「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 63 64 65 66 67 68 69 70 71 .... 78 79 次へ＞- To provide a probe pin unit and an inspection method of an electronic component using the unit not requiring necessarily a mechanical chuck, capable of mitigating a pressing pressure to a work by using a diaphragm type probe pin unit, recovering dust even if the dust is generated, and coping even with an instantaneous contact.
ダイアフラム型プローブピンユニットを用いることより、ワークに対する押し圧を緩和し、必ずしも機械的チャックを必要とせず、塵埃が発生したとしても、そのような塵埃を回収でき、瞬時のコンタクトにも対応することができるプローブピンユニット及びこれを用いた電子部品の検査方法を得ること。 - 特許庁 - To prevent a window in an optical fiber probe from being covered with a powder so as to enhance its measurement accuracy by continuously scraping the powder going to adhere to the window, by stirring powder particles regarding a method and an apparatus for the measurement of a powder component and regarding the probe for powder component measurement.
本発明は、粉末成分測定方法、粉末成分測定装置および粉末成分測定用プローブに関し、窓に付着しようとする粉末を粉末粒子の攪拌によって継続的に掻き落とすことにより、光学ファイバプローブの窓が粉末により覆われるのを防止して、測定精度を向上することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a probe mounting position calculation method of an on-machine measuring device for correcting based on a result of reference sphere measurement, a distance between a rotation center axis of a rotating shaft on which the on-machine measuring device is mounted and the tip of a probe, which is calculated by various operations, in on-machine measurement using the rotating shaft.
回転軸を用いた機上計測において、各種演算により算出された機上計測装置の取り付けられた回転軸の回転中心軸とプローブの先端との距離を基準球計測の結果を基に補正を行う機上計測装置のプローブ取り付け位置算出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a molecular biological detection method using a probe, in detection of gene amplification rate, gene mutation, or the like based on an FRET process, wherein a new nucleic acid probe exhibiting highly sensitive and excellent accuracy is provided by using a pigment economically available and excellent in spectroscopic properties concerning to sensitivity and accuracy.
FRET法に基づく遺伝子増幅率や遺伝子変異等の検出法において、高感度且つ優れた正確性を示す新規核酸プローブを、安価に入手可能であり且つ感度や正確性を左右する分光学的性質に優れた色素を用いて、該プローブを用いる分子生物学的検出法を提供する。 - 特許庁 - In a method for inspecting a thin plate using an electromagnetic ultrasonic probe 10 equipped with a magnet body for generating a magnetic field on the surface of the thin plate and a coil arranged in the magnetic field and transmitting and receiving plate waves, the electromagnetic ultrasonic probe 10 is arranged at either one of both edge parts of the thin plate S.
薄板表面に磁界を発生させる磁石体と、前記磁界に配置され板波を送受信するためのコイルとを具備する電磁超音波探触子１０を使用して薄板を検査する方法であって、電磁超音波探触子１０を薄板Ｓの両エッジ部のいずれか一方に配置することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a primer set and a probe for detecting the polymorphism relating to the metabolic ability of CYP2C8, a drug metabolism enzyme, and the testing agent and the testing method that including these primer set and probe, thus detecting the gene polymorphism of the drug metabolism enzyme, before paclitaxel is given, to know the suitable doses for individual patients thereby avoiding the serious side-effect.
パクリタキセルの投与前に薬物代謝酵素ＣＹＰ２Ｃ８の代謝能に関連する遺伝子多型を検出し、個々の患者に応じた量のパクリタキセルを投与することで、その副作用を避けることを可能とするプライマーセット、プローブ及びそれらを含む検査薬、並びに検査方法を提供する。 - 特許庁 - In this friction stir welding method, a first probe 12 of a first rotating rotary tool 1 and a second probe 22 of a second rotary tool 2 are disposed on one side in the thickness direction of the members 3 and 3', the probes are rotated at the substantially same rotational speed, and the rotational directions are opposite to each other.
本発明の摩擦撹拌接合法は、接合部材３，３′の厚さ方向の一方の側に、回転する第１回転ツール１の第１のプローブ１２と第２回転ツール２の第２のプローブ２２とを配置し、この両プローブを略同一の回転速度で回転すると共に、その回転方向を互いに相反する方向としている。 - 特許庁 - To perform the flaw detection or material characteristic evaluation of a specimen with high sensitivity by adopting a single-probe reflection method using one coil having an advantage for reducing a probe arrangement area and extracting an effective signal in a slow time response range even for close-distance measurement having a slow time response.
