「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 48 49 50 51 52 53 54 55 56 .... 78 79 次へ＞- To provide a method of determining a needle mark, which can more accurately determine whether marks formed on electrode pads of devices are probe needle marks, thereby significantly reduces erroneous determination of the marks as the probe needle marks.
デバイスの電極パッドに付いた痕跡をプローブの針跡としてより正確に判定し、プローブの針跡としての誤判定を格段に軽減することができる針跡の判定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical probe scanning three-dimensional shape measuring method in which a step (a phase jump) causing a measurement error is corrected by a phase connection processing operation, even when a break is generated in phase information on interference fringes during an optical probe scanning operation so as to generate the step.
光プローブ走査中に干渉縞の位相情報の途切れが生じて段差（位相飛び）が発生しても、測定誤差となる段差を位相つなぎ処理によって補正する。 - 特許庁 - In the inspection method, before the plane is measured, the distance between the probe and the surface of the specimen is detected, and the height position of the probe is calibrated in such a way that the distance becomes a set distance.
この超音波映像検査方法では、平面測定の前に、プローブと被検体の表面との間の距離を検出し、この距離が設定距離になるようにプローブの高さ位置を較正する。 - 特許庁 - The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-MICA and identify the HLA-MICA contained in a specimen using the probe set.
ＨＬＡ−ＭＩＣＡの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるＨＬＡ−ＭＩＣＡを同定する。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting conduction by contacting a probe on the outer surface of a contact even when the contact cannot have a contact surface orthogonal to a travelling direction of the probe on the outer side surface of the contact.
コンタクトの外側面にプローブの進行方向と直交する接触面を設けることのできないコネクタであっても、コンタクトの外側面にプローブを接触させて導通検査する方法を提供する。 - 特許庁 - The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-DQ and identify the HLA-DQ contained in a specimen using the probe set.
ＨＬＡ−ＤＱの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるＨＬＡ−ＤＱを同定する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PRODUCING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR-FIELD MICRO MACHINING DEVICE AND NEAR- FIELD OPTICAL RECORDING REPRODUCING DEVICE
近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detecting method capable of performing oblique angle flaw detection and vertical flaw detection by one probe and capable of detecting even a fine flaw by allowing the probe to more approach a welded part.
１つの探触子で斜角探傷と垂直探傷とを実施することができ、探触子をより溶接部へ接近させて微小疵も検出することができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for easily manufacturing a probe unit equipped with highly fine conducting wires projecting from an edge of a substrate.
基板の縁から突出している高精細な導線を備えるプローブユニットを容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁 - HYBRIDIZATION PROBE, AND TARGET NUCLEIC ACID-ASSAYING KIT, TARGET NUCLEIC ACID-ASSAYING DEVICE AND TARGET NUCLEIC ACID-ASSAYING METHOD BY USING THE SAME
ハイブリダイゼーションプローブ及びそれを用いた標的核酸検査キット、標的核酸検査装置、標的核酸検査方法 - 特許庁 - PROBE CARD FOR INSPECTING SHORT CIRCUIT BETWEEN SURFACES OF LIQUID CRYSTAL PANEL AND METHOD FOR ROUGHLY SCREENING LIQUID CRYSTAL PANEL BY INTER-SURFACE SHORT CIRCUIT INSPECTION
液晶パネルの面間ショート検査用プローブカード及び面間ショート検査により液晶パネルを粗ブルイする方法 - 特許庁 - To provide a workpiece measuring method which performs point measurement by a copying probe with high precision.
本発明の目的は倣いプローブによるポイント測定が高精度に行えるワーク測定装置を提供することにある。 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING mRNA WHICH CODES PROTEIN USED AS PARAMETER FOR HUMAN LIVER FUNCTION, PROBE FOR THE SAME, AND KIT FOR THE SAME
ヒトの肝臓機能の指標となる蛋白質をコードするｍＲＮＡの測定方法、そのためのプローブおよびキット - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a multi-pin narrow-pitch contact probe having contact pins of high impedance and high needle strength.
電気抵抗や針強度に優れるコンタクトピンを有する、多ピン狭ピッチのコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card capable of appropriately arranging capacitor structure, and to provide its manufacturing method.
コンデンサ構造を好適に配置することができるプローブカード及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The method enables detection to bring the probe into contact with the sample by measuring distance dependency of the second order differential capacity.
