「Probe method」を含む例文一覧(3948)

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  • To provide a friction stir welding device and a friction stir welding method in which any breakage and any changes in the length of a probe are automatically determined, and the reliability and the productivity of a product can be improved.
    プローブの破損や長さの変化量を自動的に判断することができ、製品の信頼性および生産性を向上することが可能な摩擦撹拌接合装置および摩擦撹拌接合方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for inspecting magnetic characteristics, capable of automating cleaning of a contact probe unit and improving the inspection reliability and the throughput of a magnetic head and a magnetic disk.
    コンタクトプローブユニットの清掃を自動化することが可能で、磁気ヘッド、磁気ディスクの検査の信頼性と検査のスループットを向上させることができる磁気特性検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a CNT probe, in which only a proper place of CNT is coated by functional material, possessing high resolution in local measurement of measured objects as well as manufacturing method and measuring technique thereof.
    機能性物質がCNT適所にのみコートされ、被測定対象の局所的測定に関して高分解能を具備したCNTプローブ、その製造方法及びそのCNTプローブを用いた測定方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a fixing method of polymer particle capable of stably fixing particles to which biological substance such as DNA probe is fixed or can be fixed, to a base, and providing micro array assay of high sensitivity.
    DNAプローブ等の生体関連物質を固定もしくは固定可能な微粒子を基板に安定に固定することができ、感度の高いマイクロアレイアッセイを可能とする高分子微粒子の固定方法を提供する。 - 特許庁
  • In a shape measuring method using the contact probe, correction values for correcting measurement errors are previously computed by simulation to map the correction values in a surface to be measured and create a correction table in a step S3.
    接触式のプローブを用いる形状測定方法において、ステップS3で測定誤差を是正する補正値を予めシミュレーションにより算出し、その補正値を被測定面上にマッピングして、補正テーブルを作成する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic probe for satisfying electric safety with respect to a human body, reducing a load on a patient, and obtaining high scanning precision, and to provide an ultrasonic diagnostic apparatus, and an ultrasonic diagnostic method.
    人体に対する電気的安全性を満たすとともに、患者の負担をより軽減でき、高い走査精度を得ることができる超音波プローブ、超音波診断装置及び超音波診断方法を提供すること。 - 特許庁
  • In this way, as the connection method to the access point is automatically set up by way of reception of the probe request in the printer, loads upon the user regarding the setup of the wireless LAN can be reduced considerably.
    このようにして、プリンタにおいては、プローブ要求の受信を経て、アクセスポイントへの接続方法が自動的に設定されるため、無線LANの設定に対するユーザへの負荷を大幅に軽減することができる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.
    隣接した半導体素子領域(IC領域)を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic inspection method and a device for a turbine blade fitting section capable of improving defect detectability furthermore than the case where a search probe of a single element is used, and also performing defect sizing.
    単一素子の探触子を使用したときよりも欠陥検出性を向上させながら、欠陥サイジングも可能であるタービンロータの翼植込み部の超音波検査方法および装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a connector of an inspection jig having a simple structure for causing an electrode to stably contact an inspection probe, to provide the inspection jig with the connector, and to provide a method of manufacturing the connector.
    電極と検査用プローブを安定して接触させることのできる簡便な構造を有する検査用治具の接続体及びその接続体を備えた検査用治具及びその接続体の製造方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a sample holder and a sample measurement method can easily fix and measure samples, without contaminating or degrading each measured side of the samples in measurement of scanning probe microscopes.
    走査型プローブ顕微鏡の測定において、試料の被測定面の表裏を汚染や劣化させることがなく、容易に試料を固定し、測定することのできる試料ホルダと試料の測定方法を提供する。 - 特許庁
  • The ceramic member is a sintered body containing enstatite and boron nitride as constituents, the boron nitride being oriented in one direction, the probe holder is formed by using the ceramic member, and also the method of producing the ceramic member is provided.
    エンスタタイト及び窒化ホウ素を構成成分として含み、窒化ホウ素が一方向に配向している焼結体であるセラミックス部材、セラミックス部材を用いて形成されるプローブホルダ及びセラミックス部材の製造方法。 - 特許庁
  • To provide a freely-orientational probe which is not so bulky itself that it enables a method for easily measuring coordinates of a position close to the endpoint of moving distance or coordinates of a part with complicated shape on a measuring machine.