探触子配置面積を小さくできる利点を有する１つのコイルを用いた１探触子反射法を採用しつつ、時間応答の遅い近距離計測でも、遅い時間応答範囲内の有効信号を抽出し、高感度で被検体の欠陥探傷あるいは材料特性評価を行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a measuring method and measuring device capable of providing sufficient electric contact of a probe needle with an electrode pad even when a relatively thick insulating layer is disposed on the surface of an electrode pad of the semiconductor chip, in measuring the electrical characteristic of a semiconductor chip in a state of the semiconductor wafer using a probe card.
プローブカードを用いた半導体ウェハの状態での半導体チップの電気特性の測定において、半導体チップの電極パッドの表面に比較的厚い絶縁膜がある場合でも、プローブ針と電極パッドとの良好な電気的接触が得られるような測定方法および測定装置を提供する。 - 特許庁 - This method for analyzing the sample is characterized by detecting the presence or absence of the formation of the nucleic acid probe-target nucleic acid hybrid product formed in a measurement sample obtained by reacting a sample with the probe carrier by the measurement of a halogen atom labeling the target nucleic acid with a flight time type secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS).
プローブ担体に試料を反応させた測定用試料に形成された核酸プローブと標的核酸とのハイブリッド体の形成の有無を、標的核酸に標識したハロゲン原子を飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ−ＳＩＭＳ）によって測定することにより検出する。 - 特許庁 - This system is provided with an ultrasonic probe 10 which is abutted on a human body pharynx part and transmits the ultrasonic waves and receives reflected ultrasonic waves, and a main body 100 for driving the transmission and reception of the ultrasonic probe 10, signal-processing reflected waves and measuring the motion information of the food passing through the human body pharynx part by the Doppler method.
人体咽頭部に当てられ、超音波を送波すると共に反射超音波を受波する超音波プローブ１０と、この超音波プローブ１０を送受波駆動すると共に反射波を信号処理して人体咽頭部を通過する前記食品の運動情報をドプラ法により測定する本体１００とを具備する。 - 特許庁 - To provide a vibration method of a cantilever for a scanning probe microscope including an excitation mechanism capable of vibrating the cantilever efficiently, capable of suppressing a noise of a displacement detection mechanism, suppressing a vibration noise of a member, and performing measurement having high resolution, concerning a scanning probe microscope in a vibration system.
振動方式の走査型プローブ顕微鏡において、効率的にカンチレバーを振動させることができる加振機構を備え、変位検出機構のノイズを抑制するとともに、部材の振動ノイズを抑え、分解能の高い測定が可能となるような走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid discharge device having constitution capable of effectively realizing an advantage of a device using a liquid discharge method without decreasing the manufacturing efficiency of a probe carrier by keeping a probe solution having stable concentration in a liquid housing part inside the liquid discharge device.
安定した濃度のプローブ溶液を液体吐出装置内の液体収納部に維持して、プローブ担体の製造効率を下げることなく、液体吐出方式を用いた装置の利点を効果的に発揮させることのできる構成を有する液体吐出装置及びそれを用いたプローブ担体の製造装置を提供すること。 - 特許庁 - The method has an initialization step including a step of transmitting an electronic probe signal to a receiver for converting to an acoustic probe signal to be outputted by the receiver, a step of recording a microphone output signal, and a step of determining at least one parameter of feedback paths based on the recorded microphone output signal.
レシーバによって出力される音響プローブ信号に変換するために、レシーバへ電子プローブ信号を送信するステップと、マイクロホン出力信号を記録するステップと、記録されたマイクロホン出力信号に基づいて、フィードバック経路の少なくとも１つのパラメータを判定するステップとを含む初期化ステップを有する。 - 特許庁 - This method for manufacturing the probe for atomic force microscopic examination includes a step of preparing a semiconductor substrate 1, a step for generating a molding die on a surface in one side of the substrate, a step for generating probe structure in the one side, and a step for attaching a holder 6 to a contact areas.
原子間力顕微鏡検査用のプローブを製造する方法は、半導体基板１を準備するステップと、基板の一方側の表面にモールド型を生成するステップと、上記一方側においてプローブ構造を生成するステップと、コンタクト領域に対してホルダ６を取り付けるステップとを含んでいる。 - 特許庁 - To provide a hybridization assaying method capable of avoiding occurrence of a steric hindrance due to that a target nucleic acid molecule assumes a configuration of having an unnecessarily long nucleic acid chain on the side of a substrate immobilizing a nucleic acid probe when a hybrid formation between the nucleic acid probe and the target nucleic acid molecule is made.
