「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 次へ＞- There are provided the ceramic member which is a sintered compact containing at least forsterite and boron nitride as the principal components and in which the boron nitride is unidirectionally oriented, a probe holder formed from the ceramic member, and a method for producing the ceramic member.
少なくともフォルステライト及び窒化ホウ素を主成分として含み、窒化ホウ素が一方向に配向している焼結体であるセラミックス部材、セラミックス部材を用いて形成されるプローブホルダ、及びセラミックス部材の製造方法。 - 特許庁 - The method for analyzing the base sequence of the nucleic acid comprises binding a nucleic acid, labeled with a second fluorescent substance causing the FRET with the first fluorescent substance, to one of the probe regions, and measuring the fluorescent intensity at different wavelengths.
第一蛍光物質との間でＦＲＥＴを生じる第二蛍光物質で標識した核酸をいずれかのプローブ領域に結合させ、波長の異なる蛍光強度を測定して核酸の塩基配列を解析する方法。 - 特許庁 - To provide a reliable friction stir welding method by specifying and setting both the moving direction and the rotational direction of a rotor and a probe as necessary, and performing the friction stir welding.
本発明は、回転子及びプローブの移動方向と回転方向を必要に応じ両者共に特定して設定し、摩擦撹拌接合を施工することにより信頼性の高い摩擦撹拌接合方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method for measuring the insulating resistance of an electrostatic countermeasure part, which can simultaneously carry out a contact check of a probe and a measurement of the insulating resistance of the electrostatic countermeasure part, by using a simple facility configuration.
本発明は、簡単な設備構成により、プローブのコンタクトチェックと静電気対策部品の絶縁抵抗測定を同時に実施できる静電気対策部品の絶縁抵抗測定方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁 - To provide both a displacement gage with a contact-type probe capable of performing simple and highly accurate displacement measurement on a micro object to be measured and an object to be measured such as a section in the back of a complicated structure and its manufacturing method.
微小な被測定対象や複雑な構造物の奥まった部分のような被測定対象に対して簡便で高精度な変位測定が可能な接触式プローブを有する変位計と製造方法を提供する。 - 特許庁 - For this investigation method, a soil gas collecting hole 4 is bored, and the soil as is collected from a soil gas collecting probe 10 through a pipe 12 into a soil gas collecting vessel 14 in a vacuum state, at the position with plural measuring depths of each constant depth interval (d).
土壌ガス採取孔４を穿孔し、一定深さ間隔ｄごとの複数の測定深さ位置にて、土壌ガス採取プローブ１０から配管１２を通して減圧下の土壌ガス採取容器１４内に土壌ガスを採取する。 - 特許庁 - To provide liquid crystal display(LCD) panel inspection equipment and method using a comparatively inexpensive probe and capable of reducing the influence of noise also to a large sized and high definition LCD panel and carrying out highly reliable inspection.
比較的安価なプローブを使用し、大型且つ高精細の液晶表示パネルに対しても、ノイズの影響が少なく、信頼性の高い検査を行うことができる液晶表示パネルの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic inspection device easily and quickly operated by hand in the field or on the site of a manufacturing process and efficiently and accurately carrying out an ultrasonic inspection of an inspection object, and to provide an ultrasonic probe device and an ultrasonic inspection method.
フィールドや製造工程の現場で簡単かつ手軽に手動操作でき、検査対象物の超音波検査を効率的よく正確に実施できる超音波検査装置、超音波プローブ装置、超音波検査方法を提供する。 - 特許庁 - There are provided a composition including polynucleotide, a kit, and a DNA chip as a probe to detect, determine, or forecast presence of the esophageal cancer, and a method to detect, determine or forecast the presence of the esophageal cancer by using the composition, the kit, and the DNA chip.