    探触子自体が嵩張ることないので、測定機械の移動距離の終点に近いところの座標、または複雑な形状の部品における座標の測定を、容易に行うことが可能な手段を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection probe which can respond to a narrow pitch of the input terminals and the output terminals of a semiconductor device, and to properly test the semiconductor device and the manufacturing method for the test probes.
    半導体装置の入力端子及び出力端子の狭ピッチに対応可能であるとともに、半導体装置を良好に検査できる検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an end effecter for floatably supporting an ultrasonic flaw detecting probe on a robot arm having a robot mounting bracket for the use in a reactor pressure vessel and an ultrasonic flaw detecting method using it.
    原子炉圧力容器内で使用するために、ロボット取付ブラケットを有するロボットアームに、超音波探傷検査プローブを浮動自在に支持する端部効果器及びこれを用いた超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for acquiring a film thickness calibration curve for film thickness measurements and capable of accurately and easily acquiring calibration curve data to be used to measure film thickness through the use of an ultrasonic probe.
    超音波探触子を用いて膜厚測定を行う際に使用される較正曲線データを精度よくかつ簡単に得ることができる膜厚測定のための膜厚較正曲線の取得方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of optical parts by which the optical axis of a micro lens and the optical axis of a probe can be easily constituted so as to be coaxial, the manufacturing time can be shortened and the manufacturing cost can be reduced.
    マイクロレンズの光軸と、プローブの光軸とを容易に同軸に構成することができ、製造時間の短縮を図り、製造コストを低減することができる光学部品の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.
    本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a ceramic member having free-cutting properties, a coefficient of thermal expansion close to silicon, and great strength, a probe holder formed by using the ceramic member, and a method for producing the ceramic member.
    快削性を有すると共にシリコンに近い熱膨張係数を有し、高い強度を備えたセラミックス部材、このセラミックス部材を用いて形成されるプローブホルダ及びセラミックス部材の製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • An estimation method comprises a jig for retaining an optical fiber probe, a control system for controlling a position thereof; an estimation body formed on a flat substrate made of a polymer including a fluorochrome, and a detector observing generating fluorescence.
    光ファイバプローブを保持する治具と、その位置を制御する制御系、平面基板上に作成された蛍光色素を含む高分子でできた評価体と、発生する蛍光を観測する検出器からなる。 - 特許庁
  • To provide a method for real-time examination of a gene base substitution by the kind of emitted fluorescence by reacting a specific sequence incorporated into an allele-specific primer for identifying a specific site of a gene with a fluorescent labeling probe.
    遺伝子の特定部位を識別するアレル特異的プライマーに組み込んだ特異配列と蛍光標識プローブとを反応させ、発した蛍光の種類にとって遺伝子の塩基置換をリアルタイムに検査する方法。 - 特許庁
  • In the sample vessel, the dispensing apparatus, the dispensing method, and the analyzer, the liquid sample containing a specimen or a reagent is held, sucked by the dispensing probe inserted from an insertion opening, and discharged to the other vessel.
    検体又は試薬を含む液体試料を保持し、挿通口から挿通される分注プローブによって液体試料が吸引され、他の容器に吐出される試料容器、分注装置、分注方法及び分析装置。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method capable of easily obtaining a probe needle capable of enhancing the contact pressure in inspecting the electric performance of a measurement object as well as excellent in the electric insulation.
    電気絶縁性に優れると共に被測定体の電気的特性を検査する際の接触圧力を高めることができるプローブ針及びそのプローブ針を容易に得ることができる製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a magnetic particle reduced in the non-specific adsorption of protein or a nucleic acid and especially developing high sensitivity and low noise characterized in the biochemical/medical field, its manufacturing method and a probe bonded particle.
    タンパクや核酸等の非特異吸着が少なく、特に、生化学・医薬品分野で特出する高感度と低ノイズを発現する磁性粒子およびその製造方法ならびにプローブ結合粒子を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic wave probe with a composite piezoelectric vibrator having a piezoelectric vibrator with a lower shape ratio (width/ thickness) that can reduce the manufacturing cost and to provide its manufacturing method.