核酸プローブと目標とする核酸分子とのハイブリッド体形成を行った際、目標とする核酸分子が核酸プローブを固定する支持体側に不必要に長い核酸鎖を有する形態となることに起因する立体的障害の発生を回避可能なハイブリダイゼーション・アッセイ方法を提供する。 - 特許庁 - In the method for detecting ocean gas symptoms, a local probe is arranged on or near the ocean floor, bubbles are generated in the water near or in the local probe, the bubbles are detected, and data showing the relative concentration of gas that is dissolved into the water are generated.
本発明によれば海洋ガス徴を検知する方法が提供され、その方法は、海底上又はその近くに局所的プローブを配置し、該局所的プローブの近く又はその中における水中にバブルを発生し、該バブルを検知し、該水中に溶解しているガスの相対的濃度を表わすデータを発生させることを包含している。 - 特許庁 - To provide an analyzer having integrated contact type probe and non-contact type probe and an instrumentation method for evaluating the surface of an organism subjected to affection, especially the lesion of the skin, thereby substantially simultaneously measuring various information of the lesion part, digitizing the results to objectively evaluate a lesion part and standardize selection of suitable curing method and curing.
障害を受けた生体表面、特に皮膚病変を評価するための接触式探索子及び非接触式探索子を一体化した解析装置と計測方法であり、病変部位の各種情報をほぼ同時に測定しその結果を数値化し、創傷部を客観的に評価することを可能にし、適切な治療法の選択と治療の標準化を提供する。 - 特許庁 - Consequently, the inspection method capable of minimizing misinspection can be provided, concerning the inspection method of the semiconductor element 10 for inspecting the characteristic of the semiconductor element 10 by bringing the probe 18 into contact with the semiconductor element 10, by performing reinspection after cleaning treatment is applied to a semiconductor wafer 12 and/or the probe 18 where the misinspection is discovered.
この為、検査ミスが発見された半導体ウェハ１２および／または探針１８に清浄化処理を施した後に再検査することにより、半導体素子１０に探針１８を接触させてその半導体素子１０の特性を検査する半導体素子１０の検査方法に関して、検査ミスを可及的に減少させる検査方法を提供することができる。 - 特許庁 - To provide a simple method for detecting a target base sequence present in a test sample with high sensitivity and specificity, a simple method for detecting one variation of the base in the target base of the target base sequence and a probe used for the method.
被検試料中に存在する標的塩基配列を高い感度および特異性をもって検出する簡便な方法、標的塩基配列中の標的塩基における一塩基変異を検出する簡便な方法、およびこれらの方法に用いられるプローブを提供すること。 - 特許庁 - The method for fabricating a probe tip for use in the scanning probe microscope includes steps of forming a triangular prism formed with protective films on both sidewalls by patterning a (111) general silicon wafer; etching the silicon wafer to make the triangular prism into a probe tip of triangular pyramid shape; and removing the protective films.
本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）に用いられる探針ティップを製造する方法において、（１１１）一般シリコンウェーハをパターニングし、両側壁に保護膜が形成されている三角柱を形成する段階と、前記シリコンウェーハをエッチングし、前記三角柱を三角錐状の探針ティップに形成する段階と、前記保護膜を取り除く段階と、を含む探針ティップの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for forming a tungsten-containing DLC coating on a base material of a contact probe pin for a semiconductor inspection device capable of adjusting easily a tungsten composition in the DLC coating, and having an excellent anti-tin-adhesion property for preventing adhesion of tin which is a main component of solder onto a contact part of the probe pin when the probe pin is brought into contact with the solder, and having excellent conductivity.
半導体検査装置用コンタクトプローブピンの基材上にタングステン含有ＤＬＣ皮膜を形成する方法であって、ＤＬＣ皮膜中のタングステン組成を調整することが容易であり、プローブピンがはんだと接触した際にはんだの主成分であるスズがプローブピンの接触部に凝着するのを防ぐ耐スズ凝着性に優れ、かつ導電性にも優れたタングステン含有ＤＬＣ皮膜を形成する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method capable of detecting simply an object material by using only one kind of a probe, and improving a detection limit, concerning a method for detecting the object material in a specimen using a fine particle.
微粒子を用いた検体中の対象物質を検出する方法において、１種類のプローブのみを使用することによって対象物質を簡便に検出することができ、かつ検出限界を向上させた方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a refraction angle control unit for adjusting an incidence angle without requiring any mechanical operation of a probe, to provide a noncontact ultrasonic flaw detection device including the refraction angle control unit, to provide a method of controlling a refraction angle, and to provide a noncontact ultrasonic flaw detection method.
