「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 65 66 67 68 69 70 71 72 73 .... 78 79 次へ＞- To provide a method for controlling the quality of surface recesses and projections that are not affected by factors other than projections by a scanning probe microscope for a sample where the projections with a specific size are formed on the surface.
特定サイズの突起が表面に形成された試料について、走査型プローブ顕微鏡により、突起以外の因子によって影響されない表面凹凸の品質管理方法を提供すること。 - 特許庁 - To reduce a change of a signal waveform, caused when reflection generated at a contact point with a probe is transferred to a circuit to be measured, concerning a signal measuring method of a circuit board or the like.
回路基板等の信号測定方法に関するものであり、プローブとの接触点で発生する反射が被測定回路に伝わり、信号波形が変化することを低減するものである。 - 特許庁 - To provide a near-field optical probe capable of heightening light utilization efficiency, executing high-speed scanning, and reducing background light included in detected light, and its manufacturing method.
本発明は、光利用効率が高く、高速走査が可能で、検出される光に含まれるバックグランド光が少ない近接場光プローブおよびその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - PROBE FOR DETECTING OR PROJECTING EVANESCENT LIGHT, ITS MANUFACTURING METHOD, SURFACE OBSERVATION DEVICE CONSTITUTED OF IT, EXPOSURE DEVICE, OPTICAL ELEMENT COMPOSED OF THE SYSTEM, AND INFORMATION PROCESSOR
エバネッセント光を検知または照射する探針、該探針の製造方法、及びこれらの探針によって構成された表面観察装置、露光装置と該露光装置による光学素子、情報処理装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor inspection apparatus with a probe structure, capable of attaining conversion into multiple pins and narrow pitches in X-X direction and Y-Y direction, and to provide a manufacturing method therewith.
本発明は、Ｘ−Ｘ方向及びＹ−Ｙ方向に多ピン化及び狭ピッチ化することが可能なプローブ構造を有する半導体検査装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an atom position fixing device and an atom position fixing method or the like by which deviation of the relative position between a probe and an atom of a specimen due to influence caused by thermal drift and creep can be suppressed.
熱ドリフト及びクリープの影響による探針と試料原子との相対位置のずれを抑制することができる原子位置固定装置及び原子位置固定方法などを提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of miniaturizing a spot size to a droplet amount, when spotting a droplet of a solution including a probe onto the base material (substrate) surface which has been subjected to application processing with an immobilization agent.
固定化剤塗布処理した基材（基板）表面に対して、プローブを含有する溶液の液滴をスポットする際、その液滴量に対するスポット径の微小化を可能とする手法の提供。 - 特許庁 - In the image forming method of the ultrasonic imaging device, a probe 11 for emitting an ultrasonic wave to an inspection target 13 to receive the echo thereof is sent in a main scanning direction and a sub-scanning direction to be subjected to scanning operation.
この超音波映像装置の映像作成方法では、被検体１３に超音波を発射しそのエコーを入射するプローブ１１を、主走査方向、副走査方向に送って走査動作させる。 - 特許庁 - To provide an element inspection method for an electric contact structure of a practical inspection probe suitable for inspection of a semiconductor device having external terminals narrow-pitched and made of material forming an oxide film.
狭ピッチ、かつ、酸化皮膜を形成する材料の外部端子を備える半導体装置の検査に適する実用性のある検査プローブの電気接点構造の素子検査方法を提供する。 - 特許庁 - Then, a position of the probe 10 or the atom 50 on the plane is controlled such that frequency components in a direction parallel to the plane of the detected frequency variation become zero (a second method: Fig.1(b)).
そして、検出した周波数の変化量の平面と平行な方向の周波数成分がゼロとなるように探針１０又は原子５０の平面における位置を制御する（第２の方法：図１（ｂ））。 - 特許庁 - To provide a wafer testing method in which accuracy and speed of sensing of the temperature of a wafer can be improved during the sensing of the wafer temperature when an electrical test of an IC chip is conducted, and to provide a probe card.
