「Test method」を含む例文一覧(8060)
＜前へ 1 2 .... 102 103 104 105 106 107 108 109 110 .... 161 162 次へ＞- To provide a loading test method capable of excitation in the lateral direction and excitation having a high frequency in the vertical direction.
横方向の加振および上下方向の高い周波数の加振を行うことができる荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁 - DIAGNOSTIC TEST PIECE FOR COLLECTING AND DETECTING OBJECT TO BE ANALYZED IN FLUID SAMPLE AND METHOD USING IT
流体試料中の分析対象物を収集し、検出するための診断試験片及び同試験片を使用する方法 - 特許庁 - TEST DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATICALLY CONFIRMING EXISTENCE OF AT LEAST ONE RING IN PRODUCT UNDER ASSEMBLING
製品の組立中に当該製品に少なくとも１つのリングが存在することを自動的に確認するテスト装置及び方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING TEST QUESTION AND ITS PROGRAM AND STORAGE MEDIUM WITH ITS PROGRAM STORED THEREON
試験問題評価方法及び装置及び試験問題評価プログラム及び試験問題評価プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁 - To provide a method for detecting residual properties of a test substance in the body, a nucleic acid, protein, a cell and a probe-immobilizing chip.
被検物質の体内残留性を検出する方法、核酸、蛋白質、細胞およびプローブ固定化チップを提供する。 - 特許庁 - MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME
材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法 - 特許庁 - Preferably, the ratio of the height of the protrusion to the depth of the lateral groove is 0.1-0.5 in the test method.
好ましくは、この試験方法では、上記凸条の高さの、上記横溝の深さに対する比は、０．１以上０．５以下である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and its testing method and device capable of accomplishing an effective test of the integrated circuit and generating a scan design involving less entanglement of the wiring.
半導体集積回路の効果的なテストを実現し、且つ、配線の錯綜の少ないスキャンデザインを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting airtightness by using a differential pressure type leak test relative to a finished product of a gas sensor.
ガスセンサの完成品に対して、差圧式リークテストを用いて気密性を検査する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a shaker and a method of testing suitable for various applications, including those presenting adverse test environments.
有害な試験環境をもたらす用途を含む、様々な用途のために適した加振機及び試験方法を提供すること。 - 特許庁 - The method as the means for processing the test response is applicable to not only an LFSR but also an MISR being intended to widely use.
テスト応答処理手段として、ＬＦＳＲだけでなく、広く使用されようとしているＭＩＳＲにも適用可能である。 - 特許庁 - TIMING CALIBRATING METHOD AND IC TEST DEVICE TO WHICH PHASE CORRECTING CIRCUIT TO OPERATE FOR CALIBRATION THROUGH THE USE OF THE SAME IS MOUNTED
タイミング校正方法及びこのタイミング校正方法を用いて校正動作する位相補正回路を搭載したＩＣ試験装置 - 特許庁 - To provide a system and a method for executing a null test of an (aspheric) optical surface by using a spatial light modulator (SLM).
空間光変調器（ＳＬＭ）を使用して（非球形）光学表面のヌルテストを実行するシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and its manufacturing method dispensing with the manufacture of a burn-in board in performing a burn-in test.
バーンイン試験を行う際にバーンインボードを作製する必要のない半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus (100) for measuring the electrochemical corrosion potential (ECP) of a material test piece (176).
材料試験片（１７６）の電気化学的腐食電位（ＥＣＰ）を測定するための方法及び装置（１００）が提供される。 - 特許庁 - To provide an Ag reflective film whose reflectance does not deteriorate even by a severe anti-corrosion test, and to provide a method for producing the film.
過酷な耐蝕性試験でも反射率が劣化することがないＡｇ系反射膜およびその作製方法の提供。 - 特許庁 - To provide a sampling method of a test sample of the weld zone between billets without interrupting continuous rolling and without lowering the yield of products.
連続圧延を中断することなく、かつ製品歩留を低下させないでビレット溶接部の試験用サンプルを採取する。 - 特許庁 - This method for detecting a metabolic syndrome includes the measurement of small, dense LDL cholesterol concentration in a test specimen taken from a subject.
