「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 33 34 35 36 37 38 39 40 41 .... 78 79 次へ＞- METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID WITH CARRIER CONVERTED INTO SOLID PHASE OF PROBE HAVING TANDEM STRUCTURE
タンデム構造を有するプローブの固相化担体による核酸の検出方法 - 特許庁 - PNA SKELETON TELOMERE RECOGNITION PROBE AND METHOD FOR DETERMINING TELOMERE LENGTH
ＰＮＡ骨格テロメア認識プローブ及びそれを用いたテロメア長の測定方法 - 特許庁 - LUMINESCENCE-BASED METHOD AND PROBE FOR MEASURING CYTOCHROME P450 ACTIVITY
シトクロムＰ４５０活性を測定するための発光を利用する方法およびプローブ - 特許庁 - ELECTRIC FIELD DETECTION PROBE AND THREE-DIMENSIONAL ELECTRIC FIELD MEASURING METHOD USING THE SAME
電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 - 特許庁 - INSERTION-TYPE ULTRASONIC FLAW DETECTION PROBE AND ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD USING THE SAME
内挿型超音波探傷用プローブ及びこれを用いた超音波探傷方法 - 特許庁 - METHOD FOR CHECKING CONTACT POSITION OF PROBE PIN OF TFT LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE INSPECTION DEVICE
ＴＦＴ液晶基板検査装置のプローブピンの接触位置確認方法 - 特許庁 - FIELD PROBE, FIELD DETECTION APPARATUS, AND METHOD USING THE SAME
磁界プローブ及び磁界検出装置並びにこれらを用いた磁界検出方法 - 特許庁 - PROBE SOLUTION COMPOSITION, REACTIVE CHIP USING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
プローブ溶液組成物と、これを用いた反応性チップおよびその製造方法 - 特許庁 - ACOUSTIC MATCHING LAYER, MANUFACTURING METHOD OF SAME, AND ULTRASONIC PROBE
音響整合層、および音響整合層の製造方法、並びに超音波プローブ - 特許庁 - PROBE AND PRIMER AND METHOD FOR SYNTHESIZING NUCLEIC ACID FRAGMENT COMPLEMENTARY STRAND USING THE SAME
プローブ及びプライマーおよびこれらを用いた核酸断片相補鎖合成法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND ULTRASONIC MEDICAL IMAGE DIAGNOSTIC DEVICE
超音波探触子、その製造方法、及び超音波医用画像診断装置 - 特許庁 - PROBE FOR HAIR CELL, AND LABELLING METHOD FOR HAIR CELL USING SAME
有毛細胞標識剤、及び該標識剤を用いた有毛細胞標識方法 - 特許庁 - SYSTEM FOR DETECTING POSITION OF INFORMATION STORAGE DEVICE USING PROBE, AND ITS METHOD
探針を利用した情報貯蔵装置の位置検出システム及びその方法 - 特許庁 - POSITION DETECTION METHOD AND POSITION DETECTION DEVICE FOR STRUCTURE BY EDDY CURRENT PROBE
渦電流探査による構造物の位置検出方法及び位置検出装置 - 特許庁 - CRACK FLAW-DETECTION METHOD BY LUMPED INDUCTION AC POTENTIAL TECHNIQUE AND PROBE BODY
集中誘導型交流電位差法による亀裂探傷方法、及びプローブ体 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING ABNORMAL MEASUREMENT OF TOUCH SIGNAL PROBE
タッチ信号プローブの測定異常検出方法及び測定異常検出装置 - 特許庁 - OPTICAL FIBER PROBE, FLOW PHENOMENON MEASUREMENT DEVICE, AND FLOW PHENOMENON MEASUREMENT METHOD
光ファイバプローブ、流動現象計測装置および流動現象計測方法 - 特許庁 - SCREW MEASUREMENT METHOD, PROBE FOR MEASURING SCREW, AND SCREW MEASUREMENT DEVICE USING IT
ねじ測定方法、ねじ測定用プローブ及びそれを用いたねじ測定装置 - 特許庁 - To provide a measurement method of voltage and/or temperature at a plurality of points in a probe.