ＩＣチップの電気的テストを行う際にウェハの温度を検知する場合に、ウェハ温度の検知精度及び検知速度を向上させることができるウェハテスト方法及びプローブカードを提供する。 - 特許庁 - To provide a probe set capable of detecting with a strong signal a target substance such as a nucleic acid, a protein, a hapten or the like in a sample and a method of detecting the target substance, which does not necessitate a step of thermal denaturation.
試料に含まれる核酸、タンパク質、ハプテンなどの標的物質を強いシグナルで検出できるプローブセット及び熱変性の工程を必要としない標的物質検出方法を提供する。 - 特許庁 - In the method, an ultrasonic test equipment 10 which is integrally composed of an ultrasonic probe 2 and a metal shoe 21, is attached to an outer surface of an object to be tested, e.g., a steam valve 1 by using a magnetic force of a magnet roller 5.
金属シュー２１と超音波探触子２とを一体化した超音波探傷装置１０を、磁石ローラ５の磁力により被検体の一例である蒸気弁１の外表面に吸着させる。 - 特許庁 - To provide a method for adjusting the temperature of a thermostatic tank can hold the thermostatic capacity of the thermostatic tank to obtain an analytic result having high reliability, a dispensing probe washing mechanism and an autoanalyzer.
恒温槽の恒温性能を保持し、信頼性の高い分析結果を得ることができる恒温槽温度調整方法、分注プローブ洗浄機構および自動分析装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide means for improving the arrangement density of pads and preventing missing of a passivation film, using a probe which is used in electrical testing, in a method of manufacturing a pad and a semiconductor device.
パッドと半導体装置の製造方法において、パッドの配置密度を向上させると共に、電気的試験で使用されるプローブによってパシベーション膜が欠損するのを防止する手段の提供。 - 特許庁 - The manufacturing method of the probe finger structure comprises a preparation step, consisting of an upper layer, an under layer and a wafer or a wafer part having an insulation or an etching stop layer which is located between the upper layer and the under layer.
上層、下層、及び、上層と下層との間に位置する絶縁又はエッチング停止層を有するウェーハ又はウェーハ部分を準備する段階を含むプローブフィンガ構造体を製造する方法。 - 特許庁 - To provide a ranging apparatus capable of automatically measuring the change in height even if the height of a measured object 20 is changed, and automatically determining the travel of a probe in an automatic jig for automatically measuring the operating condition of the measured object by bringing the probe 11 into contact with the measured object 20, a ranging method used in the ranging apparatus and a focusing point detecting method.
測定対象物２０にプローブ１１を自動的に接触させ、測定対象物の動作状態を自動的に測定する自動治具において、測定対象物２０の高さが変更されてもその高さの変更を自動的に測定し、プローブの移動量を自動的に決定することができる測距装置と、この測距装置に用いられる測距方法及び、合焦点検出方法を提案する。 - 特許庁 - The ultrasonic diagnostic device is characterized in that a control method for the ultrasonic diagnostic device in working procedures or various working procedures relating to photography, for example, an ultrasonic probe control method, electrocardiographic electrode mounting method, adjusting method for ultrasonic wave transmission and reception conditions, etc., are guided by animation images or speech output.
撮影に関する作業手順或いは各作業手順における当該超音波画像診断装置の操作方法、例えば超音波プローブ操作方法、心電図電極取り付け方法、超音波送受信条件の調節方法等を、アニメーション画像或いは音声出力によってガイダンスすることを特徴とする超音波画像診断装置。 - 特許庁 - This inspection method for executing electric characteristic inspection of the device by bringing an inspection probe 12A into electric contact with the inspection electrode P, has a contact process for bringing the inspection probe 12A into electric contact with the inspection electrode P by breaking an insulating coat O of the inspection electrode P by utilizing fritting phenomenon.
本発明の検査方法は、検査用電極Ｐに検査用プローブ１２Ａを電気的に接触させてデバイスの電気的特性検査を行う検査方法において、フリッティング現象を利用して検査用電極Ｐの絶縁被膜Ｏを破って検査用プローブ１２Ａと検査用電極Ｐを電気的に接触させるコンタクト工程を有する。 - 特許庁 - To provide a probe card in which the yield can be enhanced by eradicating poor sticking of assembly resulting from conventional level difference caused by probe trace, conductivity can be ensured easily by utilizing a conductive layer portion, and stabilized inspection environment can be achieved, and to provide a semiconductor element inspection method employing it.