食道ガンの存在を検出、判定又は予測するためのプローブとしてのポリヌクレオチドを含む組成物、キット及びＤＮＡチップ、並びに、これらを使用して食道ガンの存在を検出、判定又は予測する方法。 - 特許庁 - To provide a firm sticking fixing procedure between a sample substrate and a block-shaped sample capable of enduring sufficiently a strong electrostatic attractive force at an AP analysis time, in a preparation method of the sample for atom probe analysis.
本発明の課題は、アトムプローブ分析用試料の作製方法において、ＡＰ分析時の強い静電引力に十分耐えることができる試料基板とブロック状試料との強固な接着固定手法を提示することにある。 - 特許庁 - To provide a probe for microscopic analysis capable of labeling specifically a specific portion of a target molecule in a sample, labeling and analyzing an analysis object without damaging a space resolution of a used microscope, and analyzing localization, the direction (aspect), the shape (stereoscopic structure) and kinetics of the analysis object in the functional state, and a microscopic analysis method using the probe for microscopic analysis.
試料中の標的分子の特定部位を特異的に標識可能であり、使用する顕微鏡の空間分解能を損なわずに解析対象を標識及び解析することができ、該解析対象の局在、方向（向き）、形状（立体構造）、及び動態を、機能状態において解析可能とする顕微鏡解析用プローブ、及び該顕微鏡解析用プローブを用いた顕微鏡解析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe in which a wiring pattern and a contact terminal sufficiently resist a peeling force in an inspection, which sufficiently resists a cleaning operation using a solvent such as ethanol or the like or a proper detergent, which increases a strength of a bonding place of the contact terminal to the wiring pattern and which prevents the contact terminal from falling and to provide a method of manufacturing the probe.
配線パターンや接触端子が検査に際しての引き剥がし力に対して十分に耐え得ると共にエタノール等の溶剤や適当な洗剤を用いるクリーニングに対しても十分に耐え得ることができ、しかも、接触端子と配線パターンとの接合箇所の強度を高めることができて接触端子の脱落防止化を図ることができるプローブ及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - This method for designing the probe nucleic acid, comprising selecting a sequence used for the probe nucleic acid from a base sequence obtained as gene information, is characterized by including a process for removing a sequence region having a prescribed base sequence from the selected range on the basis of profile data related from the double strand nucleic acid with the intercalator, or a process for weighting the sequence region.
遺伝子情報として取得した塩基配列から、プローブ核酸に用いる配列を選択するプローブ核酸設計方法であって、２本鎖核酸とインターカレーターとの相互作用に関するプロファイルデータに基づいて、所定の塩基配列を有する配列領域を選択範囲から除外する工程、若しくは前記配列領域の重み付けを行う工程を含むプローブ核酸設計方法を提供する。 - 特許庁 - An inspecting method and its apparatus for wiring patterns for inspecting breaking of wire or a short circuit are charcterized by bringing a plurality of electrodes of a probe on which the electrodes are arranged, into contact with portions of a wiring pattern electrically, and measuring an electrostatic capacity formed between the wiring pattern and a flat electrode board arranged in parallel to this wiring pattern and on the opposite side to the probe.
複数の電極が配置されたプローブの該電極を配線パターンの一部に電気的に接触させ、この配線パターンと並行にかつ前記プローブの反対側に配置された平面電極板と前記配線パターンとの間に形成される静電容量を測定することによって、前記配線パターンの断線または短絡を検査することを特徴とする配線パターンの検査方法およびその装置。 - 特許庁 - Disclosed are a probe set containing one or more probes in which an antisense chain of a known cDNA is artificially set and which is designed to the artificial antisense sequence (AFAS) under the optimum condition of hybridization; a microarray loading the AFAS probe set; and a method for detecting an endogenous antisense RNA wherein the microarray is combined with labeling RNA by random priming.
