「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 108 109 110 111 112 113 114 115 116 .... 161 162 次へ＞- To provide a test head for a magnetic disk, such as a burnishing head and a glide check head, which ensures a flying stability in low flying; and to provide a method for manufacturing the magnetic disk using this kind of test head for the magnetic disk.
バーニッシュヘッド、グライドチェックヘッド等の磁気ディスク用テストヘッドにおいて、低浮上時の浮上安定性を確保した磁気ディスク用テストヘッドを提供し、このような磁気ディスク用テストヘッドを用いた磁気ディスクの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an integrated element test system capable of performing continuous exchange of a plurality of integrated elements and test operations in a state of preventing the occurrence of frost in an atmosphere at a very low temperature, and its method.
本発明は極低温の環境内で霜の発生を防止する状態で複数の集積素子の連続的な交換とテスト作業とを実行することができる集積素子テストシステム及びその方法を提供するにある。 - 特許庁 - An evaluation method of the risk of cardiovascular disease for evaluating the risk of future cardiovascular disease of a test subject, by using an LAB (LOX-1 ligand containing ApoB) concentration in sample body fluid taken from the test subject as an indicator is provided.
被験者から採取した体液におけるＬＡＢ（LOX-1 ligand containing ApoB）濃度を指標として、前記被験者における心血管障害の将来の発症リスクを評価する心血管障害発症リスクの評価方法が提供される。 - 特許庁 - The toner density estimating method includes: sensing photo-reflectance of a test pattern having a plurality of grayscales formed by using toner; and estimating a toner density based on a rate of change in the photo-reflectance sensed by the grayscales of the test pattern.
トナーを用いて形成された複数階調のテストパターンの光反射特性を検知し、テストパターンの階調による検知された光反射特性の変化率からトナーの濃度を推定するトナー濃度推定方法である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit test device and its method capable of efficiently performing a test of an object of writing, reading and eliminating the data, by a unit of a block of a specific size of a flash memory and the like.
フラッシュメモリ等の特定の大きさのブロックを単位として、データの書き込み、読み出し、及び消去を行う被試験対象の試験を効率的に行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.
ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁 - A similarity testing method is provided which compares sequence data transmitted from a malware performing wrong processing on other computers on the network and sequence data transmitted from software being a test object, with each other to test the similarity between them.
ネットワーク上で他のコンピュータに対して不正処理を行うマルウェアが送信する系列データと、検査対象のソフトウェアが送信する系列データとを比較してその類似性を検査する類似性検査方法を提供する。 - 特許庁 - This method for screening a medicine for therapy and/or prophylaxis of Crohn's disease comprises culturing the human intestinal macrophage in the presence of a test medicine and Sarcophaga lectin, and monitoring the inhibition by the test medicine in the TNF production by the macrophage.
被験医薬およびSarcophagaレクチンの存在下においてヒト腸管のマクロファージを培養し、被験医薬によるマクロファージのＴＮＦ産生の阻害をモニターすることを含む、クローン病の治療及び／又は予防のための医薬のスクリーニング法。 - 特許庁 - In a method for injecting grout in bedrock cracks under a saline groundwater environment, after a water test is conducted in a grout hole, a first grout injection of a low-concentration grout material set based on the water test result is conducted.
塩水系地下水環境下の岩盤亀裂に注入されるグラウト注入方法であって、グラウト孔からの水押し試験後に、該水押し試験結果に基づき設定された低濃度グラウト材による１次グラウト注入を行う。 - 特許庁 - This anti-pilling fabric comprising staple fibers has no minimum point in a time-anti-pilling property graph on an anti-pilling test by ICI method, and has an anti-pilling property of the third grade or higher after a five hour test.
短繊維からなる布帛であって、ＩＣＩ法による抗ピル試験時の時間−抗ピル性のグラフにおいて極小となる点を有さず、且つ５時間試験後の抗ピル性が３級以上である抗ピル性を有する布帛。 - 特許庁 - To realize a practical IC test system and a data transfer method in the IC test system in which a suitable system corresponding to pattern data is selected in the conventional transfer system and the transfer speed is improved.
本発明の課題は、従来の転送方式をパタンデータに応じた適切な方式を選択し、かつ転送速度の向上を図った実用的なＩＣテストシステム及びＩＣテストシステムにおけるデータ転送方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a friction test method and a friction tester capable of measuring stably a friction coefficient at a dry time by solving a problem of generation of a denatured layer of rubber having high adhesion generated on the surface of a rubber test piece.
ゴム試験片の表面に発生する粘着力の高いゴムの変成層の発生の問題を解決し、ドライ時の摩擦係数の安定した測定を行うことが可能な摩擦試験方法及び摩擦試験機を提供する。 - 特許庁 - A method is provided, which prints a series of test patterns 200 on a test substrate using a lithography projection apparatus in order to measure a critical dimension printed as a function of a preset value of the amount of exposure dose and a preset value of focal length.
