「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 34 35 36 37 38 39 40 41 42 .... 78 79 次へ＞- NUCLEIC ACID PROBE, METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID, DEVICE FOR ANALYZING NUCLEIC ACID AND METHOD FOR CONTROLLING REACTION RATE
核酸プローブ、核酸検出方法、核酸分析用デバイス、および反応速度を制御する方法 - 特許庁 - This is applied to the probe card using the probe sheet, the inspection method (manufacturing method) of the semiconductor device using the same, and the connection sheet superior in high-frequency characteristics.
さらに、プローブシートを用いたプローブカードおよびそれを用いた半導体装置の検査方法（製造方法）および高周波特性に優れた接続用シートに適用する。 - 特許庁 - LAMINATED PIEZOELECTRIC ELEMENT, MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND ULTRASONIC PROBE
積層型圧電素子、および積層型圧電素子の作製方法、並びに超音波プローブ - 特許庁 - To provide a semiconductor probe equipped with a resistance chip, and to provided its manufacturing method.
抵抗性チップを備えた半導体プローブ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - APPROACH DIRECTION SETTING METHOD FOR PROBE, SHAPE MEASURING APPARATUS PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
プローブのアプローチ方向設定方法、形状測定装置プログラム及び記憶媒体 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an ultrasonic wave probe which can manufacture the ultrasonic wave probe with high performance and reliability, by using an injection depositing method.
噴射堆積法を用いて、性能及び信頼性の高い超音波用探触子を作製することができる超音波用探触子の製造方法等を提供する。 - 特許庁 - ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR, PROBE CARD, WAFER INSPECTION DEVICE AND WAFER INSPECTION METHOD
異方導電性コネクター、プローブカード並びにウエハ検査装置およびウエハ検査方法 - 特許庁 - To provide a probe set, classification method and kit for gene type of HBV.
ＨＢＶの遺伝子型分類のためのプローブセット、分類方法及びキットの提供 - 特許庁 - To provide a probe substrate quite effective in LSI inspection and a manufacturing method of the substrate.
ＬＳＩ検査に極めて有効なプローブ基板とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - STANDARD SAMPLE FOR ELECTRONIC PROBE MICROANALYSER AND MANUFACTURING METHOD OF STANDARD SAMPLE
電子プローブマイクロアナライザー用の標準試料、および該標準試料の製造方法 - 特許庁 - To provide an oligomer probe array whose SN ratio has been improved and a method for manufacturing the same.
ＳＮ比が向上したオリゴマープローブアレイ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a near-field probe with high reproducibility in a short time.
近接場プローブを再現性良く短時間で製造する方法を提供する。 - 特許庁 - PROBE SET FOR DETECTING PHLOGOGENIC BACTERIUM OF INFECTIOUS DISEASE, CARRIER AND METHOD FOR EXAMINING GENE
感染症起炎菌検出用プローブセット及び担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR PROBE EQUIPPED WITH RESISTIVE CHIP OF LOW SECTION RATIO AND ITS MANUFACTURING METHOD
低断面比の抵抗性チップを備えた半導体探針及びその製造方法 - 特許庁 - ETCHING METHOD AND DEVICE STIMULATED BY LASER BEAM AND USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE
近接場光プローブを用いたレーザ光励起エッチング加工装置及び加工方法 - 特許庁 - NAVIGATION DEVICE, PROBE INFORMATION TRANSMISSION METHOD, PROGRAM, AND TRAFFIC INFORMATION CREATION DEVICE
ナビゲーション装置、プローブ情報送信方法、プログラム及び交通情報作成装置 - 特許庁 - TREATMENT EQUIPMENT FOR SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE FOR TEMPERATURE MEASUREMENT AND TEMPERATURE MEASURING METHOD THEREOF
半導体ウエハの処理装置、温度測定用プロ—ブ及びその温度測定方法 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTION METHOD, EDDY CURRENT FLAW DETECTION PROBE, AND EDDY CURRENT FLAW DETECTION DEVICE
渦電流探傷方法、渦電流探傷プローブ、及び渦電流探傷装置 - 特許庁 - PROBE CARD, DC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING THIS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
プローブカード、およびこれを用いた直流特性測定方法、および半導体装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR PROBE HAVING WEDGE SHAPE RESISTIVE TIP AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
ウェッジ形状の抵抗性チップを備えた半導体探針及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING BONDING AFFINITY OF PROBE TO TEST MATERIAL, AND ITS UTILIZATION
被験物質に対するプローブの結合親和性を測定する方法及びその利用 - 特許庁 - METHOD FOR MAKING CONDUCTIVE FILM, ITS STRUCTURE, AND PROBE CARD PROVIDED WITH THE CONDUCTIVE FILM
導電膜の製造方法及びその構造、及び該導電膜を具えたプローブカード - 特許庁 - WIRING BOARD ADJUSTMENT JIG OF PROBE CARD, WIRING BOARD CORRECTION METHOD, INSPECTION METHOD USING PROBE CARD ADJUSTED BY USING WIRING BOARD ADJUSTMENT JIG AND INSPECTION SYSTEM
プローブカードの配線基板調整治具及び配線基板修正方法並びに配線基板調整治具を用いて調整されたプローブカードを用いた検査方法及び検査システム - 特許庁 - WAVELENGTH DISPERSION MEASURING METHOD AND SYSTEM, PROBE LIGHT GENERATOR AND MEASURING INSTRUMENT
波長分散測定方法及びシステム、プローブ光発生装置並びに測定装置 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NAT2*6 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR
ＮＡＴ２＊６の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MUTATION OF NAT2*7 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR
ＮＡＴ２＊７の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁 - WORKING PROBE FOR FRICTION-STIRRING JOINING AND APPARATUS AND METHOD FOR FRICTION-STIRRING JOINING
摩擦攪拌接合用の加工プローブ、摩擦攪拌接合装置及び摩擦攪拌接合方法 - 特許庁 - To provide a probe device, the inspecting method of the probe and the manufacturing method of a semiconductor device, capable of efficiently testing a semiconductor wafer requiring a plurality of temperature guarantees.
