「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 35 36 37 38 39 40 41 42 43 .... 78 79 次へ＞- DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING CONTOUR SCANNING BY USE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法 - 特許庁 - PROBER EQUIPMENT AND ITS PROBE HEIGHT ADJUSTMENT METHOD, AND PROCESS FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE
プローバー装置及びその探針高さ調整方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To provide a method of simultaneously imaging sodium/calcium activities using a two-photon fluorescent probe of mutually different fluorescent colors, and a method for preparing the two-photon fluorescent probe.
相異なる蛍光色の二光子蛍光プローブを用いてナトリウム／カルシウム活性を同時にイメージ化する方法及び二光子蛍光プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - ABNORMALITY DETECTING SYSTEM, ABNORMALITY MANAGEMENT APPARATUS, ABNORMALITY MANAGEMENT METHOD, PROBE AND PROGRAM THEREOF
異常検出システム，異常管理装置，異常管理方法，プローブおよびそのプログラム - 特許庁 - PROBE TYPE SHAPE MEASURING DEVICE AND METHOD, AND ROTATION-RESTRICTED AIR CYLINDER SUITABLE THEREFOR
触針式形状測定装置及び方法とこれに適した回転規制エアシリンダ - 特許庁 - Further, a use method of the single-stranded antibody as a molecular imaging probe agent for cancer is provided.
及び単鎖抗体によるがんの分子イメージングプローブ剤としての使用方法。 - 特許庁 - PLANAR PROBE HEAD AND METHOD OF RECORDING AND REPRODUCING OPTICAL RECORDING MEDIUM USING THE HEAD
平面型プローブヘッド及び該ヘッドを用いた光記録媒体の記録・再生方法 - 特許庁 - NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR SEAMED SECTION OF ELECTRO-RESISTANCE-WELDED TUBE AND PROBE-TYPE EDDY-CURRENT FLAW DETECTOR
電縫鋼管シーム部の非破壊検査方法とプローブ型渦流探傷装置 - 特許庁 - FRONT AND REAR SURFACE MEASURING PROBE, FRONT AND REAR SURFACE MEASURING INSTRUMENT, AND METHOD FOR MEASURING FRONT AND REAR SURFACE
表裏面測定プローブ、表裏面測定装置および表裏面測定方法 - 特許庁 - A cooking heating process probe for use in the control method is also provided.
本発明は更に、上記方法で使用可能な加熱調理プロセスプローブに関する。 - 特許庁 - To provide a method for producing a labeled RNA probe including a fluorescent label and capable of providing a high S/N ratio, and further to provide a method for detecting a target nucleic acid, and a kit for producing the RNA probe.
蛍光標識を含み、高いS/N比が得られる標識RNAプローブの作成方法、標的核酸の検出方法、及びRNAプローブ作成用キットの提供。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PREPARING PROBE CARRIER, AND ANALYZER FOR SEQUENCES OF SEQUENCED NUCLEIC ACIDS
プローブ担体の作成方法及び装置、及び配列核酸配列の解析装置 - 特許庁 - The present invention provides a manufacturing method for an optical fiber probe 1 for a near-field optical microscope.
近接場光学顕微鏡用の光ファイバプローブ（１）の製造方法である。 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, AND METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING THE SAME
近接場光プローブ、この近接場光プローブの作製方法および作製装置 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING RESISTANCE TO POWER SOURCE NOISE, AND PROBE AND SEMICONDUCTOR ELEMENT USED THEREIN
電源ノイズ耐性評価方法およびそれに用いるプローブ並びに半導体素子 - 特許庁 - OPTICAL TRAP PROBE NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL DETECTION METHOD
光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法 - 特許庁 - PROBE CARD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF REMOVING ELECTRIC CHARGE IN SEMICONDUCTOR INSPECTION SYSTEM
半導体装置検査用プローブカードおよび半導体検査システムの除電方法 - 特許庁 - The new type of capillary electrophoresis probe and the method using the same are described.