既知ｃＤＮＡのアンチセンス鎖を人工的に設定し、そのアンチセンス鎖配列（Ａｒｔｉｆｉｃｉａｌ Ａｎｔｉｓｅｎｓｅ Ｓｅｑｕｅｎｃｅ：ＡＦＡＳ）に対して、ハイブリダイゼーションに最適な条件で、設計された１種以上のプローブからなるプローブセット；ＡＦＡＳプローブセットを搭載したマイクロアレイ；そのマイクロアレイと、ランダムプライミングによるＲＮＡのラベリングとを組み合わせた、内在性アンチセンスＲＮＡの検出方法など。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting an electronic device which can improve contact properties between a wiring board and a probe, in inspecting an electric characteristic of the electronic device consisting of an electronic component and the wiring board, and to provide the wiring board and the electronic device.
電子部品と配線基板とからなる電子機器の電気的特性を検査する際に、この配線基板とプローブ針との接触性を向上できるようにした電子機器の検査方法、及び配線基板並びに電子機器を提供する。 - 特許庁 - To provide: a method which can detect liver cancer at an early stage and can detect and determine the risk of acquiring liver cancer by using the blood collected from a patient without putting a heavy burden on the patient; and a gene marker, a probe, a primer and a reagent kit for use in the detection.
患者から採取した血液を用いて、患者に負担の少ない、肝癌の早期発見、肝癌のリスクを検出し判定する方法、及びその検出に利用できる遺伝子マーカー、プローブ、プライマー並びに試薬キットの提供。 - 特許庁 - To provide a method consisting of inserting a probe having a force sensor into a body cavity of a patient, and receiving a plurality of measurements from the force sensor while respective measurements being indicative of a force applied to the force sensor.
力センサーを有するプローブを、患者の体腔内に挿入することと、力センサーから複数の測定値を受け取ることであって、測定値のそれぞれが、力センサーに加えられた力を示すことと、から構成される方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of polarizing an oscillator for a piezoelectric oscillation gyro capable of generating hardly a positional shift in contact of an electrode formed on a surface of the oscillator for the piezoelectric oscillation gyro with a probe terminal of a polarization tool, in sufficient polarization, and leakage, in polarization processing.
分極処理の際の圧電振動ジャイロ用振動子表面に形成された電極と分極冶具のプローブ端子との接触の位置ずれ、分極不足やリークが発生しにくい圧電振動ジャイロ用振動子の分極方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an easy-to-manufacture semiconductor device in which high frequency test can be carried out without causing probe damage of an electrode pad, wire bonding and bump bonding are facilitated, and the area of the electrode pad can be reduced, and to provide its measuring method.
高周波試験が可能で、電極パッドにプローブダメージを与えることがなく、ワイヤボンド接合やバンプ接合を容易にし、製造が容易で、電極パッドの面積の縮小が可能な半導体装置およびその測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.
ＬＳＩテスタ（プローブテスタ）において電気機能試験に用いられる一連のＬＳＩテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁 - A support board 46 composed of a board material B formed of a transparent material and a transparent conductor layer 47 formed on it is used as a board used for forming the pattern wiring 32 (metal pattern) of a contact probe 31 through a photolithographic plating method.
コンタクトプローブ３１のパターン配線３２（金属パターン）をフォトリソ・めっき法によって形成するための基板として、透明材料製の板材Ｂの表面に透明導電体からなる導電体層４７を形成した支持基板４６を用いる。 - 特許庁 - The inspection method can precisely measure the accuracy of the pin board 20 itself by inspecting the pin board 20 using the relative position of the probe pin 26 with reference to the position of the positioning pin 24 without using a dedicated tool simulating a work.
この検査方法は、位置決めピン２４の位置を基準とするプローブピン２６の相対位置を用いてピンボード２０を検査することで、ワークを模擬した専用冶具を用いることなく、ピンボード２０自体の精度を正確に検査することができる。 - 特許庁 - To provide a plasma potential measuring method and device for measuring plasma potential along with an analysis of ion species applying a mass spectrometer without depending on a probe measuring instrument at a low cost considering that both mass spectrometry and plasma potential measurement can be performed.