プローブ内の複数点の電圧及び／又は温度の計測方法の提供。 - 特許庁 - POLYMORPHISM DETECTION PROBE, POLYMORPHISM DETECTION METHOD, METHOD OF EVALUATING DRUG EFFICACY, DISEASE PREDICTION METHOD, AND REAGENT KIT FOR POLYMORPHISM DETECTION
多型検出用プローブ、多型検出方法、薬効評価方法、疾患予測方法及び多型検出用試薬キット - 特許庁 - PROCESSING METHOD OF IMMOBILIZED NUCLEIC ACID PROBE, METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID, METHOD FOR ANALYZING NUCLEIC ACID DENSITY, AND KIT FOR DETECTING NUCLEIC ACID
固定化核酸プローブの処理方法、核酸の検出方法、核酸濃度分析方法、および核酸検出用キット - 特許庁 - To provide a contact probe having excellent durability, and having a stable contact electric resistance between a plunger and a barrel, and to provide a method for manufacturing the contact probe.
プランジャーとバーレル間の接触電気抵抗が安定し、耐久性に優れるコンタクトプローブ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and system for obtaining an attitude of a probe relative to an object by probing the object using the probe.
物体に対するプローブの姿勢を、プローブを用いて物体をプロービングすることによって求めるためのシステム及び方法を提供する。 - 特許庁 - In the contact probe 1 and its manufacturing method, the needle edge part 1b pressure-contacted on the inspection object is provided on one end of a probe body 1c.
検査対象に圧接される針先部１ｂがプローブ本体１ｃの一端に設けられたコンタクトプローブ１とその製造方法。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING HEAR-FIELD MICROSCOPE, AND PROBE FOR SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE MANUFACTURED BY THE SAME
走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法とその製造方法によって作製された走査型近視野顕微鏡用プローブ - 特許庁 - SUPRAMOLECULAR COMPLEX, PROBE FOR DETECTING POLYPHOSPHORIC ACID COMPOUND AND METHOD FOR DETECTING POLYPHOSPHORIC ACID COMPOUND BY USING THE SAME PROBE AND SIGNAL TRANSDUCTION INHIBITOR
超分子錯体、ポリリン酸化合物検出用プローブ及びそれを用いたポリリン酸化合物検出方法並びに、シグナル伝達阻害剤 - 特許庁 - To provide a measurement method that uses a scanning probe microscope having high quantitative precision, and to provide the scanning probe microscope.
高い定量精度を有する走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法、および、その走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a photodetection device and a photodetection method using an optical fiber probe applicable to a scanning probe microscope or the like.
本発明は、走査型プローブ顕微鏡等に適用可能な光ファイバプローブを用いた光検出装置及び光検出方法に関する。 - 特許庁 - To provide a probe set useful for individually identifying each allele of HLA-DR, and to provide a method for identifying the same using the probe set.
HLA-DRの各アリルを個別に同定するために有用であるプローブセット及びそれを用いたHLA- DRのアリルの同定方法を提供すること。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND ULTRASONIC TEST EQUIPMENT EACH USING IT, AND METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC PROBE
超音波探触子とこれを用いた超音波診断装置および超音波探傷装置ならびに超音波探触子の製造方法 - 特許庁 - To provide a primer set and a probe for detecting multiple types of HPV(human papilloma virus) in high specificity and sensitivity, and to provide a method for detecting multiple types of HPV in high specificity and sensitivity using the primer set and the probe.
複数の型のＨＰＶを高い特異性及び感度で検出するためのプライマーセット及びプローブの提供。 - 特許庁 - To provide a probe set useful for individually identifying each allele of HLA-C, and to provide a method for identifying the same using the probe set.
HLA-Cの各アリルを個別に同定するために有用であるプローブセット及びそれを用いたHLA-Cのアリルの同定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe for inspecting semiconductor device, having proper contacting and improved durability, and to provide a method for manufacturing such a probe.
