「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 58 59 60 61 62 63 64 65 66 .... 78 79 次へ＞- To provide an integrated circuit with high flexibility of a design and its inspection method, without restriction on pad arrangements or functions of a probe card and the necessity of a specified probe card, capable of shortening inspection time and performing inspection by the use of a tester with few signal input/output terminals.
信号入出力端子の数が少ないテスタを使用して検査することができ、検査時間が短く、専用のプローブカードを必要とせず、パッドの配置及び機能がプローブカードに拘束されず設計の自由度が高い半導体集積回路及びその検査方法を提供する。 - 特許庁 - In a method for manufacturing the microarray by fixing the reactive substance on the surface of the substrate 7, a probe-fixing layer 4, in which the reactive substance 4a is present is, transferred to the surface of the substrate 7 from a transfer film 1, having the probe-fixing layer 4.
反応性物質を基板７の表面に固定してマイクロアレイを作製する方法であって、前記反応性物質４ａが存在するプローブ定着層を有する転写フィルム１から、前記基板７の表面に前記プローブ定着層４を転写して作製するマイクロアレイ作製方法。 - 特許庁 - To provide visualization method and device, including receiving an input indicative of respective apparent coordinates of a plurality of points disposed along a length of a probe inside of a subject, and generating corrected coordinates, and displaying an image of the probe using the corrected coordinates.
被験者体内のプローブの長さに沿って配置される複数のポイントにおいて、それぞれの見かけの座標を示す入力値を受信することと修正座標をもたらすことと、修正座標を用いてプローブの画像を表示することと、を含む可視化方法と可視化装置を提供する。 - 特許庁 - A method for position tracking includes placing an internal reference probe in a reference location within a heart of a subject, and collecting and processing first location coordinates of the internal reference probe during one or more respiratory cycles so as to define a range of the location coordinates corresponding to the reference location.
位置追跡方法は、内部基準プローブを被験者の心臓内部の基準位置に配置することと、基準位置に対応する場所座標の範囲の定めるために、一回以上の呼吸サイクルの間に内部基準プローブの第一の場所座標を収集処理することとを含む。 - 特許庁 - The method has [a] a step arranging a conductive member 10 between the semiconductor device 11 and the contact probe, and [b] the step connecting the contact probe to a pad 12 for the semiconductor device 11 through the conductive member 10.
その半導体検査方法は、 ［ａ］前記半導体装置（１１）と前記コンタクトプローブ（５）との間に、導電部材（１０）を配置するステップと、 ［ｂ］前記導電部材（１０）を介して前記コンタクトプローブ（５）を前記半導体装置（１１）のパッド（１２）に接続させるステップとを具備するものである。 - 特許庁 - To provide a probe card and its production method capable of ensuring easiness of production work, simplifying production process, responding to evaluation object with a large area having a high density wiring, and controlling the height of a probe pin.
作成作業の容易性を確保しつつ、作成工程の簡略化を図ることができ、また、高密度な配線を有する大面積の評価対象に対応でき、さらにプローブピンの高さを調整することが可能であるプローブカード及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The selectivity to the detection target nucleic acid molecule and the melting temperature of the formed complex are each properly controlled by applying the two-stage base sequence-designing method of the whole probe to enable the design of the probe set optimum to the target detection condition.
この二段階のプローブ全体の塩基配列設計法を適用すると、検出対象核酸分子に対する選択性と、形成される複合体の融解温度とをそれぞれ適正に制御でき、目的とする検出条件に最適なプローブセットの設計が可能となる。 - 特許庁 - To provide a system and method capable of performing a stable measurement of a surface shape by certainly removing the charge accumulated in a semiconductor wafer obstructing the measurement of a scanning probe microscope and preventing the destruction of the scanning probe microscope.
走査型プローブ顕微鏡測定の障害となる半導体ウエハ内部に蓄積された電荷を、確実に取り除き、走査型プローブ顕微鏡の探針の破壊を防止し、安定した表面形状測定を行うことができる測定システムおよび測定方法を提供すること。 - 特許庁 - The method includes a process for guiding a definite probe inside a definite body into a definite position in contact with the tissue to be ablated, and a process for measuring one or more local parameters at the position using the probe prior to ablating the tissue.
