To provide a magnetic head testmethod or a tester that automatically sets a magnetic head assembly on a head clamp base, and improves throughput of magnetic head test processing. 磁気ヘッドアッセンブリをヘッドクランプ台にセットする交換作業を自動化することができ、磁気ヘッド検査処理のスループットを向上させることができる磁気ヘッド検査方法あるいは検査装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide a magnetic head test device and testmethod capable of testing the characteristic of a magnetic head with higher precision, and of heightening the quality of the magnetic head by allowing electromagnetic waves to act on the magnetic head. 磁気ヘッドに電磁波を作用させることによって、磁気ヘッドの特性をさらに精度よく試験することができ、磁気ヘッドの品質向上を図ることができる磁気ヘッドの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a delayed destructive testmethod and a delayed destructive tester for eliminating a necessity for applying a fixed tensile stress, and eliminating a necessity for processing a test piece into a predetermined shape to apply the tensile stress. 一定の引張り応力を付与する必要のない、従って引張り応力を付与するために試験片を所定の形状に加工する必要のない遅れ破壊試験方法および遅れ破壊試験装置を提供する。 - 特許庁
In the recording/reproducing method of the magnetic thin film memory, test writing of information in the memory cell is performed before the information is recorded and normal data is recorded after recording the test writing is confirmed. 磁気薄膜メモリ装置の記録再生方法において情報の記録を行なう前に、メモリセルに情報の試し書きを行ない、試し書きの記録確認を行った後、正規のデータを記録することによって達成される。 - 特許庁
SIMULATED BLOOD VESSEL FOR ATHEROSCLEROSIS LESION, ITS PRODUCTION METHOD, ULTRASONIC PHANTOM, TEST DEVICE FOR VERIFYING BLOOD FLOW NUMERICAL ANALYSIS AND SIMULATED BLOOD VESSEL FOR EVALUATION TEST FOR PERCUTANEOUS TRANSLUMINAL CORONARY ANGIOPLASTY 粥状動脈硬化症病変部の模擬血管およびその製造方法、超音波ファントム、血流の数値解析検証用実験装置、経皮的経血管的冠動脈形成術評価試験用模擬血管 - 特許庁
In the activity measuring method of the endotoxin by a limulus test, a surfactant is added to a sample liquid, and after the surfactant has been removed, the activity of the endotoxin is measured by the limulus test. リムルステストによるエンドトキシン活性の測定方法において、試料液中に界面活性剤を添加した後、界面活性剤を除去し、リムルステストにて測定することを特徴とするエンドトキシン活性の測定方法。 - 特許庁
To provide an inspection probe which can respond to a narrow pitch of the input terminals and the output terminals of a semiconductor device, and to properly test the semiconductor device and the manufacturing method for the test probes. 半導体装置の入力端子及び出力端子の狭ピッチに対応可能であるとともに、半導体装置を良好に検査できる検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a verification method of verifying an effective test program change time, in the situation where a test is allowed only once or times closely near thereto in a product such as the same magnetic storage device, and a verification system therefor. 同じ磁気記憶装置などの製造物に対して1回程度しか試験できない状況において有効な試験プログラム変更時の検証方法及びその検証システムを提供することにある。 - 特許庁
The piercing member is fitted to hold the test sensor on the inlet area by a method to take out the package, and the test sensor is held on the inlet area during a time testing the blood sample. 穿刺部材は、パッケージを取り出すような方法で入口領域に試験センサを保持するように適合され、かつ血液試料を試験する間、入口領域に試験センサを保持するように適合されている。 - 特許庁
The cured molded object has 83% or higher returnable deformation in a compression test according to the performance testmethod of a slit material in the quality determination standard for materials (May 2008 edition) established by Urban Renaissance Agency. 該硬化成形体は、圧縮試験(「独立行政法人都市再生機構」制定の「機材の品質判定基準(平成20年5月版);スリット材の性能試験方法」)の変形復帰性が83%以上を示す。 - 特許庁
The main control unit also makes changes in order to change a change result of a test value changed by the expected value changing data on the basis of change method information associated with the extracted third test value. また、主制御部は、前記抽出した第3検査値に対応付けられた変更方法情報に基づいて、期待値変更用データで変更した検査値の変更結果を変化させるための変更を行う。 - 特許庁
To provide a testmethod and a test device for allowing endurance including scratch resistance to be appropriately and simply evaluated in the state that is close to a real use even when an optical product is coated. コーティングされた光学製品であっても、実際の使用に即した状態で、耐擦傷性能を含む耐久性について適切且つ簡易に評価をすることが可能となる試験方法ないし試験装置を提供する。 - 特許庁
This water-based silicate composite coating is characterized in that a coating film obtained by coating the composite coating has a whiteness change (ΔL) of ≤5, after an expose test according to JIS Z2381 direct exposure testmethod for three months. 塗工して得られる塗膜について、3ヶ月間、JIS Z2381 直接暴露試験法に従って暴露試験を行った後の白色度変化(ΔL)が5以下である水系シリケート複合塗料を用いる。 - 特許庁