探触子の機械的動作を必要とせずに、入射角の調整を可能とする屈折角制御装置、これを備えた非接触超音波探傷装置、屈折角制御方法及び非接触超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for an ultrasonic angle beam method for calculating accurately a flaw detection angle of refraction and a nominal angle of refraction from the nominal angle of refraction and the flaw detection angle of refraction of an ultrasonic angle probe.
超音波斜角探触子の公称屈折角又は探傷屈折角から、探傷屈折角又は公称屈折角を正確に算出する超音波斜角探傷方法及び超音波斜角探傷装置を提供することを課題としている。 - 特許庁 - In a step S3 of the flaw depth measurement, if a flaw is detected in the step S2 of the slot dovetail part flaw detection, the depth of the flaw from the surface of the slot dovetail part is measured using an oscillation method or TOFD method by the angle ultrasonic probe.
欠陥深さ測定Ｓ３では、スロットダブテール部探傷Ｓ２で欠陥が検出された場合には、斜角超音波探触子による振幅法またはＴＯＦＤ法を用いてスロットダブテール部表面からの欠陥の深さを測定する。 - 特許庁 - To provide a fit-in type micro touch unit capable of making a position of a probe tip end consistent with a normal position reference of a joining portion, capable of enhancing assembling precision by a single order joining method, and capable of enhancing the coherence of the whole function, and a manufacturing method therefor.
プローブ尖端の位置と接合部位の定位基準を一致させ、単次接合方法により全体の組立精度を高め、全体機能の一貫性を向上させることが可能な嵌入式マイクロタッチユニット及びその製造法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device that can judge whether or not a probe is properly in contact with a pad of the semiconductor device without preventing the multi-pinning and pinch-pitching, and its inspection method as well as an inspection method for an inspecting device of the semiconductor device.
多ピン化や挟ピッチ化を妨げることがなく、プローブが半導体装置のパッドに正確に接触しているか否かを判断できる半導体装置及びその検査方法並びに半導体装置の検査装置の検査方法を提供する。 - 特許庁 - In the case of inspection due to a reflecting method, the ultrasonic wave F_0 is reflected from the boundary surface of the specimen, the reflected wave is received by the ultrasonic probe 1 and receiving voltage Vr is generated in the piezoelectric vibrator 3.
反射法で検査を行う場合、超音波Ｆ_０は被検体の境界面で反射し、反射波が超音波探触子１で受信され、圧電振動子３に受信電圧Ｖｒが発生する。 - 特許庁 - To provide a detection method and a detection kit to use a PNA (peptide nucleic acid) probe, more easily, accurately and quickly detecting the objective DNA or RNA in a specimen.
本発明は、より簡便、正確かつ短時間に検体中の目的ＤＮＡまたはＲＮＡを検出できるＰＮＡプローブを利用した検出方法及び検出用キットを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an eddy current flaw detection multi-coil probe and its manufacturing method for reducing an increase in a sensitivity fluctuation by reducing a lift-off fluctuation of flaw detection coils, and improving the inspection accuracy.
探傷コイルのリフトオフばらつきを小さくして感度バラツキの増大を抑え、検査精度を向上することができる渦流探傷マルチコイル式プローブ及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device.
近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe unit that can increase contact pressure with the electrode of a specimen by the use of the elasticity of a substrate, and can prevent the adjacent contact parts mutually from coming in contact, in addition to its manufacturing method.
基板の弾力によって検体の電極との接触圧を増大させることができ、隣り合う接触部同士が接触することを防止できるプローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device and an inspection method having high reliability by acquiring a position relation between mutual probes and between a sample and a probe for characteristic evaluation of a miniaturized device.
本発明の目的は、微細化されたデバイスの特性評価のために、プローブ相互間及び試料とプローブとの位置関係を把握して、信頼性の高い検査装置及び検査方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a probe card which can measure electric characteristics of each electronic device even if the layout of conduction terminals of a plurality of electronic devices and to provide an electric characteristics measuring apparatus and an electric characteristics measuring method.
複数個の電子装置の導通端子のレイアウトが異なっていても、各電子装置の電気特性の測定を行えるプローブカード、電気特性測定装置、電気特性測定方法をもたらす。 - 特許庁 - To provide a cantilever of which probe can vertically approach a sample surface and which is especially suitable for observations and measurements of a structure having large irregularities and a deep groove structure and to provide a method for manufacturing the same.
試料表面に対してプローブが垂直にアプローチすることができ、特に凹凸の大きな構造や深溝構造の観察及び測定に適したカンチレバーとその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for identifying a target base sequence by effectively reacting a double stranded sample nucleic acid and a probe nucleic acid forming a double strand without a thermal denaturation process.