この二階微分容量の距離依存性を計測することで、探針と試料とが接触することを検出できる。 - 特許庁 - To provide a system and method for probing a pad array of high density while restraining a probe load on an objective array.
対象アレイ上のプローブ負荷を抑制しつつ高密度パッドアレイをプロービングする為のシステム及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe and primer useful in detecting an enterovirus and a method for detecting the enterovirus using them.
エンテロウィルスの検出に有用であるプローブおよびプライマー、およびそれらを用いるエンテロウィルス検出方法の提供。 - 特許庁 - To provide a method suitable for manufacturing an ultrasonic probe for an ultrasonic treatment device from titanium material.
超音波処置装置用超音波プローブをチタン材の素材から形成するのに好適な製造方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING OPTICAL FIBER PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL PROCESSING APPARATUS
光ファイバープローブ評価方法、光ファイバープローブ評価装置、近接場光学顕微鏡、及び近接場光加工装置 - 特許庁 - To provide the scanning line control method of a convex probe which has a wide visual field angle and does not reduce scanning line density.
広い視野角を有し、かつ走査線密度を低下させないコンベックスプローブの走査線制御方法を提供する。 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF MOLTEN STEEL LAYER SURFACE POSITION, SLAG LAYER THICKNESS OR BOTH VALUES, ITS DEVICE AND PROBE USED THEREFOR
溶鋼層表面位置またはスラグ層厚さ或はその双方測定方法、その装置及びそれに用いられるプローブ - 特許庁 - POLYNUCLEOTIDE PROBE FOR DETECTING BEER TURBIDITY- FORMING LACTIC ACID BACTERIUM, PRIMER FOR THE SAME, AND METHOD FOR DETECTING THE BEER TURBIDITY-FORMING LACTIC ACID BACTERIUM
ビール混濁乳酸菌の検出用ポリヌクレオチドプローブおよびプライマー並びにビール混濁乳酸菌の検出法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING POLYMORPHISM OF BASE AT POSITION-1639 OF VKORC1 GENE, AND NUCLEIC ACID PROBE AND KIT THEREFOR
ＶＫＯＲＣ１遺伝子の−１６３９番目の塩基の多型検出法、ならびにそのための核酸プローブおよびキット - 特許庁 - MEASURING DEVICE, PROBE FOR MEASURING DEVICE, AND MEASURING METHOD OF SOLUTE CONCENTRATION AND/OR FLOW RATE OF LIQUID IN PASSAGE
測定装置及び該測定装置用プローブ、並びに流路内液体の溶質濃度又は／及び流速の測定方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING METHOD FOR THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD USED FOR BURN-IN STRESS AND D/S
半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、バーインストレス＆Ｄ／Ｓに用いられるプローブカード - 特許庁 - To provide the device and the method of testing a wafer-level which control the damage and degradation of a probe.
プローブの損傷及び劣化を抑制することができるウェハレベル試験装置及びウェハレベル試験方法を提供する。 - 特許庁 - MEASURING OF TT VIRUS GENE BY REAL TIME DETECTION PCR METHOD AND PRIMER AND PROBE USED THEREFOR
リアルタイム検出ＰＣＲ法によるＴＴウイルス遺伝子の測定方法並びにそれに用いられるプライマー及びプローブ - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING JIG PROBE POSITION WITHIN PRINTED CIRCUIT BOARD TESTER JIG BASED ON DESIGN OF PRINTED CIRCUIT BOARD
プリント回路基板の設計に基づいてプリント回路基板テスタ治具内の治具プローブ位置を決定する装置および方法 - 特許庁 - To provide a multilayer electric probe having the capability of enduring high current and the desired mechanical strength and its manufacturing method.
耐高電流能力および所望の機械強度を有する多層電気プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING, QUANTIFYING AND IDENTIFYING 16SrRNA GENE, RNA OR DNA PROBE AND PETROLEUM-DIGESTING BACTERIUM
１６ＳｒＲＮＡ遺伝子、ＲＮＡまたはＤＮＡプローブ、石油分解細菌を検出、定量および同定する方法。 - 特許庁 - To provide a direct label probe composition, and to provide a method for detecting chromosomes and chromosome regions.
