「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 50 51 52 53 54 55 56 57 58 .... 78 79 次へ＞- To provide a multilayered ceramic substrate and a probe substrate formed using a columnar conductor, and to provide a method for manufacturing the substrates.
本発明は、柱状導電体を用いて形成した多層セラミック基板とプローブ基板、及びその製造方法に関する。 - 特許庁 - To provide a method for identifying to a base mismatch with a hurdle DNA and an artificial mismatch-introduced probe.
ハードルＤＮＡおよび人為的ミスマッチ塩基が導入されたプローブを用いた、塩基ミスマッチに対する識別方法の提供。 - 特許庁 - PROBE DETECTING CHANGE OF ENVIRONMENT, PROTEIN, GENE DNA ENCODING THE SAME, mRNA, AND METHOD FOR DETECTING THE CHANGE OF ENVIRONMENT
環境の変化を検出するプローブ、タンパク質、それをコードする遺伝子ＤＮＡ、ｍＲＮＡおよび環境の変化の検出方法 - 特許庁 - To provide a needle head, the use of the needle head in a probe structure, and a method for electrically contacting a plurality of electronic components.
ニードルヘッド、プローブ構成体でのその使用、及び複数の電子部品を電気的に接触させるための方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe chip structure and a measuring method causing no unnecessary load, crosstalk and data error.
不要な負荷やクロストークを生じることがなく、データエラーを生じることのないプローブチップ構造及び測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement.
ＳＣＭ測定及びＳＳＲＭ測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁 - To accurately sort a nondefective product and a defective product in a method for probe-testing a semiconductor device formed on a semiconductor substrate.
半導体基板上に形成した半導体装置のプローブテスト方法に関し、良品と不良品とを正確に選別する。 - 特許庁 - LAMINATED PIEZOELECTRIC SINGLE-CRYSTAL ELEMENT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ULTRASONIC PROBE USING IT
積層圧電単結晶素子、積層圧電単結晶素子の製造方法およびその積層圧電単結晶素子を用いた超音波プローブ - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope and its using method capable of preventing generation of a photoelectric current by a laser beam in a sample.
レーザー光による光起電流を試料に発生させない走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁 - ORGANIC PIEZOELECTRIC MATERIAL, ULTRASONIC VIBRATOR USING THE SAME, ITS MANUFACTURING METHOD, ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC MEDICAL IMAGE DIAGNOSTIC APPARATUS
有機圧電材料、それを用いた超音波振動子、その製造方法、超音波探触子及び超音波医用画像診断装置 - 特許庁 - To provide a method for detecting precisely phosphatizyl inositol triphosphate (PI3P) and a detection probe therefor, and a detecting kid.
フォスファチジルイノシトール３リン酸（PI3P）を精度良く検出する方法、並びにその検出用プローブ、検出用キットを提供すること。 - 特許庁 - NEW POLYMORPHIC MARKER FOR PREDICTING THERAPEUTIC EFFECT OF INTERFERON, PRIMER, PROBE AND METHOD FOR PREDICTING THERAPEUTIC EFECT OF INTERFRON
インターフェロンの治療効果を予測するための新規多型マーカー、プライマー、プローブおよびインターフェロンの治療効果を予測する方法 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe for electrical inspection which has excellent mass productivity, for realizing conductor patterns with high density and accuracy.
高密度で高精度の導体パターンを実現でき、量産性に優れた電気検査用プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - SAMPLE-DRAWING HOLDER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF SURFACE STATE OF SAMPLE USING SAMPLE-DRAWING HOLDER
走査型プローブ顕微鏡用試料延伸ホルダーおよび該試料延伸ホルダーを用いた試料の表面状態の観察方法 - 特許庁 - To provide a method for assaying microarray hybridization by measuring the extent of the hybridization between a target sample and a probe.
目的試料およびプローブ間のハイブリダイゼーション程度を測定するマイクロアレイハイブリダイゼーションアッセイ方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a probe used in a scanning tunneling microscope with an extremely sharp tip and high strength and its manufacturing method.
走査型トンネル顕微鏡に使用する先端が極めて先鋭でかつ強度の大きい探針とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR ASSAYING mRNA OF PROTEIN INVOLVED IN METABOLISM OF SUGAR, FAT AND PROTEIN IN RAT, AND PROBE AND KIT THEREFOR
ラットにおける糖、脂肪、蛋白質の代謝に関連する蛋白質のｍＲＮＡの測定方法、そのためのプローブ及びキット - 特許庁 - SUPERCONDUCTING WIRE MATERIAL, ITS MANUFACTURING METHOD, ANTENNA COIL FOR NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE DEVICE PROBE, AND NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE DEVICE SYSTEM USING IT
超電導線材、その製造方法、核磁気共鳴装置プローブ用アンテナコイル及びそれを用いた核磁気共鳴装置システム - 特許庁 - The presence of defects can be detected from a Y axis component of the Lissajous waveform obtained from a standard comparison method using the probe 1.