従来のプローブ痕による段差で発生する組立付着不具合を撲滅して、歩留まりを向上することができるとともに、導電層部分を活用することで導電性を容易に確保することができ、安定した検査環境を実現することができるプローブカードおよびそれを用いた半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁 - The method for manufacturing a ceramic substrate for a probe card includes steps of: preparing a ceramic substrate for a probe card on which a via electrode filled with a conductive substance is formed; filling a void generated between the ceramic substrate and the via electrode with a filling substance including a thermosetting resin; and curing the auxiliary filling substance.
導電性物質で充填されたビア電極が形成されたプローブカード用セラミック基板を設ける段階と、上記セラミック基板とビア電極の間に発生したボイドに熱硬化性樹脂を含む充填物質を充填する段階と、上記補助充填剤を硬化させる段階とを含むプローブカード用セラミック基板の製造方法が提供される。 - 特許庁 - This reproduction method for the probe sheet for reproducing the probe sheet having a substrate, and a conductor film having a linear contact part positioned on the substrate, contacting with an electrode of a sample, and formed on the substrate includes a removal process cutting or scraping away a tip part of the contact part together with the substrate.
本発明に係るプローブシートの再生方法は、基板と、前記基板上に位置し検体の電極に接触する線状の接触部を有し前記基板上に形成される導電膜とを備えるプローブシートを再生するための方法であって、前記接触部の先端部を前記基板とともに切除又は削り取る除去工程を含む。 - 特許庁 - This method comprises inserting the probe body A to the subject P while vibrating the vibrator 7, stopping the vibration of the vibrator 7 to perform the measurement by the sensors 9-13, and pulling the probe body A out of the subject P while vibrating the vibrator 7 again.
また、本発明方法は、上記のプローブ本体Ａを、バイブレーター７を振動させながら被測定対象物Ｐに差し込んだ後、そのバイブレーター７の振動を止めて、物性測定センサー９〜１３による測定を行なった後、上記バイブレーター７を再度振動させながら、上記プローブ本体Ａを被測定対象物Ｐから抜き出すことを内容としている。 - 特許庁 - To provide an NMR probe where a resonance frequency has been reduced while maintaining a high Q value and a method for adjusting the NMR probe for reducing a resonance frequency while maintaining a high Q value when the resonance frequency of a resonance circuit is high originally and when a transmission/reception coil is cut excessively to increase the resonance frequency.
共振回路の共振周波数がもともと高すぎる場合や、送受信コイル、またはリード部を切り取り過ぎて、共振周波数が高くなった場合などに、高いＱ値を維持したままで共振周波数を低減させたＮＭＲプローブ、及び、高いＱ値を維持したままで共振周波数を低減させるＮＭＲプローブの調整方法を提供する。 - 特許庁 - This method for detecting a defective bonding part of impervious sheet, further, comprises a current detector which is provided with an original electrode, a probe electrode, an original terminal and a probe terminal and detects the current which flows when the voltage is applied between the terminal part of the hollow part into which the electroconductive liquid is filled and the prescribed position near the seal part.
又、元電極、探針電極、及び、元端子と探針用端子とを備える電流検知器、から構成され、前記導電性液体が注入された前記空洞部の終端部と、前記シール部近傍の所定の位置との間に電圧をかけたときに流れる電流を検知する、遮水シート接合不良検知器である。 - 特許庁 - This method for detecting the presence of the target DNA is provided by using a target DNA-detecting probe obtained by connecting a complemental base sequence to the target DNA and an optionally selectable base sequence which is not complemental, and amplifying a nucleic acid signal composed of oligo nucleotide containing a base sequence complemental to the base sequence which is not complemental to the target DNA in the probe.
標的ＤＮＡに対し相補的な塩基配列と相補的でない任意に選択可能な塩基配列とが結合している標的ＤＮＡ検出用プローブを用い、該プローブにおける標的ＤＮＡに相補的でない塩基配列に対して相補的な塩基配列を含むオリゴヌクレオチドからなる核酸シグナルを増幅させる。 - 特許庁 - In the pipeline position measurement method, an operation processing section 4 measures the position of the pipeline 1, based on data 2a, 5a when the sensor probe 2 is inserted toward the target position 1b from the inlet/outlet 1a of the pipeline 1 and when the sensor probe 2 is pulled to the inlet/outlet 1a from the target position 1b.
