「Probe method」を含む例文一覧(3948)

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  • The flame-resistant fiber has the value of the ratio of the modulus of elasticity of the surface layer part of the fiber to that of the central part of the fiber of ≥0.7 measured by using a scanning probe microscope by a nanoindentation method.
    走査型プローブ顕微鏡を用いてナノインデンテーション法により測定した繊維の表層部と中心部の弾性率の比の値が0.7以上である耐炎化繊維。 - 特許庁
  • To readily realize a method of easy manufacturing of a contact probe, using a low-resistance and high-strength conductive polymer by absorbing an oxidizer in a resin-made pattern and polymerizing conductive high molecular monomers.
    製造が容易で、しかも低抵抗かつ高い強度をもつ導電性高分子を用いた電気的検査用コンタクトプローブの製造法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of, a measuring device for, and a wafer for an integrated circuit, capable of carrying out a more accurate probe test while reducing the damage to a bonding pad.
    ボンディングパッドの損傷を低減しながら、より正確にプローブテストを行なうことができる集積回路の製造方法、集積回路の測定装置及びウェハを提供する。 - 特許庁
  • To provide a cGMP probe which can highly accurately and simply detect and determine cGMP even in vivo, and to provide a method for detecting and determining the cGMP with the same.
    in vivoにおいても高い精度で、簡便に、cGMPを検出・定量することを可能とするcGMPプローブと、それを用いたcGMPの検出・定量方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for approaching a probe and a sample, surely approaching them without a damage, as well as shortening a time required for approaching.
    探針とサンプルを破損することなしに確実に近接させることが可能で、近接にかかる時間も短縮することが可能な探針とサンプルの近接方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic flaw detection method capable of performing an ultrasonic flaw detection for a long period of time without imposing a load to an ultrasonic probe and an object to be tested.
    超音波探触子及び被検査体に長期に亘り、荷重を掛けることなく超音波探傷が行える超音波探傷方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for photoacoustic imaging, which accurately performs signal averaging even if positional shift is generated between an ultrasonic probe and an object to be measured during a plurality of number of times of measurement.
    複数回の測定の間に超音波プローブと測定対象物との間に位置ずれが生じたときでも、正しく加算平均を行うことを可能とする。 - 特許庁
  • To manufacture an opening that can be brought extremely closer to a sample or a record medium surface at low costs in a manufacturing method of a minute-aperture-type near-field optical probe.
    微小開口型の近視野光プローブの作製方法において、サンプルあるいは記録媒体表面に極めて近接できる構造の開口を低コストで作製すること。 - 特許庁
  • To realize a manufacturing method of a thin film sheet with bumps which can easily make the height of respective bumps uniform, and to improve the yield of a thin film sheet with bumps for a card-shaped probe.
    各バンプの高さを容易に均一化することができる製造方法を実現し、カード型プローブにおけるバンプ付き薄膜シートの歩留まりを向上させる。 - 特許庁
  • THREE-DIMENSIONAL INTENSITY PROBE, THREE-DIMENSIONAL SOUND-SOURCE DIRECTION DETECTOR USING THE SAME, THREE- DIMENSIONAL SOUND-SOURCE DIRECTION FACING CONTROLLER AS WELL AS METHOD AND APPARATUS FOR THREE-DIMENSIONAL INTENSITY MEASUREMENT
    3次元インテンシティプローブ、同プローブを用いた3次元音源方向検知装置、3次元音源方向対面制御装置、3次元インテンシティ測定方法及び装置 - 特許庁
  • APPARATUS FOR MEASURING SHAFT HAVING OPTICAL TYPE AND TOUCH PROBE TYPE MEASURING MECHANISMS AND SHAFT SUPPORTING MECHANISM, AND METHOD FOR MEASURING SPECIFICATIONS AND ACCURACY OF SHAFT BY THE APPARATUS
    光学式やタッチプローブ型の測定機構部及び軸体支持機構部を有する軸体測定装置及び該装置による軸体の諸元及び精度の測定方法 - 特許庁
  • To provide an image processing method that creates data for displaying a three-dimensional image from an ultrasonic tomography image provided when an ultrasonic probe is moved fan-shapedly.
