「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 38 39 40 41 42 43 44 45 46 .... 78 79 次へ＞- To provide a probe of an ultrasonographing system, and a method for controlling the vibration of the same.
超音波診断装置のプローブ及びその振動を制御する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe unit which is superior in dimensional stability and in durability.
寸法安定性および耐久性に優れたプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of fabricating a resistive probe having a self-aligned metal shield.
自己整列されたメタルシールドを備えた抵抗性探針の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an aperture measuring device and its measuring method for a near field optical probe.
近接場用光プローブの開口測定装置及びその測定方法を提供する。 - 特許庁 - NON-CONTACT VOLTAGE/CURRENT PROBE DEVICE, AND VOLTAGE/CURRENT MEASURING METHOD USING IT
非接触型電圧電流プローブ装置とこれを用いた電圧電流測定方法 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a probe pin having a desired height and good height uniformity.
所望の高さで且つ高さの均一性のよいプローブピンの製造方法を提供する。 - 特許庁 - COMBTOOTH-SHAPED PROBE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT, AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD
櫛歯型プローブ、これを備える原子間力顕微鏡装置および変位測定方法 - 特許庁 - To provide a probe and a method for easily and accurately testing HLA genes.
簡便かつ正確な、ＨＬＡ遺伝子の検査のためのプローブおよび方法の提供。 - 特許庁 - To provide a probe for SPM which can be mass-produced, and a method of manufacturing the same.
大量生産が可能であるＳＰＭ用探針およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - OPERATION TEST SYSTEM, AND JIG AND METHOD FOR ADJUSTING POSITION OF PROBE TERMINAL
動作試験装置、プローブ端子の位置調整用治具及びプローブ端子の位置調整方法 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for transmission of an access probe in a wireless communication system.
無線通信システムにおいてアクセスプローブを送信する方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - HYBRID MEASURING APPARATUS USING ELECTROMAGNETIC ULTRASONIC PROBE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME
電磁超音波探触子を用いたハイブリット計測装置およびこれを用いた検査方法 - 特許庁 - OPTICAL INFORMATION RECORDER, OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM AND MANUFACTURING METHOD OF FLAT-PANEL TYPE PROBE ARRAY
光情報記録装置、光情報記録媒体及び平面型プローブアレイの製造方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING MINUTE FORCE, AND PROBE FOR MEASURING MICRO SURFACE PROFILE
微小力測定装置、微小力測定方法及び微小表面形状測定プローブ - 特許庁 - TRANSVERSE IN-CORE PROBE MONITORING AND CALIBRATION DEVICE FOR NUCLEAR POWER PLANTS, AND METHOD THEREOF
原子力プラントの横方向インコアプローブ監視および較正デバイスならびにその方法 - 特許庁 - To provide a resistive memory device having a probe array, and to provide a manufacturing method of the same.
探針アレイを有する抵抗性メモリ素子およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - COMBINATION MEMBERS FOR MULTIPLEX CHIP PROBE AND GENERAL-PURPOSE TESTER CONTACT POINT AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
多重チッププローブおよび汎用テスター接点組み合わせ部材およびその製造方法 - 特許庁 - PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE
走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT PROBE FOR FLAW DETECTION, EDDY CURRENT DEVICE FOR FLAW DETECTION, AND EDDY CURRENT METHOD FOR FLAW DETECTION
渦電流探傷プローブ、渦電流探傷装置及び渦電流探傷方法 - 特許庁 - LASER BEAM STIMULATED ETCHING PROCESSING DEVICE, WHEREIN NEAR FIELD OPTICAL PROBE IS USED, AND PROCESSING METHOD THEREOF
近接場光プローブを用いたレーザ光励起エッチング加工装置及び加工方法 - 特許庁 - OPEN PROBE METHOD AND DEVICE FOR SAMPLE INTRODUCTION FOR MASS SPECTROMETRY ANALYSIS
質量分光分析におけるサンプル導入のための開放型プローブ方法および装置 - 特許庁 - a technique a planetary probe uses to change its course by taking advantage of a planet's gravitational pull called swing-by method
惑星探査機が複数の惑星の引力を利用して経路を変更する技術 - EDR日英対訳辞書 - METHOD FOR DESIGNING PROBE SET, PROBE SET DESIGNED BY THE SAME, MICROARRAY PROVIDED WITH THE PROBE SET, RECORDED MEDIUM READABLE BY COMPUTOR OBTAINED BY RECORDING PROGRAM FOR EXECUTING THE METHOD ON COMPUTER, AND METHOD FOR IDENTIFICATION OF TARGET SEQUENCE USING THE SAME
プローブセットの設計方法、それにより設計されたプローブセット、前記プローブセットを備えるマイクロアレイ、前記方法をコンピュータが実行可能にするプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、および前記プローブセットを利用した標的配列の同定方法 - 特許庁 - To provide a method of forming a photoresist pattern, capable of improving efficiency of manufacture and thus reducing costs, along with a method of manufacturing a probe using the method, and a probe for inspecting an electronic device.
