「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 99 100 101 102 103 104 105 106 107 .... 161 162 次へ＞- The water quality monitoring apparatus and method use a living thing as a toxic material sensing means, and have a test water condensing means for previously condensing monitored test water by using a nano-filtration membrane for membrane separation, and a means for bringing the living thing into contact with the test water condensed by the test water condensing means.
毒性物質検知手段として生物を使った水質監視装置において、監視対象となる検水を膜分離により事前に濃縮する、ナノフィルトレーション膜を用いた検水濃縮手段と、該検水濃縮手段により濃縮された検水を生物と接触させる手段とを有することを特徴とする水質監視装置および方法。 - 特許庁 - This water quality monitoring method and its monitor are characterized in that test water is introduced into a water tank and the water quality of the test water is determined based on the behavior pattern of the plurality of water creatures suspended in the water tank.
水槽内に検水を導入して、該水槽内に浮遊させた複数の水生生物の行動パターンにより検水の水質を判断することを特徴とする水質監視方法および装置。 - 特許庁 - To provide a semiconductor wafer in which the internal circuit of a chip is not short-circuited when a test pad is provided in a scribe region and the number of test pads can be reduced, and to provide a method for testing a semiconductor wafer.
テストパッドをスクライブ領域に設けた場合に、チップの内部回路の短絡を生じないと共に、テストパッド数を削減できる半導体ウェハおよび該半導体ウェハのウェハテスト方法を提供する。 - 特許庁 - The method for evaluating biological effect of the test material comprises detection of genes with changed expression in an ascidian exposed to the test material and evaluation according to an originally created classification table and evaluation table.
被検物質に曝露されたホヤにおいて発現量が変化した遺伝子を検出し、独自に作成した分類表および評価表に従って、被検物質の生物学的影響を評価する方法。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device in which observation and evaluation of the surface of a test piece can be made without charge up on the whole test piece, and to provide a method of manufacturing a semiconductor device using the same.
試料全体にわたりチャージアップのない状態で試料表面の観察及び評価を可能にした荷電粒子線装置及び該装置を使用した半導体デバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a management method of a load test capable of automatically determining a load amount to be assigned to each terminal so as to obtain a load of a scale necessary for each load test depending on the number of participating terminals.
参加する端末の数に依り、各負荷テストに必要な規模の負荷が得られるように、各端末に割り当てる負荷量を自動的に決定できる負荷テストの管理方法を、提供する。 - 特許庁 - To provide a material testing machine that accurately measures a position of an edge using the entire area of a profile of a test piece edge, and a method for measuring test piece width of a material testing machine.
試験片の端縁のプロファイルの全域を利用して端縁の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method and a test apparatus for testing integrated-circuit technology and, to be more precise, provide a probe card constituted in such a way as to reduce crosstalk between probes of a probe card.
集積回路技術をテストするためのテスト方法及びテスト装置、さらに詳しくは、プローブカードのプローブ同士の間におけるクロストークを減少させるように構成されたプローブカードを提供すること。 - 特許庁 - To remarkably reduce traffic of a test cell without lowering the conventional confirmation accuracy regarding a bi-directional conduction confirming method and a device by a test cell in an ATM network.
本発明は、ＡＴＭネットワークでの試験セルによる双方向導通確認方法と装置に関し、従来の確認精度を落とすことなく試験セルのトラフィックを大幅に低減することを目的とする。 - 特許庁 - The method is applied to a case for displaying a test pattern of a color chart of specification of a first color gamut, and a test pattern of a color chart of specification of a second color gamut wider than the first color gamut on a television receiver 30.
第１の色域の規格のカラーチャートのテストパターンと、第１の色域よりも広い第２の色域の規格のカラーチャートのテストパターンとをテレビジョン受像機３０に表示させる場合に適用される。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method which are capable of reliably testing heat resistance, peel strength, or the like of an adhesive sheet adhered to a concave surface in a stretched state.
