「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 29 30 31 32 33 34 35 36 37 .... 78 79 次へ＞- METHOD OF DETECTING CYP2C19*3 ALLELE AND NUCLEIC ACID PROBE FOR THE SAME
ＣＹＰ２Ｃ１９＊３アレルの検出法およびそのための核酸プローブ - 特許庁 - METHOD FOR CLEANING PROBE NEEDLE AND WAFER AND WAFER PROBER EQUIPMENT TO BE USED THEREFOR
プローブ針のクリーニング方法、これに用いるウエハおよびウエハプローバ装置 - 特許庁 - PROBE ASSEMBLY FOR USE IN TURBINE ENGINE AND METHOD OF ASSEMBLING THE SAME
タービンエンジンで使用するプローブ組立体及びそれを組立てる方法 - 特許庁 - ACTUATOR CONTROL METHOD AND DEVICE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
アクチュエータ制御方法及びその装置並びに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - PROBE CASSETTE, SEMICONDUCTOR TESTER AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
プローブカセット、半導体検査装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - OLIGONUCLEOTIDE PROBE FOR DETECTING BACILLUS TUBERCULOSIS, AND DETECTIVE METHOD USING THE SAME
結核菌検出オリゴヌクレオチドプローブ及びそれを利用した検出方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE CHARGER, CHARGE METHOD, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS
超音波プローブ充電装置、充電方法、及び、超音波診断装置 - 特許庁 - To provide new cantilever feed mechanism and cantilever mounting method for scanning probe microscope.
新規なカンチレバー供給機構及びカンチレバー取り付け方法を得る。 - 特許庁 - MAGNETIC PROBE, MAGNETIC DETECTION DEVICE, AND ROTATION DETECTION METHOD OF ROTATOR
磁気プローブ、磁気検出装置および回転体の回転検出方法 - 特許庁 - To improve accuracy in bump position, in a method for manufacturing a contact probe.
コンタクトプローブの製造方法において、バンプ位置精度を向上させる。 - 特許庁 - PROBE SET FOR DETECTION OF TARGET SUBSTANCE AND DETECTION METHOD USING THE SAME
標的物質検出用プローブセット及び標的物質検出方法。 - 特許庁 - RESIDUAL LIQUID DETECTION DEVICE AND METHOD, AND ULTRASONIC PROBE ATTACHMENT JIG
残液検知装置及び方法並びに超音波探触子取付治具 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND APPARATUS
超音波探触子、超音波探傷方法及び超音波探傷装置 - 特許庁 - ULTRASONIC DIAGNOSING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING OPERATION OF ULTRASONIC PROBE
超音波診断装置及び超音波探触子の動作の試験方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SUBSTRATE PRODUCT, AND PROBE FOR INSPECTION
基板製品検査装置、基板製品検査方法、及び検査用プローブ - 特許庁 - STRUCTURE OF OSCILLATOR ARRAY, FABRICATING METHOD, AND ULTRASONIC PROBE
振動子アレイの構造、およびその作製方法、並びに超音波プローブ - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSMISSION/RECEPTION DEVICE, ULTRASONIC PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
超音波送受信デバイス，超音波探触子およびその製造方法 - 特許庁 - PROBE SET FOR DETECTION OF TARGET SUBSTANCE AND DETECTION METHOD USING THE SAME
標的物質検出用プローブセット及び標的物質検出方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS OPENING FORMING METHOD
近接場光プローブおよび近接場光プローブの開口形成方法 - 特許庁 - To provide a probe for an ultrasound system, and a method of manufacturing the same.
超音波診断装置用プローブ及びその製造方法の提供。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER INCLUDING QUALITY ENSURING PROCESS
品質保証工程を含むプローブ担体の製造装置及び製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR PASSING CURRENT BETWEEN SCANNED PROBE AND RECORDING MEDIUM
走査されるプローブと記憶媒体との間に電流を流すための方法 - 特許庁 - SURFACE SCANNING METHOD OF MEASURING OBJECT BY OSCILLATING SCANNING PROBE
振幅型走査プローブによる測定対象物の表面の走査方法 - 特許庁 - NEW NUCLEIC ACID PROBE AND NEW METHOD FOR ASSAYING NUCLEIC ACID USING THE SAME
新規核酸プローブおよびそれを用いる新規核酸測定方法 - 特許庁 - METHOD OF FABRICATING RESISTIVE PROBE HAVING SELF-ALIGNED METAL SHIELD
自己整列されたメタルシールドを備えた抵抗性探針の製造方法 - 特許庁 - HOLDER AND METHOD FOR ALIGNING PROBE FOR FILM THICKNESS MEASUREMENT
膜厚測定用プローブの位置合わせ用治具及び位置合わせ方法 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER
超音波トランスデューサ、超音波プローブ、超音波トランスデューサの製造方法 - 特許庁 - REUSABLE PROBE OF PULSE TYPE OXIMETER AND METHOD FOR DISPOSABLE BANDAGER
再使用可能なパルス型オキシメータのプローブ及び使い捨て包帯方法 - 特許庁 - To provide an approach direction setting method for a probe which can accurately set the approach direction of a probe having a contact part protruding from one end of a probe shaft part.