印刷されたクリティカルディメンジョンを露光ドーズ量設定値および焦点設定値の関数として測定するために、リソグラフィ投影装置を使用して試験基板に一連の試験パターン２００を印刷する方法が提供される。 - 特許庁 - Further, a method for preventing the hepatitis B or screening of a therapeutic agent, including a third step of selecting a test article to reduce the amount of hepatitis B viruses in the culture supernatant or in cells to 50% or less by supplying the test article is also provided.
更に、被験物質の供給により培養上清中又は細胞内のB型肝炎ウィルス量が50％以下になる被験物質を選択する第３工程とを含むB型肝炎の予防又は治療剤のスクリーニング方法。 - 特許庁 - The method for inspecting the injector comprises using the fuel containing the fluorescent for hot oil tightness test and then using fuel not containing the fluorescent for reconditioning operation (S2), and then performing the performance test of the injector (S3).
インジェクタを検査するための方法において、蛍光剤を含有する燃料を用いて温間油密試験を行った後、蛍光剤を含まない燃料を用いて馴らし運転を行い、しかる後当該インジェクタの性能試験を行う。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a semiconductor device capable of realizing the cost reduction of an electrical characteristic test and that of a product by using existing test jigs and testing devices, and provide a carrier used for it.
既存の試験治具や試験装置を流用することによって電気的特性試験のコストダウン、さらには製品のコストダウンを実現することができる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるキャリアを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit, a test device for a semiconductor integrated circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit which can judge whether a semiconductor integrated circuit is defective or non-defective rapidly at a low cost by a simple constitution.
簡易な構成で高速かつ低廉に半導体集積回路の良否を判定することが可能な半導体集積回路、半導体集積回路の試験装置、及び半導体集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions.
透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a characteristic analyzing method by analysis using an inverse method for improving analyzing precision as the preliminary evaluation of a test in an actual vehicle supposing analysis using the inverse method.
インバース法を用いた解析を前提にし実車での試験の事前評価としての解析精度を向上することができる、インバース法を用いた解析による特性解析方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method for producing a model animal of abdominal pressure urinary incontinence, a method for screening a test specimen using the model animal and a more excellent method for detecting an abdominal pressure urinary incontinence in a subject animal.
腹圧性尿失禁症モデル動物の作製方法、前記モデル動物を用いて被検物質をスクリーニングする方法、および被検動物における腹圧性尿失禁症状のより良い検定方法を提供する。 - 特許庁 - LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, METHOD OF MEASURING DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION, ELECTROOPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT
発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器 - 特許庁 - A color development method of a phosphate ion contained in a test water by the generation of molybdenum blue comprises: a step of adding a first aqueous solution containing hexaammonium heptamolybdate, antimonyl potassium tartrate and sulfuric acid and a second aqueous solution containing an iodine salt and a hydroxyamine salt to the test water; and a step of heating a test water into which the first aqueous solution and the second test solution are added to 60°C or higher.
モリブデン青の生成による、検査水に含まれるりん酸イオンの発色方法は、検査水に対し、七モリブデン酸六アンモニウム、酒石酸アンチモニルカリウムおよび硫酸を含む第一水溶液並びにヨウ化物塩およびヒドロキシルアミン塩を含む第二水溶液を添加する工程と、第一水溶液および第二水溶液を添加した検査水を６０℃以上に加熱する工程とを含んでいる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method enabling an operator to easily grasp the test state of each lot even if a semiconductor integrated circuit of a different lot is arranged in a furnace of a thermostat used when performing a burn-in test, capable of shortening furthermore a time required for the test, and hereby capable of reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.
バーンイン試験を行う際に用いられる恒温層の炉内に異なるロットの半導体集積回路が配置されていても、作業者が各ロット毎の試験状況を容易に把握することができるとともに、試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - In the semiconductor memory device and its repair analyzing method, address data generated by the present test is stored in other one temporary buffer by storing selectively address data by a test using two temporary buffer 4 while one temporary buffer transmits address data generated by the previous test to a data buffer 5 and performs repair analysis, and a test and repair analysis can be performed simultaneously.
半導体メモリ装置及びそのリペア解析方法では、テストにより発生したアドレスデータを二つの臨時バッファ４を用いて選択的に貯蔵することにより、一つの臨時バッファが以前のテストにより発生したアドレスデータをデータバッファ５に伝送しリペア解析（repair analysis）を行う間、他の一つの臨時バッファには現在のテストにより発生したアドレスデータを貯蔵し、テストとリペア解析を同時に行うことができる。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a magnetic disk, by which reliability of the magnetic disk is evaluated so as to pass an endurance test of loading and unloading.
ロード・アンロード耐久試験にも合格することができる磁気ディスクの信頼性評価が可能な磁気ディスクの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a pattern forming method capable of securing the wide margin of exposure in test pattern formation and a mask used for the execution.
テストパターン形成における露光のマージンを広く確保することができるパターン形成方法およびこの実施に用いるマスクを提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card for performing a visual test by bringing it into contact with an electrode pad of a body to be inspected collectively, and to provide a manufacturing method for the probe card.
被検査体の電極パッドに一括接触させてビジュアルテストを実施するためのプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.
高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an estimation method of a durability of solder in which the durability of solder can be estimated without conducting a temperature cycle test for a long period.