毛管電気泳動プローブの新規な種類及びそれを用いる方法が記載される。 - 特許庁 - METHOD FOR USING MAGNETIC RESONANCE IMAGING COMPATIBLE BIOPSY DEVICE WITH DETACHABLE PROBE
取り外し可能なプローブを備えたＭＲＩ適合性生検装置を用いた方法 - 特許庁 - PROBE FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION AND ULTRASONIC FLAW DETECTION DEVICE AND METHOD
超音波探傷用探触子、超音波探傷装置、及び超音波探傷方法 - 特許庁 - PROBE, APPARATUS, AND METHOD FOR MICROTHERMOANALYSIS
微小熱分析用プローブおよび微小熱分析装置ならびに微小熱分析方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING PHYSICAL PROPERTIES OF MINUTE REGION AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USED THEREIN
微小領域の物性評価方法及びそれに用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - CONTACT FOR ELECTRICAL TEST OF ELECTRONIC DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE ASSEMBLY
電子デバイスの電気的試験用接触子、その製造方法及びプローブ組立体 - 特許庁 - PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, SURFACE-OBSERVING DEVICE, EXPOSING DEVICE, AND INFORMATION-PROCESSING DEVICE
プローブ及びその製造方法、表面観察装置、露光装置、情報処理装置 - 特許庁 - METHOD FOR ADJUSTING TEMPERATURE OF THERMOSTATIC TANK, DISPENSING PROBE WASHING MECHANISM, AND AUTOANALYZER
恒温槽温度調整方法、分注プローブ洗浄機構および自動分析装置 - 特許庁 - PROCESSING METHOD USING FOCUSED ION BEAM, NANOTUBE PROBE, MICROSCOPE DEVICE, AND ELECTRON GUN
集束イオンビームを用いた加工方法、ナノチューブプローブ、顕微鏡装置、及び電子銃 - 特許庁 - METHOD FOR CLEANING EJECTION OPENING SURFACE, LIQUID EJECTOR, AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER
吐出口面の清掃方法、液体吐出装置およびプローブ担体の製造装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING FLAW OF INSPECTING OBJECT, AND PROBE FOR EDDY CURRENT FLAW DETECTION
検査対象物の探傷方法および装置ならびに渦流探傷用プローブ - 特許庁 - LAMINATE PIEZOELECTRIC ELEMENT, ITS PACKAGING METHOD, AND ULTRASONIC PROBE
積層型圧電素子、および積層型圧電素子の実装方法、並びに超音波プローブ - 特許庁 - The probe card maintenance method includes: heating the probe card and probes provided on the probe card to the same temperature as the test temperature of electric characteristic inspection; and adjusting positions of the plurality of probes while maintaining the temperature of the probe card and the plurality of probes at the test temperature.
プローブカード及びプローブカードに設置されたプローブを電気的特性検査における検査温度と同一の温度まで加熱し、プローブカード及び複数のプローブを当該検査温度に維持しつつ、複数のプローブのそれぞれの位置調整を行う。 - 特許庁 - To provide a probe card production method improving the positioning accuracy of probe units having a contact probe formed on a substrate in a process of forming the probe units on a wiring substrate in accordance with an arrangement pattern of an electric circuit on an inspection substrate.
コンタクトプローブが基板上に形成されたプローブユニットを検査基板上の電子回路の配置態様に合わせて配線基板上に形成する際のプローブユニット間の位置精度を向上させることができるプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe information system and a probe information processing method capable of collecting probe information required for production of traffic information, while suitably suppressing increase in communication traffic volume with increase of vehicles which are transmission sources of the probe information.
プローブ情報の送信源となる車両の増加に伴う通信量の増大を好適に抑制しつつ、交通情報の生成に必要なプローブ情報を収集することのできるプローブ情報システム及びプローブ情報処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe and a method for manufacturing the probe that can improve the binding force between a probe body and a micro cantilever and can form the micro cantilever overhung from the probe body into a desired shape and desired dimensions.
プローブ本体と微小カンチレバーとの間の結合力を向上させることができるとともに、プローブ本体からオーバーハングした微小カンチレバーを所望の形状や寸法に形成することができるプローブおよびプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe dissolving solution and immobilization method of nucleic acid probe capable of uniformly performing the immobilization of a nucleic acid probe in order to realize a precise analysis with high S/N ratio by forming an uniform spot in the immobilization of the nucleic acid probe.
Ｓ／Ｎ比が高く精度の良い解析を実現するために、核酸プローブの基板への固定に際し、均一なスポットを形成し、核酸プローブの固定化を均一に行い得るプローブ溶解液および核酸プローブ固定化方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a probe carrier manufacturing apparatus, capable of efficiently judging the concentration of a probe in the spot formed on a carrier using simple operations, when a probe carrier, which is constituted by fixing different probes on the carrier, is manufactured, and to provide a probe carrier manufacturing method.
