「Test Design」を含む例文一覧(321)

＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 次へ＞
  • To provide a scan path design method for detecting the failure of the whole semiconductor integrated circuit in a short period of time with less test patterns, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of functional macros.
    複数の機能マクロを装備する半導体集積回路において、より少ないテストパターンで短時間に半導体集積回路全体の故障検出が可能なスキャンパスの設計方法を得ること。 - 特許庁
  • (vi) Equipment for the design, manufacture, measurement, test, or repair of goods that fall under item (ii), (a), 2. or Article 14, item (v), or components or accessories thereof
    六　第二号イ（二）若しくは第十四条第五号に該当する貨物の設計用の装置、製造用の装置、測定装置、試験装置若しくは修理用の装置又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The design support server 3 is equipped with a DB which associates and stores classification of a product, information about a sales area and specification information and a DB which associates and stores the specification information and test information.
    設計支援サーバ３は、製品の種別及び販売地域の情報と規格情報を関連付けて記憶するＤＢと、規格情報と試験情報を関連付けて記憶するＤＢと、を備える。 - 特許庁
  • To provide an optical element evaluation method capable of simply measuring (evaluating) the degree of difference of measuring wave surface data of a test lens from a design value without manufacturing a reference lens.
    基準レンズを製作することなしに、被検レンズの測定波面データが設計値に対してどの程度異なるかをより簡単に測定（評価）することができる光学素子評価方法を提供する。 - 特許庁
  • This GUI application test support device compares the GUI screen generated by a GUI application and GUI screen design specifications, decides the generation error of the GUI screen, and generates GUI screen test result information including execution part information of the GUI application, trace information of the GUI application generated in time of the error occurrence, and an error GUI screen or the like associatively with a test script.
    ＧＵＩアプリケーションテスト支援装置において、ＧＵＩアプリケーションが生成するＧＵＩ画面と、ＧＵＩ画面設計仕様とを比較して、ＧＵＩ画面の生成エラーを判断し、テストスクリプトと対応付けてＧＵＩアプリケーションの実行箇所情報や、エラー発生時に生成されたＧＵＩアプリケーションのトレース情報、エラーＧＵＩ画面などを含むＧＵＩ画面テスト結果情報を生成する。 - 特許庁
  • To provide a design support method and a system therefor whereby reliability of a product is secured without conducting a real test and a simulation in a design process of an electronic instrument, and which are linked to a component procurement system and a process facilities control system, and are capable of giving instructions to the component procurement and the process facilities.
    電子機器の設計工程において、実試験やシミュレーションを行わずとも製品の信頼性が確保される、設計支援方法及びそのためのシステムであって、部品調達システムや工程設備制御システムにもリンクされて、部品調達・工程設備への指示をも可能とするものを提案する。 - 特許庁
  • PHPUnit is a family of PEAR packages (PHPUnit2 for PHP 5, PHPUnit for PHP 4) that supports the development of object-oriented PHP applications using the concepts and methods of Agile Software Development, Extreme Programming, Test-Driven Development and Design-by-Contract Development by providing an elegant and robust framework for the creation, execution and analysis of Unit Tests.
    PHPUnit は PEAR パッケージの集まり (PHP 5 用には PHPUnit2、そして PHP 4 用には PHPUnit) で、オブジェクト指向でのPHP アプリケーションの開発を支援するものです。 アジャイルなソフトウェア開発、エクストリームプログラミング、テスト駆動開発、規約による設計 (Design-by-Contract)を用いた開発などのために、単体テストを作成・実行・解析するエレガントで堅牢なフレームワークを提供します。 - PEAR
  • The circuit design of a product mask is analyzed, and a conventional test defect structure is modified in such a manner as to simulate the product mask and incorporate one or more isolated features or other features including product mask circuit features with high possibility of causing processing image induced defects into the test defect structure.