プローブ軸部の一端から突出する接触部を有するプローブのアプローチ方向を正確に設定できるプローブのアプローチ方向設定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe alignment confirmation circuit of a semiconductor device for confirming the alignment state of a probe, without additional consumption of channels, and to provide a probe alignment confirmation method.
チャネルの追加的な消耗なしに、探針の整列状態を確認できる半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for preparing RNA, in which length ranging from a probe-binding part to 5' end is uniform, forming a stable hybrid body with a probe on an a probe on an array.
プローブ結合部位から５’末端までの長さが一律であり、アレイ上のプローブとより安定なハイブリッド体を形成するＲＮＡの調整方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for designing a probe set, to provide a microarray having a substrate on which a probe designed by the method is immobilized, and to provide a computer-readable recording medium recording the method as a computer-executable program.
プローブセットの設計方法、設計されたプローブが固定化されたマイクロアレイ及び該方法を実行可能なプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁 - BEAM PLOTTER, METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING HEIGHT OF BASE MATERIAL, BEAM PLOTTING METHOD, PROBE USED THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING THE PROBE
ビーム描画装置、基材の高さ測定装置、ビーム描画方法、基材の高さ測定方法、これらの装置または方法に使用するプローブ、及びこのプローブの製造方法 - 特許庁 - To provide a probe card and manufacturing method thereof for solving various problems incurred in the probe card including tilted vertical cantilever-shaped probe pins such as adjacent probe pins are brought into contact.
隣位するプローブピン同士が接触するなど、傾斜型垂直カンチレバー形状のプローブピンを備えるプローブカードに生じていた種々の問題点を解決することができるプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.
この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe cover which enables efficient manufacturing of a probe cover hygienic with excellent use feeling and free from effect on measuring accuracy and a probe cover to be manufactured by the method.
衛生的で使用感に優れ、かつ測定精度に影響しないプローブカバーを効率よく製造するプローブカバーの製造方法、およびかかる方法で製造されるプローブカバーを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.
本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁 - To provide a method of inspecting a semiconductor chip which prevents generating a region where a probe of a probe card doesn't contact with an electrode of the semiconductor chip and reduces an inspection cost, and the probe card used for the method.
プローブカードのプローブが半導体チップの電極に接触しない領域が生じるのを防ぎ、検査コストを削減する半導体チップの検査方法及びそれに用いるプローブカードを提供する。 - 特許庁 - WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, MANUFACTURING METHOD FOR PROBE HAVING THE WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, PROBE HAVING THE WAVE-GUIDING CHANNEL LAYER STRUCTURE, STORAGE UNIT HAVING THE PROBE, SURFACE OBSERVATION UNIT, EXPOSURE UNIT, AND MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE
導波路層構造、導波路層構造を有するプローブの製造方法、該導波路層構造を有するプローブ、該プローブを有するストレージ装置、表面観察装置、露光装置、デバイス製造方法 - 特許庁 - ADAPTER BOARD, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, PROBE CARD, METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
中継基板、その製造方法、プローブカード、半導体ウェハの検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - SUBSTRATE PROBE, METHOD FOR DETECTING ENZYME-ACTIVITY BY MULTI-DIMENSIONAL NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE METHOD AND ENZYME-ACTIVITY IMAGING METHOD
基質プローブ、多重核磁気共鳴法による酵素活性の検出方法および酵素活性のイメージング方法 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID PROBE THEREFOR, AND METHOD FOR ANALYZING DATA OBTAINED BY THE METHOD
核酸の測定方法、それに用いる核酸プローブ及びその方法によって得られるデータを解析する方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID PROBE USED THEREFOR AND METHOD FOR ANALYZING DATA OBTAINED BY THE SAME METHOD
核酸の測定方法、それに用いる核酸プローブ及びその方法によって得られるデータを解析する方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL CONTACT BETWEEN PROBE AND MICROSCOPE SAMPLE AND ITS APPARATUS
プローブと顕体試料の電気的接触検出方法及びその装置 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a contact probe forming the contact probe having a plurality of curved parts by a simple method and with fewer manufacturing steps.
湾曲部を複数有するコンタクトプローブを簡単な方法で、かつ、製造工程を少なくして形成できるコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - PROBE CARD PROVIDED WITH CONTACT UNIT AND REPLACEMENT METHOD OF CONTACT UNIT
接触子ユニットを備えるプローブカード、および、接触子ユニットの交換方法 - 特許庁 - PROBE AND METHOD FOR MEASURING ACTIVITY OF OXYGEN IN SLAG
スラグ中酸素活量測定プローブおよびスラグ中酸素活量測定方法 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC TRANSDUCER MANUFACTURING METHOD
超音波トランスデューサ、超音波プローブおよび超音波トランスデューサの製造方法 - 特許庁 - PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND ITS NEEDLE PRESSURE CORRECTION METHOD
表面形状測定用触針式段差計及びその針圧補正方法 - 特許庁 - NEEDLE MARK INSPECTOR, PROBE DEVICE, AND NEEDLE MARK INSPECTION METHOD AND MEMORY MEDIUM
針跡検査装置、プローブ装置、及び針跡検査方法、並びに記憶媒体 - 特許庁
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