粘着性シートが凹曲面に伸長状態で接着された状態における粘着性シートの耐熱性や剥がれ強さ等を確実に試験できる試験装置と試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide: a display device that hardly causes a short-circuit fault resulting from a test pad during production or use and causes little corrosion of the test pad; and a method of inspecting the connection state of the display device.
製造時や使用時にテストパッドに起因する短絡故障が生じ難く、しかもテストパッドの腐食のおそれも少ない表示装置及び表示装置の接続状態検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.
薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に３点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a heat cycle test apparatus and a heat cycle test method capable of reporting the accurate life of electronic parts, which require reliability for radio communication, to temperature cycles.
無線通信の信頼性が要求される電子部品の温度サイクルに対する正確な寿命を知ることができる温度サイクル試験装置及び温度サイクル試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - By this method, even if pixel electrodes of red, green, blue are arranged in delta arrangement, display of red, green, blue can be performed, a simple picture test can be realized, and a test having high detecting capability for defect can be performed.
この方法により、赤，緑，青の画素電極とがデルタ配列に配置されていても、赤，緑，青の表示が可能となり簡易画像検査を実現でき、不良検出力の高い検査ができる。 - 特許庁 - To provide an accelerated weathering test method of a thermoplastic resin molding capable of acquiring in a very short time, a test result having excellent correlation with deterioration in a natural environment of the thermoplastic resin molding.
熱可塑性樹脂成形品の自然環境における劣化と相関性の良い試験結果が、非常に短時間で得られる熱可塑性樹脂成形品の促進耐候性試験方法を提供する。 - 特許庁 - In the method for measuring the activity of the endotoxin by using the limulus test, the measurement using the limulus test is carried out, such that a cationic water-soluble polymer and/or a nonionic water-soluble polymer are added in a sample liquid.
リムルステストによるエンドトキシン活性の測定方法において、試料液中に陽イオン性水溶性高分子および／または非イオン性水溶性高分子を添加し、リムルステストにて測定する。 - 特許庁 - To provide an optical pulse test method and an optical pulse test device, capable of accurately executing the OTDR measurement of an optical fiber to be measured of a long distance using a short dummy fiber.
本発明は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a wafer to be inspected together with a method for wafer level burn-in test using it, wherein with the supply of a voltage to a defective chip being limited, a normal wafer level burn-in test is conducted with other satisfactory chips.
故障が生じたチップへの電圧の供給を制限し、他の良品チップに関して正常なウェハレベルバーンイン試験を実行し得る被検ウェハ、及びそれを用いたウェハレベルバーンイン試験方法を得る。 - 特許庁 - To provide a high-vision moving picture test signal generator, a program and a method thereof which generates an optimum moving picture test signal for checking the error of compressed signals on a transmission line.
伝送路における圧縮信号のエラーをチェックするために最適な動画テスト信号を生成することができるハイビジョン動画テスト用信号生成装置、プログラムおよび方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a load test apparatus and a method of load testing for safely removing a load after reaching the maximum load, without destroying a test specimen, even with respect to specimen having a flexible structure.
柔な構造をした供試体に対しても、最大荷重に達した後の除荷が供試体を破壊することなく安全に行える荷重負荷装置および荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a program analysis device, a program analysis method and a program analysis program which automatically identify a factor point preventing generation of a test vector for an optional test item.
任意のテスト項目に対してテストベクタを生成できない場合にその要因箇所を自動的に特定するプログラム解析装置、プログラム解析方法及びプログラム解析プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a driver IC also having a function capable of supplying test pattern signals for the inside of the IC without the need for the supply of various test patterns signals from the outside and to provide an inspection method of the same.
外部から各種検査パターン信号を供給することなく、ＩＣ内部に検査パターン信号を供給できる機能を併せ持たせたドライバＩＣ及びその検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a flip-flop circuit for scan path test capable of suppressing operation current in the scan path test and reducing the time necessary for simulation using a scan path, and to provide a simulation method thereof.
