「Test method」を含む例文一覧(8060)
＜前へ 1 2 .... 113 114 115 116 117 118 119 120 121 .... 161 162 次へ＞- To provide a method for measuring a tensile stress capable of applying a large grip force to a grip head and performing a high-speed test.
掴みヘッドのところに大きな掴み力を及ぼすことができ、高速試験を行うことができる、引張り応力の測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device which tests the on/off state of a ODT circuit during a data read mode, and also to provide a test method of the state of the ODT circuit.
データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for generating test conditions for efficiently detecting delay failure while preventing the occurrence of overkill.
オーバーキルの発生を防止しながら遅延性故障を効率よく検出することができるテスト条件の生成方法およびテスト条件生成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a drawing apparatus capable of drawing a test pattern for adjusting alignment at a high speed and at a high adjusting resolution level, and to provide a drawing method.
アライメント調整用のテストパターンを高速且つ高い調整分解能レベルで描画可能な描画装置、および描画方法を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a system and method for test by which a device to be tested can be tested for an A/D- or D/A-converting function by using a memory tester.
メモリテスタを用いて被試験デバイスのＡＤ変換機能またはＤＡ変換機能の試験が可能なテストシステムおよびテスト方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a test method by which a defective product, in which there is possibility of unexpected rewriting of data, can be eliminated surely as to a nonvolatile semiconductor memory.
不揮発性半導体記憶装置について、不測のデータの書換を生じ得る不良品を確実に排除し得るテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a model parameter sampling method and circuit simulation system, wherein the correlations between characteristics that test elements come to assume due to their assigned locations are reflected in model parameters.
素子が配置される位置による特性の相関をモデルパラメータに反映させたモデルパラメータ抽出手法および回路シミュレーションシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a laser power adjusting method and an optical recording and reproducing apparatus in which optimum laser power can be set smoothly and appropriately with less number of times of test writing.
少ない試し書き回数にて円滑且つ適正に最適レーザパワーを設定できるレーザパワー調整方法および光記録再生装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a pile loading test method capable of realizing a reduction in a construction cost as well as an environmental load while accurately obtaining allowable bearing capacity of a pile.
杭の許容支持力を正確に把握しつつ、施工コストの削減および環境負荷の低減を実現できる杭の載荷試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a novel method and a device capable of detecting not only the number of particulates contained in a test liquid but also a particle size distribution of the particulates and the like.
被検液中に含まれる粒子の数だけではなく、粒子の粒径の分布等をも検出することができる新規な方法と装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device capable of conducting a leakage test of a spout body of which a tip end is closed by seal material, easily in a short period of time.
シール材で先端を閉じた注出口本体を簡単に且つ短時間でリークテストすることを可能とする方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for measuring a rim displacement, capable of precisely measuring the rim displacement in an actual vehicle test.
実車試験においても、リムずれ量を精度良く測定することができるリムずれ量測定装置およびリムずれ量測定方法を提供すること。 - 特許庁 - Calibration is performed by acquiring an S parameter by using an unknown-though method, with an RF power source, two cables, a multi-stage impedance module and a test port connector.
ＲＦ電源、２つのケーブル、マルチステートインピーダンスモジュール、テストポートコネクタを有し、アンノウンスルー法を用いてＳパラメータを取得してキャリブレーションを行う。 - 特許庁 - To provide a test-run construction management method for equipment in which progress management at a plurality of steps can be automated by reading a bar-code label having a feature at a plurality of times.
特徴を持つバーコードラベルを複数回読取ることで複数ステップの進捗管理を自動化できる機器の試運転工事管理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device which shares a read/write amplifier among a plurality of banks and a method for testing the same, capable of improving test efficiency.
テスト効率を向上させることができる、リードライトアンプを複数のバンクで共有する半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - (B) component: a (rubber-reinforced) styrene-based resin with a melt flow rate (measured at 200°C, 5 kgf according to the ISO1133 test method) of not more than 10 g/10 min.
（Ｂ）成分：メルトフローレート（ＩＳＯ１１３３試験法に準拠して、２００℃、５ｋｇｆで測定）が１０ｇ／１０分以下である（ゴム強化）スチレン系樹脂。 - 特許庁 - To prevent test parity from being increased by a simple elimination error position estimating method and to make processable data error in a relatively short time when data errors are corrected.
簡単な消失エラー位置推定方法で検査パリティが多くならず、データエラー訂正時に処理時間が比較的短時間で処理できるようにすること。 - 特許庁 - To provide a test method for semiconductor memory circuits capable of transmitting path-fail data of a plurality of memories incorporated in a system LSI at a short period of time.
システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリのパスフェイルデータを、短い時間で送信できる半導体メモリ回路のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a layout display apparatus and method which enables to display, in a short time, a defined layout pattern in lithographic data or test data.
描画データもしくは検査データに定義されたパターンレイアウトを短時間で表示することが可能なレイアウト表示装置およびレイアウト表示方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a multilayer wiring board in which a resistance change of a via hole conductor is small and dimensional accuracy is high in a reliability test, and to provide a method for manufacturing the multilayer wiring board.
信頼性試験においてビアホール導体の抵抗変化が小さくかつ寸法精度の高い多層配線基板とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a communication apparatus and a quality information collecting method, for collecting quality information of a radio network without executing a field test requiring manpower.
人手を要するフィールド試験などを行わずに、無線ネットワークの品質情報を収集する通信装置および品質情報収集方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a PCR test system that surely detects microbes by a PCR method without performing false-negative determination when the microbes are mixed in products or the like.