This device/method includes the first chamber 2 connected in series to the second chamber 10, the first chamber 2 can transfer a solid test sample to the second chamber 10, and the second chamber 10 can hold the solid test sample. 第2のチャンバ10と直列に接続された第1のチャンバ2を含み、第1のチャンバ2は固体試験サンプルを第2のチャンバ10へと移送可能で、第2のチャンバ10は固体試験サンプルを保持可能である。 - 特許庁
To provide a modification method of a semiconductor integrated circuit which can cut the cost and time for a test by reducing a test pattern by effectively using a spare cell which is originally used only for circuit modification. 本来回路修正のためだけに使用されるスペアセルを有効利用して、テストパターンを短縮し、テストのためのコストと時間を削減することができる半導体集積回路の修正方法を提供する。 - 特許庁
To provide an operation aptitude testmethod which can be carried out in an arbitrary period even when a test needs to be repeatedly carried out by changing relation between a stimulus and reaction to it. 刺激とそれに対応する反応の関係を変更することにより、検査を繰り返し実施する必要のある場合でも、運転適性検査を任意の時期に実施することができる運転適性検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a contactor for eliminating a cleaning process implemented each time a final test is repeated several times, and improving the productivity of the semiconductor integrated circuit, and a testmethod and a tester of the semiconductor integrated circuit. 最終試験を所定回数繰り返す毎に行うクリーニング工程を不要とし、半導体集積回路の生産性を向上できるコンタクタ、半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a test specimen for atom probe analysis to simply manufacture a test specimen for analyzing an analyzed domain by means of an atom probe, the analyzed domain comprising a conductor portion formed on an insulating substrate. 絶縁基板上に形成された導体部分からなる被分析領域をアトムプローブによって分析するための検査試料を、簡便に製造できるアトムプローブ分析用検査試料の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a toughness evaluation method and a toughness evaluation device evaluating toughness of a steel product easily in a short time without performing an impact test by preparing a test piece as in the past. 従来のように試験片を作成して衝撃試験を行う必要がなく、短時間で容易に鋼材の靭性を評価することのできる靭性評価方法及び靭性評価装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an exposure test device and method using aqueous hydrogen peroxide, with its operation simplified and test condition uniformity further improved, and capable of recycling resources. 過酸化水素水を用いる耐候光試験装置及び方法に関するものであって、作業をより簡便化し、資源を再利用可能で、試験の均一性を更に向上させた耐候光試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an eddy-current test probe and an eddy-current testmethod using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins. インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁
To provide an efficient semiconductor memory and its testmethod which can improve test accuracy for products under-estimated in non-volatile memories such as a flash memory and the like and can cope with more various kinds. フラッシュメモリなどの不揮発性メモリにおける過小評価された製品の検査精度を上げることができ、より多品種に対応できる効率的な半導体記憶装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for acquiring and amplifying polynucleotide (tester-specific polynucleotide), in which the amount existing in a test sample (a tester) is larger than the amount existing in another test sample (a driver), efficiently, easily and in a short period of time. ある試料(テスター)での存在量が別の試料(ドライバー)での存在量よりも多いポリヌクレオチド(テスター特異的ポリヌクレオチド)を、容易に且つ短時間に、高効率に取得・増幅する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of creating test data effective in verifying the operation of a data conversion program for coordinating a plurality of data formats, in a system for creating test data using the names of data items. データ項目名を利用したテストデータを生成するシステムであって、複数のデータフォーマットを連携させるためのデータ変換プログラムの動作検証を行う上で効果的なテストデータの生成方法を提供すること。 - 特許庁
To establish a method that can conduct a communication test to designate a frame relay parameter for the confirmation and a communication test independently of a layer 3 protocol in order to locate a fault location on the occurrence of disabled communication between devices in the Frame Relay. フレームリレーにおける装置間における疎通不可時の障害部位特定のため、フレームリレーパラメータを指定し確認ができる疎通テストとレイヤ3プロトコルに関わらず疎通テストができる方法を確立する。 - 特許庁