上記の方法は一定のプローブをアブレーションする組織に接触する一定の位置まで一定の体内に導入する処理、および上記組織をアブレーションする前に上記プローブを用いて上記位置における１個以上の局所的なパラメータを測定する処理を含む。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic wave degradation diagnosing device which applies an ultrasonic wave method with varying probe intervals to many measurement points on a low-voltage electric-wire cable installed in a radiation environment within a nuclear power station, with no worker remaining near the probe.
原子力発電所内の放射線環境下に敷設された低圧電線ケーブルに対し、プローブの近傍に作業者を配置させ続けることなく、ケーブル上の多数の測定点について、プローブ間隔を変化させて超音波法を適用し得る超音波劣化診断装置を提供すること。 - 特許庁 - A method of evaluating a silicon wafer includes the following the steps of: forming an oxide film on a silicon wafer surface; forming a plurality of electrodes on the oxide film; and contacting a probe to the surface of the electrode and applying a voltage between the probe and the silicon wafer to measure oxide film withstand characteristic.
シリコンウェーハ表面に酸化膜を形成すること、上記酸化膜上に複数の電極を形成すること、上記電極の表面にプローブを接触させ、該プローブとシリコンウェーハとの間に電圧を印加して酸化膜耐圧特性を測定すること、を含むシリコンウェーハの評価方法。 - 特許庁 - To provide a method and an instrument for measuring a surface shape of a sample, capable of lowering a needle pressure of a probe to avoid deformation of the measured sample, and capable of solving the problem of deformation, moreover, even if the scanning speed of the probe is set high, and allowing accurate measurement in a short time.
探針の針圧を低くして被測定試料の変形を避け、しかも探針の走査速度を高くしても上記の問題を解決して正確な測定を比較的短い時間で行うことのできる試料の表面形状の測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for correcting and checking position of contact of a touch-probe type measuring mechanism part, which corrects and checks the contact position of the touch-probe type measurement mechanism part which is affected by external causes and used for measuring the longitudinal dimension and the edge-surface deflection of a shaft, and sets it at the correct position.
軸体の長さ寸法や端面の振れを測定するタッチプローブ型測定機構部の接触子の外的原因による位置及び確認補正をして正しい位置にセットするタッチプローブ型測定機構部の接触子の位置補正及び確認方法を提供する。 - 特許庁 - A resistance measuring device 100 which is a resistance measuring device with four-terminal method includes a probe 2, having flexibility, of a voltage measuring system and a probe 3, also having flexibility, of a current measuring system, and both probes are wound up to a lead 12a of a coil which is an inspection body from the opposite directions respectively.
抵抗測定装置１００は，４端子法による抵抗測定装置であって，可撓性を有する電圧測定系のプローブ２と，同じく可撓性を有する電流測定系のプローブ３とを備え，両プローブを互いに逆方向から被検体であるコイルのリード１２ａに巻き掛けている。 - 特許庁 - To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.
薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁 - In this shape measuring method wherein a probe contacts with a measured face, and wherein a locus of the probe scanned under the contact condition is recorded to measure the shape, the measured object is washed(S1), the object is set on a jig (S2), and the surface temperature is measured by a radiation thermometer (S3).
被測定面に触針子を接触させ、接触させた状態で走査した前記触針子の軌跡を記録して形状を測定する形状測定方法において、被測定物を洗浄し（Ｓ１）、その被測定物を治具に設置し（Ｓ２）、放射型温度計で表面温度を測定する（Ｓ３）。 - 特許庁 - A two-dimensional area 5 on a substrate 3 and a two-dimensional area 6 on a tilt plane 4 are scanned by the probe of a scanning probe microscope to calculate the angle formed by the two 2 dimensional areas 5 and 6 in this measuring method of the tilt angle 2 of the tilt plane 4 formed on the substrate 3.
基板３上に形成された傾斜面４の傾斜角２の計測手法において、基板３上の２次元領域５と傾斜面４上の２次元領域６とを走査プローブ顕微鏡のプローブにより走査し、２つの２次元領域５と６のなす角を算出する。 - 特許庁 - To provide a silicon probe card in which the position of respective inspection terminals arranged and installed at microscopic pitches and composed of a needlelike crystal is calculated surely in a photographing operation with a camera, and in which the alignment of an electrode pad with the respective inspection terminals can be performed automatically, and to provide a method of manufacturing the silicon probe card.