本発明による管路位置計測方法は、管路１の出入口１ａから目的位置１ｂに向けて前記センサプローブ２が挿入されるとき、及び前記目的位置１ｂから前記出入口１ａまで前記センサプローブ２が引き抜かれるときの両方のときのデータ２ａ，５ａに基づいて、演算処理部４が前記管路１の位置計測を行う構成である。 - 特許庁 - In the non-destructive inspection method of the metal thin plate 1 for performing eddy current flaw detection with respect to the non-magnetic metal thin plate 1, the frequency of a probe 2 is set to 10-100 kHz while the gap between the leading end of the probe and the non-magnetic metal thin plate 1 is set to 1.0 mm or below to inspect the non-magnetic metal thin plate during feed.
非磁性体の金属薄板１に対して渦流探傷を行う金属薄板の非破壊検査方法であって、プローブ２の周波数を１０ｋＨｚ以上１００ｋＨｚ以下にすると共に、プローブ先端から非磁性体の金属薄板１までのギャップを１．０ｍｍ以下にし、非磁性体の金属薄板１を搬送中に検査する。 - 特許庁 - A method of constructing a cardiac map of the heart having a heart cycle including steps for; bringing an invasive probe into contact with a location on a wall of the heart; determining, at at least two different phases of the heart cycle, a position of the invasive probe; and determining a local non-electrical physiological value at the location.
心臓周期を有する心臓の心臓マップを構成する方法であって、侵入プローブを心臓の壁上のロケーションと接触させる段階と、心臓周期の少なくとも２つの異なる状態で、前記侵入プローブのポジションを決定する段階と、前記ロケーションでの非電気的な局部生理学値を決定する段階を含む。 - 特許庁 - In the method of inspecting semiconductor devices, while a plurality of electrode pads for a semiconductor device to be inspected are brought into direct contact with a plurality of corresponding probes, formed on a probe structural body to be electrically connected thereto, the board for inspecting semiconductor devices with a pass capacitor formed thereon is used for the probe structural body, to inspect the electrical characteristics.
検査対象である半導体装置の複数の電極パッドとプローブ構造体上に形成された複数のプローブを個々に直接接触させて、電気的に接続しながら半導体装置を検査する方法において、前記プローブ構造体にパスコンデンサを形成した半導体装置検査用基板を用いて電気的特性検査を行う。 - 特許庁 - The correcting method for a photomask to correct a white defect in a photomask is characterized in that: a deposition film 11 is formed at a white defect portion C by a FIB-CVD (focused ion beam chemical vapor deposition) system; if the film protrudes a desired pattern, the protruding portion 2 is shaved off with a needle; and the needle is preferably a probe of a scanning probe microscope.
フォトマスクの白欠陥を修正するフォトマスク修正方法において、白欠陥部ＣにＦＩＢ−ＣＶＤ方式でデポジション膜１１を形成し、膜の形状が所望の形状よりはみ出た場合、はみ出た部分２を針で削りとり、好ましくは前記針は、走査プローブ顕微鏡の探針であることを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a method of electrically inspecting a printed wiring board by continuously moving an inspection probe dispensing with an inspection tool to bring it into contact with an inspection point, with which no flexure takes place for a thin or flexible-type printed wiring board and sufficient contact can be obtained when the probe is brought into contact.
検査治具を必要としない検査用プローブを連続的に移動させて検査ポイントに当接させるプリント配線板の電気検査方法において、薄型あるいはフレキシブルタイプのプリント配線板に対しても、たわみが生じず検査用プローブを当接させた時に十分な接触が得られるプリント配線板の電気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - In a method for bonding dissimilar materials, energy is given to one material 2 by using a probe 1 rotating at high speed, the material 2 is softened by the friction heat and plastically fluidized, and the material 2 is filled into a recess 4 formed in the other material 3 in advance by pushing or moving the probe, and thus the dissimilar materials are bonded to each other.