    より低い形状比の圧電振動子を有する複合圧電振動体及びその複合圧電振動体を有する超音波探触子の製造コストを低減した超音波探触子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • NEW POLYNUCLEOTIDE, MARKER FOR DETECTING DEEP IMPORTED MYCOSIS PATHOGEN HISTOPLASMA BACTERIA(INCLUDING HISTOPLASMA CAPSULATUM VAR. CAPSULATUM, HISTOPLASMA CAPSULATUM VAR. FARCIMINOSUM, HISTOPLASMA CAPSULATUM VAR. DUBOISII AND EMMONSIELLA CAPSULATA AS BACTERIAL NAME IN SEXUAL GENERATION) USING THE SAME, PROBE, PRIMER, DETECTION METHOD AND KIT
    新規ポリヌクレオチド、それを用いた深在性輸入真菌症原因菌ヒストプラズマ属菌(Histoplasma属菌には、Histoplasmacapsulatumvar.capsulatum,Histoplasmacapsulatumvar.farciminosum,Histoplasmacapsulatumvar.duboisiiと有性世代の菌名であるEmmonsiellacapsulataを含む)の検出用マーカ、プローブ、プライマー、検出方法およびキット - 特許庁
  • To provide a minute object preparing method and device, capable of manufacturing minute objects by coupling together two members in the correct positional relationship such as a nano-tube probe, while enlarging image photographing takes place in an electron microscope device.
    電子顕微鏡装置内で拡大撮像しながら、ナノチューブプローブ等のように、2部材を正しい位置関係で相互に結合して微小物を製造できる微小物作成方法とその装置を開発する。 - 特許庁
  • To provide a new reagent for detecting a duplex nucleic acid and a method using this reagent for detecting the duplex nucleic acid formed by hybridization with a probe without labeling any target nucleic acid.
    二本鎖核酸を検出する新規試薬と、それを用いて、ターゲット核酸に対して一切のラベル化を施すことなくプローブとのハイブリダイゼーションにより形成される二本鎖核酸を検出する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a sheet-shaped probe which surely attains favorable electrical connection at and with high yield and economic cost, even when the pitch of electrodes to be inspected in a wafer is very small.
    ウエハにおける被検査電極のピッチが極めて小さいものであっても、良好な電気的接続状態を確実に達成するシート状プローブを歩留まり良く経済的コストで製造する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for forming base pairs over a whole sequence against a probe fixed on a DNA micro-array and also for preparing a short chain DNA complemental to optional positions toward a template RNA.
    DNAマイクロアレイに固定化されているプローブに対して、配列全体にわたって塩基対を形成し、かつ鋳型RNAに対し任意の部位に相補な短鎖のDNAを調製する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a quality control method by which it is guaranteed that a correct probe nucleic acid binds to the correct position on a nucleic acid microarray without carrying out the total inspection before shipping, and to provide a quality control reagent.
    出荷前に全数検査を行わずとも核酸マイクロアレイ上の正しい位置に、正しいプローブ核酸が結合していることを保証することができる品質管理方法および品質管理試薬を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a new method for assaying a target nucleic acid by a peroxidase-labeled nucleic acid probe through the use of a chemiluminescence system capable of highly sensitively measuring peroxidase activity in the presence of a hydrogen receptor.
    水素受容体の存在下にペルオキシダーゼ活性の高感度測定が可能な化学発光系を用いてペルオキシダーゼ標識核酸プローブにより標的核酸を検定する新規な方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a probe fixing carrier such as a DNA chip for determining species to be determined capable of easily providing the results of determination without requiring an expensive device and complicated analysis, and a method of determination using the carrier.
    高価な装置及び複雑な解析を必要とせず、簡便に判断結果が得られるような、判定対象種判定用のDNAチップなどのプローブ固定担体及びそれを用いた判定方法を提供すること。 - 特許庁
  • This surgical observation system has a surgical microscope 1 for observing a portion A to be operated on, and an ultrasonic probe 37 differing from the surgical microscope 1 in at least either one of observing direction or method.
    手術用観察システムは、手術部位Aの観察を行う手術用顕微鏡1と、この手術用顕微鏡1と観察方向と観察方法との少なくとも一方が異なる超音波プローブ37と、を有する。 - 特許庁
  • The method also includes calculating a function for associating the positions of the probe with the indications, and applying the function to identify end-expirium points of the respiration based on subsequent indications associated with the impedances.
    この方法はまた、プローブの位置を指標に関連付ける関数を計算することと、その関数を適用して、インピーダンスに関連付けられる、続く指標に基づいて呼吸の終末呼気の点を識別することとを含む。 - 特許庁
  • The method and a system for controlling, monitoring, optimizing and manufacturing a device and its components and related base members on a semiconductor in an in-situ process includes a light irradiation system and an electric probe circuit.
    半導体上でデバイス及び構成要素、並びに関連する基材をin−situのプロセスで制御、モニター、最適化、及び製造する方法及びシステムは、光照射システム及び電気プローブ回路を含む。 - 特許庁
  • To provide a chimera oligonucleotide useful as a primer or a probe useable for an unpurified or low-purity biological sample and to provide a method for amplifying and/or detecting a target nucleic acid by using the oligonucleotide.