プラズマ電位を、プローブ計測器に頼ることなく、質量分析器を応用して、イオン種の分析と併せて計測でき、質量分析とプラズマ電位計測の双方を行える割りには安価に済むプラズマ電位計測方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - The inspection method of the pin board 20 inspects electric characteristics of the circuit board and includes a positioning pin 24 positioning the circuit board and a probe pin 26 abutting against an electrode pad of the circuit board.
ピンボード２０の検査方法は、回路基板の電気的特性を検査するピンボード２０であって、回路基板を位置決めする位置決めピン２４と回路基板の電極パッドに当接するプローブピン２６を備えるピンボード２０を検査する方法である。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for evaluating electric characteristics by bringing a minute probe into contact with target wiring or a member mechanically without giving any change to the electric characteristics of the minute electronic element in a submicron size.
サブミクロンサイズの微小電子素子の電気的特性に変化を与えることなく、目的の配線あるいは部材に微細な探針を機械的に接触させ、素子に給電することでの電気特性を評価するための装置および方法を提供する。 - 特許庁 - The method for forming an acoustic laminated body (370) for an ultrasonic probe (106) includes a step of partially dicing the single-crystal piezoelectric material so as to form a single crystal piece (240) partially separated by a plurality of cut grooves (242).
超音波探触子（１０６）用の音響積層体（３７０）を形成するための方法が、単結晶圧電材料を、複数の切り溝（２４２）によって一部分離された単結晶片（２４０）を形成するように一部ダイシングするステップを含む。 - 特許庁 - To provide a method to make quantitative sensing without applying a label previously to protein, a lipid, or nucleic acid when such is to be sensed by forming a complex body with a peptide probe using a peptide array.
ペプチドアレイを利用して、ペプチド・プローブと複合体を形成させ、蛋白質、脂質または核酸を検出する際、その蛋白質、脂質または核酸に、予め標識を施すことなく、定量的な検出を可能とする新規な検出方法の提供。 - 特許庁 - To provide a measurement probe which performs four-terminal measurement by securely brought into contact with a measurement object with a simple structure even in a flip chip surface where a high-density wiring pattern is formed, and also to provide its manufacturing method and measurement device.
高密度の配線パターンが形成されたフリップチップ面においても簡単な構造によって確実に測定対象と接触して四端子測定を行うことのできる測定用プローブ、その製造方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe test device and its method which can easily analyze a main cause of fail bit by obtaining information of fail bit for each step in which a different test pattern is given to a semiconductor device such as a semiconductor memory and the like.
半導体メモリ等の半導体装置に対して異なるテストパターンを与えるステップ毎にフェイルビットの情報を取得し、フェイルビットになった要因を容易に解析できるようにしたプローブテスト装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a control method of an immersion depth of a molten metal measuring probe capable of surely performing measurements, for example, a molten temperature, a solidification temperature, and sample properties by precisely controlling the immersion depth in a molten metal layer.
溶融金属層への浸漬深さをより正確に制御することで、例えば溶鋼温度や凝固温度、サンプル性状などの測定をより確実に行うことができる溶融金属測定用プローブの浸漬深さ制御方法を提供せんとする。 - 特許庁 - To provide a SQUID microscope that can enhance spatial resolution while keeping a sample from contacting a probe and can acquire a magnetic signal with a high signal-to-noise ratio by a lock-in detecting method.
本発明は、試料とプローブとが接触することなく、かつ、空間分解能を高めることができ、ロックイン検出法によって信号対雑音比の高い磁気信号を得ることができるＳＱＵＩＤ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁 - This manufacturing method therefor includes an etching process by photolithography, or a process for forming the EBD probe tip 5 in the hole 6 of the sensor tip 4 by corpuscular beam deposition, after removing a material by irradiation of a corpuscular beam.
その製造方法はホトリソグラフィーのエッチング工程によるか又は粒子線照射による材料の除去後に、センサ尖端（４）の孔（６）にＥＢＤ探針尖端（５）を粒子線蒸着により形成する工程を含むことを特徴としている。 - 特許庁 - In this method for fluorescent labeling of proteins, a fluorescent probe containing both a complex compound and a field-sensitive fluorescent group is brought into contact with a peptide tag that is bonded to the target protein to be labeled and containing both an amino acid section and an oligohistidine section.