製造効率の向上、ひいてはコスト低減を図ることのできるフォトレジストのパターン形成方法及び同方法を用いたプローブの製造方法、並びに電子デバイス検査用プローブを提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DESIGNING PROBE SET, MICROARRAY HAVING SUBSTRATE ON WHICH PROBE DESIGNED BY THE METHOD IS IMMOBILIZED, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING THE METHOD AS COMPUTER-EXECUTABLE PROGRAM
プローブセットを設計する方法、それによって設計されたプローブが固定化された基板を有するマイクロアレイ及び該方法をコンピュータで実行可能なプログラムとして記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe contacting electrode for an electronic device, by which productivity can be improved by using a probe for a longer time period by solving the problem that the probe loses its durability in a short time since the probe contacting electrode contacting the probe is hardened.
プローブを当接する対象となるプローブ接触用電極が硬質化されていることによってプローブが短期間に耐久性を喪失するという不具合を解決し、プローブを長期間使用することを可能にして生産性を高めることができる電子デバイスのプローブ接触用電極の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time.
探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF PROCESSING INFORMATION ABOUT PROBE CARD, AND METHOD OF TESTING ENERGIZATION INSPECTING OBJECT USING PROCESSED INFORMATION
プローブカードに関する情報の処理方法、及び処理された情報を用いる被検査体の通電試験方法 - 特許庁 - NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID FOR DETECTING DECHLORINATING BACTERIUM, PROBE, METHOD FOR DETECTING DECHLORINATING BACTERIUM AND METHOD FOR DECHLORINATING
核酸、脱塩素化細菌検出用核酸、プローブ、脱塩素化細菌の検出方法および脱塩素化方法 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD OF GROOVE SHAPE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EVALUATION METHOD OF DISK SUBSTRATE OR LIGHT GUIDE PLATE
走査型プローブ顕微鏡による溝形状の解析方法およびディスク基板または導光板の評価方法 - 特許庁 - CARBON NANO STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, ITS CUTTING METHOD, PROBE HAVING THIS STRUCTURE AND ELECTRIC FIELD ELECTRON EMITTING SOURCE
炭素ナノ構造体、その製造方法、その切断方法、それを有する探針および電界電子放出源 - 特許庁 - POSITION SHIFT DETECTING METHOD AND POSITION DETERMINING METHOD, AND POSITION SHIFT DETECTING DEVICE AND POSITION DETERMINING DEVICE FOR PROBE
プローブの位置ずれ検出方法・プローブの位置決定方法・プローブの位置ずれ検出装置・プローブの位置決定装置 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID PROBE THEREFOR, AND METHOD FOR ANALYZING DATA OBTAINED THEREBY
核酸の測定方法、それに用いる核酸プローブ及びその方法によって得られるデータを解析する方法 - 特許庁 - To provide a probe unit highly reliable in continuity to a specimen, a continuity test method, and its manufacturing method.
検体と導通できる確実性が高いプローブユニット、導通試験方法及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The present invention relates to a probe which originates from an inflectional disease-causing fungus Candida parapsilosis and is useful for detecting and identifying the fungus causing an inflectional disease to a probe set, and a method for detecting the DNA of the disease-causing fungus, Candida parapsilosis, with the probe and the probe set.