    製品マスクの回路設計を分析するとともに、製品マスクを模擬して、プロセス画像誘起欠陥を引き起こす可能性が高い製品マスク回路フィーチャを含む、１つ以上の分離したフィーチャまたは他のフィーチャを検査欠陥構造に組み込むように、従来の検査欠陥構造を変更する。 - 特許庁
  • To provide an airbag capable of meeting test references to a one-year and a three-year old infant, a six-year old child, and women of 5^th percentile while a design standard for an adult occupant of 50^th percentile is still satisfied.
    ５０^thパーセンタイルの大人の乗員に対する設計標準を依然として満たしつつ、１歳の幼児、３歳、６歳、および５^thパーセンタイルの女性に対する試験基準を満たすことができるエアバッグを提供する。 - 特許庁
  • To provide a video signal processing circuit and an imaging apparatus capable of flexibly dealing with a configuration change and preventing the expansion of circuit scale, development period and development costs by reducing redundant circuits required for a test design.
    構成変更に柔軟に対応でき、テスト設計に要する冗長な回路を削減し、回路規模、開発期間および開発コストの増大を防止できる映像信号処理回路および撮像装置を提供すること。 - 特許庁
  • In comparing edge points on a predicted layout pattern with corresponding points on a design layout pattern, a yield test is first undertaken before movement of the points on the predicted layout pattern to positions of a higher yield.
    予測レイアウト・パターン上のエッジ点と設計レイアウト・パターン上の対応点との比較では、最初に歩留りテストを実施し、その後に予測レイアウト・パターン上の点を歩留りがより改善する位置へ移動させる。 - 特許庁
  • To suppress the power consumption by considerably reducing the number of delay elements to be inserted to data lines of shift registers in order to secure a hold time in the shift operation of a scan shift register in scan test circuit design.
    スキャンテスト回路設計において、スキャンシフトレジスタのシフト動作におけるホールド時間保証として、シフトレジスタのデータラインに挿入する遅延素子の数を大幅に削減可能として、消費電力を抑える。 - 特許庁
  • To obtain a logic circuit design method and a program to let a computer execute the method therefor which make it possible to test operation with the effective speed in both system and logic BIST modes and avoid a timing error without fail.
    システムモードおよびロジックＢＩＳＴの双方で実スピード動作でのテストを可能とし、タイミングエラーを確実に回避できるようにしたロジック回路設計方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを得ること。 - 特許庁
  • The equipment creates a text data from format of the network packets and specifications of a design verification target 11, makes the packets as an model of an object of object-oriented language based on the text data, and creates automatically a test bench that can use the model.
    ネットワークパケットのフォーマットおよび設計検証対象１１の仕様からテキストデータを作成し、これを元にパケットをオブジェクト指向言語のオブジェクトとしてモデル化し、これを利用可能なテストベンチを自動生成する。 - 特許庁
  • To establish the suitable range of a shear rate which a screw gives to a resin and to enable efficiently performing a push out test for screw design and making decision of a screw shape.
    本発明は、スクリュが樹脂に与えるせん断速度の適切な範囲を設定し、スクリュ設計及びスクリュ形状の決定をするための押出し試験を効率よく行うことができるようにすることを目的とする。 - 特許庁
  • To limit detailed design conditions more and to shorten a development period by avoiding the repetition of designing and an actual machine test by roughly designing hardware and software and simulating them before they are designed in detail.
    ハードウエア及びソフトウエアを詳細設計する前にこれらを概略設計しそのシミュレーションを行うことにより、詳細設計条件をより限定して、設計と実試験の繰り返しを避け開発期間を短縮する。 - 特許庁
  • (4) The technology specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry in row 10 (iv) of the appended table Foreign Exchange Order shall be technology (excluding programs) necessary for the design, manufacture or use of test equipment for extra high output laser oscillators.
    ４　外為令別表の一〇の項（四）の経済産業省令で定める技術は、超高出力レーザー発振器の試験装置の設計、製造又は使用に必要な技術（プログラムを除く。）とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To conduct an accurate measurement by interpolating discrete waveform data and to eliminate the necessity of changing hardware including circuit design by conducting the interpolation processes by software even though test items and measurement parameters are changed.
