「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 54 55 56 57 58 59 60 61 62 .... 78 79 次へ＞- To provide a scanning probe microscope of simple constitution capable of detecting exactly a sample surface, and an excitation method for exciting a cantilever array.
構成が簡単で、的確な試料表面の検出が可能な走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a semiconductor device manufacturing method which can remove a probe mark and inhibit increase in manufacturing cost.
プローブ跡を除去でき、かつ、製造コストが増加することを抑制できる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - In particular, uncertainty related to flexural deformation of the touch probe can be measured accurately by this method.
特にそのような方法によって前記タッチ式プローブのたわみ変形作用に関連づけられる不確実性を正確に測定することができる。 - 特許庁 - To provide a method of setting an appropriate needle pointing region of a probe card, capable of shortening an inspection time of a semiconductor wafer.
本発明は、半導体ウエハの検査時間を短縮することができるプローブカードの適切な針立て領域の設定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for storing data on a storage surface without heating up a probe and a method of detecting the data from the storage surface.
プローブの加熱を行うことなく記憶表面にデータを記憶する装置および記憶表面からデータを検出する方法を提供する。 - 特許庁 - The method also includes a step of forming the non-conductor layer 10 similarly on the inspecting pad 14, and inspecting of whether the formation is good or not before the contact with the probe card.
この検査パッド１４上にも同様に不導体層１０を形成し、その形成良否をプローブカードのコンタクト前に検査する。 - 特許庁 - The method for mapping includes receiving electrical inputs measured by a probe at respective locations in a chamber of a heart of a subject.
マッピングのための方法は、被験者の心臓の室内の対応する位置にてプローブによって測定された電気入力を受信することを含む。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a number of cantilevers for scanning probe microscopes, without dimensional variations from a single sheet of semiconductor substrate.
１枚の半導体基板から寸法上のばらつきがない多数の走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーを作製する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a noncontact surface shape measuring method, capable of accurately measuring, even the surface which is a sharp angle with respect to a laser probe.
レーザープローブに対して急角度となる表面でも正確に測定することができる非接触表面形状測定方法を提供する。 - 特許庁 - OXIDE MICROSTRUCTURE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, COMPOSITE PIEZOELECTRIC MATERIAL, LAMINATED PIEZOELECTRIC VIBRATOR, ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS
微細酸化物構造体及びその製造方法、複合圧電材料、積層型圧電振動子、超音波探触子、並びに、超音波診断装置 - 特許庁 - MULTI-PURPOSE METHOD FOR DETECTING SUBSTRATE AFFINITY OF ABC TRANSPORTER HAVING CYSTEINE RESIDUE INDUCED BY VARIATION BY USING ENVIRONMENT-SENSITIVE FLUORESCENT PROBE
環境感受性蛍光プローブを用いたシステイン残基が変異導入されたＡＢＣトランスポーターの汎用的な基質親和性検出方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor wafer that can be inspected without requiring a prober and a probe card, and provide a method for manufacturing a semiconductor device.
プローバー及びプローブカードを必要としないでウエハ検査が可能な半導体ウエハおよび半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The present invention provides a method for detecting the PI3P, using as the probe an PX domain derived from a sphingosine kinase 1 (SPHK1) binding protein RPK118.
スフィンゴシン・キナーゼ１（SPHK1）結合タンパク質ＲＰＫ１１８由来のＰＸドメインをプローブに用いて、フォスファチジルイノシトール３リン酸（PI3P）を検出する方法。 - 特許庁 - A method for position sensing includes placing at a known position within a living body of a subject a reference probe including at least one reference electrode.
位置検出方法は、少なくとも１つの基準電極を備える基準プローブを被検者の体内の既知の位置に配置することを含む。 - 特許庁 - NEAR-FIELD PROBE, CANTILEVER OF NEAR-FIELD RAMAN SPECTROSCOPIC SYSTEM, NEAR-FIELD RAMAN SPECTROSCOPIC SYSTEM AND METHOD OF CONTROLLING NEAR-FIELD RAMAN SPECTROSCOPIC SYSTEM
近接場プローブ、近接場ラマン分光システムのカンチレバー、近接場ラマン分光システム、ならびに近接場ラマン分光システムの制御方法 - 特許庁 - To provide a method for correcting the amount of the genome DNA of a chromosome measured, using a probe complementary to genome DNA.
