「Test Design」を含む例文一覧(321)

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  • TEST CIRCUIT DESIGN PROGRAM, TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE, AND TEST CIRCUIT DESIGN METHOD
    テスト回路設計プログラム、テスト回路設計装置およびテスト回路設計方法 - 特許庁
  • TEST FACILITATING DESIGN AND SYSTEM
    テスト容易化設計支援システム - 特許庁
  • TEST SPECIFICATION DESIGN METHOD FOR RANDOM VIBRATION TEST
    ランダム振動試験の試験仕様設計方法 - 特許庁
  • DESIGN METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT
    スキャンテスト回路の設計方法 - 特許庁
  • To realize test methods in actual operation conditions (actual operation test, At speed test) for the LSSD (Lever-Sensitive Scan Design) scanning test.
    ＬＳＳＤスキャンテストにおいて、実動作状態でのテスト（実動作テスト、At speed test）を実現する。 - 特許庁
  • TEST FACILITATION DESIGN METHOD OF LSI
    ＬＳＩのテスト容易化設計方法 - 特許庁
  • TEST FACILITATION DESIGN SYSTEM, TEST FACILITATION DESIGN METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIA
    テスト容易化設計システム、テスト容易化設計方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
  • DESIGN ENVIRONMENT TRANSPARENT TYPE FUNCTION TEST SYSTEM
    設計環境透過型機能テストシステム - 特許庁
  • TEST CIRCUIT, AND DESIGN SUPPORT DEVICE, DESIGN SUPPORT METHOD, AND DESIGN SUPPORT PROGRAM
    テスト回路、設計支援装置、設計支援方法、および設計支援プログラム - 特許庁
  • design your class/API2. create a test suite3.
    1. クラス/ API を設計2. テスト用ツールを作成 - PEAR
  • SCANNING TEST DEVICE AND ITS DESIGN METHOD
    スキャンテスト装置およびその設計方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN PRODUCING APPARATUS, CIRCUIT DESIGN APPARATUS, TEST PATTERN PRODUCING METHOD, CIRCUIT DESIGN METHOD, TEST PATTERN PRODUCING PROGRAM, AND CIRCUIT DESIGN PROGRAM
    テストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラム - 特許庁
  • Examination of Design Document, Ground test, Flight test and Other Methods
    設計書類の審査、地上試験、飛行試験その他の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE
    半導体集積回路装置、スキャンテスト回路設計方法、スキャンテスト回路設計装置 - 特許庁
  • TEST DESIGN SUPPORT DEVICE AND TEST DESIGN SUPPORT METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM
    半導体集積回路のテスト設計支援装置、テスト設計支援方法及びプログラム - 特許庁
  • You design an algorithm, you test it out on a computer.
    アルゴリズムを設計し コンピューターにかけて - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To facilitate test design of a multichip module.
    マルチチップモジュールのテスト設計を容易にする。 - 特許庁
  • TEST DESIGN METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト設計方法 - 特許庁
  • DEVICE FOR SUPPORTING DESIGN OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST
    半導体集積回路テスト設計支援装置 - 特許庁
  • BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD
    組込み自己テスト回路及び設計検証方法 - 特許庁
  • Examination of Design Document, Function Test and Other Methods
    設計書類の審査、機能試験その他の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • DESIGN METHOD OF TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト回路設計方法 - 特許庁
  • DESIGN METHOD FOR TEST FACILITATED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    テスト容易化半導体集積回路の設計方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD
    半導体集積回路、スキャンテスト回路設計方法 - 特許庁
  • We use an incremental design, build, test, redesign cycle
    段階的な設計・製作・テスト・再設計のサイクルを - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • INTEGRATED TEST CASE LANGUAGE FOR VERIFYING HARDWARE DESIGN
    ハードウェア設計を検証するための統合テストケース言語 - 特許庁
  • DISK DRIVE DEVICE AND TEST METHOD IN ITS DESIGN
    ディスク・ドライブ装置及びその設計におけるテスト方法 - 特許庁
  • TEST-FACILITATED DESIGN PROCESSOR FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト容易化設計処理装置 - 特許庁
  • TEST FACILITATION DESIGN METHOD AND DEVICE OF INTEGRATED CIRCUIT
    集積回路のテスト容易化設計方法および装置 - 特許庁
  • Reliability demonstration test of nuclear design methodology for the full MOX core
    全MOX炉心核設計手法信頼性実証試験2） - 経済産業省
  • Review program design documents and the test requirements.
