「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 19 20 21 22 23 24 25 26 27 .... 78 79 次へ＞- PROBE CARD AND METHOD FOR INSPECTING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE
プローブカードおよび半導体装置の特性検査方法 - 特許庁 - PROBE FOR ANTENNA MEASUREMENT AND MEASURING METHOD USING THE SAME
アンテナ測定用プローブ及びこれを用いた測定方法 - 特許庁 - VEHICLE, PROBE CAR SYSTEM AND TRAFFIC INFORMATION SHARING METHOD
車両、プローブカーシステムおよび交通情報共有方法 - 特許庁 - DATA DRIVER OF DISPLAY DEVICE, TEST METHOD THEREOF AND PROBE CARD
表示装置のデータドライバ、そのテスト方法及びプローブカード - 特許庁 - OPTICAL PANEL, INSPECTION PROBE, INSPECTION DEVICE, AND INSPECTION METHOD
光学パネル、検査プローブ、検査装置、および検査方法 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD FOR MEASURING FLEXURE AMPLITUDE OF TOUCH PROBE
タッチ式プローブのたわみ振幅を測定する測定方法 - 特許庁 - PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, BIOMOLECULE CHIP, BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD, AND METHOD FOR IMMOBILIZING BIOMOLECULE
プローブ、走査型プローブ顕微鏡及び生体分子チップ並びに生体分子観察方法及び生体分子固定方法 - 特許庁 - VERTEBRAL PEDICULAR ARCH PROBE NAVIGATION SYSTEM AND NAVIGATION METHOD
椎弓根プローブのナビゲーションシステムおよびナビゲーション方法 - 特許庁 - METHOD FOR EXPRESSED GENE ANALYSIS AND PROBE KIT FOR EXPRESSED GENE ANALYSIS
遺伝子検出法及び遺伝子検出用プローブキット - 特許庁 - SCREENING METHOD USING FLUORESCENT PROTEIN FUSION PROBE
蛍光蛋白質融合プローブを用いたスクリーニング方法 - 特許庁 - PROBE FOR MEASURING ELECTRICAL CHARACTERISTICS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
電気特性測定用プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TRANSMITTING TRAVELING TRACK IN PROBE CAR SYSTEM
プローブカーシステムでの走行軌跡の伝送方法と装置 - 特許庁 - METHOD OF EVALUATING PROBE CARD CONNECTION AND APPARATUS THEREFOR
プローブカード接続良否判定方法およびその装置 - 特許庁 - MEASUREMENT PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
測定用プローブ、及び該測定用プローブの製造方法 - 特許庁 - PROBE CARRIER AS WELL AS METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING THE SAME
プローブ担体、その製造方法およびその製造装置 - 特許庁 - WORKING PROBE FOR FRICTION STIRRING AND JOINING, AND JOINING METHOD
摩擦攪拌接合用の加工プローブおよび接合方法 - 特許庁 - SNIFFER PROBE AND GAS LEAK TESTING METHOD USING THE SAME
スニッファープローブ及びそれを用いたガス漏れ試験方法 - 特許庁 - ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTING DEVICE AND PROBE APPARATUS
アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁 - PROBE COVER FOR TYMPANIC MEMBRANE THERMOMETER AND METHOD OF MANUFACTURING IT
鼓膜温度計用プローブカバー及びその製造方法 - 特許庁 - CALIBRATION METHOD OF PROBE FOR HIGH FREQUENCY CHARACTERISTIC MEASUREMENT, HIGH FREQUENCY CHARACTERISTIC MEASURING METHOD OF ELECTRONIC DEVICE USING PROBE, AND PROBE FOR HIGH FREQUENCY MEASUREMENT
高周波特性測定用プローブの校正方法、このプローブを用いた電子デバイスの高周波特性測定方法、および高周波測定用プローブ - 特許庁 - ENZYME SUBSTRATE-MODIFIED NUCLEOSIDE TRIPHOSPHATE, NUCLEIC ACID PROBE, MULTILABELED NUCLEIC ACID PROBE, METHOD FOR PRODUCTION OF MULTILABELED NUCLEIC ACID PROBE, AND METHOD FOR DETECTION OF TARGET NUCLEIC ACID
酵素基質修飾ヌクレオシド三リン酸、核酸プローブ、マルチラベル化核酸プローブ、マルチラベル化核酸プローブの製造方法および標的核酸の検出方法 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING METAL PATTERN, CONTACT PROBE, AND ITS MANUFACTURING METHOD
金属パターンの製造方法、コンタクトプローブの製造方法及びコンタクトプローブ - 特許庁 - NANOPARTICLE-LABELED PROBE, METHOD FOR FORMING THEREOF, AND METHOD FOR DETECTING NUCLEIC ACID
ナノ粒子標識プローブ、その形成方法、及び核酸検出方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING PROTEIN, AND METHOD OF DETECTING PROBE PEPTIDE AND INSULIN
タンパク質の検出方法、プローブペプチドおよびインシュリンの検出方法 - 特許庁 - CHARACTERISTIC VALUE MEASURING APPARATUS AND METHOD THEREFOR, AND PROBE CONTACT METHOD
特性値測定装置、特性値測定方法、及びプローブ接触方法 - 特許庁 - METHOD FOR PATTERNING RESIST, CONTACT PROBE WITH HIGH ASPECT RATIO AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
レジストのパターニング方法、高アスペクト比のコンタクトプローブ及びその製法 - 特許庁 - ALIGNMENT ADJUSTING APPARATUS FOR PROBE, MEASURING MACHINE EQUIPPED THEREWITH AND ALIGNMENT ADJUSTING METHOD FOR PROBE
プローブのアライメント調整装置、その装置を備えた測定機およびプローブのアライメント調整方法 - 特許庁 - PROBE FOR DETECTING INFECTION-INDUCING MICROBE, PROBE SET, CARRIER AND METHOD FOR TESTING GENE
感染症起炎菌検出用プローブ及びプローブセット、ならびに担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁 - The probe alignment confirmation circuit and the probe alignment confirmation method of the semiconductor device are disclosed.