錯体化合物および場感受性蛍光基を含む蛍光プローブと、標識の目的タンパク質に連結された、アミノ酸部位およびオリゴヒスチジン部位を含むペプチドタグとを接触させることを特徴とするタンパク質の蛍光標識方法。 - 特許庁 - There are disclosed a probe and primer pair for detecting DNA of an organohalogen compound-decomposing microorganism that is designed based on a specific nucleotide sequence, as well as a kit for detecting an organohalogen compound-decomposing microorganism using them, and a detection method.
特定のヌクレオチド配列に基づいて設計した有機ハロゲン化合物分解微生物のＤＮＡを検出するためのプローブおよびプライマー対、ならびにそれらを利用した有機ハロゲン化合物分解微生物の検出用キットおよび検出方法。 - 特許庁 - To provide a new detection method that permits the quantitative detection of a target nucleic acid molecule without beforehand labelling the target nucleic acid per se when the target nucleic acid molecule is detected by forming a hybrid with a DNA probe using a DNA array.
ＤＮＡアレイを利用して、ＤＮＡプローブとハイブリッド体を形成させ、標的核酸分子を検出する際、その標的核酸分子自体に、予め標識を施すことなく、定量的な検出を可能とする新規な検出方法の提供。 - 特許庁 - To provide a primer and probe for PCR which can detect murine carinii in high sensitivity without false detection or detection omission: and to provide a method for detecting murine Pneumocystis carinii which can detect murine carinii in high sensitivity without false detection or detection omission.
マウスカリニを誤検出や検出漏れを避けて高い感度で検出できるPCR用のプライマー及びプローブ、並びにマウスカリニを誤検出や検出漏れを避けて高い感度で検出できるマウスニューモシスチス・カリニの検出方法を提供する。 - 特許庁 - The method utilizes that on judging the alleles regarding to the second alleles of the amplified material by using a probe having a complementary sequence for distinguishing both alleles (major/minor), it is possible to discriminate the haplotype of the first alleles and second alleles.
その増幅物の第２の対立遺伝子についてそのアレルを、両アレル（メジャー／マイナー）を判別する相補の配列のプローブを用いて判定すれば、第１の対立遺伝子と第２の対立遺伝子のハプロタイプを識別できることを利用する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic wave oscillating element with arranged oscillating directions in ultrasonic waves and high resolution without heat generation, to provide an ultrasonic wave oscillation probe head, an ultrasonic wave diagnostic device and a manufacturing method for the ultrasonic wave oscillating element as above.
発熱等の危険を伴うことなく、しかも超音波の発振方向の揃った解像度の高い超音波発振素子、超音波発振プローブヘッド、超音波診断装置及び前記のような超音波発振素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe capable of measuring an environmental change in a cellular level, and capable of measuring localization of oxidation stress and a change thereof with time, and further capable of measuring the intracellular oxidation stress, etc., in real time, to provide a protein, and to provide a measuring method using the same.
細胞レベルでの環境変化の測定が可能で、さらに、酸化ストレスの局在や経時変化を測定でき、細胞内酸化ストレス等のリアルタイムでの測定が可能となるプローブおよびタンパク質、これらを用いた測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic propagation method which enables the propagation of a sheet wave between a probe and a test target even if the thickness or surface angle of the test target is varied, also to provide an ultrasonic propagation device using it and an ultrasonic tester.
験体の厚みや表面の角度が変動しても探触子と試験体との間に板波を伝搬させることの可能な超音波伝搬方法並びにこれを用いた超音波伝搬装置及び超音波試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can solve a problem by an insufficient adhesive force with a bonding wire or with cracking generation even if a probe needle of a measuring device is erected on a pad electrode to measure an electronic circuit or the like, and also to provide a method of manufacturing the semiconductor device.
