「Test method」を含む例文一覧(8057)

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  • To provide a semiconductor integrated circuit device such as a semiconductor memory or the like which can be tested with a frequency exceeding the specifications of a tester and its test method.
    テスタの仕様を越えた周波数でテストすることができる半導体メモリなどの半導体集積回路装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • An electrical double layer capacitor or the like requiring an overload test between the former inspection process and the latter inspection process can be inspected by the inspection method.
    この検査方法によって、前検査工程と後検査工程との間に過負荷試験を必要とする電気二重層コンデンサ等を検査することができる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory and its test method which can detect a cell in which operation defect occur at the time of long-write in a short time.
    ロングライト時に動作不良が発生するセルを短時間に検出することができる半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁
  • DIELECTRIC BREAKDOWN TEST METHOD OF SUBSTRATE MATERIAL FOR PRINTED WIRING BOARD AND PRINTED WIRING BOARD BY VOLTAGE IMPRESSION FOR LONG TIME OR REPETITIVE VOLTAGE APPLICATION
    プリント配線板用基板材料およびプリント配線板の長時間電圧印加あるいは繰り返し電圧印加による絶縁破壊試験方法 - 特許庁
  • To provide a testing method for confirming the compatibility of an ink-jet printer without actually replacing an ink-jet head cartridge and executing a printing test.
    実際にインクジェットヘッドカートリッジを交換して印字検査を行うことなく、インクジェットプリンタの互換性を確認することができる検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a built-in self test controller and a programmable method by which the selection and modification of an algorithm applied to a related memory to be tested are attainable.
    ビルト・イン・セルフ・テスト・コントローラと、関連するテストされるメモリに適用されるアルゴリズムの選択及び変更を可能にするプログラマブルな方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a jitter-measuring apparatus and a method thereof, which facilitates measuring very small natural jitters of an oscillation output from an oscillator under test.
    本発明は、被測定発振器の発振出力の非常に小さい固有ジッタを容易に測定できるジッタ測定装置とその測定方法を提供する。 - 特許庁
  • A new solder material is easily developed by storing the data of metal structures and cooling rates that are obtained by a manufacturing method of solder test strips.
    はんだ試験片の作製方法で得られた金属組織と冷却速度のデータを蓄積利用することにより、新規のはんだ材料の開発が容易になった。 - 特許庁
  • A permeated water amount of the coating 3 on the sealer after curing measured by a water resistance test by the frame leaving method is 5000 g/m^2 or less.
    養生硬化後のシーラーの塗膜3の、枠置き法による耐透水性試験で測定される透水量が、5000g/m^2以下となるようにする。 - 特許庁
  • To provide a failure detection circuit and a failure detection method capable of easily detecting the failure with a test pattern prepared in a memory BIST circuit.
    メモリBIST回路が持つテストパターンにより容易に故障検出することが可能な故障検出回路、および故障検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for promptly measuring pattern dependence in film thickness, etc., by using nondestructive test of surface shape for an optional chip section on a semiconductor wafer.
    半導体ウェハ上の任意のチップ領域の表面形状を非破壊で検査することによって膜厚のパターン依存性等を迅速に計測すること。 - 特許庁
  • When a sufficient number of values are collected, a t0 value for each axle shaft is calculated in accordance with a paired t-test statistical method or its slight deformation.
    十分な数の値が収集されたとき、t_0値は、対t検定統計方法又はその僅かな変形に従って各車軸に対して計算される。 - 特許庁
  • To provide a method for controlling voltage generators adapted for use in wafer burn-in test, and to provide a control circuit for operation control of the voltage generators.
    ウェハバーンインテストに使用するに適合した電圧発生器の制御方法及びその電圧発生器の動作制御のための制御回路を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for estimating a bleeding channel, which can economically bring about a result equivalent to that of a simple permeability test in a short period of time.
    短時間で経済的に、簡便な透水試験と同等の結果を得ることができる水みち推定方法および水みち推定装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an inspection method for an electronic instrument for easily executing a test of a device without occupying storage capacity included in the device while saving time.
    装置内蔵の記憶容量を占有することなく手間が掛からず簡単に装置のテストを実行できる電子機器の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for attaining accurate and highly reproducible quantitative value on the action and/or effect of a test substance on a cell.
    細胞に対する被検物質の作用および/または効果について、精度よく再現性の高い定量値を得る方法等を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a wind resistance testing device using no wind tunnel and a method for wind resistance test by which the stability of the wind resistance of a model which is an object to be tested for wind resistance can be confirmed.
