「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 36 37 38 39 40 41 42 43 44 .... 78 79 次へ＞- To provide a nucleotide probe, to provide a kit for detecting a glycopeptide antibiotic-resistant Gram-positive bacterium, given by using the probe, and to provide a method for detecting the bacterium.
ヌクレオチドプローブおよびそれを用いたグリコペプタイド抗生物質耐性グラム陽性バクテリア検出キットならびに検出方法を提供する。 - 特許庁 - The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.
探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁 - To provide a method for producing a probe carrier in which variation of probe position and mixing with other probe due to shift of delivering direction of probe solution caused by readhesion of mist generated at the time of ejection from an ejection nozzle in ink jet system to the vicinity of the nozzle ejection opening are prevented, an apparatus using that method, and a probe carrier being produced by that method.
インクジェット方式による吐出ノズルから吐出される際に発生するミストがノズル吐出口近傍に再付着することによって引き起こされるプローブ溶液の吐出方向のよれによるプローブ位置のばらつきや、他のプローブとの混液を防止するプローブ担体の製造方法、それに用いる装置、および該方法によって製造されるプローブ担体を提供すること。 - 特許庁 - To provide a characteristic value measuring apparatus, a characteristic value measuring method, and a probe contact method that can appropriately control probe pressure in a probe that comes into contact with a wafer when measuring a characteristic value near the surface of the wafer.
本発明の課題は、ウェーハ表面付近の特性値測定の際、ウェーハに接触するプローブのプローブ圧を好適に制御可能な特性値測定装置、特性値測定方法、及びプローブ接触方法を提供することである。 - 特許庁 - METHOD OF ESTIMATING PHOTOCHEMICAL GENERATED-OZONE CONCENTRATION BY PUMP PROBE METHOD, AND DEVICE FOR ESTIMATING PHOTOCHEMICAL GENERATED-OZONE CONCENTRATION USING THE METHOD
ポンプ・プローブ法による光化学オゾン発生濃度推定方法及びその方法を利用した光化学オゾン発生濃度推定装置 - 特許庁 - PROBE FOR DETECTING MOLD, DNA CHIP FOR DETECTING MOLD, METHOD FOR DETECTING MOLD, METHOD FOR DISCRIMINATING LIFE AND DEATH OF MOLD, AND METHOD FOR IDENTIFYING MOLD
カビ検出用プローブ、カビ検出用ＤＮＡチップ、カビの検出方法、カビの生死判別方法及びカビの同定方法 - 特許庁 - ULTRASONIC INSPECTION METHOD AND ULTRASONIC INSPECTION APPARATUS FOR SPOT-WELDED SECTION, AND ANGLE ADJUSTMENT METHOD AND POSITION ADJUSTMENT METHOD FOR INSPECTION PROBE
スポット溶接部の超音波検査方法、超音波検査装置、検査プローブの角度調整方法および位置調整方法。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe-fixing carrier which detects a target substance, preventing inter-spot contamination or fixing of a probe to a background area, when preparing the probe-fixing carrier.
標的物質を検出するプローブ固定担体において、プローブ固定担体作成時のスポット間汚染やバックグラウンドエリアへのプローブ固定を防ぐ事が出来るプローブ固定担体の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for calibration of force to be performed automatically in a short time after changing the probe for the probe type step profiler and a probe type step profiler provided with the automatic calibration function.
触針式段差計において探針を交換した後に行う力の較正を自動的に短時間で正確に行う方法及び該自動較正機能を備えた触針式段差計を提供する。 - 特許庁 - The method includes further a step for releasing structure including the probe structure and the holder from the substrate, by under-etching the probe structure from a side of substrate generated with the probe structure.
該方法は、さらに、プローブ構造が生成された基板の側から該プローブ構造にアンダーエッチングを行うことにより、プローブ構造とホルダとを含んでいる構造を基板から離型するステップを含んでいる。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.
簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a heterodyne beat probe scanning probe tunnel microscope capable of easily and unfailingly detecting a weak RF signal, and a method of specifying a heterodyne beat signal by the scanning probe tunnel microscope.
微小なＲＦ信号検出を容易かつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡、更にはこの走査プローブ顕微鏡によるへテロダインビート信号の特定方法を提供する。 - 特許庁 - A detection kit provided with a primer set having specific base sequence and a cycling probe is used as the amplification probe for the detection method and a cycling probe for the detection of a single nucleotide substitution.