直接的標識プローブ組成物及び複数の染色体又は染色体領域の検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor probe with a high resolution tip with a doping control layer, and its manufacturing method.
ドーピング制御層が形成された高分解能チップを備えた半導体探針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The method and the probe nucleic acid are provided for the detection of a mutant of a target nucleic acid containing a repetitive nucleotide sequence.
反復ヌクレオチド配列を含む標的核酸の突然変異体を検出するための方法及びプローブ核酸。 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER-ELECTRODE HOLDER INTEGRATED UNIT, POSITIONING BASE, ATOM PROBE, AND ASSEMBLY METHOD OF SAMPLE AND ELECTRODE ONTO DEVICE
試料ホルダ電極ホルダ一体化ユニット、位置調整台、アトムプローブ、並びに試料及び電極の装置への組付方法 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for controlling an ultrasound system based on contact with an ultrasound probe.
超音波プローブとの接触に基づいて超音波システムを制御するための装置および方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe unit enabling conduction to electrodes arranged two-dimensionally at narrow intervals in a specimen, and its manufacturing method.
検体の狭い間隔で２次元に配置された電極に導通できるプローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - CONDUCTIVE CARBON NANOTUBE TIP, SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
導電性カーボンナノチューブチップ、これを備えた走査型プローブ顕微鏡のプローブ、及び該導電性カーボンナノチューブチップの製造方法 - 特許庁 - MEASUREMENT OF CRYPTOSPORIDIUM PARVUM GENE BY REAL TIME DETECTION PCR METHOD AND PRIMER AND PROBE USED THEREFOR
リアルタイム検出ＰＣＲ法によるクリプトスポリジウム・パルブム遺伝子の測定方法並びにそれに用いられるプライマー及びプローブ - 特許庁 - To provide a magnetic probe for magnetic force microscopes having high spatial resolution, and provide its manufacturing method.
高い空間分解能を有する磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法を提供することにある。 - 特許庁 - OLIGOMER PROBE ARRAY CHIP BASED ON ANALYSIS-FRIENDLY LAYOUT, MASK USED FOR MANUFACTURING THE SAME, AND HYBRIDIZATION ANALYSIS METHOD
分析親和的レイアウトに基づくオリゴマープローブアレイチップ、この製造に使用されるマスクおよびこのハイブリダイゼーション分析方法 - 特許庁 - To provide an ultrasonic system and a method providing an ultrasonic space combined video using a phase array probe.
位相配列プローブを用いて超音波空間合成映像を提供する超音波システムおよび方法を提供すること。 - 特許庁 - Information is recorded and reproduced on the basis of a scanning type nonlinear ferroelectric measurement method by using an electrically conductive probe.
情報の記録再生は導電性プローブを用いて、走査型非線形誘電体測定法に基づいて行なう。 - 特許庁 - To provide a new fluorescent compound usable as a fluorescent label agent, a fluorescent probe, etc., and a method for production of the same.
蛍光標識剤や蛍光プローブなどとして利用できる新規な蛍光化合物とその製造法を提供する。 - 特許庁 - To provide a near field optical probe of structure easy in manufacture thereof, and a manufacturing method therefor.
本発明は製造容易な構造の近接場光プローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a high performance probe for a near-field microscope easily manufactured and having high shape repeatability.
高性能であり、製作し易く、形状再現性の良い近視野顕微鏡用プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - SOUND DAMPING MEMBER, METHOD FOR MANUFACTURING OF SOUND DAMPING MEMBER, ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS
音響制動部材および音響制動部材の製造方法ならびに超音波探触子および超音波診断装置 - 特許庁 - The method is constituted so as to evaluate the electric characteristic of the sheet-shaped body in the stage of the powder and grain by utilizing the measuring probe 10.
測定プローブ１０を利用して粉粒体の段階で、シート状体の電気的特性を評価する方法。 - 特許庁 - To provide a system and a method generating a program for operating an inspection probe usable on a machine tool.
工作機械上で使用可能な検査プローブの作動のためのプログラムを生成するシステムおよび方法が提供される。 - 特許庁 - In this method, first a probe is inserted into the food to be measured at a given insertion rate to acquire vibration generated then.
測定すべき食品に所定の挿入速度でプローブを挿入し、その際に発生する振動を取得する。 - 特許庁
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