本発明は、ゲノムDNAに相補的なプローブを用いて測定した染色体のゲノムDNA量を補正する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a surface shape measurement probe for performing the calibration of stylus top end coordinates by a master ball and its calibration method.
マスターボールによるスタイラス先端座標の校正を行うことができる表面形状測定プローブおよびその校正方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection method and a device using a scanning electron microscope capable of performing fine control of a probe accurately and simply.
探針の微細な制御を正確に簡単に行なうことができる走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置をを実現する。 - 特許庁 - PEROVSKITE-TYPE OXIDE SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, COMPOSITE PIEZOELECTRIC MATERIAL, PIEZOELECTRIC VIBRATOR, ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS
ペロブスカイト型酸化物単結晶及びその製造方法、複合圧電材料、圧電振動子、超音波探触子、並びに、超音波診断装置 - 特許庁 - To provide a friction stir welding method which facilitates insertion of a probe into a workpiece and which enables a workpiece to be joined with a large joining strength.
ワークに対して挿入しやすく、且つ大きい接合強度でワークを接合させることのできる摩擦撹拌接合方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a resistance measuring method capable of measuring a resistance easily by using a probe pin for resistance measurement even in the case of a small-sized narrow connector.
小型・狭小のコネクタでも抵抗測定用プローブピンを用いて容易に抵抗測定が可能となる抵抗測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a production method of a probe card capable of preventing contact mutually by adjacent contact probes by a simple work.
簡単な作業で隣接するコンタクトプローブ同士が接触するのを防止できるプローブカードの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a texture anisotropy evaluator and a method thereof giving satisfactory work efficiency with a probe disposition place limited as little as possible.
作業性が良好で且つ探触子配置場所が極力制限されることのない組織異方性評価装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detecting method which detects a flaw while keeping a constant pressing force to a material to be inspected of an ultrasonic probe.
超音波探触子の被検査材に対する押圧力を一定にして探傷を行うことができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁 - For this configuration measuring method, a master member 74 for obtaining the diameter of a probe 12 is constituted by bringing three block gauges 76, 78, and 80 into contact.
本発明は、プローブ１２の径を取得するためのマスタ部材７４を、３枚のブロックゲージ７６、７８、８０を密着させて構成している。 - 特許庁 - To provide a prove finger structure which can be used for the various testing structures, and to provide a manufacturing method for the probe finger structure.
種々の試験用構造体に使用することができるプローブフィンガ構造体及びプローブフィンガ構造体を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for inspecting substrate products and a probe for inspection whereby whether or not substrate products are good can be easily inspected.
基板製品の良否検査を容易に行える基板製品検査装置、基板製品検査方法およひ検査用プローブを提供する。 - 特許庁 - To provide an optical signal processing circuit and an optical signal processing method in which loss is small and a probe light is unnecessary and which is of stable and simple.
損失が少なく、プローブ光を必要としない、安定で簡便な光信号処理回路及び光信号処理方法を提供すること。 - 特許庁 - ELECTROMAGNETIC ULTRASONIC PROBE, DAMAGE PROGRESSION DEGREE EVALUATION METHOD AND DAMAGE PROGRESSION DEGREE EVALUATION DEVICE OF CONDUCTIVE MATERIAL, AND AXIAL FORCE MEASURING METHOD AND AXIAL FORCE MEASURING DEVICE OF FASTENING BOLT OR RIVET
電磁超音波探触子、導電性材料の損傷進行度合評価方法及び損傷進行度合評価装置、締結ボルトやリベットの軸力測定方法及び軸力測定装置 - 特許庁 - To provide a method for designing a probe set used for a detection method of a sample nucleic acid by detecting a hybrid body, for more sensitive and more specific detection of a micro quantity.