    風洞を用いない耐風試験装置と耐風試験対象物である模型の耐風安定性を確認する試験の方法を実現する。 - 特許庁
  • To provide a test method allowing accurate evaluation of speech quality between terminals used for an actual telephone call and a state of an actual speech channel during operation.
    運用時における実際の通話路の状態や実際に通話を行う端末間の通話品質を正確に評価可能な試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To attain a tester simulation system for modifying wide use format data by accompanying modification of a test program, and to attain a tester simulation method.
    テストプログラムの変更に伴って、汎用フォーマットデータの変更が行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁
  • To provide a method for measuring the presence and concentration of a GCPR ligand in a test sample including a biological or environmental sample.
    本発明は、生物学的サンプルおよび環境サンプルを含む試験サンプルにおけるGCPRリガンドの存在および濃度を分析する方法に関する。 - 特許庁
  • This method further comprises a step of executing the test case on a different processor and taking an action, and reporting that the action was taken to the originating processor.
    本方法は、テスト・ケースを異なるプロセッサ上で実行してアクションを行い、アクションが行われたことを親プロセッサに対して通知するステップをさらに含む。 - 特許庁
  • To provide a method of measuring a film thickness of an insulating film which enables film thickness measurement of an insulating film made of a material having different properties from a calibration test piece.
    校正試験片と物性の異なる材料の絶縁膜の膜厚測定を可能とする絶縁膜の膜厚測定方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a generating method for a control system design model for a float which can easily obtain the control system design model for the float without conducting a test, etc.
    浮体の制御系設計モデルを試験等を実施することなく容易に得ることが可能な浮体の制御系設計モデルの作成方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and method for automatically producing test pattern by which a corrected part can be activated by detecting the difference between an uncorrected circuit and a corrected circuit.
    修正前回路と修正後の回路の差分を検出し、修正箇所を活性化しうるテストパタンを自動生成する装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method and device that can confirm which of segmentation/reassembly functions of an ATM adaptation layer AAL1-cell division assembly SAR function block has a fault.
    AAL1−SAR機能ブロックのセグメンテーション/リアセンブリ機能のどちらに障害が発生しているかを判別する試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method of a pharmaceutical composition on the activity for maintaining a neuron function of a patient, and preventing its loss, and/or recovering it.
    患者の神経細胞機能を維持し、喪失を防止し、および/または回復させる活性についての該薬物のテスト方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide method and system for planarizing of semiconductor contactor, attaining flatter relation, with regard to probe card assembly, and more specifically, between contacting element and device under test on the probe card assembly.
    プローブカードアセンブリに関し、より具体的には、プローブカードアセンブリ上の接触要素と被試験デバイスとの間で、より平坦な関係を達成する。 - 特許庁
  • To provide an accelerated weathering test apparatus and method for calibration and operation thereof provided with a spectroradiometer for monitoring a full spectrum distribution of a light source.
    光源の全スペクトルパワー分布をモニタリングするための分光放射計を備えた促進耐候性試験装置ならびにその校正および運転の方法。 - 特許庁
  • ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM, AUTOMATIC PHONE ANSWERING DEVICE IN ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM AND TEST METHOD IN ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM
    変電所監視制御システム、変電所監視制御システムにおける電話自動応答装置および変電所監視制御システムにおける試験方法 - 特許庁
  • To provide a high frequency generating method and device therefor low in cost, miniaturizable as a whole and suitable for the operation test of integrated circuit.
    低価格な上に装置全体の小型化が実現でき、集積回路の動作試験などに好適な高周波発生方法およびその装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a method for testing a gene, capable of acquiring useful diagnostic support information, even when a large amount of a substance which inhibits amplification of a nucleic acid is contained in a test sample.
    測定試料に核酸増幅を阻害する物質が多く含まれている場合でも、有用な診断支援情報を得る遺伝子検査方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a method for supplying burn-in power and a burn-in board, which allow efficient burn-in test operation for a semiconductor device, and to provide a semiconductor device suitable therefor.
    半導体装置のバーンインテスト工程の効率化に向けたバーンイン電源供給方法、バーンインボード及びそれに好適な半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic flaw detector and ultrasonic flaw detecting method for preventing generation of an air bubble on a surface of a device under test.
