「Probe method」を含む例文一覧(3948)
＜前へ 1 2 .... 45 46 47 48 49 50 51 52 53 .... 78 79 次へ＞- To provide a probe for analyzing a base sequence, capable of quantitatively detecting the base sequence of a nucleic acid in the same probe spot, and capable of being produced at a low cost; to provide a carrier with the immobilized probe; and to provide a method for analyzing the base sequence.
核酸の塩基配列を同一プローブスポット内で定量的に検出可能とし、しかも低コストで生産可能な塩基配列解析用プローブ、このプローブを固相化した担体、及びこれを用いた塩基配列解析方法の提供。 - 特許庁 - To provide an inspection and/or regulation method for an electronic device, and a contact structure for a probe pin, capable of accurately inspecting and/or regulating the electronic device, even if a probe pin is abraded or even if a terminal part contacting with the probe pin becomes contaminated.
プローブピンが磨耗したり、プローブピンと接触する端子部が汚れたりしても、正確に電子デバイスの検査や調整を行なうことができる電子デバイスの検査及び／又は調整方法、並びに、プローブピンの接触構造を提供すること。 - 特許庁 - The method further comprises the steps of inserting the probe 14 to a leading end of a route of the welded part 5 to be inspected, circumferentially rotating the inserted probe 14 in the tube 1, and judging suitableness or not of the welded state based on data of the probe 14.
上記探触子１４を溶接部５のルート先端予定箇所まで挿入し、挿入された探触子１４を管体１内部で周方向に回転させ、その探触子１４によるデータに基づいて溶接状況の適否を判断する。 - 特許庁 - The method also comprises a step for receiving signals from the probe according to the reflected ultrasonic waves and for matching the probe so that the intersection is located at a desired position on the beam flat plane by changing at least either the position or direction of the probe according to the signals.
反射された超音波に応じてプローブからの信号を受け取り、プローブを、交点がビーム平面の所望の位置にくるように、信号に応じてプローブの位置および向きの少なくとも１つを変更して整合させるステップを含む。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a probe and a probe card capable of reducing manufacturing cost with a short manufacturing time, by manufacturing simultaneously a plurality of probes by a fine processing technology mainly composed of a metal processing technology, and by bonding the probe onto a substrate.
金属加工技術を主体とする微細加工技術によって複数のプローブを同時に製作し、上記プローブを基板へ接合することで、製作時間が短く、製造コストが削減可能なプローブおよびプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The method for manufacturing the conductive probe has a film formation process for forming a film of a conductive material 3 on a surface of a probe base material 1 having a tip part 1a by an atomic layer deposition method.
本発明に係る導電性探針の製造方法は、先端部１a有する探針基材１の表面に、原子層堆積法により導電性材料３を成膜する成膜工程を有することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a DNA probe immobilization method capable of keeping both of the optimum hybridization efficiency and the good shielding effect of the surface of a gold electrode, and also to provide a DNA fixing FET sensor which is manufactured using the DNA probe immobilization method.
最適なハイブリダイゼーション効率と金電極表面の良好なシールド効果を共に維持できるＤＮＡプローブ固定化法、及びその方法を用いて作製したＤＮＡ固定化ＦＥＴセンサを提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card, its manufacturing method, a wafer prober, and a manufacturing method of a semiconductor device, for achieving stable measurement and probe test by reducing the effect of noise while meeting the miniaturization of a terminal electrode to be measured.
被測定端子電極の微細化に対応しつつ、ノイズの影響を低減し安定した測定、プローブ試験を達成するプローブカード及びその製造方法、ウェハプローバ、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe and its manufacturing method, a probe array and its manufacturing method, and an optical pickup device with which manufacturing can be performed simply without requiring alignment of a projection part and a condensing means.
突起部と集光手段とのアライメントが必要なく、より簡単に製造することができる、プローブおよびその製造方法、プローブアレイおよびその製造方法、ならびに光ピックアップ装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a low cost probe cover manufactured in a simple method with a uniform thickness in the part that covers the top end of the probe, its manufacturing equipment and method.
簡易な製造法により製造することができ、製造コストが低いとともに、プローブの先端を覆う部分の厚みが均一である耳式体温計のプローブカバー、およびその製造装置並びに製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The method for manufacturing the magnetic probe has a film formation process for forming a film of a magnetic material 7 on the surface of the probe base material 1 having the tip part 1a by the atomic layer deposition method.
