「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 109 110 111 112 113 114 115 116 117 .... 161 162 次へ＞- To provide a multiaxial load testing device and method capable of carrying out an accurate load test in a multiaxial state.
本発明は、多軸状態で精度のよい負荷試験を行うことができる多軸負荷試験装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a contact capable of preventing the shape from becoming flattened even when a burn in test is repeated, and its manufacturing method.
バーンイン試験を繰り返しても形状がへたってしまうことを防止することができる接触子およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scan chain formation method for suppressing the increase of delay elements and the increase of test costs while solving a timing error.
タイミングエラーを解消しつつも、遅延素子の増加及び試験コストの増大を抑制することのできるスキャンチェーン形成方法を提供する。 - 特許庁 - Each acquired shape classified by the region is connected by an aperture synthesis method, to thereby acquire the shape of the whole measuring region on the test surface 27a.
求められた各領域別形状を開口合成法により繋ぎ合わせて、被検面２７ａの測定領域全域の形状を得る。 - 特許庁 - To realize a tester simulation device and a test simulation method that obtain a degree of allowance of determination timing of an expected value in a short time.
期待値判定タイミングの余裕度を短時間に得られるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁 - PAD UNIT HAVING TEST LOGIC CIRCUIT AND METHOD OF DRIVING SYSTEM INCLUDING THE SAME
ノイズ除去機能を有する鎖テストのためのテストロジック回路が付加されたパッドおよびテストロジック回路が付加されたパッドを用いるシステムの駆動方法 - 特許庁 - To provide a method for realizing certain identification and a true test at comparatively less hardware cost and for recognizing or testing securities.
比較的わずかなハードウエア−費用で確実な識別及び真性テストを可能にする、有価証券を認識し又はテストする方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card for performing a visual test by bringing it into contact with an electrode pad of an inspecting object body at a time, and its manufacturing method.
被検査体の電極パッドに一括接触させてビジュアルテストを実施するためのプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To exactly position a test element, in a system and a method for examining a liquid sample, in particular, for measuring a glucose in blood.
液体試料の検査、とくに血中グルコース測定を行うためのシステムおよび方法において、テストエレメントの位置決めを的確に行うこと。 - 特許庁 - To provide a method of achieving an ion beam microscope that has high resolution and can reduce a damage to a test piece as much as possible during imaging.
高分解能でかつ撮像中に試料の損傷をできるだけ少なくできるイオンビーム顕微鏡を実現する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for displaying waveforms, capable of effectively identifying waveforms indicating test results on a display screen.
試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる波形表示装置および波形表示方法を提供する。 - 特許庁 - The system to carry out the method further comprises a signal generator to transmit test signals to the distal tip and reference electrodes.
方法を実施するシステムは更にテスト信号を遠位の先端の及び基準の電極へ伝送するために信号発生器を具備している。 - 特許庁 - To provide a method for processing the inspection current for the measurement of analyte in liquid by using a test strip and a inspection measurement apparatus.
テストストリップと、検査計測器とを使用して、液体の中の分析物の測定のために検査電流を処理する方法を提供すること。 - 特許庁 - To easily test a transfer route of an optical signal in response to optical wavelength with respect to an optical wavelength multiplexer and a method of confirming and controlling connections.
光波長多重装置及び接続確認制御方法に関し、光波長対応の光信号の転送経路の試験を容易にする。 - 特許庁 - To provide a method for predicting sensitivity or responsiveness to interferon (IFN) of a patient requiring IFN administration and a test cell.
ＩＦＮ投与を必要としている患者及び被検細胞のＩＦＮに対する感受性又は応答性を予測する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.
ＣＣ駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁 - To attain gas-insulation switching device, capable of performing repair work and withstand voltage test, by only stopping one overhead line and a withstand voltage testing method therefor.