異なる材料を結合する方法において、高速回転するプローブ１を用いて片方の材料２にエネルギーを与え、摩擦熱で材料２を軟化して塑性流動させ、さらにプローブの押込みまたは移動により、もう一方の材料３に予め形成された凹み４内に材料２を充填することで、異種材料を結合する。 - 特許庁 - To provide a probe card, and a measuring device and measuring method for an electronic circuit device used for measuring electric characteristics of the electric circuit device such as a semiconductor chip capable of securely detecting contact failure between the electric circuit device and the probe card, and accurately measuring the electric characteristics of the electric circuit device.
半導体チップ等の電子回路装置の電気的特性を測定するのに用いられるプローブカードおよび測定装置において、電子回路装置とプローブカードとの接触不良を確実に検出でき、電子回路装置の電気的特性を正確に測定することができるプローブカードおよび電子回路装置の測定装置および測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical axis adjusting method capable of easily setting an optical axis in the rear surface of a cantilever in a scanning probe microscope equipped with an optical lever type displacement detection system constituted by utilizing the rear surface of the cantilever, an optical axis adjusting auxiliary jig fitted thereto and the scanning probe microscope having optical axis adjusting constitution.
カンチレバーの背面を利用して構成される光テコ式の光学式変位検出系を備えた走査型プローブ顕微鏡でカンチレバーの背面での光軸設定を容易に行える光軸調整方法、この光軸調整法に適した光軸調整用補助具、およびこの光軸調整の構成を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic inspection method with proper reproducibility of inspection, which can detect a flaw to be detected, even when a seam- profiling error occurs, can execute oblique inspection and vertical inspection using one probe, and can detect minute flaws by making the probe move closer to a welded section.
シーム倣い誤差が生じた場合でも、検出すべき疵を検出することができ、探傷再現性が良好である超音波探傷方法、及び１つの探触子で斜角探傷と垂直探傷とを実施することができ、探触子をより溶接部へ接近させて微小疵も検出することができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an analytical method for easily and highly sensitively performing quantitative analysis and two-dimensional imaging by bringing a target nucleic acid into a hybridized state to a nucleic acid probe arranged on a nucleic acid chip in a matrix shape and simultaneously and clearly discriminating the nucleic acid probe from the target nucleic acid.
核酸チップ上にマトリックス状に配置される核酸プローブに対して、その標的核酸がハイブリダイゼーションした状態とした上で、飛行時間型二次イオン質量分析法を用いて、核酸プローブと標的核酸とを同時に、明確に弁別して、高い感度で、定量的な分析、二次元的イメージングを簡便に行うことが可能な分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can be improved in degree of integration through a method wherein a region of an electrode pad on which a test probe is made to abut is defined, an external electrode is bonded to an electrode pad avoiding its region where a probe mark is liable to be printed so as to improve bonding reliability, and a wiring providing region is expanded in a circuit under the electrode pad.
電極パッドに対してテストプローブを当接させる領域を定義し、電極パッドのプローブ痕が生じる領域を避けて外部電極をボンディングし、ボンディング信頼性を高めるとともに、電極パッドの下部の回路での配線の配設領域を拡大して高集積化を実現することを可能にした半導体装置を提供する。 - 特許庁 - There are disclosed a gene having a specific amino acid sequence demonstrating a positive reaction different from an already-known gene on the basis of a method of determining the genotype of HLA-DRB1 gene using a plurality of beads of a solid-phased oligonucleotide probe, and a typing method based on the same.
オリゴヌクレオチドプローブを固相した複数のビーズを用いたＨＬＡ−ＤＲＢ１遺伝子の遺伝子型を決める方法によって、既知の遺伝子とは異なる陽性反応を示す特定のアミノ酸配列を有する遺伝子であり、それに基づくタイピング方法。 - 特許庁 - To provide a photosemiconductor chip inspection device and method for inspecting high-speed modulation characteristics in the state of a chip bar by utilizing a high-frequency probe and a photosemiconductor chip that is inspected by the photosemiconductor chip inspection device, and its manufacturing method.
