROBE CARD, MANUFACTURING METHOD OF THE SAME, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE
プローブカード、プローブカードの製造方法および半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁 - PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR ATOM PROBE ANALYSIS BY FIB, AND DEVICE FOR EXECUTING THE METHOD
ＦＩＢによるアトムプローブ分析用試料の作製方法とそれを実施する装置 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID IN SAMPLE, AND METHOD AND SYSTEM FOR DESIGNING PROBE USED THEREFOR
検体中の核酸の検出方法、それに用いるプローブ設計方法、プローブ設計システム - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a colloid probe cantilever using an optical measurement method and its automated device.
光計測法を用いて、コロイドプローブカンチレバーを製造する方法とその自動化装置。 - 特許庁 - PROBE DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
プローブ装置、プローブ装置の製造方法、および半導体集積回路の検査方法 - 特許庁 - FRICTION STIRRING DEVICE, CONTROL METHOD FOR ITS PROBE, CONTROL PROGRAM, AND MANUFACTURING METHOD FOR JOINED BODY
摩擦攪拌装置、そのプローブの制御方法、制御プログラム及び接合体の製造方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法およびデバイス製造方法 - 特許庁 - PROBE INSPECTION APPARATUS, POSITION DISPLACEMENT CORRECTION METHOD, INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND METHOD, AND PROGRAM
プローブ検査装置、位置ずれ補正方法、情報処理装置、情報処理方法及びプログラム - 特許庁 - ELECTRIC INSPECTION PROBE, MANUFACTURING METHOD OF THE SAME AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
電気検査用プローブ及びその製造方法並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁 - PRIMER, PRIMER SET, PROBE, METHOD FOR DETERMINING THIOCYANATE DECOMPOSING BACTERIUM, AND BIOLOGICAL TREATMENT METHOD
プライマー、プライマーセット、プローブ、チオシアン分解細菌定量方法、ならびに、生物処理方法 - 特許庁 - PROBE CARRIER AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND METHOD FOR DETECTING TARGET NUCLEIC ACID USING THE SAME
プローブ担体とその製造方法及びそれを用いた標的核酸の検出方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER, METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR WAFER PROBE INSPECTION METHOD
半導体ウエハおよび半導体チップの製造方法および半導体ウエハプローブ検査方法 - 特許庁 - FORMING METHOD OF OUTGOING WIRING AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE
引出配線の形成方法及び走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD AND MACHINING METHOD OF DIAMOND PROBE FOR MACHINING OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡の加工用ダイヤモンド探針の観察方法及び加工方法 - 特許庁 - PROBE STRUCTURE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND WAFER COLLECTIVE CONTACT BOARD AND ITS MANUFACTURING METHOD
プローブ構造及びその製造方法、並びにウエハ一括コンタクトボード及びその製造方法 - 特許庁 - TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USED FOR TEST METHOD
半導体装置の試験方法、その試験方法に用いるプローブカード及び半導体装置 - 特許庁 - METHOD OF CROWING CARBON NANOTUBE AND METHOD OF PRODUCING ELECTRON GUN AND PROBE USING THE SAME
カーボンナノチューブの成長方法並びにそれを用いた電子銃及びプローブの製造方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING PROTEIN, AND METHOD OF DETECTING PROBE PEPTIDE AND CYTOCHROME C OR INSULIN
タンパク質の検出方法、プローブペプチドおよびシトクロムＣもしくはインシュリンの検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR PREDICTING EFFECTIVENESS OF INTERFERON AND PRIMER AND PROBE FOR THE METHOD
インターフェロンの有効性を予測する方法並びにそれに用いられるプライマー及びプローブ - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING CONTACT STATE OF PROBE, AND METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING CIRCUIT BOARD
プローブの接触状態判別方法、回路基板検査方法および回路基板検査装置 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, METHOD OF APPLYING GEL, AND PUNCTURING METHOD OF PUNCTURE NEEDLE
超音波探触子、超音波診断装置、ゲルの塗布方法及び穿刺針の穿刺方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER USING LIQUID DISCHARGING DEVICE AND DEVICE USED FOR THE METHOD
液体吐出装置を用いたプローブ担体の製造方法及びこの方法に用いる装置 - 特許庁 - ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, ULTRASONIC PROBE, TEMPERATURE CALCULATION METHOD AND SIGNAL PROCESSING METHOD
超音波診断装置、超音波探触子、温度算出方法及び信号処理方法 - 特許庁 - To provide a hollow optical fiber probe, capable of supplementing by bringing a probe close to particles by a manipulator directly; and a manufacturing method of the hollow, optical fiber probe, or a hollow optical fiber probe capable of receiving/irradiating efficiently evanescent light, and a manufacturing method of the hollow optical fiber probe.
直接マニピュレータにより微粒子にプローブを接近させて補足することができる中空光ファイバプローブ及び中空光ファイバプローブの製造方法、又はエバネッセント光を効率よく受光／照射できる中空光ファイバプローブ及び中空光ファイバプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card of low control cost for determining a life of a probe needle tip part, and a control method therefor.
プローブ針先端部の寿命を判定するための管理コストの低いプローブカードおよびその管理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe card compatible with high-density probe disposition without forming probes directly on a substrate.
直接基板上にプローブを形成することなく、高密度なプローブの配置に対応可能なプローブカードの製作方法。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.
磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁 - NUCLEOTIDE PROBE, KIT FOR DETECTING GLYCOPEPTIDE ANTIBIOTIC-RESISTANT GRAM-POSITIVE BACTERIUM GIVEN BY USING THE PROBE, AND METHOD FOR DETECTING THE BACTERIUM
ヌクレオチドプローブおよびそれを用いたグリコペプタイド抗生物質耐性グラム陽性バクテリア検出キットならびに検出方法 - 特許庁 - AUTOMATION OF PROBE POSITIONING AND METHOD AND DEVICE FOR DEVELOPING IMPROVED PRINTED CIRCUIT BOARD USING BEAD PROBE TECHNOLOGY
プローブ位置決めの自動化およびビードプローブ技術を使用する改良されたプリント回路基板の開発方法および装置 - 特許庁 - ELECTRODE TENSION TEST METHOD, DEVICE THEREFOR, SUBSTRATE /PROBE SUPPORT DEVICE THEREFOR AND ELECTRODE/PROBE BONDING DEVICE
電極引張試験方法、その装置及び電極引張試験用の基板／プローブ支持装置並びに電極プローブ接合装置 - 特許庁
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