スキャンパステストでの動作電流を抑えると共に、スキャンパスを用いたシミュレーションに要する時間を短縮することのできるスキャンパステスト用のフリップフロップ回路およびシミュレーション方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inexpensive corrosion test method capable of reproducing a corrosion state in an actual environment, and efficiently performing a corrosion test by accelerating corrosion, and dispensing with special testing devices.
実環境における腐食状態を再現でき、腐食を加速させて効率的に腐食試験を行うことができ、しかも特殊な試験装置を必要としない安価な腐食試験方法を提供する。 - 特許庁 - The siloxane polymer coating film obtained by the above method and an optical waveguide produced by using the coating film have excellent crack resistance and excellent reliability on a temperature cycle test, a humidity loaded test or the like.
この形成方法によって得られるシロキサンポリマ皮膜およびこれを用いて製作される光導波路は、耐クラック性に優れ、温度サイクル，湿中試験等に対する信頼性に優れている。 - 特許庁 - To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.
Ｖ字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test coupon and test method for laser beam machining capable of easily checking the power of laser beam in the manufacturing process of a wiring board to be useful for the machining with a proper degree of emission.
配線板の製造プロセスにおいてレーザビームのパワーを簡単にチェックして，適切な照射程度での加工に役立てることができるレーザ加工のテストクーポンおよびテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.
ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁 - In the method and the device, defect and error in operations of VSLI simulation and a circuit are discriminated by forming the test and by using the test, and the performance is evaluated by using genetic algorithm.
テストを生成し、該テストを使用して、ＶＬＳＩシミュレーション及び回路の動作上の欠陥及び誤りを識別し、及び遺伝的アルゴリズムを使用して性能を評価する、方法及び装置。 - 特許庁 - To obtain a cellular phone tester, capable of automatically executing an audio test of a cellular phone without executing audio codec processing in the cellular phone tester, and a test method of the cellular phone.
携帯電話機テスタ内で音声コーデック処理をしなくとも、携帯電話機の音声試験を自動的に行なうことができる携帯電話機テスタおよび携帯電話機の試験方法を実現することにある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and its control method for shortening the time required for a confirmation test for a drive potential and controlling an increase of the cost of the confirmation test for the drive potential.
駆動能力の確認試験に要する時間を短縮し、駆動能力の確認試験の費用が増大することを抑制することができる半導体装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.
被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁 - The device and method for management and maintenance of one or a plurality of periodic calibrations in a test apparatus provide an alert 1200 related to the present calibration status of the test apparatus.
テスト機器における１つまたは複数の周期的なカリブレーションの管理および維持のための装置および方法が前記テスト機器の現在のカリブレーションステータスに関するアラート（１２００）を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a minute solder test strip with a desired metal texture for evaluating mechanical characteristics of a solder material used for jointing of electronic components, and the solder test strip.
電子部品等の接合に用いるはんだ材料の機械的特性等を評価するための所望の金属組織を有する微小なはんだ試験片の作製方法およびはんだ試験片を提供する。 - 特許庁 - To provide a contour shape inspection method of a component and its device capable of acquiring an accurate silhouette image of a test object component even if another component is arranged on the position near the test object component.
検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品の正確なシルエット画像が得られる部品の輪郭形状検査方法及びその装置を供すること。 - 特許庁 - To provide a substrate tester and a test condition setting method capable of selecting a test condition suited to a substrate even when surface pattern information of the substrate is unobtainable in advance.
基板表面のパターンの情報が事前に得られなくても、基板に適した検査条件を選択することができる基板検査装置および検査条件設定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for analyzing a dry-chemical test element wherein the optimal chemical analysis by the optical scanning is performed even when the assay region of a test element where an optical active substance to be measured is brought into, has different optical activity.
測定対象の光学活性物質が導入された試験エレメントのアッセイ領域が異なる光学活性を有するときでさえ、光学走査による最適化分析が可能である。 - 特許庁 - In this inspecting method, by comparing the inspection data in the wafer test written in the ROM areas of the chips with the inspection data in the screening test, it is possible to inspect the characteristic degradation of the chips due to packaging.