高周波プローブを利用して、チップバーの状態でチップの高速変調特性検査を行うことができる光半導体チップ検査装置と検査方法、及び上記光半導体チップ検査装置で検査される光半導体チップとその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To apply a method for detecting a DNA having a specific sequence to provide a method having high detection sensitivity, by making a probe DNA contact with a sample DNA under the presence of an intercalator to measure a current in an electrode.
本発明は、プローブＤＮＡと試料ＤＮＡとを、インターカレータ存在下に接触させ、電極の電流を測定することによって、特定の配列を有するＤＮＡを検出する方法を応用し、より検出感度の高い方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a probe coupling substrate and its manufacturing method, capable of easily analyzing probes, as well as minimizing loss in sampling inspection, to enable quick and inexpensively detection and quantitative analysis of a target matter, when using various surface analyses, and to provide a method for quantitatively analyzing the target matter in a specimen quickly and inexpensively.
各種表面分析法を用いた場合に、プローブの分析を問題なく行なえ、抜き取り検査でのロスが最小限であり、標的物質の検出や定量を迅速かつ安価に行なえるプローブ結合基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a polymorphism detection probe capable of easily detecting G2677A/T mutation in an exon 21 of an MDRI gene at high sensitivity, a polymorphism detection method using the same, a method for evaluating a drug efficacy, and a polymorphism detection kit.
ＭＤＲ１遺伝子のエクソン２１におけるＧ２６７７Ａ／Ｔ変異を、高い感度で、簡便に検出することを可能にする多型検出用プローブ、これを用いる多型検出方法、および薬効評価方法、ならびに多型検出用キットを提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for realizing an all-optical logic operation of a signal transmitted from an arbitrary point, to be more specific, like an optical computer using a pumping signal and a probe part signal, relating to the device and method for realizing the all-optical NOR logic element.
全光NOR論理素子具現装置およびその方法に関するものであり、詳しくは光コンピューティングのような任意の地点から伝送される信号をポンプ信号とプローブ部信号を用いて全光(all-optical)論理動作を具現する装置およびその方法を提供する。 - 特許庁 - The sealing agent for the liquid crystal dripping method, applicable to the substrate by the printing method, has a viscosity of 5-150 Pa s when measured by setting the rotating speed of a probe to 1 rpm using an E-type viscometer at 25°C.
印刷方式により基板に塗布することができる滴下工法用シール剤であって、２５℃においてＥ型粘度計を用いてプローブ回転数を１ｒｐｍに設定して測定したときの粘度が５〜１５０Ｐａ・ｓである液晶滴下工法用シール剤。 - 特許庁 - To provide a method for quantitatively determining a target nucleic acid, capable of simply determining the target nucleic acid in a sample, especially a virus genome or an mRNA, a nucleic acid used for the same, a probe-immobilized substrate, an assay kit and a method for detecting virus.
サンプル中の標的核酸、特に、ウイルスゲノムまたはｍＲＮＡなど、を簡便に定量することが可能な標的核酸の定量方法、それに使用される核酸、プローブ固相化基体およびアッセイキット、並びにそれを利用するウイルス検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an anisotropic conductive connector capable of surely attaining a good electric connection state even for a wafer of which the pitch between inspection electrodes is very small, and to provide a manufacturing method of the same, a probe card for wafer inspection, a manufacturing method of the same, and a wafer inspection device.
被検査電極のピッチが極めて小さいウエハに対しても、良好な電気的接続状態を確実に達成することができる異方導電性コネクターおよびその製造方法、プローブカードおよびその製造方法並びにウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁 - To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.
チップやＣＳＰをウエハ状態で試験する際に、各チップやＣＳＰの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a probe for a pulse oximeter constituted so as to simply and easily position a light emitting part and a light receiving part at proper opposed positions to hold them, and its mounting method.
パルスオキシメータ用プローブにおいて、発光部および受光部を適正な対向する位置に、簡便かつ容易に位置決め保持することができるようにしたパルスオキシメータ用プローブおよびその装着方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for forming a pattern with proximity field light arranged as a proximity field light lithography developed from a proximity field microscope employing a probe in which highly accurate control can be ensured while reducing the size.
小型で高精度な制御ができる、探針を用いた近接場顕微鏡を発展させた近接場光リソグラフィーとして構成した近接場光によるパターン形成方法およびその装置を提供する。 - 特許庁
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