複数の温度保証が必要な半導体ウェハを効率良く試験することのできるプローブ装置及びプローブ検査方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - VISUAL PROBE CAR SYSTEM, ITS TRAFFIC INFORMATION PROVIDING METHOD AND ITS INFORMATION CENTER SYSTEM
ビジュアルプローブカーシステム、その交通情報提供方法およびその情報センターシステム - 特許庁 - APERTURE PROBE FOR LOCAL MEASUREMENT OF COMPLEX DIELECTRIC CONSTANT OF MATERIAL AND MANUFACTURING METHOD
材料の複素誘電率の局部的測定用の開口プローブ及び製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MUTATION OF CYP2D6 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR
ＣＹＰ２Ｄ６の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MUTATION OF CYP2C9 AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR
ＣＹＰ２Ｃ９の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁 - SEMICONDUCTOR PROBE WITH HIGH-RESOLUTION RESISTIVE TIP, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
高分解能の抵抗性チップを備えた半導体探針及びその製造方法 - 特許庁 - CONTROLLING METHOD AND APPARATUS FOR PROBE-TIP SANDING OF SEMICONDUCTOR-ELEMENT TESTING APPARATUS
半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING MUTATION OF CYP2D6*2, AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR
ＣＹＰ２Ｄ６＊２の変異の検出法ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING COLLOID PROBE CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING DEVICE
原子間力顕微鏡用のコロイドプローブカンチレバーの製造方法および製造装置 - 特許庁 - Additionally, a manufacturing method of the two-photon fluorescent probe and the real-time monitoring method of intracellular Mg^2+ by using the two-photon fluorescent probe are provided.
・・・（１）さらに、上記二光子励起蛍光プローブの製造方法、及び上記二光子励起蛍光プローブを用いた細胞内Ｍｇ^２＋のリアルタイムモニタリング方法が提供される。 - 特許庁 - NONSPECIFIC ADSORPTION PREVENTING AGENT, PROBE-BOUND PARTICLE, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
非特異吸着防止剤ならびにプローブ結合粒子およびそれらの製造方法 - 特許庁 - To provide a connection apparatus and a connection method for controlling an ultrasound probe.
超音波プローブ（２５０）を制御するための接続装置および方法を提供する。 - 特許庁 - MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡を用いた試料測定における測定条件設定方法 - 特許庁 - To provide a method for obtaining position information of a probe on a microarray.
マイクロアレイ上に固定されたプローブの位置情報を得る方法を提供すること。 - 特許庁 - SECONDARY COPPER ION MEASURING PROBE AND MEASURING METHOD OF SECONDARY COPPER ION USING THE SAME
第二銅イオン測定用プローブ及びそれを用いた第二銅イオンの測定方法 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC ELEMENT, MANUFACTURING METHOD FOR IT, AND ULTRASONIC PROBE EQUIPPED WITH THE PIEZOELECTRIC ELEMENT
圧電素子、その製造方法、及び当該圧電素子を具備する超音波探触子 - 特許庁 - ULTRASOUND FLAW DETECTING DEVICE FOR PIPE ENDS, AND INITIAL-POSITION SETTING METHOD FOR PROBE HOLDER
管端部の超音波探傷装置及び探触子ホルダーの初期位置設定方法 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING mRNA OF TRANSPORTER IN RAT, AND PROBE AND KIT THEREFOR
ラットにおけるトランスポーターのｍＲＮＡの測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYSIS METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYZER AND THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE MEASURING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いた立体膜構造解析方法および立体膜構造解析装置、並びに走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法 - 特許庁 - MOVABLE PROBE APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SPECIMEN OBSERVING METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用可動プローブ装置および電子顕微鏡の試料観察方法 - 特許庁 - PROBE FOR DETECTING ORGANOHALOGEN COMPOUND-DECOMPOSING MICROORGANISM AND DETECTION METHOD
有機ハロゲン化合物分解微生物を検出するためのプローブおよび検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR CREATING PROBE DNA TO NUCLEIC ACID ENCODING MEMBRANE PROTEIN, METHOD FOR DETECTING EXPRESSION OF GENE ENCODING MEMBRANE PROTEIN, AND PROBE DNA-IMMOBILIZING CARRIER
膜タンパク質をコードする核酸に対するプローブＤＮＡを作成する方法、膜タンパク質をコードする遺伝子の発現を検出する方法、及びプローブＤＮＡ固定化担体 - 特許庁 - OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING-TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE
光導波路プローブおよびその製造方法、ならびに走査型近視野顕微鏡 - 特許庁
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