「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 32 33 34 35 36 37 38 39 40 .... 78 79 次へ＞- To provide a new nucleoside triphosphate derivative, a nucleic acid probe, a multilabeled nucleic acid probe capable of easily detecting a target nucleic acid in high sensitivity, a method for producing the multilabeled nucleic acid probe and a method for detecting the target nucleic acid by using the multilabeled nucleic acid probe or a nucleic acid probe.
新規なヌクレオシド三リン酸誘導体、核酸プローブ、および簡便かつ高感度に標的核酸を検出することができるマルチラベル化核酸プローブ、そのマルチラベル化核酸プローブの製造方法、そのマルチラベル化核酸プローブまたは核酸プローブを用いた標的核酸の検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a contact probe, which improves adhesion between piled-up metal material layers in regard to the contact probe in which the metal material layers in a plurality are piled up, and also to provide the contact probe which is formed by using this method for manufacturing the contact probe.
金属材料層が複数積層されたコンタクトプローブにおいて、積層された各金属材料層間の密着力を向上させるコンタクトプローブの製造方法、および当該コンタクトプローブの製造方法を用いて形成したコンタクトプローブを提供する。 - 特許庁 - To provide an alignment adjusting apparatus for a probe capable of accurately aligning the angle of the probe and the angle of a hole and capable of preventing the damage of the probe, a measuring machine equipped therewith and an alignment adjusting method for the probe.
プローブの角度と穴の角度とを正確に一致させることができ、プローブの破損を防止することができるプローブのアライメント調整装置、その装置を備えた測定機およびプローブのアライメント調整方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for adjusting parallelism of a probe card and a mounting base that can simply and quickly adjust the parallelism of the probe card and the mounting base only by measuring needle height of the probe pin of a plurality of areas of the probe card.
特許文献１〜４にはプローブカードとウエハステージとの平行度を調整する技術について種々提案されているが、いずれもプローブカードとウエハステージとの平行度を調整する具体的な手法について明らかでない。 - 特許庁 - To provide a one-dimensional array ultrasonic probe or a two-dimensional array ultrasonic probe using a composite piezoelectric member composed of a solid-solution-based piezoelectric-single-crystal and a resin, wherein the ultrasonic probe is fabricated by including a cutting process without causing a working defect when cutting, and to provide a method of manufacturing the ultrasonic probe.
固溶系圧電単結晶と樹脂との複合圧電体を用いて、切断時の加工不良が生じない一次元及び二次元アレイ超音波プローブ及び当該超音波プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a thermally stabilizing method of a probe card capable of controlling a probe card to a predetermined temperature in a short time by causing the probe card to directly contact to a heat source, and capable of accurately determining whether or not the probe card is thermally stabilized.
プローブカードに熱源を直に接触させて短時間でプローブカードを所定の温度に調整すると共に、熱的に安定したかを正確に判断することができるプローブカードの熱的安定化方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a polishing material of a probe and a polishing method of the probe capable of managing the polished state of the tip surface of the probe, and securing stable conduction between the probe and an inspection object also after being polished.
プローブの先端表面の研磨状態を管理することができ、しかも研磨後にもプローブと被検査体との間に安定した導通を確保することができるプローブの研磨材及びプローブの研磨方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe device and an alignment method for quickly and surely detecting the position of the needle point of the probe of a probe card without erroneously recognizing it, and for shortening an alignment time.
従来のアライメント方法の場合には、プローブカード１からの反射光や針先の形状の影響を受け、撮像手段２の焦点をプローブ１Ａの針先に合わせる時間が長くなる。 - 特許庁 - To provide a method of adjusting the power of a probe signal so as to increase the possibility that the probe signal can be detected by system equipment by properly compensating phasing affecting the probe signal.
プローブ信号に影響を及ぼすフェージングを適宜補償し、プローブ信号をシステム機器が検出できる可能性を増すためにプローブ信号のパワーを調整する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe unit mounted on a probe card and its manufacturing method, as to a probe card for measuring the electrical characteristics of a semiconductor device such as an LSI chip.