極小ピッチで配設される針状結晶からなる各検査用端子の位置を、カメラによる撮影で確実に割り出すことが出来、電極パッドと各検査用端子との位置合せを自動的に行うことが可能なシリコンプローブカードとその製造方法を提供する。 - 特許庁 - By a method for matching a phase lock loop (PLL) used for detecting frequencies with a distance control system, using changes in vibration frequencies to changes in the distance between the probe and the surface of the sample as a voltage control oscillator, and matching them with a reference frequency, the distance between the probe and the surface of the sample is controlled.
周波数検出に用いる位相同期ループ（ＰＬＬ）を距離制御系と一致させ、プローブ・試料表面の距離変化に対する振動周波数の変化を電圧制御発振器として用い、基準周波数に合わせる方法によりプローブ・試料表面の距離制御を行なう。 - 特許庁 - To provide a method and device for measuring a photoelectric transfer characteristic of a solar cell element, wherein a stable contact not affected by a probe and a probe driving mechanism with respect to a light irradiated on a light receiving surface is materialized, so that a measuring accuracy of the photoelectric transfer characteristic of the solar cell element can be enhanced.
太陽電池素子の光電変換特性の測定方法及び装置において、受光面に照射される光に対してプローブ及びプローブ駆動機構での影響がない安定した接触を実現することで、太陽電池素子の光電変換特性の測定精度を向上させる。 - 特許庁 - The micromachining method, which uses a device comprising an atomic force detecting means, applies voltage to a probe to subject a workpiece to micromachining, while a nonmagnetic solvent including water is present between the workpiece and the probe.
原子間力検出手段を備えた装置を用いた微細加工方法であって、該被加工試料と探針との間に、水を含有する非極性溶媒を存在させた上で、該探針に電圧をかけることによって被加工試料に微細な加工を施すことを特徴とする微細加工方法。 - 特許庁 - To provide an attaching fixture capable of attaching a plurality of probe pins collectively as well as an attaching method for probe pins by the use of an attaching fixture capable of attaching collectively regardless of sizes of an IC socket so as to shorten the time required to attachment remarkably.
複数のプローブピンを一括して装着できる装着用治具を提供するとともに、ＩＣソケットのサイズに関係なく一括で装着が行える装着用治具を使用して装着に要する時間を飛躍的に短縮できるようにするプローブピン装着方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a board inspection apparatus capable of acquiring the offset in the Z axis direction of a probe without using a standard board for offset acquisition, simply and rapidly even while the board is inspected, and without damaging the probe, and to provide a method for acquiring the Z axis offset.
オフセット取得用の基準基板を用いることなく、基板検査中であっても簡便迅速に、しかもプローブを破損させることなく、プローブのＺ軸方向のオフセットを取得することができる基板検査装置およびそのＺ軸オフセット取得方法を提供する。 - 特許庁 - This method of measuring the size of telomeres is characterized by hybridizing a chromosomal DNA extracted from a sample with a labeled DNA probe bearing a sequence complementary to a telomere repetitive sequence, measuring a marker signal in the hybridized DNA probe and determining the length of telomere from the obtained measurement result.
検体から抽出した染色体DNAと、テロメア反復配列に相補的な配列を有する標識DNAプローブとをハイブリダイズさせ、該ハイブリダイズしたDNAプローブの標識シグナルを測定し、得られる測定結果からテロメアの長さを求めることを特徴とするテロメアサイズの測定方法。 - 特許庁 - A thermistor system and a method for quickly predicting a body temperature based on a temperature signal received from a temperature detection probe when the probe touches a body executes a non-linear multi-parameter curve fitting process, and changes a parameter or predicts a temperature in accordance with an error in curve fitting.
体に接触したときの温度検出プローブから受信した温度信号に基づき、体温を短時間で予測するサーミスタシステムおよび方法であり、非線形のマルチパラメータ曲線適合プロセスを実行し、曲線の適合における誤差に応じ、パラメータを変えるか、または温度の予測を行う。 - 特許庁 - A method includes measuring an electrical impedance of a region of a subject by controlling a body 205 of a portable probe by a controller 235, correcting impedance data by controlling a temperature detecting device to detect the temperature on a skin surface and wirelessly transmitting the corrected data together with a probe identifier to a remote apparatus.
