「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 44 45 46 47 48 49 50 51 52 .... 78 79 次へ＞- TOOL FOR SETTING DEPTH FOR COMBUSTION DYNAMICS MONITORING SYSTEM AND METHOD FOR DISPOSING PROBE AT TARGET DEPTH
燃焼力学モニタリングシステムのための深さを設定工具及び目標深さにプローブを配置する方法 - 特許庁 - PROBE PAD, SUBSTRATE HAVING SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTER FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
プローブパッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスター - 特許庁 - A method for manufacturing the molecule manipulator includes a step of forming a covalent bond of the photoreactive molecules with the probe.
分子マニピュレータを作成する方法は、光反応分子をプローブに共有結合するステップを含む。 - 特許庁 - To provide a testing device and testing method for finding abnormalities of the needle of a probe.
探針の針先の異常を発見することが可能な試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS OF TRANSMISSION OF ACCESS PROBE IN WIRELESS COMMUNICATION SYSTEMS, AND COMPUTER-READABLE MEDIUM
無線通信システムにおいてアクセスプローブを送信する方法および装置ならびにコンピュータ可読媒体 - 特許庁 - DETECTION METHOD AND DETECTION DEVICE FOR WAFER LEVEL LIGHT-EMITTING DIODE (LED) CHIPS AND PROBE CARD THEREOF
ウェーハレベル発光ダイオード（ＬＥＤ）チップのための検出方法及び検出装置並びにそれらのプローブカード - 特許庁 - CARBON NANOTUBE WIRING, DEPOSITING DEVICE FOR CARBON NANOTUBE, SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR WIRING CARBON NANOTUBE, AND PROBE
カーボン・ナノ・チューブ配線、カーボン・ナノ・チューブの析出装置、半導体素子、カーボン・ナノ・チューブの配線方法、探針 - 特許庁 - ORGANIC POLYMER MATERIAL, ORGANIC COMPOSITE MATERIAL, ORGANIC PIEZOELECTRIC MATERIAL, METHOD FOR FORMING THE SAME, AND ULTRASONIC PROBE
有機高分子材料、有機複合材料、有機圧電材料、その形成方法及び超音波探触子 - 特許庁 - PROBE CARD FOR USE IN TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウエハ上のチップの検査に用いるプローブカードおよび半導体ウエハ上のチップの検査方法 - 特許庁 - MOLECULE PROBE FOR DISCRIMINATING OPTICAL ISOMER, DISCRIMINATION DEVICE OF OPTICAL ISOMER AND DISCRIMINATION METHOD OF OPTICAL ISOMER
光学異性体識別用分子探針、ならびに光学異性体の識別装置および識別方法 - 特許庁 - To provide an efficient joining method for enhancing attachment reproducibility for attaching a nanotube to a probe tip end part.
探針尖端部へのナノチューブの取り付けの再現性を高める効率のよい手段が求められている。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁 - To provide a method for detecting a human herpesvirus 6 (HHV-6) DNA using a new probe.
新たなプローブを用いたヒトヘルペスウイルス６型（ＨＨＶ−６）ＤＮＡの検出する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for conveniently assaying the complementarity of a sample nucleic acid fragment to a probe molecule.
プローブ分子に対する試料核酸断片の相補性を簡便に検定する方法を提供すること。 - 特許庁 - TEMPERATURE AND FLUID PHASE DETERMINATION SIMULTANEOUS MEASUREMENT METHOD FOR MULTIPHASE FIELD CONSISTING OF LIQUID AND GAS, AND COMPOSITE PROBE
液体及び気体から成る混相場の温度・流体相判別同時測定方法及び複合プローブ - 特許庁 - DIRECT LABEL PROBE COMPOSITION AND METHOD FOR DETECTING PLURAL CHROMOSOME OR CHROMOSOME REGION
直接的標識プローブ組成物及び複数の染色体又は染色体領域の検出方法 - 特許庁 - To provide an ion scattering spectroscopy measuring method which can appropriately determine irradiation quantity of probe particles.
プローブ粒子の照射量を適切に決定できるイオン散乱分光測定方法を提供する。 - 特許庁 - A method of imaging a low-oxygen region uses the near-infrared fluorescent probe for imaging a low-oxygen region.
前記の低酸素領域イメージング用近赤外蛍光プローブを用いる低酸素領域のイメージング方法。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME
超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR ADJUSTING PARALLELISM OF PROBE CARD AND MOUNTING BASE, INSPECTION PROGRAM STORAGE MEDIUM, AND INSPECTION DEVICE
プローブカードと載置台との平行度調整方法及び検査用プログラム記憶媒体並びに検査装置 - 特許庁 - ULTRASONIC INSPECTION DEVICE, ULTRASONIC PROBE DEVICE USED IN ULTRASONIC INSPECTION DEVICE, AND ULTRASONIC INSPECTION METHOD
超音波検査装置、超音波検査装置に用いられる超音波プローブ装置、および超音波検査方法 - 特許庁 - PROBE FOR ANALYZING BASE SEQUENCE, IMMOBILIZED CARRIER FOR ANALYZING BASE SEQUENCE, AND METHOD FOR ANALYZING BASE SEQUENCE
塩基配列解析用プローブ及び塩基配列解析用固相化担体、並びに塩基配列解析方法 - 特許庁 - To provide a practically useful three-dimensional photonic crystal, a method for manufacturing the crystal and to provide a probe.