    離散的な波形データの補間により、正確な計測を行い、また、補間処理をソフトウェアにより行い試験項目や測定パラメータが変更されても回路設計を含むハードウェアの変更の必要をなくすること。 - 特許庁
  • To provide a 1394 bus data analyzer with improved system operations in comparison with design of a prior art and having a stealth function for enabling collection of data and monitoring of a bus event without influencing a test bus.
    先行技術の設計に比べシステム動作が改善された、テストバスに影響を及ぼすことなく、データの収集およびバスイベントの監視を可能にするステルス機能を有する1394バスデータアナライザを提供すること。 - 特許庁
  • In the computer-implemented method of designing a nuclear reactor of a given reactor plant, an initial test reactor core design is generated for the given plant based on a plurality of limits inputted by a user.
    与えられた原子炉プラントの原子炉を設計するコンピュータ設計方法において、初期テスト原子炉炉心設計が、ユーザによって入力された複数の制限に基づいて、与えられたプラントについて生成される。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit that secures a timing margin at -40°C in the design of the semiconductor integrated circuit, guarantees normal operation under a low-temperature environment since design and a substantive test for securing appropriate operation under strict temperature conditions, such as -40°C, require a great number of working hours and time, and can reduce a design period, and to provide a system.
    半導体集積回路の設計において−４０℃でのタイミングマージンを確保するとともに、−４０℃というような厳しい温度条件での適切な動作を確保するための設計及び実証テストは非常に多くの工数、手間、及び時間がかかる問題があるため、低温環境下での正常動作を保証するとともに、設計期間を短縮することが可能な半導体集積回路及びシステムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a logic synthesizer and a logic synthesis method which can easily perform determination whether insertion of a test point is proper or not, and can attempt to shorten design period by making the number of times of logic synthesis into one time.
    テストポイントの挿入が適切であるかどうかの判断を容易に行い得、且つ、論理合成の回数を一回として設計期間の短縮化を図り得る論理合成装置及び論理合成方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a test fixture that dispenes with design changes of a measuring substrate, even when a signal line distribution change inside an electronic device, having a higher bit rate of a transmissible signal, and having inexpensive inspection facility cost by a long-lifetime contact.
    電子デバイス内の信号ライン振り分け変更の場合も測定用基板の設計変更が不要で、伝播可能な信号のビットレートがより高く、長寿命接点により検査設備費が安価に済むテストフィクスチャを提供する。 - 特許庁
  • The correlation data creating part 302 reads block level design data 310, a block level test bench 311, a measuring setting file 312, and a clock-RAM specifying file 313, and creates correlation data 323 as intermediate data.
    相関関係データ作成部３０２は、ブロックレベル設計データ３１０、ブロックレベルテストベンチ３１１、計測設定ファイル３１２、およびクロック・ＲＡＭ指定ファイル３１３を読み込んで、相関関係データ３２３を中間データとして作成する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor chip for measuring CDM resistance, a CDM resistance measuring circuit, and a CDM resistance measuring method having a short TAT from design up to the CDM resistance measurement by easily preparing the operation of a CDM test.
    ＣＤＭ試験の作業準備が容易で、設計からＣＤＭ耐量測定の実施までのＴＡＴが短いＣＤＭ耐量測定用半導体チップ、ＣＤＭ耐量測定回路、及び、ＣＤＭ耐量測定方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and method of designing a circuit which can design a circuit in which it can be determined that is not faulted if an inspection by a used test pattern is passed even if it does not raise a fault coverage.
    故障検出率をあげなくとも、使用されるテストパターンでの検査に合格すれば、故障していないと判断することができる回路を設計することが可能な回路設計装置及び回路設計方法を提供する。 - 特許庁
  • To evaluate safety of underground structure and to design and construct the structure rationally by three-dimensional analysis by preparing a three-dimensional model based on GIS data related to the ground, results of boring test, CAD data related to the structure.
