「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 112 113 114 115 116 117 118 119 120 .... 161 162 次へ＞- To provide a method capable of further accurately determining a periodic energy consumption of a dwelling house with air conditioning equipment set therein by a short-period monitor test.
空調機器が設置された住宅の期間エネルギー消費量を、短期間のモニター試験で、より正確に求めることができる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a piezoelectric device which can pass a reliability test, improves adhesion strength with a mount substrate and further can be mass-produced, and a method of manufacturing the piezoelectric device.
信頼性試験に耐え、実装基板との密着強度も向上し、且つ量産できる圧電デバイスおよび圧電デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a resistivity measuring method and resistivity measuring device capable of easily, continuously and positively measuring the resistivity of a test piece.
試験体の比抵抗を簡易且つ連続的で確実に測定することの可能な比抵抗測定方法及び比抵抗測定装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.
任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an insulation test method capable of easily and mass productively testing insulation of a battery structure body with high reliability, and to provide a device therefor.
電池構造体について信頼性の高い絶縁検査を容易、かつ量産的に実施できる絶縁検査方法、および絶縁検査装置の提供。 - 特許庁 - To provide an IC tester and a testing method capable of testing characteristics of thin-type-display drivers when their output changes while reducing the test time.
試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁 - In the immunochromatographic analysis method, a test material in a sample is labeled by a labeling substance, captured by an immobilized capture antibody, and detected.
試料中の被検物質を標識物質により標識するとともに固定化された捕捉物質により捕捉して検出するイムノクロマト分析法である。 - 特許庁 - To provide an electrooptic device which can locate the short-circuited position of the wiring within a short time, and provide its test method and an electronic device.
配線の短絡不良位置を短時間で特定することができる電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for determining the presence of significant difference from the life between two lots obtained in an accelerated test and calculating life difference due to magnification.
加速試験で得られた２つのロット間寿命から有為差有無の判定、および倍率による寿命差を算出する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a discharge test method having good repeatability and using a membrane causing a compound being an effective constituent to freely pass therethrough independently of the passage of time.
再現性良く、時間経過に関わらず、有効成分である化合物が自由に通過できる膜を用いた放出試験法の提供にある。 - 特許庁 - To provide a test method for testing a general-purpose memory incorporated in a multi-chip module without preparing a special circuit for the testing.
本発明は、試験用の特別な回路を設けることなくマルチチップモジュール内蔵の汎用メモリを試験する試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an evaluation method for intra-furnace hearth roll build up resistance having the high correlation between an evaluation test result and an actual used result, and a device therefor.
評価試験結果と実践の使用結果との間の相関性が高い加熱炉内ハースロール耐ビルドアップ性評価試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a braking force testing device and method capable of carrying out a braking force test without colliding with a cage or a balance weight.
かごあるいは釣合錘を衝突させずに制動力試験を実行できるエレベータ用巻上機ブレーキの制動力試験装置および方法の提供。 - 特許庁 - To provide a random verification method and device for surely verifying all the available operations of a test object circuit.
本発明は、試験対象回路の可能な動作の全てについて確実に検証可能なランダム検証方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a testing method of rolling-contact fatigue life for investigating the durability under foreign substance mixing lubrication while suppressing variation in test result.
試験結果のばらつきを抑制しつつ、異物混入潤滑下における耐久性を調査することが可能な転動疲労寿命の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device requiring no external source of sodium or other electrolyte, capable of producing a self-suppression type eluent, requiring no second suppressor column, and suited to analyzing both cation and anion in a single test sample.
外部のナトリウムまたは他の電解質の源を必要としない、その場で溶離剤を生成する装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image recorder and an image recording method which can output a good image by suppressing the effect of defective print of a test pattern for correcting density.
濃度補正用テストパターンの印字不良の影響を抑え、良好な画像出力を行うことができる画像記録装置、画像記録方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a judgement method and a device suitable for judgement of roughness of a line and a space pattern formed on a test piece.
本発明の目的は、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method and system for synchronizing phases and frequencies between channels of automatic test equipment (ATE) even at different frequencies.