感染による疾患の原因菌の検出及び同定に有用な感染症起炎菌カンジダ・パラプシローシス由来のプローブ及びプローブセット、さらにこのプローブ及びプローブセットを用いた感染症起炎菌カンジダ・パラプシローシスのＤＮＡの検出方法。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.
プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁 - A probe immobilization method for immobilizing a probe 12 onto a substrate 11 comprises the steps of: preparing the substrate 11 and the probe 12; and processing the substrate 11 to fix the probe 12 onto the substrate 11 without chemical reaction.
基板１１にプローブ１２を固定化するためのプローブの固定化方法であって、基板１１とプローブ１２とを準備する工程と、基板１１を処理することで化学反応を伴わずプローブ１２を基板１１に固定化するプローブの固定化方法からなるものである。 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING MONOLAYER CARBON NANOTUBE, METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR WIRING STRUCTURE, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT FOR FIELD EMISSION DISPLAY, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE
単層カーボンナノチューブ製造方法、半導体配線構造の製造方法、フィールドエミッションディスプレイ用電子部品の製造方法及び探針製造方法 - 特許庁 - PROBE FOR EXECUTING RECORDING OR REPRODUCTION OF INFORMATION AND ITS MANUFACTURE AS WELL AS INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING METHOD AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE USING THIS PROBE
情報の記録または再生を行うプローブおよびその作製方法、並びにそのプローブを用いた情報記録再生方法および情報記録再生装置 - 特許庁 - To provide a heatproof probe unit and a manufacturing method for it using a low resistance base board for arranging a probe pin on it with high precision.
耐熱性を有し、プローブピンが高精度に基板上に配置され、抵抗の低い基板を用いたプローブユニットおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic probe apparatus having a capacitive micromachined ultrasound transducer (cMUT) with a wider frequency band for transmission and reception and to provide a control method of the ultrasonic probe apparatus.
送受信できる周波数帯域を広帯域化したｃＭＵＴを有する、超音波プローブ装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of detecting a nucleic acid which uses an immobilized probe having an immobilized fluorescent oligonucleotide probe having higher design and higher versatility.
より設計自由度が高く汎用性の高い蛍光オリゴヌクレオチドプローブを固定化したプローブ固定化体を用いた標的核酸の検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method including modeling physical parameters representative of a probe in proximity to body tissue during an ablation procedure performed by the probe.
プローブによって実施される切除処置中に、体内組織の近位にあるプローブを表わす物理的パラメータをモデル化することを含む方法を提供する。 - 特許庁 - INFORMATION RECORDING OR REPRODUCING PROBE AND ITS MANUFACTURE, METHOD AND DEVICE FOR RECORDING/ REPRODUCING INFORMATION USING THE SAME PROBE
情報の記録または再生を行うプローブおよびその作製方法、並びにそのプローブを用いた情報記録再生方法および情報記録再生装置 - 特許庁 - To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.
試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a contact probe and its manufacturing method, which forms simply a low melting-point layer for bonding the contact probe.
コンタクトプローブを接合するための低融点層を簡単に形成することができるコンタクトプローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a contact probe which enables formation of the contact probe having a curved portion in a desired shape and dimensions, by simple processes.
所望の形状及び大きさの湾曲部を有するコンタクトプローブを簡単な方法で形成できるコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe contact and the probe contact capable of easily and effectively adapting to electrodes of specimens which have been achieving a finer pitch.
検体の微小ピッチ化する電極に簡便にしかも効果的に対応できるプローブコンタクトの製造方法およびプローブコンタクトを提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe capable of manufacturing maximumly inexpensively with high efficiency, a probe with an abutting part having a maximumly-narrowed area.
当接部の面積を可及的に狭くなしたプローブを高効率で、可及的に廉価に製造することができるプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a machining device and a machining method with a scanning-type probe capable of preventing a probe from being damaged and stably executing the machining with a simple structure.
簡便な構成で探針の損傷を防ぎ、安定した加工を行うことができる走査型プローブによる加工装置及び加工方法を提供する。 - 特許庁
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