本発明はＬＳＩチップなどの半導体デバイスの電気的諸特性を測定するプローブカードに関し、上記プローブカードに装着されるプローブユニットと、その製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe capable of relatively easily being peeled off from a base without damaging the probe after depositing a metallic material for the probe on the base.
基台上にプローブのための金属材料を堆積させた後、プローブに損傷を与えることなく、比較的容易に基台から剥離できるプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe control device of a scanning type probe microscope capable of enhancing measuring precision by eliminating rise and fall characteristic difference brought from servo followability, and to provide a probe control method.
サーボ追従性からくる上り・下りの特性差を解消して計測精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To shorten an approach time, concerning a control method for the distance between a probe of a scanning probe microscope and a sample surface, and to provide the scanning probe microscope.
本発明は走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡に関し、アプローチ時間を短縮することを目的としている。 - 特許庁 - To provide prober equipment realizing stabilized electrical measurement by suppressing variation in the probe height of a probe card, and to provide its probe height measuring method and a process for fabricating a semiconductor device.
プローブカードの探針の高さばらつきを抑制し、安定した電気的測定を実現するプローバー装置及びその探針高さ調整方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.
ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an analyzer for controlling the washing condition of a dispensing probe on the basis of the kind or the like of the contaminant adhered to the dispensing probe, and a dispensing probe washing method.
分注プローブに付着する汚れの種類等に基づき分注プローブの洗浄条件を制御する分析装置および分注プローブ洗浄方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an approaching method of a probe and a sample capable of certainly allowing the probe and the sample to approach each other without damaging the probe and the sample and capable of shortening the time required for approach.
探針とサンプルを破損することなしに確実に近接させることが可能で、近接にかかる時間も短縮することが可能な探針とサンプルの近接方法を提供する。 - 特許庁 - VINYL POLYMER, BLOCKING AGENT AND METHOD FOR PRODUCING PROBE-BOUND PARTICLES USING THE SAME
ビニルポリマー、ブロッキング剤、およびこれを用いたプローブ結合粒子の製造方法 - 特許庁 - VISIBLE CGMP PROBE AND METHOD FOR DETECTING AND DETERMINING CGMP THEREWITH
ｃＧＭＰ可視化プローブ及びそれを利用したｃＧＭＰの検出・定量方法 - 特許庁 - For example, a probe having a specific base sequence is used for the method.
この方法には、例えば特定の塩基配列を有するプローブが用いられる。 - 特許庁 - METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR AUTOMATICALLY LOADING USER SETTING IN RADIO ULTRASONIC PROBE
無線超音波プローブにユーザ設定を自動的にロードする方法およびシステム - 特許庁 - METHOD OF SETTING NEEDLE POINTING REGION OF PROBE CARD USED FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウエハの検査に用いるプローブカードの針立て領域の設定方法。 - 特許庁 - NEAR FIELD SEMICONDUCTOR LIGHT PROBE DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
近接場半導体光プローブ装置および同プローブ装置を製造する方法 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC PROBE, AND METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER
超音波トランスデューサ、超音波プローブおよび超音波トランスデューサの製造方法 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, METHOD FOR MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER, AND ULTRASONIC PROBE
超音波トランスデューサ、超音波トランスデューサの製造方法、および超音波プローブ - 特許庁 - CONTACT STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CONTACT ASSEMBLY USING THIS
コンタクトストラクチャ並びにその製造方法及びそれを使用したプローブコンタクトアセンブリ - 特許庁 - HIGH AND LOW TEMPERATURE IC WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD HOLDER EQUIPPED WITH HEAT SHIELDING PLATE