    地盤に関するＧＩＳデータやボーリング試験結果、構造物に関するＣＡＤデータ等から３次元モデルを作成し、３次元解析により、構造物の安全性を評価し、構造物の合理的な設計・構築を可能とする。 - 特許庁
  • To provide an aircraft device module in which heaters, a thermistor, and a strain gauge, are included in the module, in order to fit a specific test and flying condition, by the design, but not adding later, and to provided its manufacturing method.
    特定の試験及び飛行条件に適合するように、後で追加するのではなくて、設計によってヒータ、サーミスタ及び歪み計がモジュール内に含められる、航空機装置モジュール、及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • Thus, the performance of the fluid dynamic pressure bearing can be evaluated and optimized at the stages of the design and production though the performance could be evaluated only when the motor is trial-manufactured and incorporated in the disk device, and an excited response test thereof is performed.
    これにより、従来モータの試作とこれをディスク装置に組み込み加振応答テストを行うことでしか評価できなかった流体動圧軸受の性能を、その設計・製造段階で評価・最適化できるようにした。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit design support device, a semiconductor integrated circuit support method, and a semiconductor integrated circuit design support program for simulating a gate level netlist without rewriting a test bench even when a signal included in an RTL to be monitored in the simulation of the RTL is not included in the gate level netlist.
    ＲＴＬのシミュレーションにおいて監視対象とされたＲＴＬに含まれる信号がゲートレベルネットリストに含まれていない場合でも、テストベンチを書き換えることなくゲートレベルネットリストのシミュレーションを行うことが可能な半導体集積回路設計支援装置、半導体集積回路設計支援方法、半導体集積回路設計支援プログラムを提供する。 - 特許庁
  • The system creates a database 30 to store information on components of which quality can be guaranteed based on a simulation, a real test, a market research, etc., selects information of various kinds of elements composing an electronic instrument from the information stored in the database 30 based on circuit design information, and creates detailed design information 52 of the electronic instrument.
    シミュレーションや実試験や市場リサーチ等に基づき品質保証可能な部品の情報を格納するデータベース３０を作成し、回路設計情報に基づいて、電子機器を構成する各種要素の情報をデータベース３０に格納されている情報より選定し、電子機器の詳細設計情報５２を作成するようにした。 - 特許庁
  • For example, in a design process a, design data of the product is, in a manufacturing process b, manufacturing condition of each process such as casting and processing when the product is manufactured is, in a measuring process c, the result of measurement of prescribed measurement items about the product is, and in an assessment process d, the result of a test or assessment of the product is registered.
    例えば設計工程ａでは当該製品の設計データが、製造工程ｂでは当該製品を製造する際の鋳造、加工などの各工程での製造条件が、測定工程ｃではその製品についての所定測定項目の測定結果が、評価工程ｄではその製品についての試験結果や評価が登録される。 - 特許庁
  • The operation of the automating tools includes simulation of the operation of a reactor by using the test reactor core design, to generate a plurality of outputs on the basis of the restrictions, comparison of the outputs with the restrictions, and provision of data which indicate the restriction breached by the reactor core design during the simulation, on the basis of the comparison.
    選択された自動化ツールの動作は、試験炉心設計を用いて原子炉運転をシミュレートすること、制約に基づいて複数の出力を生成すること、制約を基準にして出力を比較すること、および、比較に基づいて、シミュレーション中に、試験炉心設計によって違反された制約を指示するデータを提供することを含む。 - 特許庁
  • To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.
    より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁
  • Thus, the design of the scan test having a high failure detection rate is realized without increasing the chip area associated with the speed performance of an access path of the RAM or the hard macro core or the addition of a test circuit.
    あるいはスキャンテストのキャプチャ動作時にＲＡＭやハードマクロコアのデータ蓄積回路へキャプチャデータを順次蓄積しスキャンテスト後にＬＳＩ外部へ読み出して外部のＬＳＩテスタで期待値照合することでＲＡＭやハードマクロコアのアクセスパスの速度性能やテスト回路追加に伴うチップ面積増加を招くことなく、高い故障検出率のスキャンテスト設計を実現できる。 - 特許庁
  • To provide a mattress solving difficult-to-solve problems in the case of conventional flame-retardant nonwoven fabrics, namely, good in processability and touch feeling, with high-grade design, and meeting a cigarette ignition test 16CFR part 1632, and furthermore, meeting California's TB 603 test.