コンタクト性が良好で耐久性も向上することのできる半導体装置の検査用プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe set useful for individually identifying each allele of HLA-A, and to provide a method for identifying the same using the probe set.
HLA-Aの各アリルを個別に同定するために有用であるプローブセット及びそれを用いたHLA-Aのアリルの同定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe set useful for individually identifying each allele of HLA-DP, and to provide a method for identifying the same using the probe set.
HLA-DPの各アリルを個別に同定するために有用であるプローブセット及びそれを用いたHLA-DPのアリルの同定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).
ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁 - PATTERN CONTOUR EXTRACTION METHOD, IMAGE PROCESSING METHOD, PATTERN EDGE RETRIEVAL METHOD, PROBE SCANNING METHOD, PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE AND PROGRAM
パターン輪郭の抽出方法、画像処理方法、パターンエッジの探索方法、プローブの走査方法、半導体装置の製造方法、パターン検査装置およびプログラム - 特許庁 - PROBE CARD WITH ZIF CONNECTOR, ASSEMBLING METHOD THEREOF, WAFER TEST SYSTEM, AND WAFER TEST METHOD ADOPTING SAID SYSTEM
ＺＩＦコネクタつきプローブカード、その組立方法、ウェハテストシステム、及びそれを導入したウェハテスト方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM PROBE SHEET USED IN THE SAME
半導体集積回路装置の製造方法およびそれに用いられる薄膜プローブシートの製造方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, LIGHT ABSORBING MATERIAL DETECTING METHOD USING IT, AND MICROSPECTROSCOPY METHOD
走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた光吸収物質の検出方法並びに顕微分光方法 - 特許庁 - SURFACE OBSERVATION METHOD, RECORDING/REPRODUCING METHOD, SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND RECORDING/ REPRODUCING DEVICE
表面観察方法及び記録再生方法、並びに、走査型プローブ顕微鏡及び記録再生装置 - 特許庁 - METHOD FOR DESIGNING PROBE SET USED FOR DETECTION METHOD OF SAMPLE NUCLEIC ACID BY DETECTION OF HYBRID BODY
ハイブリッド体の検出によるサンプル核酸の検出方法に用いる前記プローブセットの設計方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING WHEAT UTILIZING PCR METHOD AND PRIMER PAIR, AND NUCLEIC ACID PROBE USED THEREIN
ＰＣＲ法を利用した小麦の検出方法並びにこれに使用するプライマー対及び核酸プローブ - 特許庁 - POLYMORPHISM DETECTION PROBE, POLYMORPHISM DETECTION METHOD, METHOD OF EVALUATING DRUG EFFICACY, AND REAGENT KIT FOR POLYMORPHISM DETECTION
多型検出用プローブ、多型検出方法、薬効判定方法及び多型検出用試薬キット - 特許庁 - PROBER APPARATUS, PROBE STYLUS CLEANING METHOD, AND APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR CHIP
プローバー装置，プローブ触針クリーニング方法および半導体チップ検査装置ならびに半導体チップ検査方法 - 特許庁 - PROBE UNIT FOR ULTRASONIC FLAW DETECTOR, AND METHOD OF ESTIMATING CRACK DEPTH BY ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD
超音波探傷装置用の探触子ユニット、及び、超音波探傷法によるき裂深さの推測方法 - 特許庁 - PROBE UNIT, INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD OF ELECTRO-OPTICAL PANEL BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRO-OPTICAL APPARATUS
プローブユニット、検査装置、電気光学パネル基板の検査方法および電気光学装置の製造方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC PROPAGATION VELOCITY MEASURING METHOD, AND BEARING INNER RING RACEWAY SURFACE INSPECTION METHOD
超音波探触子および超音波伝播速度測定方法および軸受内輪軌道面の検査方法 - 特許庁 - PROBE HOLDING DEVICE, SAMPLE ACQUIRING DEVICE, SAMPLE WORKING DEVICE, SAMPLE WORKING METHOD, AND SAMPLE EVALUATION METHOD
プローブ保持装置、試料の取得装置、試料加工装置、試料加工方法、および試料評価方法 - 特許庁
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