また、本発明による磁性探針の製造方法は、先端部１a有する探針基材１の表面に、原子層堆積法により磁性材料７を成膜する成膜工程を有することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an improved probe device, and an electronic state measuring method and imaging method of material in nanometer scale.
改良された探針装置、更には、ナノメートルスケールでの物質の電子状態測定手法及びその画像化手法を提供すること。 - 特許庁 - NUCLEIC ACID, NUCLEIC ACID FOR DETECTING DECHLORINATION BACTERIUM, PROBE, METHOD FOR DETECTING DECHLORINATION BACTERIUM AND METHOD FOR DECOMPOSING CHLORINATED ETHYLENE OR ETHANE
核酸、脱塩素化細菌検出用核酸、プローブ、脱塩素化細菌の検出方法および塩素化エチレンまたはエタンの分解方法 - 特許庁 - METHOD FOR DESIGNING PRIMER-PROBE SET, PRIMER-PROBE SET DESIGNED BY THE SAME, KIT COMPRISING THE SET, RECORDED MEDIUM READABLE BY COMPUTOR OBTAINED BY RECORDING PROGRAM FOR EXECUTING THE METHOD ON COMPUTER, AND METHOD FOR IDENTIFICATION OF TARGET SEQUENCE USING THE SAME
プライマー−プローブセットを設計する方法、それによって設計されたプライマー−プローブセット、該セットを含むキット、該方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、および該セットを利用した標的配列の同定方法 - 特許庁 - METHOD FOR FILLING FUNCTIONAL LIQUID IN FUNCTIONAL LIQUID DROP DISCHARGE HEAD, FUNCTIONAL LIQUID FILLING APPARATUS AND LIQUID DROP DISCHARGING APPARATUS HAVING THE SAME, METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARRIER, PROBE CARRIER AND ANALYZER, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTROOPTICAL DEVICE, ELECTROOPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT
機能液滴吐出ヘッドの機能液充填方法、機能液充填装置およびこれを備えた液滴吐出装置、プローブ担体の製造方法、プローブ担体および分析装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置および電子機器 - 特許庁 - To replace a probe before an inspection result gets unsure, in a probing test method for measuring an electric characteristic by bringing the probe into contact with a terminal of an inspection object.
検査対象の端子にプローブを接触させて電気的特性を測定するプロービングテスト法において、検査結果が不正確なものとなる前にプローブを交換できるようにする。 - 特許庁 - To provide a link information creation device, a link information creation method, and a program by which a road surface condition of a link is detected based on probe information collected from a probe car.
プローブカーから収集したプローブ情報に基づいてリンクの路面状態を検出することが可能となるリンク情報作成装置、リンク情報作成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for giving a probe a velocity high enough to properly measure intraocular pressure in a tonometer constructed so that the probe collides with an eye to measure the intraocular pressure by its rebound.
プローブが眼と衝突し、その跳ね返りによって眼圧を測定する眼圧計において適正に眼圧を測定するに十分速い速度をプローブに与える方法を提供する。 - 特許庁 - This method for manufacturing the probe assembly is constituted with the use of thermal energy of laser light for connecting the plurality of connection pads provided on a probe substrate to the probes placed on the respective connection pads.
プローブ基板上に設けられた複数の接続パッドと該各接続パッド上に配置されるプローブとの結合のためにレーザ光の熱エネルギを用いるプローブ組立体の製造方法。 - 特許庁 - To provide a probe straightness measuring method capable of measuring the straightness of a probe in a practical use environment, without having to separately prepare a sensor for straightness measurement.
真直度測定用のセンサなどを別途用意しなくても、プローブの真直度を実際の使用環境の中で測定することができるプローブの真直度測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a cleaning method and a cleaning apparatus which can positively eliminate particles by controlling bonding force between the particles and a probe in elimination of the particles with the probe.
プローブによるパーティクルの除去において、パーティクルとプローブとの付着力をコントロールして、パーティクルの除去を確実にするようにした洗浄方法及び洗浄装置を提供するものである。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic probe and a method for manufacturing the same for suppressing damage, such as split of a vibrator, even when another member of the ultrasonic probe is pressed and adhered onto an electrode.
電極上に超音波探触子の他の部材を加圧接着しても、振動子に割れ等の損傷を抑制する超音波探触子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a calibration method for near field scanning optical microscope laser processing device and a device thereof capable of performing combination from/to a NSOM probe and to an NSOM probe of laser beam efficiently.