半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法が掲示される。 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND NEAR-FIELD OPTICAL APPARATUS USING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE
近視野光プローブとその製造方法、およびその近視野光プローブを用いた近視野光装置 - 特許庁 - PROBE WITH FIELD-EFFECT TRANSISTOR-CHANNEL STRUCTURE FOR PROBE SCANNING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
電界効果トランジスタチャンネル構造を持つ探針走査型顕微鏡の探針およびその製造方法 - 特許庁 - PROBE NEEDLE FOR WAFER TEST AND ITS PRODUCTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTED WITH THE PROBE NEEDLE
ウエハテスト用プロ—ブ針とその製造方法およびそのプロ—ブ針によってテストした半導体装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - COAXIAL PROBE, PROBE HOUSING BOARD, CABLE HOLDING BOARD, CONTACT UNIT, AND MANUFACTURING METHOD OF CABLE HOLDING BOARD
同軸プローブと、プローブ収納ボードと、ケーブル保持ボードと、コンタクト機と、ケーブル保持ボードの製造方法 - 特許庁 - TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST
走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE USING THE ULTRASONIC PROBE
超音波探触子、その製造方法およびその超音波探触子を用いた超音波診断装置 - 特許庁 - To provide a near-field probe based on an SOI substrate, and to provide a manufacturing method of the near-field probe.
ＳＯＩ基板を基にした近接場探針及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE, AND METHOD FOR ESTIMATING SURFACE TEMPERATURE OF ULTRASONIC PROBE
超音波探触子、超音波診断装置および超音波探触子の表面温度推定方法 - 特許庁 - ULTRASONIC TREATMENT DEVICE, ULTRASONIC PROBE FOR ULTRASONIC TREATMENT DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PROBE
超音波処置装置、並びに、超音波処置装置用超音波プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE AND NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS INCLUDING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD OF ULTRASONIC PROBE
超音波探触子およびこれを含む非破壊検査装置、さらに超音波探触子の製造方法 - 特許庁 - To provide a probe immobilization method in which probe modification is restricted.
プローブの変性を抑制したプローブの固定化方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁 - To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.
マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁 - LIQUID DISCHARGE DEVICE USED IN MANUFACTURE OF PROBE- SUPPORT, PROBE-SUPPORT MANUFACTURING APPARATUS USING THE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE-SUPPORT
プローブ担体の製造用の液体吐出装置、該液体吐出装置を用いたプローブ担体製造装置及びプローブ担体の製造方法 - 特許庁 - To provide an oligonucleotide probe having an improved binding specificity, a microarray in which the probe is fixed, and a method for designing the probe.
結合特異性が改善されたオリゴヌクレオチドプローブ、プローブが固定化されているマイクロアレイ及びプローブを設計する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of controlling the movement of a probe which can perform positioning of a probe on a sample efficiently, and to provide a probe apparatus.
試料上でのプローブの位置決めを効率良く行うことのできるプローブの移動制御方法及びプローブ装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe card, capable of protecting a probe head even during an etching process to reduce the percentage defective of the probe card.
エッチング工程中にもプローブヘッドが保護でき、プローブカードの不良率を低減できるプローブカードの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe card evaluation method, its apparatus, and a probe inspection method which allow to bring a probe pin of a probe card into contact with an electrode pad of a circuit element reproducibly.
プローブカードのプローブピンを回路素子の電極パッド上に再現性良く接触させることができるようにしたプローブカードの品質評価方法及びその装置、プローブ検査方法を提供する。 - 特許庁 - EDDY CURRENT FLAW DETECTION MULTI-COIL TYPE PROBE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
渦流探傷マルチコイル式プローブ及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND PROBE FOR HIGH TILE ANGLE-SHAPE MEASUREMENT
高傾斜角形状測定方法および測定用プローブ - 特許庁 - PROBE CARD ASSEMBLY AND KIT, AND METHOD FOR USING THE SAME
プローブカード・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法 - 特許庁
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