異なる周波数でも可能な、自動テスト装置（ＡＴＥ）のチャネル間の位相と周波数同期化を提供することのできる方法およびシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide an optical pulse tester capable of measuring the characteristic in the longitudinal direction of an optical fiber by a precise wavelength, and a test method using the optical pulse tester.
光ファイバの長手方向の特性を精密な波長により測定可能な光パルス試験器、及び該光パルス試験器を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a program inspection device, a program inspection method, and a program inspection program, shortening test time while reducing an inspector's labor.
検査者の労力を減じ、また、テスト時間を短縮することができる、プログラム検査装置、プログラム検査方法、及びプログラム検査プログラムを提供する。 - 特許庁 - The method generates the test pattern that is hardly perceptible to human observation, but detectable by an imaging device in a printer on an image receiving member.
方法が、人間観察に知覚されにくく、それにもかかわらずプリンタの中の画像装置により検出可能なテストパターンを受像部材上に生成する。 - 特許庁 - Evaluation of sensitization reinforcing action or suppressing action of the test substance to the sensitizing substance is also possible by the method.
また、本発明は、感作性物質に対する被験物質の感作性増強作用、又は、感作性抑制作用についても評価することが可能である。 - 特許庁 - To provide a refresh apparatus for a semiconductor memory device in which normal cell and a redundant cell can be a simultaneously refreshed and a test time can be shortened, and a refresh method.
ノーマルセルとリダンダントセルとを同時にリフレッシュさせ、テスト時間の短縮が可能な半導体メモリ素子のリフレッシュ装置及びリフレッシュ方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for a non-volatile semiconductor memory by which quantity of disturbance and margin of disturbance can be tested and evaluated surely and in a short time.
ディスターブ量及びディスターブマージンを正確に短時間で試験評価することができる半導体不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical disk recording method, an optical disk recording device, and an optical disk which prevent noise from occurring due to a part written in an outer peripheral-side test area on trial.
外周側テスト領域に試書きされた部分に起因するノイズの発生を防止した光ディスク記録方法及び装置並びに光ディスクを提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method of a probe card, which enables a user to correctly know a replacement time of the probe card, based on a result of a conduction test in the probe card.
プローブカードにおける導通試験の結果に基づきプローブカードの交換時期を的確に知ることのできるプローブカードの検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a failure in a path between a data input/output pad and a test pad and a failure in a circuit in the middle of the path.
データ入出力パッドとテストパッド間の経路や当該経路途中の回路の不良を検出することを可能とする方法を提供する。 - 特許庁 - To provide improved high-frequency characteristic measurement system (10) and method for measuring characteristics of a high-frequency characteristic test object such as an antenna (12).
アンテナ（１２）などの高周波特性試験対象物の特性測定を行うための改良した高周波特性測定システム（１０）及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device capable of rapidly and precisely assessing the shearing fatigue characteristics of a rolling contact metal material by a test.
転がり接触する金属材料のせん断疲労特性を、試験により迅速に、かつ精度良く評価できる方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a thermal inspection system and method including an external flow covering a componenet under test in order to construct proper film cooling and an aerodynamical power dispersion.
適切なフィルム冷却及び空力分散を構築するために供試の構成要素を覆う外部流を含む熱検査システム及び方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of combining an impulse waveform which is used for an impulse response spectrum test and has a short time difference in appearing the impulse response spectrum.
衝撃応答スペクトルが現れる時間の差の短い、衝撃応答スペクトル試験に使用される衝撃波形を合成する方法に関する。 - 特許庁 - The expression level of a gene expressing the hepatocellular carcinomas at a low level in a test tissue is detected by the method for detecting the hepatocellular carcinomas and a detection tool.
被検組織における肝細胞癌低発現遺伝子の発現レベルを検出することを特徴とする、肝細胞癌の検出法および検出ツール。 - 特許庁 - To provide a cavity testing method of concrete construct which can test a cavity for its presence and degree by boring only a single hole into the cavity.