    超音波プローブを扇形に移動したときに得られる超音波断層像から三次元画像を表示するためのデータを生成する画像処理方法を提供する。 - 特許庁
  • According to the defect detect method, ultrasonic waves are brought into a piping 20 from an ultrasonic vibrator 11 through a probe 12, and received by an ultrasonic wave-receiving element 13 at points P1 and P2.
    超音波振動子11から接触子12を介して配管20に超音波を入射し、点P1及びP2の超音波受信子13で超音波を受信する。 - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing an ultrasonic probe with which directional characteristics can be enhanced, and crosstalk between signal lines can be suppressed, and further manufacture efficiency can be improved.
    指向特性の改善、信号線間のクロストークの抑制が可能で製造効率の向上を行うことのできる超音波探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The method for manufacturing the probe card comprises the steps of molding recesses of a cantilever space and a needle head space on a base material, embedding the recesses by an electric casting and molding a cantilever 34 and a needle head 32.
    基本材料にカンチレバー空間およびニードルヘッド空間のくぼみを成形し、電気鋳造でくぼみを埋めカンチレバー34、ニードルヘッド32を成形する。 - 特許庁
  • To provide a method manufacture capable of easily equalizing height of respective bumps, and to improve contact stability of a thin-film sheet with bumps in a card type probe.
    各バンプの高さを容易に均一化することができる製造方法を実現し、カード型プローブにおけるバンプ付き薄膜シートの接触安定性を向上させる。 - 特許庁
  • This method is used for calibrating a tool comprising the touch probe used for a contact-type measuring instrument, in order to take into consideration its dynamic shape characteristics.
    本発明は、動的形状特性を考慮するために接触型測定機械に使用されるタッチ式プローブからなる工具を校正するための方法に関する。 - 特許庁
  • To provide a measuring method for measuring the three-dimensional shape of a surface to be measured without any need for accurately positioning a probe on the rotary axis of the surface to be measured.
    プローブを被測定面の回転軸上に正確に位置決めする必要なく、被測定面の三次元形状を測定し得る三次元形状測定方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a controlled specimen for four-probe resistance measurement device and control method for the measurement device easily usable for a long period with high reliability.
    長期にわたって高い信頼性でかつ簡易的に使用できる四探針抵抗測定装置用管理試料および四探針抵抗測定装置の管理方法を提供する。 - 特許庁
  • Continuously, the access point that receives reply of the probe response notifies the printer of the connection method set to the access point itself by means of request remind data (request remind).
    続いて、このプローブ応答の返信を受けたアクセスポイントは、自身に設定されている接続方法を要求催促データによりプリンタへ通知する(要求催促)。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for controlling a stylus type probe mechanism for suppressing oscillations of a stylus due to the effect of disturbance and improving measuring accuracy.
    触針子の外乱の影響による振動を抑制し、計測精度の向上を図ることができる触針式プローブ機構の制御方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • A surface reforming apparatus 1 for carrying out the surface reforming method for the aluminum casting material is provided with a probe portion 10, and a shoulder portion 20 having a circular cylindrical shape respectively.
    アルミニウム鋳物材の表面改質法を実施するための表面改質装置1は、それぞれ円柱形状をしたプローブ部10とショルダー部20とを備える。 - 特許庁
  • To provide a method for estimating such a factor that a contact force between a pad of a semiconductor device and a probe of a tester is changed concerning a method for manufacturing the semiconductor device, a method for testing the semiconductor device, the tester of the semiconductor device, and the semiconductor device.
    半導体装置の製造方法、半導体装置の試験方法、半導体装置の試験装置、及び半導体装置に関し、半導体装置のパッドと試験装置のプローブとの接触力が変化した要因を推定する方法の提供。 - 特許庁
  • As other methods for utilizing the signaling probe, there are provided: a method for quantifying the level of RNA expression; a method for identifying genetic recombination events in living cells; and a method for generating a transgenic animal using the isolated cells.