より高感度かつ高特異的な微少量の検出をするための、ハイブリッド体を検出することによるサンプル核酸の検出方法に用いるプローブセットの設計方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of detecting morbidity risk of sequential AA-amyloidosis of rheumatoid arthritis and to obtain a new oligonucleotide usable as a probe in the method.
慢性関節リウマチ続発性ＡＡ−アミロイドーシス罹患危険率を検出することのできる方法、及び前記方法においてプローブとして使用することのできる新規オリゴヌクレオチドを提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR SELECTIVELY COLLECTING TARGET AREA USING PROBE MICROSCOPE, METHOD OF MAKING SUBSTANCE CONTAINED IN TARGET AREA REACT, AND DEVICE THEREFOR
プローブ顕微鏡を用いて標的部位を選択的に採取する方法、その標的部位に含有される物質をそこにおいて反応させる方法、およびそれらの方法を行うための装置 - 特許庁 - This method comprises the steps of amplifying a target gene by an new quantitative PCR method using an extinction probe, and analyzing the polymorphism of the amplified product.
消光プローブを用いた新規な定量的ＰＣＲ方法によって標的遺伝子を増幅し、該増幅産物について多型解析することを特徴とする方法を提供する。 - 特許庁 - NOVEL TERTHIOPHENE-3-CARBOXYLIC ACID COMPOUND AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME, FUNCTIONAL ELECTROCONDUCTIVE TERTHIOPHENE POLYMER USING THE COMPOUND AS MONOMER, DNA HYBRIDIZATION DETECTION METHOD USING THE POLYMER AND METHOD FOR PRODUCING PROBE DNA
新規のターチオフェン‐３−カルボキシル酸化合物とその製造方法、該化合物をモノマーとした機能性電導性ターチオフェンポリマー、該ポリマーを利用したＤＮＡハイブリダイゼーション検出方法、ならびにプローブＤＮＡの製造方法 - 特許庁 - To provide a probe card having new probes, which enables array arrangement, materializes lower stresses and longer strokes by simple structure, and moreover prevents breakage of the probes and shortening of their lives as well, and to provide a method for manufacturing the probe card.
アレイ配置が可能であり、かつ、簡易な構造によって低応力かつ大きなストローク量を実現し、さらに、プローブの破壊や低寿命化も防止することができる新規なプローブを配設したプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sniffer probe and gas leak testing method using the same whereby, if the scan speed varies or the defect-probe distance is long, the detecting limit (min. detectable value) of He leakage can be improved.
本発明は、走査速度が変化した場合や欠陥部・プローブ間距離が離れている場合でも、ヘリウムの洩れに対する検出限界（検出可能最小値）を向上させることができるスニッファープローブ、それを用いたガス洩れ試験方法を提供する。 - 特許庁 - The method for screening the bacterium having the cytokine production-inducing ability comprises (1) a process for detecting the reactivity of a gram-positive bacterium with a probe reacting with teichoic acid and (2) a process for selecting the gram-positive bacterium reacted with the probe.
（１）テイコ酸に対して反応するプローブとグラム陽性細菌との反応性を検出する工程と、 （２）上記プローブと反応したグラム陽性細菌を選択する工程と を含む、サイトカイン産生誘導能を有する細菌をスクリーニングする方法。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.
試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁 - By this method, the tip of the probe is formed into a sharp fine wire structure to enhance probe precision.
特定の微細な直径の貫通孔を有するマスクを既存プローブ先端に当接し、電着液の中に浸漬し、磁性材料を該マスク貫通孔を介し、貫通孔を一種のテンプレートとして電着し、先端が鋭敏な細線構造とし、プローブ精度高めるものである。 - 特許庁 - To provide a scanning method in a scanning probe microscope attaining accurate magnetic measurement of a sample under a strong magnetic field, without causing disarray of the magnetic structure of the sample, and to provide a strong magnetic field scanning probe microscope device.