このための増幅用プローブ及び一塩基置換を検出するためのサイクリングプローブとして、特定の塩基配列を有するプライマーセット及びサイクリングプローブを備えた検出用キットを用いる。 - 特許庁 - To provide an easily-manufacturable planar probe capable of protecting a probe tip, and preventing damage to a recording medium without generating decline of a probe arrangement density, and to provide a method for manufacturing the same.
製造が容易で、プローブの配置密度の低下を生じさせることなく、プローブ先端の保護及び記録媒体への損傷の防止が可能な平面型プローブ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - A CSP probe is constituted, comprising a CSP probe measuring part 120, a CSP probe control part 130 and a device tip position controller 150 installed with a device tip position measuring system, realizing a measuring method for device tip position.
CSPプローバ測定部120、CSPプローバ制御部130、及びデバイスチップ位置測定方法を実現するデバイスチップ位置測定システムを内装させたデバイスチップ位置制御装置150を具えて、CSPプローバを構築する。 - 特許庁 - To provide a probe needle and a probe card for preventing the shift of contact point of needle tip with an electrode due to vibration from the outside and a curve of an inspection object, and an inspection device and method using the probe needle.
外部からの振動や検査対象物の反りなどによる、電極に対する針先の接触位置のずれを防ぐプローブ針、プローブカード、プローブ針を用いた検査装置及び方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe device in which a method of fixing a probe card has been changed to solve the problems occurring by a reinforcing member, or the like required following an increase in the diameter of the probe card.
プローブカードの大口径化に伴い必要となる補強部材等により発生する問題を解決するために、プローブカードの固定方法を変更したプローブ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic probe connecting a piezoelectric plate and an FPC (Flexible Printed Circuit) board without causing deterioration of acoustic characteristics of the ultrasonic probe and to provide an ultrasonic imaging apparatus and an ultrasonic probe manufacturing method.
超音波探触子の音響特性の劣化が伴わない圧電板とＦＰＣ板との接続を行う超音波探触子、超音波イメージング装置および超音波探触子製造方法を実現する。 - 特許庁 - ELECTRONIC DEVICE, OPTICAL PANEL, INSPECTION PROBE, INSPECTION DEVICE FOR OPTICAL PANEL, AND INSPECTION METHOD FOR OPTICAL PANEL
電子機器、光学パネル、検査プローブ、光学パネルの検査装置、光学パネルの検査方法 - 特許庁 - SUBSTRATE FOR MANUFACTURING PROBE CARD, TESTING DEVICE, DEVICE, AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MOLDING
プローブカード製造用基板、検査装置、３次元造形装置および３次元造形方法 - 特許庁 - To provide a production method of probe cards which are usable under higher temperatures.
より高温下で使用可能なプローブカードの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a strain relief implement for probe and a method of manufacturing the same.
プローブのストレインリリーフ用具及びその製造方法に関する発明を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for reducing de-icing heater error (DHE) in a total air temperature (TAT) probe.
全大気温度(TAT)プローブにおける除氷ヒーター誤差(DHE)を低減する方法を提供する。 - 特許庁 - ANISOTROPIC CONDUCTIVITY CONNECTOR, PROBE MEMBER, WAFER INSPECTION DEVICE AND WAFER INSPECTION METHOD
異方導電性コネクターおよびプローブ部材並びにウエハ検査装置およびウエハ検査方法 - 特許庁 - PROBE SHEET, DEVICE FOR INSPECTING SEMICONDUCTORS USING THE SAME AND METHOD THEREFOR
プローブシート、このプローブシートを使用した半導体検査装置および半導体検査方法 - 特許庁 - To provide a method for real-time detection of Salmonella using a cleavable chimeric probe.
切断可能なキメラプローブを使用したサルモネラのリアルタイム検出方法を提供する。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR ACQUIRING IMAGE REFLECTING PHYSICAL PROPERTY VALUE OF SPECIMEN
走査型プローブ顕微鏡および試料の物性値を反映した画像を取得する方法 - 特許庁 - ULTRASONIC TREATMENT APPARATUS, PROBE FOR ULTRASONIC TREATMENT APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING THESE
超音波処置装置及び超音波処置装置用プローブ、並びに、これらの製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING mRNA OF RAT CYTOCHROME P450 MOLECULAR SPECIES, PROBE AND KIT THEREFOR
ラットチトクロムＰ４５０分子種ｍＲＮＡの測定方法、そのためのプローブおよびキット - 特許庁 - FIBER PROBE ELECTRODE AND INSTRUMENTAL VALUATION METHOD OF BIOLOGICAL METABOLIC FUNCTION USING THIS
ファイバー探針電極およびこれを用いた生物の代謝機能の計測評価方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTING PROBE, EDDY CURRENT FLAW DETECTING DEVICE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD
渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置並びに渦電流探傷方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD AND AUXILIARY JIG FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS THEREOF
走査型プローブ顕微鏡、その光軸調整方法、および光軸調整用補助具 - 特許庁 - This sampling method comprises hole-milling on a sample and insertion of a probe into the hole.