ＩＣウェハの高低温検査方法および遮熱プレート付きプローブカードホルダ。 - 特許庁 - PROBE CARD DETECTION DEVICE, POSITIONING DEVICE FOR WAFER, AND POSITIONING METHOD FOR WAFER
プローブカード検出装置、ウエハの位置合わせ装置及びウエハの位置合わせ方法 - 特許庁 - NONCONTACT-TYPE ARRAY PROBE, AND ULTRASONIC FLAW DETECTION APPARATUS AND METHOD USING SAME
非接触式アレイ探触子とこれを用いた超音波探傷装置及び方法 - 特許庁 - CONTACT STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE CONTACT ASSEMBLY USING THE SAME
コンタクトストラクチャ並びにその製造方法及びそれを用いたプローブコンタクトアセンブリ - 特許庁 - FUSION PROBE FOR CONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE, AND PROCESSING METHOD USING THE SAME
導電性走査型顕微鏡用融着プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND LOCAL ELECTRIC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING IT
走査プローブ顕微鏡及びこれを用いた局所的電気特性測定方法 - 特許庁 - OPTICAL FIBER PROBE, CANTILEVER HAVING MICROSCOPIC OPENING AND METHOD OF FORMING OPENING THEREIN
光ファイバープローブおよび微小開口付カンチレバーと、それらの開口形成方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NAT2*5 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR
ＮＡＴ２＊５の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DETECTION METHOD FOR p-n JUNCTION POSITION BY USING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡とそれを用いたｐ−ｎ接合位置検出方法 - 特許庁 - MEASURING INSTRUMENT AND METHOD USING FINE PARTICULATE PROBE TRAPPED BY OPTICAL RADIATION PRESSURE
光放射圧によりトラップした微粒子プローブを用いた測定装置及び方法 - 特許庁 - To provide a grain-like sample observation method based on a scanning probe microscope.
走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING FLAW BY ULTRASONIC WAVES, AND PROBE UNIT FOR ULTRASONIC FLAW DETECTOR
超音波探傷検査方法、及び、超音波探傷装置用探触子ユニット - 特許庁 - AFM TWEEZERS, MANUFACTURING METHOD OF AFM TWEEZERS, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
ＡＦＭピンセット、ＡＦＭピンセットの製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - MONITORING METHOD AND MONITORING SYSTEM FOR CORROSION STATE OF PROBE FOR CATHODE PROTECTION MANAGEMENT
カソード防食管理用プローブの腐食状態監視方法及び監視システム - 特許庁 - PROBE HAVING HIGH SPECIFICITY, NUCLEIC ACID ARRAY USING THE SAME AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
特異性の高いプローブと、それを用いた核酸アレイ、及びその製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST METHOD, AND PROBE JIG USED FOR TEST
半導体集積回路とそのテスト方法、及びそのテストに使用するプローブ治具 - 特許庁 - PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING WAFER ON WHICH A PLURALITY OF SEMICONDUCTOR DEVICE ARE FORMED
プローブカード及び複数の半導体装置が形成されたウエハの試験方法 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE AND SURFACE PROPERTY ANALYZING METHOD USING THE SAME
プローブ顕微鏡およびそのプローブ顕微鏡を用いた表面性状分析方法 - 特許庁 - APPROACH METHOD OF CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT
カンチレバーの接近方法及びこの接近方法を用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - CONFIGURATION INFORMATION ACQUISITION METHOD, VIRTUAL PROBE AND CONFIGURATION INFORMATION ACQUISITION CONTROL APPARATUS
構成情報取得方法、仮想プローブおよび構成情報取得制御装置 - 特許庁 - PROBE MOUNTING TOOL FOR SURFACE ELECTROMETERS, AND STRAIN MEASUREMENT METHOD USING THE SAME
表面電位計用プローブ取付治具およびこれを用いた歪測定方法 - 特許庁 - WIRING BOARD, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, MULTILAYER WIRING BOARD, AND PROBE CARD
配線基板、この配線基板の製造方法、多層配線基板及びプローブカード - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD OF TESTING PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路、プローブカード及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
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