    従来の難燃性不織布では解決が困難であった課題、すなわち、加工性や風合い、触感が良好で意匠性が高く、米国タバコ試験１６ＣＦＲ ｐａｒｔ１６３２に合格するマットレス、さらには、米国タバコ試験１６ＣＦＲ ｐａｒｔ１６３２とともに米国カリフォルニア州燃焼試験ＴＢ６０３に合格するマットレスを提供する。 - 特許庁
  • This test specification generation device has a generation means generating the specifications for a test of the conversion program for the conversion of deign information of the program on the basis of: combination conversion processing information showing combination conversion processing wherein conversion items to the design information of the program are combined; between-item order information showing the priority order of the conversion item.
    テスト仕様生成置が，プログラムの設計情報に対する変換項目を組み合わせた組み合わせ変換処理を表す組み合わせ変換処理情報と，前記変換項目の優先順位を表す項目間順位情報と，に基づき，プログラムの設計情報の変換のための変換プログラムのテスト用の仕様を生成する生成手段を有する。 - 特許庁
  • To provide a verification program, apparatus and method capable of surely verifying design of wiring for electrically connecting a test head body to a plurality of connection terminals to which the plurality of external terminals of an electronic component to be tested are connected.
    テストヘッド本体と、被試験電子部品の複数の外部端子が接続される複数の接続端子とを電気的に接続する配線の設計を確実に検証することのできる検証プログラム、検証装置及び検証方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for estimating the corrosion fatigue life of a metal material that is used in such devices as compressors and can not be directly subjected to a corrosion fatigue test to evaluate its life because the device is in an operating environment and to provide highly reliable devices that are appropriate for their design life.
    直接腐食疲労試験により寿命評価できない使用環境における圧縮機等の機器に使用される金属材料の腐食疲労寿命を推定し、機器の設計寿命に適した信頼性の高い機器を提供する。 - 特許庁
  • The appropriate timing to conduct the inclination test is decided as early as at the design stage, and the time of delivery is decided well planned, and there is no need to execute works forcedly merely for adjustment of the center of gravity unreasonably in accordance with the delivery timing, which should shorten the construction period.
    傾斜試験を行うもっとも適正な時期が設計段階から決定され引き渡しの時期が計画的に決められ、引き渡し時期に合わせて無理に重心調整のためだけの工事を強いられることがなく、工期が短縮される。 - 特許庁
  • To provide a handling device of a fluid sensor dispensing device having the improved design and mechanism for releasing a sensor after the completion of a test, being easily operated by a user, and reducing the undesired release of the sensor.
    試験の完了後にセンサを放出させるための改良された設計及び機構を有し、使用者がより容易に操作することができ、意図しないセンサの放出を減らした改良された流体センサ分与装置取扱い装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inexpensive embossed decorative sheet which is made of a material other than a vinyl chloride resin, has sufficient flexibility for excellent resin workability, shows excellent embossing reproducibility, does not cause a problem of separation of a base material even after a durability test, and can provide a product of excellent design.
    塩化ビニル樹脂以外の材料を用いて、樹脂加工性に優れた柔軟性を有し、エンボス再現性に優れ、なおかつ、耐久テスト後においても基材の剥離の問題のない意匠性に優れた安価なエンボス化粧シートを提供する。 - 特許庁
  • The evaluation device for a peripheral device of a personal computer with a universal serial bus temporarily stores a test pattern sent to the USB function and retransmits the token or discard it in response to the reply data from the USB function so as to attain programming without notifying a time until preparation of return of the DATA packet is finished and the design efficiency of the test pattern can be enhanced.