熱変性工程を要することなく、２本鎖を形成している試料核酸と２本鎖形成核酸プローブとを効果的に反応させることにより、標的塩基配列を識別する方法の提供。 - 特許庁 - The method can include filling at least a portion of a sample container interior chamber with a liquid sample and submerging a sensor probe of a hand-held portable sensing device in a liquid sample.
この方法は、サンプル容器内室の少なくとも一部分に液体サンプルを充填するステップと、液体サンプル中に手持ち可搬式感知デバイスのセンサプローブを浸漬するステップとを含むことが可能である。 - 特許庁 - To provide a manipulation method surely separating a minute object from the tip part of a probe without being influenced by conditions such as the size of the minute object and to provide a manipulation device.
微小物体の大きさ等の条件に影響されることなく、確実に微小物体をプローブの先端部から離脱させることができるマニピュレーション方法およびマニピュレーション装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a hybridization detection method for avoiding nonspecific hybrid formation, without causing the hybridization strength of a probe to decrease and detecting a signal by a specific reaction, with high sensitivity.
プローブのハイブリダイゼーション強度を低下させることなく、非特異的なハイブリッド形成を抑制し、特異的な反応によるシグナルを感度良く検出するハイブリダイゼーション検出方法を提供する。 - 特許庁 - A method for specifically detecting phospholipid by using a molecular probe having a protein domain structure which links specifically to phospholipid.
リン脂質を特異的に検出する方法であって、リン脂質に特異的に結合するタンパク質ドメイン構造を持つ分子プローブを用いて検出することを特徴とするリン脂質を特異的に検出する方法。 - 特許庁 - To provide a probe needle capable of easily reaching and suitably contacting an electrode of a measuring object even when an oxide film and the like on the surface of the electrode is thick and tough, and a manufacturing method thereof.
被測定体の電極表面の酸化膜等が厚く強固な場合であっても電極に容易に達して良好な接触を図ることができるプローブ針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a wiring substrate which can reduce the possibility that a wiring conductor arranged on a metal bonding layer is separated from an insulating substrate, and to provide a probe card and a method of producing the wiring substrate.
金属接合層上に配設された配線導体が、絶縁性基板から剥がれる可能性を低減することができる配線基板、プローブカード、または配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of processing a blind hole in a multilayer circuit board which allows easy confirmation of the location of an inner layer and can increase the processing accuracy, and also to provide the multilayer circuit board and a probe for inspection.
内層位置の確認作業が容易で、加工精度を向上させることができる多層回路基板の止まり穴加工方法および多層回路基板並びに検査用プローブを提供すること。 - 特許庁 - To provide a system and a method to visualize an inside region of an anatomical object for a probe by using an image data on the anatomical object acquired in advance and stored as a database.
データベースとして記憶された、解剖学的物体について前もって取得したイメージ・データを使用して、プローブに関する解剖学的物体の内部領域を視覚化するシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a target nucleic acid having a stem-loop structure by hybridizing it with a probe nucleic acid in improved hybridization efficiency.
本発明はステム-ループ構造を有する核酸鎖をプローブ核酸とハイブリダイゼーションさせて検出する方法において、ハイブリダイゼーション効率が改善された検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe substrate that can suppress the fact that concavities and convexities, and steps corresponding to a wiring pattern occur on the surface of an insulating layer on a conductive layer constituting the wiring pattern.
配線パターンに応じた凹凸や段差が当該配線パターンを構成する導電層上の絶縁層の表面に生じるのを抑制することができるプローブ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - A road traffic information creation method includes the step of dividing a route traveled by a vehicle into a plurality of trips according to a plurality of probe raw data collected from the vehicle to create a plurality of time series trip data.
車両から収集された複数プローブ生データに基づいてその車両が走行した経路を複数トリップに分割することにより複数時系列トリップデータを作成するステップを備えている。 - 特許庁 - The manufacturing method for the extremely small optical waveguide is characterized by that the oxide film is formed by anodizing the surface of the metallic substrate by using a probe tip of an atomic force microscope, etc.
また、本発明の極微小光導波路の製造方法は、金属基板表面を原子間力顕微鏡等の探針先端を用いて陽極酸化して酸化膜を形成することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a ceramic member having free machinability and a coefficient of thermal expansion close to that of silicon, to provide a probe holder formed from the ceramic member, and to provide a method for producing the ceramic member.
快削性と共にシリコンに近い熱膨張係数を有し、高い強度を備えたセラミックス部材、このセラミックス部材を用いて形成されるプローブホルダ、及びセラミックス部材の製造方法を提供すること。 - 特許庁
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