コントローラ２３５がポータブルプローブ本体２０５を制御して、被検者のある局部の電気インピーダンスを測定、温度検出デバイスを制御して皮膚表面上の温度を検出してインピーダンスデータを補正し、プローブ識別子と共にその補正データを遠隔の装置に無線で送信する。 - 特許庁 - The method is characterized by binding a certain amount of genome on a combing surface, combing on the combing surface, hybridising the product of combing with a reference probe and a specific probe, and individually isolating these probes, and then measuring total length of the hybridization signal to the two probes.
ある量のゲノムをコーミング面に結合させ、コーミング面上でコーミングし、コーミング生成物を対照プローブおよび特異的プローブとハイブリダイズし、結果としてこれらプローブを別々に同定してもよく、次いで、二つのプローブに対するハイブリダイゼーションシグナルの全長を測定することを特徴とする方法。 - 特許庁 - To provide a probe method capable of conducting a highly reliable inspection by causing a plurality of probes of a probe card to come into contact with an electrode pad P of a semiconductor wafer corresponding thereto with a needle pressure, as uniform as possible, even when the mounting surface of a wafer chuck 11 is curved.
ウエハチャック１１の載置面が湾曲している場合でもプローブカードの複数のプローブとこれらに対応する半導体ウエハＷの電極パッドＰとを極力均一な針圧で接触させて信頼性の高い検査を行うことができるプローブ方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a friction stirring joining method that leaves no joining traces such as holes and recesses after a probe is pulled out in the ending part of joining, and that dispenses with or simplifies a fixing device which prevents the positional deviation of joining members caused by the inserting pressure of the probe.
接合終端部にプローブ引抜き後の孔や凹部等の接合痕を生じさせず、かつプローブの挿入圧により生じる接合部材の位置ずれを阻止するための固定装置を必要とせず、又はこれを簡略化することのできる摩擦撹拌接合法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a contact probe that does not complicate work for forming a groove of a shape corresponding to a metal wiring pattern, easily and accurately forms a bump at the tip of a contact pin, and can suppress reduction of the reliability of the contact probe.
金属配線パターンに対応する形状の溝を形成する作業が煩雑となることがなく、コンタクトピンの先端部にバンプを精度良く形成するのが容易で、コンタクトプローブの信頼性が低下するのを抑制することが可能なコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for automatically analyzing, capable of cleaning the residues attached on the inner and outer wall faces of a specimen sampling probe, a reagent dispensing probe, an agitating mechanism and a reactor cleaning mechanism without decreasing processing capability and without increasing special mechanism.
試料サンプリングプローブ，試薬分注プローブ，攪拌機構，反応容器洗浄機構の内外壁面に付着した残留物を処理能力を損なうことなく、特別な機構を増設することなく洗浄することを可能とする自動分析装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method.
本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Similarly in correcting a black defect, an etching source material in a liquid state is supplied from the probe of a scanning probe microscope onto only the black defect region by a similar method to Dip-Pen Nanolithography, and an ion beam or an electron beam is supplied to etch to correct the black defect.
黒欠陥修正の場合も同様に、走査プローブ顕微鏡の探針から液体状のエッチング原料をＤｉｐ−Ｐｅｎ Ｎａｎｏｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙと同様な方法で黒欠陥領域上のみに供給し、イオンビームや電子ビームを供給してエッチングを行い黒欠陥を修正する。 - 特許庁 - To provide an inclusion analysis method of a sample by the EPMA (electron probe microanalyzer) for performing efficient measurement by avoiding unneeded measurement and without decreasing measurement accuracy.
無駄な測定を避け且つ測定精度を低下させずに効率的な測定を行えるようにした、ＥＰＭＡによる試料の介在物分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card suppressing scatter of cut sediment which occurs at the time of trimming a thick film resistor and adhesion of it to a board, and to provide a trimming method.
厚膜抵抗体をトリミングする際に発生する切り滓の飛散延いては基板への付着を抑制し得るプローブ・カードおよびトリミング方法を提供する。 - 特許庁 - The probe contactor is constituted of a substrate 220 with an interconnect trace that is a conductive passage on the surface, and a contactor 230 that is formed on the substrate 220 by the photolithography manufacturing method.
プローブコンタクタは表面上に電導通路であるインターコネクトトレイスを有する基板と、フォトリソグラフィ製法によりその基板上に形成されたコンタクタで構成される。 - 特許庁 - To provide a method for calibrating offset amount which accurately calibrates an offset amount between a contact-type detector and an image probe, and to provide a machine for measuring surface profile using the same.