長期間の温度サイクル試験を行うことなく、半田の耐久性を推定できる半田の耐久性の推定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test method for precisely and easily measuring the geometric altitude of an aircraft in a high altitude area and calibrating instruments of the aircraft.
高高度領域の航空機の幾何高度を精密かつ簡易に測定して当該航空機の計器を校正する試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a washing method for a servo valve capable of surely removing the hydraulic oil used in an operation verification test from the inside thereof in a short time.
動作確認試験で用いた作動油を内部から短時間で確実に除去することができるサーボ弁の洗浄方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a shading data inspection method capable of detecting lines with a similar margin, even near the center region and the end parts of a test chart.
中央付近でも端の部分でも同じようなマージンで線の検出を行うことが可能なシェーディングデータ検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a bolt flaw detecting method capable of more accurately detecting cracks on a bolt in a flaw examination test of serving bolt.
使用中のボルトの探傷検査において、ボルトのき裂をより精度良く探傷することができるボルト探傷方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide expressed details of simulated test paper for various kinds of tests, which enable the performance of effective exercises, and an expression method for them.
効果的な演習を行ない得るようにした各種試験に対する模擬テスト用紙の表現物、およびその表現方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a press-fit pin connection testing method, capable of detecting all the press-fit pin press-fitting defective modes using only electrical test.
電気検査のみにより全てのプレスフィットピン圧入不良モードを検出可能なプレスフィットピン接続検査方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a vibration characteristics testing device and a vibration characteristic test method suitable for investigating a characteristic of vibration damping by an elastic member.
弾性部材による振動減衰特性を調べるのに好適な振動特性試験装置および振動特性試験方法を提供する - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a stress-resistance of an out-door signboard, which are used to test the stress-resistance for the out-door signboard.
野立看板に対してその耐力を検査するための野立看板耐力検査装置と野立看板耐力検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an instrument and a method suitable for accurately measuring the mechanical strength of a wafer itself without cutting out a test piece from the wafer.
ウェーハを試験片として切り出すことなく、ウェーハ自体の機械的強度を精度よく測定するために好適な装置および方法の提供。 - 特許庁 - When a pre-packed sheet film is used for the X-ray films 16 and 17, this radiographic test method can be easily applied to even a curved surface of a tube, etc.
Ｘ線フィルム１６，１７として、プレパック型シートフィルムを使用すれば、管などの曲面に対しても容易に適用することができる。 - 特許庁 - To provide a method and a device for simulation of a tire model capable of obtaining the similar result to the result of a case for carrying out a drum test.
ドラム試験を行う場合と同様の結果を得ることができるタイヤモデルのシミュレーション方法、及びタイヤモデルのシミュレーション装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and its test method, capable of executing burn-in of a logic circuit and a memory simultaneously, using a simple constitution.
簡単な構成によりロジック回路とメモリを同時にバーンイン実施可能な半導体集積回路及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an evaluation method of acquiring a fracture toughness value directly from a monitor test piece of pressure container steel of a conventional BWR.
従来のＢＷＲにおける圧力容器鋼の監視試験片から、直接破壊靭性値を取得する評価方法を得ることにある。 - 特許庁 - In the method of starting the test mode, first it is determined whether or not the power button is depressed when the power supply switch is turned on by a user (S1).
テストモード起動方法は、先ず、ユーザによって電源スイッチがオンにされるときに、パワーボタンが押下されているかどうか判断する（Ｓ１）。 - 特許庁 - To provide a method for performing measurement concerning drive test minimization for a mobile device in a wireless communication system.
無線通信システムにおけるモバイル機器のためのドライブ試験の省力化（以下、ＭＤＴと称する）に係る測定を行なう方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method of a semiconductor device capable of testing an analog element highly accurately by using a digital tester having wide versatility.
汎用性の高いデジタル用テスタを用いて高精度にアナログ素子の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - In an environment where the radio connection is possible, even when used radio units are different, a communication connection test can be executed by a common method.
無線の接続が可能な環境では、使用無線ユニットが異なっていても、共通の方法で通信接続テストをすることを可能とする。 - 特許庁 - To provide a debug supporting method which uses the display part of a memory dump and performs a test operation to reduce time needed to debug program.
プログラムのデバッグに要する時間を短縮するために、メモリダンプの表示部分を使って、テスト操作を行うデバッグ支援方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method which can test and confirm an off-line exchange structure used by a network exchange having a surplus exchange structure.
余剰の交換機構造を有するネットワーク・交換機で使用するオフライン・交換機構造を試験し、確認することができる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an elution test device and method assembled in with collapse, solid transfer, elution, a pH/composition change of a liquid, absorption and a clearance.
崩壊、固体移送、溶出、液体のＰＨ／組成変化、吸収及びクリアランスを組み込んだ溶出試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for evaluating sensitivity to a solidification crack generated in the case of welding, particularly pipe welding, of a thin plate.
薄板の溶接、特に、薄板の造管溶接において発生する凝固割れ感受性を評価する試験方法を提供するものである。 - 特許庁
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