This crease composition is characterized by having an oil separation degree of 0.1 to 0.8 mass% (measured under conditions of test temperature 100°C and test time 24 hours by an oil separation-measuring method defined in JIS K 2220). グリース組成物の離油度(JIS K 2220に規定された離油度測定方法を用いて、試験温度100℃、試験時間24時間という条件で測定)を、0.1質量%以上0.8質量%以下とする。 - 特許庁
To provide a method for generating a test signal for testing the accuracy of the CINR measurement of a subscriber station through a base station emulator with which a trigger line for synchronization and a combiner are not necessary and the costs of the establishment of a test environment can be reduced. 同期維持のためのトリガーラインや結合器が不要であり、テスト環境の構築費用を減らせる基地局エミュレータを利用した端末のCINR測定の精度テスト信号生成方法に関する。 - 特許庁
A screening method of a test material has a process of disposing a subject material in a colored gas atmosphere and screening the test material among the subject material, by using as an index a disappearance of a color in the colored gas atmosphere. 有色気体雰囲気下に被験物質を配置し、当該有色気体雰囲気の色の消失を指標として当該被験物質の中から被検物質を選別する工程を有する、被検物質のスクリーニング方法。 - 特許庁
To provide a test device and a testmethod wherein false detection based on this can be suppressed even in the case of the outer periphery or the like of a sample such as a wafer having a charge change caused by a structural change in the sample. 試料内の構造変化に起因する帯電変化を有するウエハ等の試料の外周等であっても、これに基づく誤検出を抑えることができる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electronic circuit provided with a circuit for a scanning test capable of reducing an electric power consumption in a usual operation mode other than a scanning test mode, an integrated circuit, and a method of reducing the electric power consumption used for the integrated circuit. スキャンテストモード時以外の通常動作モード時の消費電力が低減されるスキャンテスト用回路を備える電子回路、集積回路及び該集積回路に用いられる消費電力低減方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test piece for evaluating impregnation performance where cast blow holes of various leak amounts to be required can be correctly and easily duplicated by one test piece, and to provide a method for evaluating impregnation performance using the same. 1つのテストピースによって、必要とする種々の漏れ量の鋳巣を、正確かつ簡単に再現することができる含浸性能評価用のテストピース及びこれを用いた含浸性能評価方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a testmethod of cytotoxicity capable of directly and precisely measuring the cellular activity of a cultivated cell used for a test independently one by one and quantitatively determining the toxicity of a chemical substance to be tested for cytotoxicity with high precision. 試験に用いる培養細胞の細胞活性を、直接、1個1個個別に、正確に計測でき、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法の提供。 - 特許庁
To provide a crash testing device and a crash testmethod for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint. 比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁
The tire noise testmethod is employed for performing the sensory evaluation of car interior noise generated in a car cabin when the car runs on an irregular road surface 6 capable of exciting and inputting vibration to test tires attached to the car. 車両に装着した試験タイヤに加振入力可能な不整路面6上を車両を走行させた時に車室内で発生する車内騒音を官能評価するタイヤ騒音試験方法である。 - 特許庁
To provide method and system for controlling temperature and humidity conditions of weathering test equipment of material which more reproducibly can obtain more accurate information regarding lifetime of the material and other test items. 材料の寿命、その他の試験事項に関する、より正確な情報をより再現可能に得られる材料の耐候性試験装置の温度及び湿度条件を制御する方法及び装置を提供すること。 - 特許庁
A test data generation device performs processing for generating a large amount of test data corresponding to many document files including plural words, that is, data including word frequency and document frequency, on the basis of the so-called Monte Carlo method. テストデータ作成装置は、所謂モンテカルロ法を基づいて、複数の単語を含む多数の文書ファイルに相当するテストデータ、つまり単語頻度及び文書頻度を含むデータを大量に作成する処理を行う。 - 特許庁