被験者から採取した被検試料中のsmall,dense LDLコレステロール濃度を測定することを含む、メタボリックシンドロームを検出する方法。 - 特許庁 - REPAIR DEVICE AND ITS REPAIR METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE SELECTIVELY PROGRAMMED IN TEST OF WAFER LEVEL OR POST PACKAGE
ウェーハレベルのテストまたはポストパッケージのテストで選択的にプログラムされる半導体メモリ装置のリペア装置及びそのリペア方法 - 特許庁 - To provide an analytical method, capable of easily and highly sensitively analyzing a substance to be analyzed contained in a test sample.
被検試料に含まれる分析対象物質を、簡便に、且つ高感度に分析することのできる分析方法を提供する。 - 特許庁 - To disclose a system, structure and method for performing scan-based testing of electronic circuits by generating a test clock for scan chains.
スキャンチェーンのテストクロックを生成して電子回路のスキャンベースのテストを実施するためのシステム、構造、及び方法が開示される。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for screening chemical substances that can be replaced with the living body test with saved labor.
労力が少なくかつ、生体試験に代わり得る化学物質のスクリーニング方法、およびそのための装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method and a device for rapidly and sensitively measuring an microorganism being an object of a microorganism test in a detecting device.
微生物検査の対象となる微生物を検出装置において迅速に感度良く計量することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a vehicle handling stability test method for evaluating the handling stability of a vehicle quantitatively.
車両の操縦安定性を定量的に評価する車両操縦安定性試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software.
本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and a test method thereof capable of performing quantitative evaluation stably and efficiently.
定量的な評価を安定して効率的に行うことが可能な半導体集積回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - CARTRIDGE FOR MONITORING FUNCTION OF DEVICE FOR TESTING BLOOD PLATELET ACTION, METHOD FOR FUNCTION MONITORING, AND USE OF TEST FLUID
血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY, CIRCUIT SUBSTRATE MOUNTING THIS SEMICONDUCTOR MEMORY, AND CONNECTION AND TEST METHOD OF THIS SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体記憶装置、この半導体記憶装置を搭載した回路基板、および、この半導体記憶装置の接続試験方法 - 特許庁 - To provide an ozone exposure test method high in reproducibility and reliability with respect to a water or moisture absorbable material to be tested.
吸水性や吸湿性の被試験試料に対する、再現性と信頼性の高いオゾン暴露試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a waveform comparison method and a test device for determining equivalence between waveforms.
本発明の課題は、波形間の等価性を判定するための波形比較方法及び試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.
データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test circuit and method for reducing time and cost of testing a schmitt trigger buffer.
シュミットトリガバッファのテストを短時間で行うことができ、テストコストを削減することができるテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To automatically determine existence or nonexistence of coliform in test water based on a synthetic enzyme substrate medium method.
被試験水中における大腸菌群の存否を合成酵素基質培地法に基づいて自動的に判定できるようにする。 - 特許庁 - To enable the presence or absence of Escherichia coli in a test water to be automatically judged based on a synthetic enzyme substrate medium method.
被試験水中における大腸菌の存否を合成酵素基質培地法に基づいて自動的に判定できるようにする。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTING ON/OF STATE OF ODT CIRCUIT DURING DATA READ MODE AND TEST METHOD OF STATE OF ODT CIRCUIT
データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法 - 特許庁 - To provide an accurate method for determining the acceptability of signal data collected from a prothrombin time (PT) test strip.
プロトロンビン時間（ＰＴ）検査ストリップから収集した信号データのアクセプタビリティを決定するための正確な方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a client-server program simulator system and simulation method for efficiently performing load test for a server program.