    シグナリングプローブを利用する他の方法としては、RNA発現のレベルを定量化する方法、生きた細胞において遺伝的組換え事象を同定する方法、および単離された細胞を用いてトランスジェニック動物を作製する方法が挙げられる。 - 特許庁
  • To provide a method for electrochemically detecting genes, capable of detecting the hybridization of an target gene and a nucleic acid probe, in a time which is shorter than that of the electrochemical method by using an intercalator, and with a safety process which is further simplified than that of the method.
    インターカレータを用いた電気化学法よりもさらに簡便で安全性に優れると共に、目的とする遺伝子と核酸ブローブのハイブリダイゼーションを短時間で検出することの出来る電気化学的な遺伝子の検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a forming method of an outgoing wiring, which effects the forming of leader wiring and connection to a substrate simultaneously while retaining collimation between a test piece and the substrate, and a manufacturing method of the test piece for scanning-type probe microscope to which this forming method is applied.
    引出配線の形成と基板との接合を同時に行い、かつ試料と基板の平行性を保持する引出配線の形成方法及びこの形成方法を適用した走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a holding method capable of holding an object to be treated certainly through electrostatic attraction, an electrostatic attracting mechanism to suit the holding method, an electrostatic attraction probe using the attracting mechanism, a transporting method and device for the object to be treated.
    被処理物を確実に静電吸着保持することが可能な保持方法、それに用いるのに適した静電吸着機構、該静電吸着機構を用いた静電吸着プローブ、被処理物搬送方法、および被処理物搬送装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a calibration device and a straight form measuring device which can rapidly, accurately and simply realize a zero point calibration of an angle two point method probe by maintaining a robustness to an environment of the angle two point method.
    角度2点法プローブのゼロ点校正を角度2点法の環境に対するロバスト性を維持しながら、迅速に、精度よく、かつ簡便に実現できる校正装置及び真直形状測定装置を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR HYBRIDIZING DOUBLE-STRANDED NUCLEIC ACID CONTAINING TARGET SEQUENCE WITH CAPTURING PROBE NUCLEIC ACID AND METHOD FOR ANALYZING BASE SEQUENCE IN SAMPLE CONTAINING SPECIMEN DOUBLE-STRANDED NUCLEIC ACID UTILIZING THE SAME HYBRIDIZATION
    標的配列を含む2本鎖核酸と捕捉用プローブ核酸とをハイブリダイズする方法およびそのハイブリダイゼーションを利用した検体2本鎖核酸を含む試料中の塩基配列を解析するための方法 - 特許庁
  • To provide a contact resistance measuring method of a probe and a test method of a semiconductor device capable of preventing decline of test efficiency, and measuring accurately a contact resistance value.
    試験効率の低下を防ぐことができると共に、正確に接触抵抗値を測定することができるプローブの接触抵抗測定方法及び半導体デバイスの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a probe for scanning magnetic force microscopes and its manufacturing method, having observable resolution for the magnetic recording medium with a memory density of 1,200 kFCI or larger, together with a ferromagnetic alloy coating method for carbon nanotubes.
    1200kFCI以上の記録密度の磁気記録媒体を観察可能な分解能を有する走査型磁気力顕微鏡用探針及びその製造方法、並びにカーボンナノチューブ用強磁性合金成膜方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a probe unit capable of precisely and efficiently performing an inspection even to a pattern aligned with high density, an inspection device, an inspection method of electro-optical panel board, and a manufacturing method of electro-optical apparatus.
    高密度に配列されたパターンに対しても高精度且つ効率的に検査を行うことのできるプローブユニット、検査装置、電気光学パネル基板の検査方法、及び電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe card and a test method of a device to be inspected, wherein bumps which do not join a package substrate during a reflow time are not generated, even when each height of an electrode group of a device has a difference, and to provide a test method for a device to be inspected.
    デバイスの電極群の高さに差が生じている場合であっても、リフロー時にパッケージ基板と接合しないバンプが発生することのない、プローブカード及び被検査装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a cutting method by which a domain hardly occurs in a cutting process, an ultrasonic transducer which can sufficiently exert a function using the cutting method, and an ultrasonic probe.