方法は、サンプル上に穴をミリングすることと、プローブを穴に挿入することとを含む。 - 特許庁 - To provide a method for optimizing probe card analysis and scrub mark analysis data.
プローブカード解析及びスクラブマーク解析データを最適化するための方法を提供する。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE FOR FLUORINE RESIN INSPECTION, ULTRASONIC INSPECTION DEVICE AND ULTRASONIC INSPECTION METHOD
フッ素樹脂検査用超音波探触子，超音波検査装置及び超音波検査方法 - 特許庁 - SIGNAL DETECTING PROBE HAVING ROD-SHAPED NANOSTRUCTURE ADHERING THERETO, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
棒形状のナノ構造物が付着された信号検出用プローブおよびその製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR CLEANING PROBE IN ANALYTE DISPENSING DEVICE, ANALYTE DISPENSING DEVICE AND AUTOMATIC ANALYZER
検体分注装置のプローブ洗浄方法、検体分注装置及び自動分析装置 - 特許庁 - NUCLEIC ACID PROBE FOR DETECTING MEGASPHAERA CEREVISIAE AND METHOD FOR DETECTING TURBID BACTERIA IN BEER
メガスフェラ・セレビシエ検出のための核酸プローブ、およびビール混濁細菌の検出方法 - 特許庁 - PROBE INFORMATION COLLECTION SYSTEM, ITS COLLECTION DEVICE, COLLECTION METHOD, AND PROGRAM
プローブ情報収集システムおよびその収集装置ならびに収集方法およびプログラム - 特許庁 - PROBE AND METHOD FOR DETECTION AND/OR QUANTIFICATION AFTER TRANSFORMING NUCLEIC ACID SEQUENCE
核酸配列を変換した後に検出および／または定量するためのプローブ及び方法 - 特許庁 - CONDUCTIVE FILM STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND CONDUCTIVE FILM TYPE INTEGRATED CIRCUIT PROBE DEVICE
導電膜構造体とその製造方法、及び、導電膜型集積回路プローブ装置 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING SAMPLE BY SELF-DETECTION-TYPE CANTILEVER AND SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE DEVICE
自己検知型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡装置による試料測定方法 - 特許庁 - PROBE AND DEVICE FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC FIELD, AND METHOD FOR SPECIFYING ELECTROMAGNETIC WAVE RADIATING COMPONENT
電磁界測定用プローブ、電磁界測定装置及び電磁波放射部品の特定方法 - 特許庁 - ELECTRICAL READ HEAD (PROBE) HAVING HIGH SENSITIVITY AND RESOLUTION POWER AND METHOD OF DRIVING THE SAME
高感度と高分解能を有する電界再生ヘッド（プローブ）及びその駆動方法 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING ELEMENT AND DRIVING METHOD FOR THE SAME, AND OPTICAL SCANNING PROBE EMPLOYING OPTICAL SCANNING ELEMENT
光走査素子およびその駆動方法、並びに光走査素子を用いた光走査プローブ - 特許庁 - WELD LINE, DETECTION PROBE OF POSITION AND DIRECTION OF WELDING BUTT SECTION, DETECTION DEVICE, AND DETECTION METHOD
溶接線、溶接突合せ部の位置・方向の検知用プローブ、検知装置、及び検知方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR CHIP, PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, PROBE CARD AND PACKAGE TESTING METHOD
半導体チップおよび半導体装置用パッケ—ジ、並びに、プロ—ブカ—ドおよびパッケ—ジのテスト方法 - 特許庁 - MEMBRANE TYPE PROBE DEVICE, HIGH PURITY TUNGSTEN MICRO BALL USED FOR IT, AND ITS MANUFACTURING METHOD
メンブレン型プローブ装置及びそれに用いる高純度タングステンマイクロボールとその製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING BASE SEQUENCE OF PROBE NUCLEIC ACID BASED ON HIGHER-ORDER STRUCTURE, AND DNA MICROARRAY
高次構造に基づくプローブ核酸塩基配列決定方法とＤＮＡマイクロアレイ - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS
ＳＰＭの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