架空線１回線の停止のみで修理と耐電圧試験を行うことができるガス絶縁開閉装置と耐電圧試験方法を得る。 - 特許庁 - To provide a test method for a semiconductor integrated circuit device for executing the tuning capable of coping with process variation.
プロセスばらつきに対して対応可能なチューニングを行うための半導体集積回路装置のテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To secure the wavelength dispersion measurement accuracy approximately equivalent to an interference method regardless of the optical path length of a device under test.
波長分散測定装置において、被測定物の光路長に関わらず、干渉法とほぼ同等の波長分散測定精度を確保する。 - 特許庁 - QUESTION AND ANSWER METHOD USING STATISTICAL TEST, QUESTION AND ANSWER SYSTEM, QUESTION AND ANSWER PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE PROGRAM
統計的検定を利用した質問応答方法，質問応答システム，質問応答プログラムおよび質問応答プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.
セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁 - According to such a device test method, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested with high precision without damaging the semiconductor device.
このような素子試験方法によれば、半導体素子に損傷が与えられず、且つ半導体素子の電気的特性が高精度に試験される。 - 特許庁 - To provide a method of mounting components and a surface mounting equipment capable of efficiently performing a test operation without affecting production of a substrate.
基板の生産に影響を与えることなく効率的に試し打ち作業を行える部品実装方法および表面実装機を提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of performing the reliability test of a joint part of an electronic part with a short testing time and a small number of samples.
試験時間が短く、かつ少ないサンプル数で電子部品の接合部の信頼性試験を行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for calibrating precisely an electronic test device in response to an environmental change such as humidity, a temperature or the like.
湿度及び温度等の環境の変化に対応して電子テスト装置を精度よく校正するための方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To easily and reliably prepare a program of a test device or the like by applying the method, for example, to a semiconductor device.
本発明は、例えば半導体試験装置に適用して、簡易かつ確実に試験装置等のプログラムを作成することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy.
検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a memory inspection method and memory inspection apparatus which reduces a test cost of a DUT by shortening a redundancy arithmetic processing time.
リダンダンシ演算処理時間を短縮してＤＵＴのテストコストを削減できるメモリ検査方法およびメモリ検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit device which can easily analyze the operation of a RAM, allowing a test method to have the degree of freedom.
ＲＡＭのテスト手法に自由度をもたせＲＡＭの動作解析が容易な半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an aptitude test method for lowering risk in recruitment and properly employing a staff with a truly valuable capability for a company.
採用時のリスクを低減し、その会社にとって真に優秀な人材を適切に採用することができる適性検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a connection device having a contact terminal capable of contacting in a multipoint system and with high density to a test object, and its manufacturing method.
検査対象について、多点かつ高密度で接触できる接触端子を有する接続装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Each piece of biological information acquired in time-series is segmented by time into segments using a statistical method, such as t-test or the like.
そして、この時系列に取得されたそれぞれの生体情報を、例えば、ｔ検定等の統計的手法を用いて時間毎に分割する。 - 特許庁 - To provide a method, and the like for evaluating an improvement effect or a risk reduction effect of future development of arteriosclerosis possessed by a test substance.
被験物質が有する動脈硬化の改善効果又は将来の発症リスクの低減効果を評価する方法等を提供する。 - 特許庁 - To provide a quality control method of electronic parts capable of setting a load condition for a burn-in, an accelerated test, or the like in a short time.
バーンインや加速試験のための負荷条件の設定などを短時間で行うことのできる電子部品の品質管理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a freshness measuring method for food and drink, requiring only a short measuring time, having sensitivity not inferior compared with an organoleptic test, and capable of numerizing evaluation.
測定時間が短くて済む、感度が官能検査に劣らない、評価が数値化できる飲食物の鮮度測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a program and method for easily generating a test item table from a source code.
ソースコードからテスト項目表を容易に生成できるテスト項目表生成プログラム及びテスト項目表生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a work carry-in/out method shortening the time required for carrying in/out a work (seismic isolation rubber) to/from a test machine.