レーザ光のＮＳＯＭプローブへの、またＮＳＯＭプローブからの結合を効率よく行うニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置を得る。 - 特許庁 - To provide a probe card maintenance method accurately, rapidly, and easily performing the maintenance of a probe card used for a jig for the electric characteristic inspection of a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路の電気的特性検査用の治具に用いられるプローブカードを正確、迅速、且つ容易にメンテナンスすることができるプローブカードのメンテナンス方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a wafer-positioning correction method for correcting alignment of an electrode pad and a probe, by observing a track of the probe on the electrode pad of a semiconductor device.
半導体デバイスの電極パッド上の触針の針跡を観察することによって、電極パッドと触針との位置合わせの修正を図るウェハの位置合わせ修正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card capable of keeping highly needle location accuracy of probe pins to the external terminal of a semiconductor wafer or the connection terminal of a substrate, and a method for manufacturing the same.
半導体ウエハの外部端子又は基板の接続端子に対するプローブピンの針位置精度を高く維持することのできるプローブカード及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The method (60) also includes a step (62) for controlling movement of the probe (14) using a defined scan path to scan the probe (14) over a region of interest in the internal cavity (44).
この方法（６０）は、内部空洞（４４）内の注目の区域上をプローブ（１４）をスキャンさせるために、画定されたスキャンパスを使用してプローブ（１４）の移動を制御するステップ（６２）も含む。 - 特許庁 - The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect.
本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。 - 特許庁 - INFECTION DETECTION PROBE, GENE DETECTION PROBE, INFECTIOUS ETIOLOGIC MICROBE AMPLIFICATION PRIMER, INFECTIOUS ETIOLOGIC MICROBE AMPLIFICATION PRIMER SET, AND METHOD OF INFECTIOUS ETIOLOGIC MICROBE DETECTION
感染症検出用プローブ、遺伝子検出用のプローブ、感染症起炎菌増幅反応用プライマー、感染症起炎菌増幅反応用プライマーセット及び感染症起炎菌検出方法 - 特許庁 - To provide breakage facture preventing mechanism, capable of preventing damages to a probe needle or the shortening of the life time thereof regardless of the contact direction of the probe needle and a measuring object, and to provide a control method thereof.
触針と測定対象の接触方向によらず、触針破損や寿命短縮を防止できるような破損防止機構およびその制御方法を提供すること。 - 特許庁 - A method of designing/manufacturing the probe card assembly includes a step for prefabricating one or more elements of the probe card assembly according to one or more predefined designs.
プローブ・カード・アセンブリを設計・製造する方法には、１つ以上の事前に規定した設計に合わせて、プローブ・カード・アセンブリの１つ以上の素子を、事前に製作するステップが含まれる。 - 特許庁 - Physical property information is acquired by a scanning probe microscope, and a corresponding portion is collected from an area showing a specified physical property by a probe, and analyzed by an analysis method capable of providing desired information.
走査型プローブ顕微鏡で物性情報を取得し、特定物性を示す領域からその部位をプローブで採取し、それを所望の情報が得られる分析方法で分析する。 - 特許庁 - To provide an apparatus, a method and a program for generating information capable of generating information about the exact location of a refuge based on probe information collected from probe cars.
プローブカーから収集したプローブ情報に基づいて、正確な退避場所の情報を作成することが可能となる情報作成装置、情報作成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a dispensing device for shortening moving time of a dispensing probe without accelerating moving speed, a method for cleaning a dispensing probe of a dispensing device, and an automatic analysis device.
移動速度を速めることなく、分注プローブの移動時間を短縮することが可能な分注装置、分注装置の分注プローブ洗浄方法及び自動分析装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a probe tip manufacturing method capable of easily manufacturing probe tips having a prescribed shape on a substrate without having to use a lithography technique nor an etching technique.
リソグラフィ技術とエッチング技術を用いることなく所定の形状を有するプローブチップを基板上に容易に製造することができるプローブチップの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - EXPLORER HAVING GRATING COUPLER AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE HAVING EXPLORER, INFORMATION PROCESSING DEVICE HAVING PROBE, SURFACE OBSERVATION DEVICE, EXPOSURE DEVICE, AND OPTICAL ELEMENT BY EXPOSURE DEVICE
グレーティングカップラを有する探針及びその製造方法、該探針を有するプローブ、及び該プローブを有する情報処理装置、表面観察装置、露光装置、該露光装置による光学素子 - 特許庁 - To provide a probe terminal which comes in surface contact with a measured object for measurement and prevents formation of a probe mark on the measured object, and a method for measuring the measured object using the same.