    本発明は、切断工程において、ドメインが発生しにくい切断方法を提供し、これを用いた機能を十分に発揮することのできる超音波振動子、および超音波プローブを提供することにある。 - 特許庁
  • To obtain a therapeutic and a diagnostic agent for tumor, especially cerebral tumor, and a probe for detecting or diagnosing the cerebral tumor, and to provide a diagnostic kit for the cerebral tumor, and a method for treating the tumor, especially the cerebral tumor and a method for screening an anticerebral tumor agent.
    腫瘍、特に脳腫瘍の治療薬や診断薬、脳腫瘍の検出・診断用プローブ、脳腫瘍の診断キット、腫瘍、特に脳腫瘍の治療方法、抗脳腫瘍剤のスクリーニング方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method for examining the drug-metabolizing capacity of CYP2C8, capable of detecting a drug dysbolism caused by the polymorphism of drug-metabolizing enzyme CYP2C8 gene, and to provide a probe and an examination kit that are used in the method.
    薬物代謝酵素であるCYP2C8遺伝子の多型により生じる薬物代謝異常を検出することができる、CYP2C8の薬物代謝能の検査方法、該検査方法に用いられるプローブ及び検査キットを提供する。 - 特許庁
  • To provide an imaging method capable of specifically imaging a target cell or cell group in a body while suppressing influence in an individual, a light-emission system usable for the method, a light-emission probe, and a substance enabling specific recognition of a surface of the target cell labeled with the probe.
    本発明は、個体に及ぼす影響が少なく、且つ個体中の標的の細胞又は細胞群を特異的にイメージングすることが可能なイメージング方法並びに前記方法に利用可能な発光系、発光プローブ及び前記プローブで標識された標的細胞の表面を特異的に認識可能な物質を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • There are provided the method for amplifying the HIV-1 gene, comprising amplifying HIV-1 nucleic acid in a biological sample by using an amplification oligonucleotide probe specific to gag and pol target sequences and then detecting it; and the method wherein the nucleic acid main chain of the probe contains one or more 2'-methoxy linkages, peptide nucleic acid linkages, phosphorothioate linkages, methylphosphonate linkages or their combinations.
    gagおよびpol標的配列に特異的な増幅オリゴヌクレオチドプローブを用いて、生物学的試料におけるHIV−1核酸を増幅し、そして検出する方法、前記プローブの核酸主鎖が1以上の2’−メトキシ連結、ペプチド核酸連結、ホスホロチオエート連結、メチルホスホネート連結またはそれらのいずれかの組み合わせを含む方法。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR PROBE POSITION ERROR DETECTION IN INFORMATION RECORDING SYSTEM, SYSTEM AND METHOD FOR INFORMATION TRACKING IN INFORMATION RECORDING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM RECORDED WITH PROGRAM FOR PERFORMING PROBE POSITION ERROR DETECTING METHOD OF INFORMATION RECORDING SYSTEM IN COMPUTER OR COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH PROGRAM FOR PERFORMING INFORMATION TRACKING METHOD OF INFORMATION RECORDING SYSTEM IN COMPUTER
    情報記録システムのプローブ位置エラーの検出装置、情報記録システムのプローブ位置エラーの検出方法、情報記録システムの情報追従装置、情報記録システムの情報追従方法、情報記録システムのプローブ位置エラーの検出方法をコンピュータで実行させるためのプログラムを記録した記録媒体または情報記録システムの情報追従方法をコンピュータで実行させるためのプログラムを記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • The detection of mutation of the number 255 amino acid in the bcr-abl fused protein from glutamic acid to other amino acids, as the method for analyzing mutation of amino acid in bcr-abl fused protein comprises preparation of a probe on the part of mutation and analyzing appearance of hybridization of the nucleic acid to be measured with the probe by mixing the probe with solution containing the nucleic acid.
    bcr−abl融合蛋白質のアミノ酸の変異を核酸レベルで解析する方法として、bcr−abl融合蛋白質のアミノ酸番号255番のグルタミン酸から他のアミノ酸への変異を検出する場合、変異部分にプローブを作成し、該プローブと測定したい核酸配列を含む溶液とを混合しプローブと核酸配列のハイブリダイズの様子を解析することで判定できる。 - 特許庁
  • A method for detecting an objective nucleic acid in a sample comprises a process for hybridizing the objective nucleic acid with a nucleic acid probe having a sequence complimentary to the nucleic acid which includes a process for labeling the nucleic acid probe with a labeling compound, a process for cutting a single stranded nucleic acid, and a process for detecting the hybridized nucleic acid probe by detecting the labeling compound.