また、前記プローブ１を用いて標準比較法により得られるリサージュ波形のＹ軸成分から欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - DIRECT LABEL PROBE COMPOSITION, METHOD FOR IN SITU DETECTION OF CHROMOSOME OR CHROMOSOME REGION AND HYBRIDIZATION FORMING COMPOSITION
直接的標識プローブ組成物、染色体又は染色体領域のインシトゥ検出方法及びハイブリッド形成組成物 - 特許庁 - This reaction kit can be utilized in a detection method for target molecules which utilizes an interaction between probe molecules and the target molecules.
この反応キットは、プローブ分子と標的分子との相互作用を利用した標的分子の検出方法に利用してもよい。 - 特許庁 - To provide a biochemical examination method capable of examining the state of a biochemical reaction in each probe array element exactly.
プローブアレイ要素内での生化学的な各反応状態を正確に検査し得る生化学的検査方法を提供すること。 - 特許庁 - APTAMER-ELECTROCONDUCTIVE PARTICLE COMPLEX, APTAMER-ELECTROCONDUCTIVE PARTICLE-PROBE COMPLEX AND METHOD FOR CONTROLLING PROPERTY OF INDICATING PROTEIN
アプタマー・導電性粒子複合体、アプタマー・導電性粒子・プローブ複合体、および指示タンパク質の特性を制御する方法 - 特許庁 - SURFACE FOR DETECTING INTERACTION BETWEEN SUBSTANCES, DNA CHIP, ANOTHER SENSOR CHIP, PROBE AND REDUCTION METHOD OF BACKGROUND NOISE FLUORESCENCE
物質間の相互作用を検出する表面、ＤＮＡチップその他のセンサーチップ、プローブ、並びにバックグラウンドノイズ蛍光の低減方法 - 特許庁 - To provide a probe and a method for simply, highly sensitively, specifically and rapidly determining existence of a prokaryote, especially a mycoplasma.
簡単、高感度、特異的でかつ迅速な原核生物、特にマイコプラズマの存在を決定するためのプローブ及び方法の提供。 - 特許庁 - The ultrasonic flaw detection method uses an acoustic contact medium via a metal between the ultrasonic probe and the object to be tested.
超音波探触子と被検査体との間に金属を介して音響接触媒質とする超音波探傷方法である。 - 特許庁 - To provide a method for performing measurement or calibration on apparatus, such as measuring machines, machine tools, or scanning machines, in which a tool or probe is positioned relative to a workpiece.
機械の較正を行うために用いられる装置もしくは機械自身として用いられる装置について記述される。 - 特許庁 - To provide a method for detecting residual properties of a test substance in the body, a nucleic acid, protein, a cell and a probe-immobilizing chip.
被検物質の体内残留性を検出する方法、核酸、蛋白質、細胞およびプローブ固定化チップを提供する。 - 特許庁 - NUCLEIC ACID, PRIMER SET AND NUCLEIC ACID PROBE COCKTAIL FOR DETECTING OLPIDIOPSIS PORPHYRAE SP. NOV., AND METHOD FOR DETECTING OLPIDIOPSIS PORPHYRAE SP.NOV. BY USING THE SAME
壺状菌を検出するための核酸、プライマー対、核酸プローブカクテル、及びそれらを用いた壺状菌の検出方法 - 特許庁 - Since the light intensity can be measured in non-contact by using a camera, the inlet terminals for conductor like a prior probe method become unnecessary.
発光強度は、カメラで非接触に測定できるので、従来の探針法のように導線の導入端子が不要になる。 - 特許庁 - To provide a method for searching for a nucleic acid sequence required for designing a probe or a primer in order to adequately find out the nucleic acid sequence by utilizing the whole object sequence.
対象配列全体を利用して、プローブやプライマーを設計するために必要な核酸配列を適切に見出す。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a gene with low background noise by preventing bonding of a labeling agent to a probe and magnetic fine particles.
プローブおよび磁性微粒子への標識剤の結合を防止し、バックグラウンドノイズの低い遺伝子検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an opening/short circuit inspection method and an opening/short circuit inspection device which detect a short circuit, without depending on visual observation or a probe.
目視やプローブに依らずに短絡を検出できる開放／短絡検査方法及び開放／短絡検査装置を提供する。 - 特許庁 - The detecting method of the focal position is executed by the device 10 for the ultrasonic video inspection with a focusing type probe 14.
この焦点位置検出方法は焦点型探触子１４を備える超音波映像検査装置１０で実施される。 - 特許庁 - PIEZOELECTRIC VIBRATOR, MOUNTING METHOD FOR IT, MOUNTING DEVICE, ULTRASONIC PROBE USING IT, AND THREE-DIMENSIONAL ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE USING IT
圧電振動子とその実装方法、実装デバイス、それを用いた超音波プローブ、およびそれを用いた３次元超音波診断装置 - 特許庁 - To provide a method for easily manufacturing an external spring probe which can be handled in a single state of not being fixed in a socket.
ソケットに固定しない単独状態で取り扱うことが可能な外ばねプローブを容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a near field optical probe for enhancing light transmission efficiency of the core and its manufacturing method.
本発明は、コアの光透過効率を向上する近接場光プローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a probe unit which can be aligned with respect to an electronic device being an object for inspection with high accuracy, and to provide its manufacturing method.