実用上有効な３次元フォトニック結晶およびその製造方法ならびにプローブを提供する。 - 特許庁 - To provide a proper method for isolating a probe-defined mixture of nucleic acids from a complex specimen.
複雑な試料から、プローブにより規定された核酸混合物をもたらす適切な方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and system for instrumenting a program by optimizing probe insertion.
プローブ挿入を最適化することによってプログラムを計装するための方法およびシステムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor probe equipped with a high-resolution resistive tip, and to provide a method for manufacturing the same.
高分解能の抵抗性チップを備えた半導体探針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - PHOTOACOUSTIC IMAGING DEVICE, PROBE UNIT USED IN THE SAME, AND OPERATION METHOD OF PHOTOACOUSTIC IMAGING DEVICE
光音響撮像装置、それに用いられるプローブユニットおよび光音響撮像装置の作動方法 - 特許庁 - To provide a method and device for detecting the contact of a touch probe of a wide measurement angle by making a measurement pressure low.
測定圧が低く、広い測定角度のタッチプローブの接触検出方法及び装置を提供。 - 特許庁 - METHOD FOR CLEANING MEASURING PROBE FOR ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING DEVICE AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING DEVICE USING THE SAME
電子部品検査装置用測定プローブのクリーニング方法及びこれを用いる電子部品検査装置 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for detecting the position of a probe inserted in a living body in almost real time.
生体内に挿入したプローブの位置をほぼリアルタイムで検出する装置と方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING WHETHER PACKAGE FOR SEMICONDUCTOR CHIP IS GOOD OR NOT, ITS APPARATUS AND PROBE PIN STRUCTURE USED FOR IT
半導体チップ用パッケージの良否検査方法及びその装置とこれに用いるプローブピン構造 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a two-dimensional array probe that can simplify the manufacturing process.
製造工程の簡略化を図ることができる二次元アレイ探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for designing a primer-probe set rapidly and accurately identifying a variety of the target sequences.
多数の標的配列を迅速かつ正確に同定できるプライマー−プローブセットの設計方法の提供。 - 特許庁 - To provide a probe card coping with a change in a type of a specimen, and an inspection method using the same.
検体の種類変更に対応できるプローブカード及びそれを用いた検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a measuring method, capable of taking into consideration of a deformation in a touch probe during a measurement cycle.
測定サイクル時におけるタッチ式プローブの変形を考慮することができる測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a controlling method and an apparatus for a probe-tip sanding of a semiconductor-element testing apparatus.
半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置を提供するにある。 - 特許庁 - There is provided a method for using a nucleic acid probe having constitution in which a probe complementary to a first mutation region is combined and linked to a probe complementary to a second mutation region in the method for directly detecting haplotype exhibiting the positional relationship on a single strand of a gene polymorphic allele.
遺伝子多型アレルの一本鎖上での位置関係を示すハプロタイプを直接検出する方法であって、第一の変異領域に相補的なプローブと、第二の変異領域に相補的なプローブを組み合わせた連結した構成を持つ核酸プローブを用いる方法を提供する。 - 特許庁 - The probe request is received by a printer where an identical connection method is set (request 32) and the printer sets up a connection method specified by the probe request, that is, the same connection method as the connection method set up at the access point.
このプローブ要求は、同一の接続方法の設定されているプリンタに受信され（要求３２）、このプリンタが、プローブ要求で特定される接続方法、つまりアクセスポイントにおいて設定されている接続方法と同一の接続方法を設定する。 - 特許庁 - To reduce the warpage of a probe card substrate by uniformizing the structure for mounting the probe card substrate and its reinforcing member to a probe card holding member with respect to a semiconductor device testing apparatus whose several probe needles are brought into contact with semiconductor devices of a semiconductor wafer, and to provide a semiconductor device testing method using it.
複数のプローブ針を半導体ウエハの半導体素子に接触させる形式の半導体素子試験装置とそれを用いた半導体素子試験方法において、プローブカード基板と、それに対する補強部材を、プローブカード保持部材に取り付ける構造を均一化し、プローブカード基板の反りを軽減する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe of an electron source capable of sharpening rather than a conventional probe when sharpening a probe of an electron source and reproducibly manufacturing the probe of an electron source since a sharpening process can be easily controlled.
電子源用探針を先鋭化するにあたって、従来のものよりもさらに先鋭化が可能であり、かつ先鋭化する工程を制御しやすいため再現性良く電子源用探針を作製することが可能な電子源用探針の製造方法と、この製造方法によって得られる電子源用探針を提供する。 - 特許庁 - To provide a laminate for probe pin cleaning capable of simply cleaning all probe pins at a time in the mounted state on the inspection machine as they are without extracting the probe pins from an inspection machine, and having no risk of exerting an adverse effect caused by static electricity, and a simple cleaning method of the probe pins using the laminate.