プローブが試料の磁気構造を乱すことなく、強磁場下における試料の磁気的測定をより正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - In the ultrasonic inspection method, an ultrasonic array probe is arranged along the rim surface on the flange side of the wheel and the oscillation timing of the respective vibrators constituting the ultrasonic array probe is controlled to inspect the whole cross section of the rim part of the wheel.
本発明に係る超音波検査方法は、車輪のフランジ側リム面に沿って超音波アレイ探触子を配置し、該超音波アレイ探触子を構成する各振動子の発振タイミングを制御することにより、車輪のリム部全断面を検査する。 - 特許庁 - To provide a probe for probe scanning microscopes, which has a sharp tip and an improved electrical property, and to provide its manufacturing method which includes producing a planar field-effect transistor and forming a conductive carbon nanotube thereon.
平面型電界効果トランジスタを製作し、その上に導電体の炭素ナノチューブを形成することによって、鋭いチップを形成すると共に電気的特性もまた向上させた探針走査型顕微鏡の探針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent a tip part of the probe needle from being fused or broken by confirming a state of contact between a probe needle and a pad prior to an actual test and measurement, in a method of testing and measuring a semiconductor device and a device for testing and measuring the semiconductor device.
半導体装置の試験測定方法及び半導体装置の試験測定装置に関し、実際の試験測定に先立ってプローブ針とパッドとの接触状態を確認して、プローブ針の先端部の溶断や破損を防止する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detection method and ultrasonic flaw detection device capable of further accurate ultrasonic flaw detection by accurately identifying a positional relation between an array probe and an object to be inspected, and causing less misalignment of the array probe and the object to be inspected.
アレイ探触子と被検体の位置関係を正確に特定し、アレイ探触子と被検体の位置関係のずれの少ない、より正確な超音波探傷が可能な超音波探傷方法及び超音波探傷装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device including an inspection process which relaxes the limitations of probe contact in probe inspection so that each chips of the semiconductor devices being in a state as a wafer can be suitably functionalized and integrated and can obtain an efficient inspection.
ウェハ状態の半導体装置の各チップの高機能化、高集積化に適合できるように、プローブ検査時の針立ての制約を緩和し、かつ効率的な検査を実現できる検査工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for measuring frictional force and a friction coefficient by using a scanning probe microscope for measuring frictional force as an absolute value not depending on the slope or shape of a specimen with respect to friction between a probe given arbitrary physical properties and a surface of the specimen.
任意の物性を付与した探針と試料面間の摩擦について試料の傾き・形状によらない摩擦力を絶対値として測定する走査型プローブ顕微鏡による摩擦力および摩擦係数測定方法を提供する。 - 特許庁 - In a method for centering a probe, an assistance sample 30 with a spherical shape is placed on a rotation means 10 in such a manner that the center of the assistance sample 30 is aligned with a rotation axis 10a of the rotation means 10, and coordinates on a surface of the assistance sample 30 is measured by the probe 20.
球体から成る補助試料３０の中心が回転手段１０の回転軸１０ａ上に位置するよう、補助試料３０を回転手段１０に設置し、補助試料３０の表面の座標をプローブ２０で測定する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic nondestructive measurement instrument, an ultrasonic nondestructive measurement method, and a program which measure an ultrasonic propagation velocity of a concrete structure by a transmission probe and a reception probe disposed at a prescribed interval on a surface of the concrete structure.
コンクリート構造物の表面に所定間隔に配置された送信探触子及び受信探触子にて、コンクリート構造物の超音波伝搬速度を計測する超音波非破壊計測装置、超音波非破壊計測方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.
半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device and an inspection method capable of reducing expansion/contraction caused by a temperature change of an inspection probe, securing stable contact between the inspection probe and an electronic component which is an inspection object in a wide temperature domain, and thereby improving inspection accuracy.
検査プローブの温度の変化にともなう伸縮を低減し、幅広い温度領域で検査プローブと検査対象となる電子部品との安定した接触を確保して検査精度を向上する検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁
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