空洞に対し１カ所への穿孔でその空洞の有無と程度とを検査することの可能なコンクリート構造物の空洞検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To enable a concentrated ammonium hydrosulfide environment to be reproduced at a laboratory level, and establish a test method capable of evaluating resistance to corrosion of a material easily and precisely.
実験室レベルで高濃度水硫化アンモニウム環境の再現を可能にし、容易且つ高精度で材料の腐食性を評価し得る試験法を確立する。 - 特許庁 - To provide an on-vehicle organic pollutant measuring device equipped with a movable large-sized test chamber, and an organic pollutant measuring method using the device.
移動可能な大型の試験用チャンバを備えた車載型有機汚染物質測定装置およびこれを用いた有機汚染物質測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of facilitating control of a BOST device, and improving versatility.
ＢＯＳＴ装置の制御の容易化を図ると共に、汎用性を向上することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an evaluation method of a test article that can evaluate a substance for suppressing stimulation by perfume materials or perfume oil with an easy operation.
香料および／または香油による刺激を抑制する物質を簡便な操作で評価することができる被験物質の評価方法を提供すること。 - 特許庁 - A reproduced heat-cycle test is conducted as a method for confirming fine dispersion of the oxide, and the quality control is executed, based on a Charpy impact value or an original γ particle size.
酸化物微細分散を確認する方法として、再現熱サイクル試験を実施し、そのシャルピー衝撃値または旧γ粒径で品質管理を実施する。 - 特許庁 - To provide a method for an assembly of many contact points type probe which is easy configuration in order to perform a high-frequency test of an integrated circuit or other microelectronics elements.
集積回路または他のマイクロエレクトロニクス素子の高周波試験を行うための、構成が容易な多接点型プローブの組み立て方法を提案する。 - 特許庁 - To provide an inspection device for patterned media and an inspection method in which a mass production test of patterned media is performed with simple constitution especially.
特に、簡単な構成にて、パターンドメディアの量産テストが可能なパターンドメディア用検査装置及び検査方法を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a method for testing inhibiting test time from increasing while preventing a normal semiconductor integrated circuit from being determined to be defective.
正常な半導体集積回路が不良と判定されることを防止しながら、試験時間の増大を抑制することが可能な試験方法を提供する。 - 特許庁 - The woven or knitted fabric is obtained by using the spun yarn in the double layer structure, and has ≥2.2 bacteriostatic activity value measured by the antimicrobial test method regulated by JIS L1092.
前記二層構造紡績糸が用いられてなり、ＪＩＳＬ１０９２に規定する抗菌性試験方法による静菌活性値が２．２以上である織編物。 - 特許庁 - This invention is directed to a method and apparatus for analyzing molecular structures within a sample substance using an array having a plurality of test sites upon which the sample substance is applied.
サンプル物質を適用する複数の試験部位を有するアレイを使用してサンプル物質中の分子構造体を分析するための方法および装置。 - 特許庁 - To provide the testing method of the physical layer chip of IEEE1394 Standards, which can conduct a system test, without having to construct an expensive and complicated system.
高価で複雑なシステムを構築せずにシステムテストを行うことができるＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップのテスト方法等を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming system and fault discrimination method in which a fault can easily be segmented by using particular test data.
特別なテストデータを用いることで簡単に障害の切り分けを行えるようにした画像形成システムおよび障害判別方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electric test system and method, efficiently performing a short circuit checking inspection and a capacitor reverse mounting checking inspection.
短絡確認検査及びコンデンサ逆実装確認検査を効率的に実施可能な電気的試験システム及び電気的試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test piece having a large number of corners to be used for the measurement of the performance of metal detectors, its adjustment, etc. and to provide its manufacturing method.
金属検知器の性能測定、及びその調整等に用いるためのもので、角部分が多いテストピース、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for measuring a tensile stress capable of applying a large grip force to a grip head and performing a high-speed test.
掴みヘッドのところに大きな掴み力を及ぼすことができ、高速試験を行うことができる、引張り応力の測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device which tests the on/off state of a ODT circuit during a data read mode, and also to provide a test method of the state of the ODT circuit.
データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法を提供する。 - 特許庁
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