この検査方法では、チップのＲＯＭ領域に書き込んだウェハテストの検査データと、選別テストの検査データとを比較することで、パッケージングによるチップの特性劣化を検査することが可能になる。 - 特許庁 - To provide a device and method for issuing a non-contact information storage medium which is capable of quickly performing issuing processing and test in the same process, and performing a test suitable for its actual use.
発行処理と試験とを同じ工程において短時間で行え、かつ、実使用と合った試験を行うことができる非接触情報記憶媒体の発行装置及び発行方法を提供する。 - 特許庁 - To provide test equipment and test method for obtaining measured data that allow a sensor unit (1) to recognize error for calibration of analysis unit connected with the sensor unit by using sensor-related data allocation, for example, cable, stored data, that is, data allocation.
例えば、ケーブルで、保存されたデータで、つまり、データ割当で、センサユニットと接続されている分析ユニットの較正のためにセンサユニット（１）にセンサ関連データ割当で、エラー認識を可能とすることである。 - 特許庁 - To provide a method of a leak test and a device for the leak test which are constituted with a simple constitution and capable of determining a compensation value easily, quickly surely, and precisely and determine an existing of the leak correctly.
簡単な構成で、補正値を容易に短時間で精度良く的確に求めてワークの漏洩の有無の判定を正確に行うことができるリークテスト方法およびリークテスト装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a tensile test tool and a tensile test method, capable of finding accurately a tensile strength of concrete, by attaching it to apply a tensile force on the center line.
中心線上に引張り力が加わるように、取付けることにより、正確なコンクリートの引張り強度を求めることのできる引張り試験用治具及び引張り試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for the diagnosis of the durability of a metal component, where the durability of a work under test can be diagnosed easily and quickly and the durable load of the work under test can be estimated easily.
被試験体の耐久性を容易かつ迅速に診断でき，かつ，被試験体の耐久荷重を容易に推定できる，金属部品の耐久性診断方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for measuring the installation position of a test piece in a charged particle beam lithography system capable of measuring the position of a test piece placed on a stage without the need of using an additional position measuring tool.
ステージ上に載置された試料の位置を新たな位置計測ツールを用いることなく測定できるようした荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置測定方法を提供する。 - 特許庁 - A special test piece 100 with two linear marks 101, 102 having refraction factors different from the other part formed so as to be elongated in directions orthogonal with each other is used in the method for measuring the installation position of a test piece.
試料として、表面に、光の反射率が他の部分とは異なる、互いに直交する方向にのびる線状の２本のマーク部１０１，１０２を形成した専用試料１００を用いる。 - 特許庁 - To provide an exposure test piece corrosion state measuring method capable of preventing various attached substances attached to the surface of an exposure test piece from being washed away in a case body during rainfall.
ケース本体内において、降雨時に暴露試験片の表面に着いている種々の付着物が洗い流されてしまうことを防止した、暴露試験片の腐食状態測定方法を提供する。 - 特許庁 - This bondability evaluation method with respect to a GPCR also provided includes a process for adding a test compound to the composition to put a test substance into contact with a GPCR in the fusion protein.
当該組成物に被検化合物を添加して前記融合タンパク質内のＧＰＣＲに被検物質を接触させる工程を含むＧＰＣＲに対する結合性評価方法も提供される。 - 特許庁 - To provide a method of specifying a test part, capable of easily and accurately recognizing the deviation of image data photographed later from the image data of the test part photographed before without defining a mole or the like as a mark.
ホクロ等を目印とすることなく、先に撮影した被験部位の画像データに対する、後に撮影した画像データのずれを容易且つ正確に把握できる被験部位の特定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a servo signal test instrument permitting to measure a servo signal with sufficient resolution and evaluate the quality even if a servo band in a magnetic tape is formed into narrow tracks, and to provide a test method therefor.
磁気テープにおけるサーボバンドが狭トラック化しても、十分な分解能でサーボ信号を測定して、その品質を評価できるサーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法を提供する。 - 特許庁
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