担体上に異なるプローブを固定したプローブ担体を製造する際に、担体上に形成されたスポットにおけるプローブの濃度を、簡便な操作で効率良く判定できるプローブ担体の製造装置及び製造方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method for controlling the probe in a scanning probe microscope that properly controls the twisted condition of the probe that is caused from a reaction force, applied from the inclination portion of unevenness on the surface of a sample to the top end of the probe.
試料表面の凹凸の傾斜部から探針先端に加わる反力に起因して生じる探針の捩れ状態を適切に制御して計測データの誤差を低減する走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of surely and readily making a colloid probe used for evaluating toner particles having stable fluidity, a colloid probe made by the method, and a method for evaluating toner particles having stable fluidity with a colloid probe produced by the method.
安定した流動性を有するトナー粒子の評価に使用するコロイドプローブを確実かつ容易に作製できる方法、前記方法で作製されたコロイドプローブ、前記方法で作製されたコロイドプローブを用いて安定した流動性を有するトナー粒子の評価方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a working method by a scanning probe capable of realizing enhancement of working speed and long life of the probe.
加工速度の向上、並びに、探針の長寿命化を図ることができる走査型プローブによる加工方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a probe excellent in durability and a method for manufacturing the probe excellent in durability in a desired shape.
耐久性に優れたプローブを提供し、当該耐久性に優れたプローブを所望の形状で製造するプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a contact probe capable of manufacturing a contact probe reducing contact scratch and achieving secure contact at low manufacturing cost.
接触痕が小さく、しかも確実に接触し得るコンタクトプローブを低製造コストで製造可能なコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide the probe of a scanning probe microscope(SPM) having the channel structure of a field effect transistor formed at the tip thereof, and its fabricating method.
チップの先に電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープ(SPM)の探針及びその製作方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR RECORDING AND REPRODUCING DATA IN PROBE-BASED DATA STORAGE DEVICE, COMPUTER PROGRAM AND APPARATUS, AND PROBE-BASED DATA STORAGE DEVICE
プローブ・ベースのデータ記憶デバイスにおけるデータを記録および再生するための方法、コンピュータ・プログラム、および装置、ならびにプローブ・ベースのデータ記憶デバイス - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING TARGET SEQUENCE USING PROBE NUCLEIC ACID CONTAINING MISMATCH AMPLIFICATION SUBSTANCE, PROBE NUCLEIC ACID AND ASSAY KIT FOR DETECTING TARGET SEQUENCE
不一致増幅物質を含むプローブ核酸を用いる標的配列の検出方法、プローブ核酸および標的配列検出用アッセイキット - 特許庁 - To provide an ultrasonic probe and a method for manufacturing the ultrasonic probe capable of solving the shortage of the pressurizing force and ensuring the connection by sufficiently ensuring the rigidity of a substrate in thermocompressive bonding.
熱圧着の際の基材の剛性を十分に確保することで、加圧力不足を解消し、接合を確実に行うこと。 - 特許庁 - The probe request is received by a printer, to which the same connection method has been set (request 32), and the printer redirects a probe response (response).
このプローブ要求は、同一の接続方法の設定されているプリンタに受信され（要求３２）、このプリンタがプローブ応答を返信する（応答）。 - 特許庁 - To provide a method for producing a probe carrier, capable of producing a high quality probe carrier efficiently in a high yield, and a device for the same.
高品質なプローブ担体を高い歩留まりで効率的に製造することのできるプローブ担体製造方法および装置を提供する。 - 特許庁 - The probe request is received by a printer where an identical connection method is set (request 32) and the printer sends a probe reply (reply).
このプローブ要求は、同一の接続方法の設定されているプリンタに受信され（要求３２）、このプリンタがプローブ応答を返信する（応答）。 - 特許庁 - To provide a method capable of mounting a probe easily by solving a conventional problem caused by heat during probe exchange.
従来のプローブ交換時の、熱によって生じる問題を解決し、容易にプローブを実装可能な方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a probe card for performing a visual test by bringing it into contact with an electrode pad of a body to be inspected collectively, and to provide a manufacturing method for the probe card.
被検査体の電極パッドに一括接触させてビジュアルテストを実施するためのプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - This probe request is received by a printer with the same connection method set (request 32) and this printer sends a probe response (response).
このプローブ要求は、同一の接続方法の設定されているプリンタに受信され（要求３２）、このプリンタがプローブ応答を返信する（応答）。 - 特許庁
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