This testmethod of the semiconductor integrated circuit for performing test by being driven in different driving frequencies f (ft, fs, 0) is constituted so that each driving frequency is changed stepwise, when changing the driving frequency. 異なる駆動周波数f(ft,fs,0)で駆動して試験を行う半導体集積回路の試験方法であって、前記駆動周波数を変化させるとき、該駆動周波数を段階的に変化させるように構成する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit. 本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a separator for a fuel cell, capable of bringing a flexural strength after a test into 95% or more of initial value, without bringing deterioration of the mechanical characteristics, even if carrying out the environmental test of high temperature and high humidity. 高温高湿の環境試験を実施しても機械的特性の劣化を招くことがなく、試験後の曲げ強度を初期値の95%以上にできる燃料電池用セパレータの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test circuit and testmethod for a random number generation circuit, capable of easily setting an operation time for generating random numbers which never cause collision to the random number generation circuit. 乱数発生回路に対して衝突が発生しない乱数を発生させるための動作時間の設定を簡単に行うことができる乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device and a method for dust-proofing test capable of evaluating quantitatively a dust-proofing characteristic or the like in the inside direction, namely in the direction vertical to a punched section, from the side face part of a frame body-shaped test piece. 枠体状の試験片の側面部から内側方向、即ち打抜き断面に垂直な方向での防塵性等を定量的に評価できる防塵試験装置及び防塵試験方法を提供する。 - 特許庁
In the optical disk recording and reproducing method, when reproducing a test recording area where the test recording is executed, DC erasing power in which a reproduced signal is a predetermined amplitude value is operated in each writing power condition. また前記テスト記録を実施したテスト記録領域を再生した際、再生信号が所定の振幅値となるDC消去パワーを書込みパワー条件毎に演算することを特徴とする光ディスク記録再生方法。 - 特許庁
The test data compression method comprises a step for acquiring equivalent core of plural cores in the System-on Chip circuit, and a step for applying reseeding of linear feedback shift register (LFSR) for test data compression of the equivalent core. データ圧縮方法は、システムオンチップ回路内の複数のコアの等価コアを取得するステップと、線形フィードバックシフトレジスタ(LFSR)の再シード(reseeding)を等価コアの試験データの圧縮に適用するステップと、を有する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit and a testmethod for enabling an at_speed test at a fundamental clock frequency for data transfer between clock domains in a synchronous divided-by-2 relationship. 同期した1/2の分周関係にあるクロックドメイン間でのデータ転送に対する基本クロック周波数によるat_speedテストを行なうことのできる半導体集積回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁
To realize a testmethod capable of performing an inspection of communication quality even without a pseudo access point for a test and to perform different performance tests of an information processor to different radio communication standards at once. 試験用疑似アクセスポイントがなくても通信品質の検査を行える試験方法を実現すること、および異なる無線通信規格に対する情報処理装置の異なる動作試験を一度で行うこと。 - 特許庁
To provide a contactless continuity test apparatus and method, capable of checking continuity of a probe for insulation test and electrodes of a component to be tested with the probe attached to the component to be tested. 絶縁試験用のプローブと試験対象部品の電極との導通を、プローブを試験対象部品に装着した状態で確認することのできる非接触導通試験装置および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device and a testmethod of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side. 本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide an ice test device capable of obtaining high accuracy tire data for analyzing in short time, while maintaining a state of ice board that is close to an actual vehicle test, and to provide a method of evaluating on-ice performance of tire. 実車試験に近い氷盤の状態を維持しながら、精度の高いタイヤデータを短時間で取得、解析することを可能とするタイヤの氷上試験装置および氷上性能評価方法を提供する。 - 特許庁
The air bag base fabric comprising a synthetic fiber woven fabric is a noncoated air bag base fabric which has not lower than 2 class of hole opening of a test piece in a melt-proof property test measured by a method defined in the specification. 合成繊維織物からなるエアバッグ基布において、本文中に規定する方法で測定された防融性試験による試験片の穴あきが2級以上であることを特徴とするノンコートエアバッグ基布。 - 特許庁
To provide a device test equipment and a device testmethod which can secure stable thermal contact between a stage and a device to be tested, while being able to suppress a need for load and a contamination of the device to be tested. 荷重の必要性および被試験デバイスの汚染を抑制できるとともに、ステージと被試験デバイスとの熱的な安定接触を確保することができるデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