    ユニバーサルシリアルバスを持つパソコンの周辺機器の評価装置は、ＵＳＢファンクションに対し送出したテストパタンを一時的に保持して、ＵＳＢファンクションからの返信データに応じて再送、又は、破棄することにより、ＤＡＴＡパケットの返信の用意が完了するまでの時間を意識せずにプログラミングを行うことができ、テストパタンの設計効率を向上することができる。 - 特許庁
  • This design method for a semiconductor integrated circuit is provided with a net list creation step (S121) for creating a net list, which includes connection information between and inside macros of the semiconductor integrated circuit and identification information about the used macro, and a test pattern creation step (S122) creating a test pattern for the semiconductor integrated circuit on the basis of the identification information about the used macro inside the net list.
    半導体集積回路のマクロ間及びマクロ内の結線情報並びに使用するマクロの識別情報を含むネットリストを生成するネットリスト生成ステップ（Ｓ１２１）と、ネットリスト内の使用マクロの識別情報を基に半導体集積回路の試験パターンを生成する試験パターン生成ステップ（Ｓ１２２）とを有する半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁
  • A normal temporary characteristic value setting processing part 14 corrects the temporary characteristic value of the complex C, C by a correction value calculated from a difference between an estimated value acquired from a test result of a base car which is a base of the developed car and a design value, and sets a normal temporary characteristic value.
    正規暫定特性値設定処理部１４は、複素Ｃ.Ｃの暫定特性値を、開発車の基礎となるベース車の試験結果から得られた推定値と設計値との差分から算出した補正値で補正して正規暫定特性値を設定する。 - 特許庁
  • To provide a 300 mm test wafer, in which the evaluation of a performance data for a semiconductor manufacturing apparatus, and an evaluation apparatus, etc. is ensured, and the design specification inhibits layer peeling within a laser mark, and the damage to the surface is not produced after a CMP processing.
    半導体製造装置、評価装置などの性能データ評価を確実にするための３００ｍｍテストウエハであり、レーザマーク内で膜剥離が生じない設計仕様とし、ＣＭＰ処理後に表面の傷が生じない３００ｍｍテストウエハを提供する。 - 特許庁
  • The method includes selecting, from a set of automated tools, one or more automated tools to evaluate the test core design, and operating one or more of selected automated tools to output data for display to the user.
    方法は、テスト炉心設計を評価するために、１組の自動化ツールから、１つまたは複数の自動化ツールを選択する段階と、ユーザに表示するためのデータを出力するために、選択された自動化ツールのうちの１つまたは複数を動作させる段階とを含む。 - 特許庁
  • To provide an optical communication module that integrates a transceiver circuit mounted on itself as an integrated circuit without using a discrete component such as a loopback IC, whose operation test and adjustment can easily be conducted, and that provides ease of module design.
    光通信モジュールに搭載されるトランシーバＩＣをループバックＩＣのようなディスクリート部品を用いずにＩＣ単体で行うことができるとともに、光通信モジュールの動作試験および調整を容易に可能とし、かつ、モジュールの設計が容易な光通信モジュールを提供する。 - 特許庁
  • To provide a release film consists of a release layer on at least one surface of a film substrate material, wherein a long period storage stability is excellent under realizing a release property of the release film, a test of deficiency caused by foreign materials is easily conducted, and a design property upon forming a printing layer is excellent.
    フィルム基材の少なくとも片面に剥離層が形成された剥離フィルムにおいて、剥離フィルムの剥離特性を発現しつつ長期保管安定性に優れ、異物欠陥検査が容易で、且つ、印刷層を設けた場合に意匠性にも優れた剥離フィルムを提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To receive input of the following kinds of design documents: a screen transition diagram, a general process flow diagram, a screen element definition document, a process event definition document, and an input restriction definition document, and to output whether there is an input error and a way of outputting a result, as test items.
    入力できる設計ドキュメントの種類として、画面遷移図、処理概要フロー図、画面要素定義書、処理イベント定義書、入力制約定義書を入力することを可能とし、テスト項目として入力エラーの有無、結果出力の仕方をも出力可能にする。 - 特許庁
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 次へ＞

例文データの著作権について