被測定物に面接触して測定を行い、被測定物にプローブ痕を残さないプローブ端子及びこれを用いた被測定物の測定方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a probe needle of which the continuity hardly deteriorates even in the repeated use, and to provide a method for manufacturing the probe needle which does not require large-scaled apparatuses and is able to reduce the manufacturing cost.
繰り返し使用しても導通性が低下し難いプローブ針と、大掛かりな設備を必要とせず，製造コストを安くすることが可能なプローブ針の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe inspection device, capable of measuring the positions of the positions of probes in a state that the probes are contacted with the contact surface of a deformed body and the optimal push-in depths of the probes in advance and a probe inspection method.
接触状態でのプローブ先端の位置及びプローブの最適な押し込み深さを事前に測定することができるプローブ検査装置及びプローブ検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe card, a probe device and a semiconductor device for suppressing the deterioration of the strength of a connecting means, and for reducing the increase of a price even when the number of pins is increased.
ピン数が増加しても接続手段の強度低下を抑制し、価格上昇を軽減できるプローブカード、プローブ装置及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.
垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁 - To provide a method of adjusting alignment of probe, capable of efficiently, as well as, adjusting the angle of a probe with high accuracy, independently of the skill of an operator, and to provide a shape measurement machine.
作業者の熟練度に左右されることなく、プローブの角度を能率的かつ高精度に調整することができるプローブのアライメント調整方法および形状測定機を提供。 - 特許庁 - In this method, in order to test the complementarity of a target nucleic acid with a probe nucleic acid or with a probe area, the target nucleic acid is brought into contact with a surface of the substrate on which the dendritic nucleic acid strands are immobilized.
前記基板の樹状核酸鎖を固定化した表面にターゲット核酸を接触させ、ターゲット核酸とプローブ用核酸またはプローブ領域との相補性を試験する方法。 - 特許庁 - To provide a probe unit that ensures the electrical connections between electrodes and probes while suppressing the deposition of foreign matters on the contacting sections of a specimen with the electrodes, and to provide a method of manufacturing the probe unit.
検体の電極との接触部における異物の堆積を抑制しつつ電極とプローブとの電気的接続を確実するプローブユニット及びプローブユニットの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a magnese diboride superconducting wire rod for signal reception which can realize each magnetic resonance equipment excellent in analytic sensitivity, a probe coil using the wire rod, and a method for manufacturing the probe coil.
分析感度に優れる各磁気共鳴装置が実現できる信号受信用の二ホウ化マグネシウム超電導線材とそれを用いたプローブコイル及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an eddy current flaw detection method, an insertion type probe and an eddy current flaw detector using the insertion type probe, capable of detecting a longitudinal flaw occurring in the inner surface of an elongated drawn pipe.
長尺の引抜管の内面に生ずる縦傷を検出できる渦流探傷方法、挿入型プローブ及び該挿入型プローブを用いた渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁 - The method comprises constructing the probe set using probes covering all partial sequences containing base(s) specific to each allele of HLA-B and identify the HLA-B contained in a specimen using the probe set.
ＨＬＡ−Ｂの各アリルに特有の塩基を含む部分配列のすべてを網羅するプローブからプローブセットを構成し、これを用いて検体に含まれるＨＬＡ−Ｂを同定する。 - 特許庁 - To obtain an optical head using a fiber probe with improved space efficiency and to provide a method for manufacturing the optical head suited for mass production while a probe tip and its holder are combined accurately.
スペース効率のよいファイバプローブを使用した光ヘッドを得ること、及びプローブ先端とそのホルダとが高精度に組み合わされ、量産に適した光ヘッドの製造方法を得ること。 - 特許庁 - To obtain the structure of a probe card, which can make inspection, even when the arranging pattern of pads or the size of a chip is changed and a device and method for inspecting semiconductor device using the probe card.
パッドの配置パターンやチップサイズが変更された場合でも検査可能なプローブカードの構造、及び該プローブカードを用いた半導体装置の検査装置及び検査方法を得る。 - 特許庁 - The method obtains the relationship between the current flowing through the coil of the needle pressure generation device and the needle pressure of the probe, from this relationship, the fluctuation of the needle pressure of the probe is automatically calibrated.
本発明の方法は、針圧発生装置のコイルに流す電流と探針の針圧との関係を求め、求めた関係に基いて探針の針圧の変化を自動的に較正する。 - 特許庁
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