    本発明の目的は、被検体の表面で気泡が発生することが防がれる超音波探傷装置及び超音波探傷方法を提供することである。 - 特許庁
  • In addition, in the case of an imaging apparatus, the method includes confirming the swing of images in the vibration test on a screen, and confirming the measure before job-site installation to be installed after the measure.
    また、撮像装置の場合には、振動試験中の画像の揺れを画面で確認し、その対策を現地据付け前に確認し、対策後据付ける。 - 特許庁
  • To provide a VoIP(Voice over IP) system and test method of it reducing the time for data matching for the identification of sound normality to improve operability.
    音声正常性の確認のためのデータ照合時間の短縮と操作性を改善したVoIPシステムおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for forming a terminal via on a semiconductor substrate so that a metallic conductor in a test block can be prevented from being damaged in an etching process.
    試験区域の金属導線がエッチングの過程において破損しないよう、半導体基板上に端末バイア(terminal via) を形成する方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a leak test method for a vessel capable of providing sure sealing capability while preventing buckling deformation of a bottle and of restraining increase of a device cost.
    ボトルの挫屈変形を防止しながら確実なシール性が得られ、装置コストの上昇も抑えることができる容器の漏洩試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an accelerated weathering test apparatus including a spectroradiometer for monitoring a full spectrum power distribution of a light source, and a method for calibration and operation thereof.
    光源の全スペクトルパワー分布をモニタリングするための分光放射計を備えた促進耐候性試験装置ならびにその校正および運転の方法。 - 特許庁
  • To provide an interconnection network which can execute a function test by itself and to provide a self-diagnostic system and a method of the interconnection network.
    相互結合網単体で機能試験の実施が可能な相互結合網、相互結合網自己診断システム及び相互結合網自己診断方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.
    対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁
  • The screening method comprises evaluating whether a test substance increases or not the expression of HB-EGF in skeletal muscle cells.
    また、本発明のスクリーニング方法は、被験物質が、骨格筋細胞においてHB−EGFの発現を増加させるか否かを評価することを含むものである。 - 特許庁
  • To provide a rubber testing machine capable of controlling the abrasion conditions and fatigue conditions, respectively independently, and to provide a rubber test method which uses the testing machine.
    摩耗条件と疲労条件とを各々独立して制御し得るゴム試験機、及びかかる試験機を用いたゴム試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for verifying logic circuit design, capable of performing logic verification without preparing for test patterns.
    テストパタンの準備を行うことなく論理検証を実行できる論理回路設計検証装置及び論理回路設計検証方法を提供すること - 特許庁
  • To provide an apparatus and method for reducing the traffic over the communication bus (31) between the host processing unit and an emulator server unit during the test of a target processing unit (36).
    ターゲット処理ユニットのテスト中に、ホスト処理ユニットとエミュレータ・サーバ・ユニットの間の通信バスのトラフィックを減らす装置と方法を提供する。 - 特許庁
  • This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).
    源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置(ATE)を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device and its inspection method, capable of performing inspection of the electrical properties of its internal circuit with satisfactory accuracy and by using a few test pads.
    内部回路の電気特性が少数のテストパッドで、且つ十分な精度で検査できる半導体装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁
  • PHASED SCAN EDDY CURRENT ARRAY PROBE AND PHASED SCANNING METHOD FOR PROVIDING COMPLETE AND CONTINUOUS COVERAGE OF TEST SURFACE WITHOUT SCANNING MECHANICALLY
    同期式走査渦電流アレイプローブ及び機械的に走査することなく検査面の完全で連続的な到達範囲を提供する同期式走査方法 - 特許庁
  • To provide a method of minimizing steam boiler pressure changes or turbine power changes during turbine control valve (28) operational safety test stroking.
    タービン制御弁(28)動作安全試験工程中の蒸気ボイラ圧力変化またはタービン出力変化を最小限に抑える方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a solid electrolytic capacitor and a method of manufacture thereof which reduce leakage current and increase reliability in a high temperature load test.
    漏れ電流を低減することができ、高温負荷試験における信頼性を高めることができる固体電解コンデンサ及びその製造方法を得る。 - 特許庁
  • To provide an access method by which the number of input pins of a memory can be decreased in order to reduce electrical wiring density of a memory module, and to save test costs of a memory chip.
    メモリモジュールの電気配線密度を減らし、メモリチップの試験費用節減のために、メモリの入力ピン数を減少できるアクセス方法を提供する。 - 特許庁
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