    未精製あるいは低純度の生体試料に対して使用可能なプライマーまたはプローブとして有用なキメラオリゴヌクレオチド、該オリゴヌクレオチドを用いた標的核酸の増幅及び/又は検出方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method for detecting a phenol and TCE decomposing bacterium in a specimen by detecting a phenol hydroxylase gene which the phenol and TCE decomposing bacterium has and to obtain a probe and a primer therefor.
    フェノール及びTCE分解菌が有するフェノールヒドロキシラーゼ遺伝子を検出することにより試料中のフェノール及びTCE分解菌を検出する方法、並びにそのためのプローブ及びプライマーを提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe unit and a continuity test method capable of raising contact pressure with electrodes of a specimen and accurately positioning the electrodes of the specimen to contact parts of conductors to be brought in contact with the electrodes.
    検体の電極との接触圧を大きくすることができ、検体の電極とその電極に接触する導線の接触部とを正確に位置合わせすることができるプローブユニット及び導通試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe for surface enhanced vibration spectroscopic analysis having excellent detection sensitivity even to laser light having the intensity to the degree of not damaging a sample, and having a long lifetime, and its manufacturing method.
    試料に損傷を与えない程度の強さのレーザー光に対しても優れた検出感度を有し、かつ長寿命である表面増強振動分光分析用プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic probe and an ultrasonic inspecting device and method capable of making ultrasonic waves incident onto a target location in an object to be inspected and inspecting the inside of the object to be inspected regardless of temperature changes.
    温度変化に関係なく、目的とする被検査物内の位置に超音波を入射でき、被検査物内部を検査可能な超音波探触子,超音波検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a profile measuring apparatus for measuring the intricate three-dimensional profile including a steep inclining face of an object accurately at high speed regardless of whether the object is a conductor or not, and a manufacturing method of probe group.
    被測定物の急傾斜面を含む複雑な3次元形状を導体か不導体かによらず高精度かつ高速に計測可能な形状計測装置、および触針群の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • This method for measuring the degradation degree of the RNA comprises extracting a short chain fraction from a RNA sample, and detecting a nucleic acid fragment originated from a degradation index nucleic acid among nucleic acids contained in the short chain fraction with a nucleic acid array loading a degradation index nucleic acid probe.
    RNA試料から短鎖分画を抽出し、分解指標核酸プローブを搭載した核酸アレイを用いて、短鎖分画に含まれる核酸の中から分解指標核酸由来の核酸断片を検出する。 - 特許庁
  • To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope.
    本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe set capable of detecting, with a strong signal, a target substance such as a nucleic acid, a protein, a hapten or the like in a sample and a method of detecting the target substance, which does not necessitate a step of thermal denaturation.
    試料に含まれる核酸、タンパク質、ハプテンなどの標的物質を強いシグナルで検出できるプローブセット及び熱変性の工程を必要としない標的物質検出方法を提供する事である。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic system and method for providing an ultrasonic spatial composite screen image based on a mask for removing a seam artifact generated according to the state of contact of an ultrasonic probe with a subject.
    超音波プローブが対象体に接触する状態に応じて発生するシームアーティファクトを除去するためのマスクに基づいて超音波空間合成映像を提供する超音波システムおよび方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic probe, an ultrasonic inspection device and an ultrasonic inspection method, capable of making ultrasonic wave incident on a position within an intended inspection object regardless of temperature change to inspect the inner part of the inspection object.
    温度変化に関係なく、目的とする被検査物内の位置に超音波を入射でき、被検査物内部を検査可能な超音波探触子,超音波検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a probe for an ultrasonic diagnostic apparatus which is easily manufactured and has a structure improved so as to prevent deterioration in performance caused by defective connection between a piezoelectric layer and a printed circuit board, and a method of manufacturing the same.
    製造が容易であり、圧電層と印刷回路基板との間の接合不良による性能低下を防止できるように構造を改善した超音波診断装置用プローブ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for cleaning a substrate in which burrs occurring on the element forming surface of a substrate through probe test can be removed, and to provide a process for producing a semiconductor device and equipment for cleaning a substrate.
    プローブ検査によって基板の素子形成面にカエリが生じた場合でも、このカエリを除去することができる基板清浄方法及び半導体装置の製造方法、並びに基板清浄装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.
    広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁
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