電子回路の測定などのためにパッド電極に測定装置のプローブ針の針立てを行っても、ボンディングワイヤとの密着力不足やクラック発生の問題を抑制できる半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a zinc oxide single crystal which has a superfine wire-like form or a nearly triangular wave-shaped form and spherical bodies of metal attached to its tip ends and which is suitably used as a sensor, a laser oscillation element, a probe or the like and to provide a method of producing the same.
極細線状または略三角波状で先端に金属からなる球状体を有する形態を有し、センサやレーザ発振素子、プローブ等として好適に用いられる酸化亜鉛単結晶およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a technique capable of transferring surely a TEM sample to a fixing block by a probe of a manipulator, while observation-confirming a cut-separated condition by an SIM image, in a method for cutting out and preparing the TEM sample from a sample main body by an FIB device.
試料本体からＴＥＭ試料をＦＩＢ装置によって切り出して作成する方法において、切り離し状態をＳＩＭ像で観察確認しながら、マニピュレータのプローブによって確実に固定台まで移送できる手法を提示する。 - 特許庁 - To provide a probe specifically recognizing an α1,6-fucosylated sugar in a sugar chain, a highly accurate diagnostic agent foe disease utilizing the α1,6-fucosylated sugar as a marker and to provide a highly accurate method for detecting disease by utilizing the α1,6-fucosylated sugaras a marker.
糖鎖中のα１，６−フコシル化糖を特異的に識別できるプローブ、α１，６−フコシル化糖をマーカーとする疾患の高精度な診断薬、及びα１，６−フコシル化糖をマーカーとする疾患の高精度な検出方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce change of detection sensitivity (deviation of detection sensitivity) that is prone to change depending on the rotation position of a detection coil, in an eddy current flaw detection method using a rotatable eddy current flaw detection probe having a detection coil disposed in an excitation coil.
励磁コイル内に検出コイルを配置した回転可能な渦電流探傷プローブ用いた渦電流探傷方法において、検出コイルの回転位置によって変化する検出感度の変化（検出感度偏差）を小さくすること。 - 特許庁 - To solve the problem of a conventional method for measuring the position of a vertical hole pipeline that an a bearing reference of a sensor probe sometimes turns to a different bearing in every position measurement in the case when a measuring object is the vertical hole pipeline and consequently the results of measurement in a plurality of times can not be compared.
従来の縦穴管路位置計測方法は、計測対象が縦穴管路の場合に、位置計測を行うたびにセンサプローブの方位基準が異なる方位を向くことがあり、複数回の計測結果を比較することができない。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic probe and a manufacturing method for the same to acquire finely pitched and highly accurate signal foil to be produced efficiently, and to reduce breakage etc., of a piezoelectric device by minimizing the load when executing a dicing-cut of a cutting groove for the piezoelectric device and by minimizing the flexural stress when bending the signal foil.
微細なピッチの、かつ、精度の高い信号箔を生産性良く得るとともに、圧電素子の切断溝のダイシングカット時の負荷及び信号箔の折曲時の曲げ応力を小さくして、圧電素子の破損等の不良を低減する。 - 特許庁 - To provide a resistance measuring instrument capable of reducing an influence of a contact resistance value of a probe to enhance resistance measuring precision of a resistor such as a wring pattern, a substrate inspection instrument using the resistance measuring instrument, and a substrate inspection method therefor.
プローブの接触抵抗値の影響を低減し、配線パターン等の抵抗体の抵抗測定精度を向上させることができる抵抗測定装置、この抵抗測定装置を用いた基板検査装置、及びその方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic inspection device and an ultrasonic inspection method which use a thin probe installable at a narrow part to inspect a whole range in a through-thickness direction including a deep position near a rear surface of an inspected object.
狭隘部に設置できる薄型探触子の構造の探触子を用いて、被検査体の裏面近傍の深い位置を含む板厚方向全範囲を検査することができる超音波検査装置及び超音波検査方法を提供することにある。 - 特許庁
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