    試料中の目的核酸を検出する方法であって、目的核酸と、目的核酸に相補的な配列を持つ核酸プローブとをハイブリダイスさせる工程であって、この核酸プローブが標識化合物で標識されている工程、一本鎖の核酸を切断する工程、およびハイブリダイズした核酸プローブを、該標識化合物を検出することによって検出する工程、を包含する。 - 特許庁
  • This lipid quantity determination method includes: a preparation process for preparing a non-antibody probe material bondable specifically to some lipid which is a determination object; an immobilization process for immobilizing the object lipid on the substrate surface; a process for bonding the non-antibody probe material to the object lipid immobilized on the substrate surface; and a process for detecting quantitatively the non-antibody probe material bonded to the object lipid.
    定量の対象である脂質に対して特異的に結合可能な非抗体プローブ物質を準備する準備工程と、前記対象脂質を基材の表面に固定する固定工程と、前記基材表面に固定された対象脂質に前記非抗体プローブ物質を結合させる工程と、前記対象脂質に結合した非抗体プローブ物質を定量的に検出する工程と、を含む脂質定量方法とする。 - 特許庁
  • To provide a pattern structure for an interstage probe, that can measure S parameters between stages of a module including multiple stages of transistors, an interstage measurement method, and a multi-chip module high-frequency circuit.
    複数段のトランジスタで構成されるモジュールの段間のSパラメータが測定可能な段間プローブ用パターン構造、段間測定方法、およびマルチチップモジュール高周波回路を提供する。 - 特許庁
  • To reduce electron rays to an embedding material in a surface analysis method by an EPMA(electronic probe microanalyzer) for a sample embedding material consisting of a sample that is embedded by the embedding material.
    包埋材に包埋された試料からなる試料包埋体に対するEPMAによる面分析法において、包埋材への電子線照射をできるだけ低減できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method of recording optical characteristics of the light generated by micro-photoirradiation light of a proximity field probe or the like on a recording medium and a medium.
    本発明の目的は、近接場プローブなどの微小光照射光が発生する光の光学的特性を記録媒体上に記録する方法及び媒体を提供することにある。 - 特許庁
  • The invention relates to the apparatus and the method for automatically detecting the failure position on even long wiring line using an image of an absorbed current absorbed by a sample by irradiating the sample with an electron beam in a state wherein a probe is applied to the sample.
    試料にプローブと電子線を当て試料に吸収された吸収電流の像を利用して、長い配線でも不良位置を自動で検出する装置とその方法。 - 特許庁
  • To provide an electrooptic apparatus substrate and examination method therefor which can implement an examination without requiring bringing a probe into contact thereto from the outside and with satisfactory measuring accuracy.
    外部からのプローブを接触される等の必要がなく、十分な測定精度の得られる検査を実現できる電気光学装置用基板及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a plunger for a contact probe requested to be fine in a diameter and to be dense in mounting density to cope with a large capacity of a memory device and miniaturization of a package, and also to provide a manufacturing method therefor.
    メモリディバイスの大容量化や、パッケージの小型化に対応して、細径化と高密度実装化が要請されているコンタクトプローブピン用のプランジャーとその製造方法を提案する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic flaw detector bringing about no decrease in flaw detecting efficiency even in such a case that the replacement of a probe is performed at electronic scanning or reception, and a flaw detecting method using it.
    電子走査時や受信時において探触子の切り替えを行った場合であっても、探傷能率の低下をきたさない超音波探傷装置およびその方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a measurement probe capable of inspecting a coating inside a cavity or determining a thickness of the coating of the cavity or a region which is only insufficiently accessible by a non-destructive method.
    空洞内の被覆を検査でき、または空洞の被覆の厚さまたは不十分にしかアクセス可能でない区域を非破壊方式で判定できる測定プローブを提供する。 - 特許庁
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