本発明は、試験機へのワーク（免震ゴム）の搬入搬出に要する時間を短くできるワーク搬入搬出装置を得ることにある。 - 特許庁 - To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.
テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for determining the measured density value of a test exposure dot accurately in order to correct uneven brightness of an optical print head accurately.
光プリントヘッドの輝度むら補正を正確なものにするため、テスト露光ドットの測定濃度値を正確に求めるための方法を提供する。 - 特許庁 - Further, a method for performing a highly accurate power supply voltage variation test by using a power supply current expressed as a function of a time is also disclosed.
また、時間の関数として表した電源電流を用いて、高精度な電源電圧変動検証を行う方法についても開示する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an integrated radio circuit device which can perform an efficient operation test, an integrated radio circuit device, and electronic equipment.
効率的な動作試験ができる無線集積回路装置の製造方法、無線集積回路装置及び電子機器等を提供すること。 - 特許庁 - To provide a hardness testing machine and a hardness testing method that can perform an automatic test independent from an error of an inclination and a flatness of a sample.
試料の傾きや平面度の誤差に依存せず、自動試験を行うことのできる硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁 - STRUCTURE EXAMINATION METHOD BY INFRARED CAMERA, STRUCTURE TEMPERATURE ENVIRONMENT MONITORING SYSTEM, STRUCTURE PHOTOGRAPHING TIME NOTIFICATION SYSTEM, AND STRUCTURE TEST BODY
赤外線カメラによる構造物の調査方法、構造物の温度環境監視システム、構造物の撮影時期報知システム、構造物の試験体 - 特許庁 - A bootstrap circuit relating to a word line is made disable when data is written in a memory cell during a test operation period by this method.
本発明によれば、テスト動作期間中にメモリセル内にデータを書込む場合にワード線に関連するブートストラップ回路をディスエーブルさせる。 - 特許庁 - To provide a scan path circuit design method or the like which allows a scan path test to be performed for a logic circuit designed by gated clock design.
ゲーティッドクロック設計により設計された論理回路に対してスキャンパステストを実行可能なスキャンパステスト回路設計方法等を提供する。 - 特許庁 - Further, a method for manufacturing the test pieces by means of a thermal transfer technique is provided to supply the hydrophobic barriers.
さらに、上記疎水性のバリヤーを供給するために熱転写技法により本発明の試験片を製造するための方法も提供する。 - 特許庁 - This screening method is characterized by bringing a test substance into contact with the glomerulus isolated and prepared from a non-human mammal.
非ヒト哺乳類の単離及び調製された糸球体と被験物質を接触させることを特徴とするスクリーニング方法を見出した。 - 特許庁 - To provide a test method of a semiconductor device, which has high detection sensitivity of a defective cell that will be actualized due to deterioration of a threshold, such as defective SNM.
ＳＮＭ不良など閾値低下により顕著化する不良セルの検出感度が高い半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - TESTING DEVICE, HOLDER FOR TEST STRIP, KIT FOR DETECTING PRESENCE OF ANALYTE IN SAMPLE, AND METHOD FOR DETECTING ANALYTE IN SAMPLE
試験装置、試験ストリップのためのホルダ、サンプル中の分析物の存在を検出するためのキット、及びサンプル中の分析物を検出する方法 - 特許庁 - MONOCHRONAL ANTIBODY SELECTIVELY RECOGNIZING LISTERIA MONOCYTOGENES, HYBRIDOMA PRODUCING THE MONOCHRONAL ANTIBODY, TEST KIT CONTAINING THE MONOCHRONAL ANTIBODY, AND DETECTING METHOD USING THE MONOCHRONAL ANTIBODY
リステリアモノサイトゲネスを選別的に認知するモノクローナル抗体、これを生産するハイブリドーマ、これを含む試験キット及びこれを使用した検出方法 - 特許庁
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