検査対象である電子デバイスと高精度に位置合わせできるプローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a mercury probe horizontalness inspection method which enable an inspection of the horizontalness of a capillary tube with high precision and in a short time.
キャピラリーチューブの水平度の検査を、高精度かつ短時間で行える水銀プローブ水平度検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a load detection sensor measuring a load applied to a probe card, and a manufacturing method of the load detection sensor.
プローブカードの印加荷重を測定することができる荷重検出センサおよび荷重検出センサの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The method allows the measurement of the sideslip of an aircraft by using an air data probe and an inertia reference unit.
本発明による方法は、エアーデータプローブおよび慣性基準装置を用いて、航空機の横滑りを測定することを可能にする。 - 特許庁 - To provide a method for joining a probe to a detecting piezoelectric element in a scanning probe microscope that uses a piezoelectric element as the distance control means of the probe, without depending on changes in ambient condition, such as temperature, and the amount of an adhesive or a method of adhesion, so that stable vibration characteristic and detection characteristic can be obtained and so that the detecting piezoelectric element can be reused.
プローブの距離制御手段として圧電体を利用する走査型プローブ顕微鏡において、温度などの環境変化や接着剤の量や接着方法によらず、安定した振動特性や検出特性が得られ、さらに検出用圧電素子の再利用が可能なようなプローブと検出用圧電体の接合方法を提供する。 - 特許庁 - In this fine machining method in which a machining medium whose surface is an oxide is finely machined using a scanning probe, the machining medium is arranged in reducing atmosphere, a voltage is applied through a probe of the scanning probe arranged in opposition to a surface of the machining medium, and a part underneath the probe of the oxide on the surface of the machining medium is reduced to machine the machining medium finely.
走査型プローブを用い、表面が酸化物である加工媒体を微細加工する微細加工方法であって、前記加工媒体を還元雰囲気中に配置し、前記加工媒体表面に対向して配置した前記走査型プローブの探針を介して電圧を印加し、前記加工媒体表面の酸化物の前記探針直下の部分を還元して加工媒体を微細加工する。 - 特許庁 - In the probe 10 of the scanning tunneling microscope and its manufacturing method, the probe 10 is formed from metal such as tungsten, a tip surface 12 of the probe 10 has a buffer layer such as a carbonization coating film, and a carbon nanotube 13 is extended from the buffer layer such as the carbonization coating film of the tip surface 12 of the probe 10.
走査型トンネル顕微鏡の探針１０において、探針１０はタングステン等の金属で形成され、探針１０の先端表面１２は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針１０の先端表面１２の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ１３が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針１０とその製造方法である。 - 特許庁 - To provide a linear and two-dimensional array ultrasonic wave probe that employs a composite piezoelectric body consisting of a solid solution group piezoelectric single crystal and a resin where no defective processing is caused at cutting and to provide a manufacturing method for the ultrasonic wave probe.
固溶系圧電単結晶と樹脂との複合圧電体を用いて、切断時の加工不良が生じない一次元及び二次元アレイ超音波プローブ及び当該超音波プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for forming a flat probe which is capable of arbitrarily adjusting the shapes (angles, heights and openings of tips) of a plurality of microapertures and to obtain the flat probe which generates highly efficient near field optics.
複数の微小開口部の形状（角度、高さ、先端の開口）を任意に調整可能な平面型プローブの形成方法を実現し、高効率の近接場光を発生する平面型プローブを得ること。 - 特許庁 - To provide a method for correcting inclination of a wafer chuck that corrects the inclination of the wafer chuck without fail, even with a probe card which covers the entire area of a plurality of semiconductor chips formed on a semiconductor wafer, and to provide a probe apparatus.
半導体ウエハに形成された複数の半導体チップの全領域を覆うプローブカードでもウエハチャックの傾きを確実に補正することができるウエハチャックの傾き補正方法及びプローブ装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a test specimen for atom probe analysis to simply manufacture a test specimen for analyzing an analyzed domain by means of an atom probe, the analyzed domain comprising a conductor portion formed on an insulating substrate.
絶縁基板上に形成された導体部分からなる被分析領域をアトムプローブによって分析するための検査試料を、簡便に製造できるアトムプローブ分析用検査試料の製造方法を提供する。 - 特許庁 - This method is constituted so as to control the only one ultrasonic probe by exchanging among the plurality of ultrasonic scanners, and includes controlling the operation of the ultrasonic probe by using the plurality of ultrasonic scanners.
この方法は、複数の超音波スキャナを、やり取りさせて、ただ１つの超音波プローブを制御するように構成していることと、複数の超音波スキャナを用いて、超音波プローブの動作を制御することを含む。 - 特許庁 - To provide a method for detecting mutation of a specimen or mismatch with a probe by a probe carrier exemplified by a DNA microarray by which the mutation or the mismatch is detected even if the number of the mutation or the mismatch sites is small.
ＤＡＮマイクロアレイに代表されるプローブ担体により検体中の変異やプローブとのミスマッチを検出する際に、変異やミスマッチ部位の数が少ない場合でもこれを検出できる方法を提供すること。 - 特許庁
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