    プログラム設計書及びテスト要求事項をレビューすること。 - 経済産業省
  • To provide a test facilitation design method of shortening the design period of an LSI.
    ＬＳＩの設計期間を短縮するテスト容易化設計方法を提供する。 - 特許庁
  • SCANNING FLIP-FLOP CIRCUIT, SCANNING TEST CIRCUIT USING SCANNING FLIP-FLOP CIRCUIT, AND TEST DESIGN METHOD
    スキャンフリップフロップ回路とこれを用いたスキャンテスト回路およびテスト設計手法 - 特許庁
  • TEST-FACILITATING DESIGN APPARATUS, ITS METHOD AND PROGRAM
    テスト容易化設計装置ならびにその方法およびプログラム - 特許庁
  • A design rule extracting part 1 in a test device 10 extracts a certain design rule from a test object rule file RF.
    テスト装置１０におけるデザインルール抽出部１は、テスト対象ルールファイルＲＦからあるデザインルールを抽出する。 - 特許庁
  • DEVICE FOR PREPARING CIRCUIT, DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN, DEVICE FOR SUPPORTING DESIGN, AND METHOD OF PREPARING TEST PATTERN
    回路作成装置、テストパターン作成装置、設計支援装置、及びテストパターン作成方法 - 特許庁
  • To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.
    テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SCAN PATH TEST CIRCUIT DESIGN METHOD
    半導体集積回路およびスキャンパステスト回路設計方法 - 特許庁
  • Cache representation of the microprocessor design under the test is initialized.
    テスト中のマイクロプロセッサ設計のキャッシュ表現を初期化する。 - 特許庁
  • First of all we have to put your design to the test.
    まずぼくたちは君の計画を試してみなければならない。 - Tanaka Corpus
  • First of all, we have to put your design to the test.
    まずぼくたちは君の計画を試してみなければならない。 - Tatoeba例文
  • The test generation part 104 generates test data corresponding to transitional screen design data that a screen design transition means 101 generates.
    テスト生成部１０４は、画面設計遷移手段１０１が生成した遷移画面設計データに対応したテストデータを生成する。 - 特許庁
  • To secure contact points for an in-circuit test of a test probe on a printed board without executing the additional design of a test pad.
    テストパッドの追加設計せずにプリント基板上におけるテストプローブのインサーキットテスト用の接触ポイントを確保する。 - 特許庁
  • To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.
    スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁
  • The design methodology then partitions the unified design into the test die and the product die (104).
    次いで該設計方法論は、統合化された設計をテストダイ及び製品ダイへと分割する(104)。 - 特許庁
  • That is, design for the semiconductor device is simplified, a test time is shortened, and the test is simplified.
    つまり、半導体装置の設計の簡素化とテスト時間の短縮及び簡素化が可能である。 - 特許庁
  • To provide design and test methodology for breaking a linear relation between a defect detecting range or test possibility and a design test or a cost related to production.
    欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係をうち破る設計及びテスト方法論を得る。 - 特許庁
  • We test a new weapon of my own design which is capable of catastrophic destruction
    俺が設計した、新しい武器を試す、 悲惨な損傷も可能 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DESIGN SUPPORTING DEVICE AS WELL AS TEST METHOD THEREFOR
    半導体集積回路とその設計支援装置およびテスト方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TEST FACILITATING DESIGN OF LSI CIRCUIT AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WHERE TEST FACILITATING DESIGN PROCESSING PROGRAM IS RECORDED
    ＬＳＩ回路のテスト容易化設計方法および装置ならびにテスト容易化設計処理プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁
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