接触式検出器と画像プローブとのオフセット量を正確に求めることができるオフセット量校正方法およびこれを用いた表面性状測定機を提供。 - 特許庁 - To provide a corrosion speed measurement method capable of precisely measuring the corrosion speed of the steel material in a structure in a noncontact state, and to provide a corrosion speed measuring probe.
構造物中の鋼材の腐食速度を非接触で精度よく測定することができる腐食速度測定方法および腐食速度測定プローブを提供する。 - 特許庁 - To provide an exciting power measuring method of a crystal oscillation circuit for calculating exciting power, while suppressing influences of a current probe, without measuring any exciting current.
電流プローブの影響を抑え、励振電流を測定することなく、励振電力を算出する水晶発振回路の励振電力測定方法を提供する。 - 特許庁 - In the friction stir welding method for Mg and the Mg alloy, friction stir welding is performed using a tool for friction stir welding in which a shoulder diameter/a probe diameter is ≥4.
本発明のＭｇおよびＭｇ合金の摩擦攪拌接合方法は、ショルダ径／プローブ径が４以上である摩擦攪拌接合用ツールを用いて摩擦攪拌接合を行うものである。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing probe card that prevents variations in the height among a plurality of contact probes being produced, upon production of the contact probes on a support substrate.
支持基板上に複数のコンタクトプローブを形成する際に、コンタクトプローブの高さにバラツキが生じるのを抑制することができるプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a fluorescence probe having a high-fluorescence property and a fading-proof property, a method for detecting a target molecule, being high in sensitivity and quantitative accuracy, and an immunoglobulin derivative.
高い蛍光性と耐褪色性を有する蛍光プローブ、高感度かつ定量精度の高い標的分子の検出方法、および免疫グロブリン誘導体、を提供する。 - 特許庁 - To provide a small measuring probe and a measuring device for measuring an electron density and an electron temperature of a plasma by a simple method without using an expensive measuring device.
高価な測定装置を用いることなく、小型で、簡便な方法によりプラズマの電子密度及び電子温度の測定が可能な測定プローブ及び測定装置を実現する。 - 特許庁 - The active oxygen measuring method measures the active oxygen with a fluorescent probe consisting of semiconductor nanoparticles.
蛍光プローブを用いて活性酸素を測定する活性酸素の測定方法であって、該蛍光プローブが半導体ナノ粒子であることを特徴とする活性酸素の測定方法。 - 特許庁 - The automatic analysis device and the method for controlling the quantity of reagent of a reagent container are provided with a reagent dispensing device for dispensing a reagent in the regent container to a reaction container by a dispensing probe.
分注プローブによって試薬容器内の試薬を反応容器へ分注する試薬分注装置を備えた自動分析装置と試薬容器の試薬量管理方法。 - 特許庁 - Using the method, a nominal DHE function is obtained for a particular type of TAT probe as a nominal DHE function derived from a plurality of TAT probes of the particular type (505).
当該方法により、公称のDHE関数が特定種類のTATプローブに対して、特定種類の複数のTATプローブから得られる公称のDHE関数として得られる(505)。 - 特許庁 - To provide a method and device for measuring a friction force, capable of performing simple and high accuracy quantitative measurement, by the use of a cantilever having a probe at its tip.
先端に触針を有するカンチレバーを利用した、簡便・高精度な定量測定ができる摩擦力測定方法および摩擦力測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide the inspecting device/method of a semiconductor device, which can precisely position the semiconductor device with a probe card for inspection and can perform highly reliable inspection.
半導体装置と検査用のプローブカードとの位置合わせが正確にでき、信頼性の高い検査が行える半導体装置の検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an evaluation apparatus and an evaluation method for reducing the wear of a pad in an evaluation test by increasing the reproducibility of a measured value to a DUT board and a probe card.
ＤＵＴボードおよびプローブカードに対し、測定値の再現性を増し、評価試験でのパッドの磨耗を低減する評価装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for simply and inexpensively detecting a single nucleotide polymorphism of NAT2 gene in a short time, a nucleic acid primer used for the detection, and a probe for detection.
NAT2遺伝子の一塩基多型を短時間で簡便、且つ安価に検出できる方法、および、該検出に用いる核酸プライマー及び検出用プローブの提供。 - 特許庁
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