検査機からプローブピンを抜き取ることなく検査機に取付けたそのままの状態で全てのプローブピンを一度に簡便に清掃でき、静電気による悪影響を与える心配もないプローブピン清掃用の積層体と、この積層体を用いたプローブピンの簡便な清掃方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe position control method which enables more accurate observation or operation by correcting the change of the relative position of a sample and a probe during observation or operation in a scanning type probe microscope (SPM) or an atomic manipulator (operation) by excluding the effect of a heat drift or the like, and a probe position control device.
熱ドリフト等の影響を排除し、走査型プローブ顕微鏡(SPM)や原子マニピュレータ(操作)装置において、その観察又は操作の間に試料とプローブの相対位置が熱により変化するのを補正して、より正確な観察又は操作を可能にする位置制御方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - This method for inspecting thickness decrease of a high-temperature pipe includes a probe disposition step for bringing an ultrasonic probe into contact with the surface of the pipe via a contact medium for high temperature, and an inspection step for moving the ultrasonic probe along the axial direction of the pipe with the probe kept in contact with the surface of the pipe.
高温の配管における減肉を検査する方法であって、高温用接触媒質を介して超音波探触子を前記配管表面に接触させる探触子配置ステップと、前記超音波探触子を、前記配管表面に接触させたまま前記配管の軸方向に沿って移動させる検査ステップとからなる。 - 特許庁 - To provide a liquid discharge device for manufacturing a probe carrier having constitution accommodating for supplying various kinds of probe solutions to a discharge part without enlarging the device, and preventing enlargement of the device, and provide a device for manufacturing the probe carrier using this device and a method for manufacturing the probe carrier using this device.
装置の大型化を招くことなく、多種のプローブ溶液を吐出部に供給する場合に対応でき、かつ装置の大型化を招くことない構成を有するプローブ担体製造用の液体吐出装置、これを用いたプローブ担体製造用の装置、及びこれらを用いたプローブ担体製造方法を提供すること。 - 特許庁 - In the focused ion beam machining device, the probe is provided which has a long life and can be shape processed in accordance with the purpose of an extracted sample in the focused ion beam machining device by forming the tip of the probe device 9 for manipulating a sample 7 into a multi-step thin wire probe 11, and the method of manufacturing the probe is provided.
集束イオンビーム加工装置において、試料７をマニピュレート操作するためのプローブ装置９の先端を多段の細線プローブ１１とすることで、長寿命化、並びに集束イオンビーム加工装置内での抽出試料目的に合わせた形状加工ができるプローブと製造方法を提供する。 - 特許庁 - In the method of fitting the probe 2 to the lower end part of the sub-lance 4 and performing the temperature measurement of the molten metal, the molten metal surface level measurement and the pickup of the sample, the probe supplied from a probe holding box 1, is inclined and erected while carrying a probe supporting inclinable frame to a probe fitting position 13 of the sub-lance.
サブランス４の下端部に装着され、溶融金属の温度測定、湯面測定、材料採取のうち１以上を行うプローブ２の自動装着方法において、プローブ収納箱１から供給された前記プローブを、プローブ支持起倒フレームが前記サブランスのプローブ装着位置１３まで搬送しながら傾倒し起立させることを特徴とするプローブ自動装着方法。 - 特許庁 - The method further comprises providing a probe substrate defining a planar surface and a second crystal plane identical to the first crystal plane and positioning the probe substrate so that the first and the second crystal planes are positioned identically when forming the probe from the probe substrate using the specific etch reagent, and the probe defines congruent surfaces to the first sidewall and the second sidewall.
この方法は、平坦面と、第１の結晶面と同一の第２の結晶面とを形成するプローブ基板を配設することと、特定の腐食剤を使用してプローブ基板からプローブを形成する際に、第１および第２の結晶面が全く同じに配置され、プローブが第１の側壁及び第２の側壁と一致する表面を形成するようにプローブ基板を配置することとをさらに含む。 - 特許庁 - To provide a strain sensor, and its manufacturing method, capable of keeping the angle of its probe against a measuring object always constant, and precisely measuring the penetrating force of the minute probe on the occasion of pushing the probe into a cell of a living organism or the like.
測定対象に対して探針の成す角度が常に一定に保たれるようにし、生体細胞等に微小な探針を押し込んだ際の貫通力を正確に計測できるようにした歪センサ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The method is for calibrating the ultrasonic probe, and comprises a step for guiding the probe to receive ultrasonic waves reflected from a target including one or a plurality of liner members disposed to cross a beam flat plane of the probe at corresponding intersections.
超音波プローブを較正するための方法であって、対応する交点でプローブのビーム平面に交わるように配置された１または複数の線形部材を含むターゲットから反射される超音波を受け取るようにプローブを案内するステップを含む。 - 特許庁
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