効率よくサーバプログラムの負荷試験を行うことのできるクライアント・サーバプログラムのシミュレータシステム及びシミュレーション方法を提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, BIST CIRCUIT, DESIGN PROGRAM FOR BIST CIRCUIT, DESIGN DEVICE FOR BIST CIRCUIT, AND MEMORY TEST METHOD
半導体集積回路、ＢＩＳＴ回路、ＢＩＳＴ回路の設計プログラム、ＢＩＳＴ回路の設計装置及びメモリのテスト方法 - 特許庁 - The structure 100 and method operable to provide ESD protection for protected circuitry 110 of automatic test equipment (ATE).
自動試験装置の保護対象回路構成(110)に対するＥＳＤ保護を提供するよう動作可能な構成(100)及び方法である。 - 特許庁 - To provide a measurement method and measurement device of the component concentration of an inspection liquid to be used for a wet type fluorescent magnetic powder flaw detection test.
湿式蛍光磁粉探傷試験に用いる検査液の成分濃度の測定方法および測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a recording method effective in setting an optimum recording condition while reducing frequency of test recording and a device.
テスト記録の回数を低減しつつ、最適な記録条件の設定に有効な記録方法および装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - In the dopant concentration evaluation method of the semiconductor device, a plane parallel to the measurement surface is formed in the test piece to be measured.
半導体素子の濃度評価方法は、まず、測定対象となる試料の測定面に平行な平行面を形成する。 - 特許庁 - To provide an improve device and a method for conducting tests on networks, an improved device for deciding the characteristics impedance of a network cable, an improved network test device suitable for conducting the test for short cable and an improved method and device for conducting the test on the network in an active state, without disturbing the network traffic.
ネットワークを試験するための改良された装置および方法、ネットワークケーブルの特性インピーダンスを決定するための改良された装置、短いケーブルを試験するのに適した、改良されたネットワーク試験装置、ネットワークトラフィックを乱すことなく、アクティブ状態のネットワークを試験するための改良された方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam lithography method and a charged particle beam lithography apparatus, capable of performing lithography in a desired position of a test piece, by a method which performs height measurement of the surface of the test piece with high precision reducing the effect of an offset voltage of a light receiving element, and by performing the height measurement of the surface of the test piece with high precision.
受光素子のオフセット電圧の影響を低減して、高精度で試料表面の高さ測定を行うことのできる方法と、高精度で試料表面の高さ測定を行うことにより、試料の所望の位置に描画することのできる荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for monitoring automatic test operation of a gas central heating system using a monitor, e.g. a failure diagnostic apparatus, in which the automatic test operation state and the results thereof can be grasped easily for each terminal apparatus.
故障診断装置等のモニター装置を使用して、ガスセントラルヒーティングシステムの自動試運転状態及びその結果を、端末機器ごとに容易に把握可能とする自動試運転モニター装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method and an inspection device for a semiconductor integrated circuit capable of verifying the quality of a test pattern, by grasping a voltage condition impressed to each transistor, in a reliability test.
信頼性試験において各トランジスタに印加される電圧状態を把握することによってテストパターンの良否を検証することができる半導体集積回路の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a channel collation test method by which an inverse multiplex converter can perform a channel collation test by itself so as to relieve the load on an operator thereby realizing a smooth channel restart job.
逆多重変換装置自身で回線対照試験を実行できるようにして、作業員の負荷を軽減して、円滑な回線再開業務を実現できるような、回線対照試験方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method and device for creating test patterns for a logic circuit capable of shortening the lengths of the test patterns created by an ATPG system for a sequential circuit and an ATPG system for a sequential circuit.
本発明は、順序回路用ＡＴＰＧシステム及び組み合わせ回路用ＡＴＰＧシステムが生成するテストパタン長を短縮できる論理回路のテストパタン生成方法及び装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method in which an offset characteristic can be corrected and improved when a test such as an EDS wafer test is made after the production of an MPD circuit, and to provide an MPD compensation circuit which has a uniform V_offset characteristic.
ＭＰＤ回路の生産後にＥＤＳウエハテストなどのテストの際にオフセット特性を修正および改善することが可能な方法を提示し、均一なＶ_offset特性を有するＭＰＤ補償回路を提供する。 - 特許庁 - To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.
本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
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