微生物が製品等に混入していた場合に、偽陰性判定をすることなくPCR法で確実に検出可能なPCR検査システムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a measuring method with high reproducibility in a bias-thermal stress test of a transistor in which an oxide semiconductor is used as a semiconductor layer.
酸化物半導体を半導体層に用いたトランジスタのバイアス−熱ストレス試験において、再現性の高い測定方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a testing device of a semiconductor integrated circuit and its testing method capable of reducing a cost of a delay test between different clock domains.
異なるクロックドメイン間のディレイテストのコストを低減することができる半導体集積回路の試験装置及びその試験方法を提供することである。 - 特許庁 - A breast cancer detection method measures the quantity of a cathepsin E within a test specimen, and associates a measurement result with a possibility of the breast cancer or a prognosis of the breast cancer.
被検試料中のカテプシンEの量を測定し、当該測定結果と乳癌の可能性又は乳癌の予後とを関連付ける乳癌の検出方法。 - 特許庁 - To provide a test bench creation method, etc. which can determine the generation timing of an input stimulus in an analog circuit synchronously with a circuit state.
アナログ回路の入力スティミュラスの発生タイミングを回路の状態に同期して決定することができるテストベンチの作成方法等を提供すること。 - 特許庁 - To provide an apparatus for giving a test framework where multimedia APIs are exercised and tested independently of multimedia applications in a wireless device, and a method.
無線デバイスにおいて、マルチメディアＡＰＩがマルチメディア・アプリケーションとは独立にテスト使用されるテスト基本構造を与える装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device capable of acquiring a measurement result having consistency and accuracy, and determining existence of point of fixation of aldehyde in a test sample.
整合性と精確さのある測定結果が得られる、試験サンプル中のアルデヒドの注視点の存在を決定する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for characteristics of a non-volatile semiconductor memory in which the retention of all memory cells can be sufficiently guaranteed by only adding simple procedures.
簡単な手順を追加するだけで全メモリセルのリテンションを十分に保証できる不揮発性半導体メモリの特性検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an automatic dispensing method capable of saving the space and improving the efficiency in test work at low facility costs.
省スペースを図ることができて設備コストが低く、しかも試験作業の効率を向上させることができる自動分注方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - This water quality inspection device and method comprises detecting the inclusion of the toxic material in a test water by use of the degree of bioactivity of nematode as an index.
線虫の生物活性度を指標として検水中の毒性物質の混入を検知することを特徴とする水質検査装置および方法。 - 特許庁 - To provide a method for measuring the amount of scattered antigen that can easily measure the amount of antigen scattered into the atmosphere by an agglutination test.
大気中に飛散している抗原の量を、凝集試験により簡易に測定することができる飛散抗原量の測定方法を提供する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR GIVING COMBINATION OF AUTOMATIC AND MANUAL MOTIONS OF NONDESTRUCTIVE TEST (NDT) SENSOR, AND DEVICE FOR MOVING SENSOR ON WORK
非破壊試験（ＮＤＴ）センサの自動および手動の動きの組合せを与えるための装置および方法、ならびにワークの上でセンサを動かすための装置 - 特許庁 - (3) This scratchability testing method for floor material comprises performing a test by spraying a particulate material on the floor material by use of the testing machine according to claim 3.
（３）請求項３記載の試験装置を用い、床材上に粒子状物質を散布して試験を行なう床材の傷付き性試験方法。 - 特許庁 - To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.
イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁 - The apparatus and method include an alignment apparatus and alignment test targets, and methods of using them to align the light source outputs of the optical servo system.
この装置および方法は、整列機器、整列検査対象、および、それらを用いて光サーボシステムの光源出力を整列させる方法を含む。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a monobasic mutation in a target base sequence in a test sample in high specificity and in high sensitivity.
被検試料中の標的塩基配列中の一塩基変異を高い特異性および高い感度をもって検出する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test method capable of detecting at low cost whether a molding, especially a contact lens, actually exists in a package or not.
本発明は、成形物、特にコンタクトレンズがパッケージ中に実際に存在するかどうかを低コストで検出することができる試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.
半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁 - In this method the signal leakage test can be carried out in a short time, because taking out of the potential of the signal terminal through the boundary scan resistor is not necessary.
本方法では、バウンダリスキャンレジスタを介して信号端子の電位を取り出す必要がないため、短時間で信号リーク検査を行うことができる - 特許庁 - To provide a method and a system estimating whether a defect detected in a test of a gas turbine engine is related to a performance problem of the engine or not.
ガスタービンエンジンの試験において検出された欠陥がエンジンの性能問題に関連するのか否かを評価する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device and a semiconductor test method capable of measuring fluctuation of a withstand voltage of a semiconductor device caused by an external electric field.
外部電界による半導体素子の耐圧の変動を測定することができる半導体試験装置および半導体試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.
低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests.
試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a Web load testing method and Web load testing program for imposing a large access load on an arbitrary period in a Web load test.
ウェブ負荷試験において大きなアクセス負荷を任意の時期に掛けられるようにできるウェブ負荷試験方法及びウェブ負荷試験プログラムを、提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR CONTROLLING VOLTAGE GENERATOR ADAPTED FOR USE IN WAFER BURN-IN TEST, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING CONTROL CIRCUIT FOR OPERATIONAL CONTROL OF VOLTAGE GENERATOR
ウェハバーンインテストに用いるに適合した電圧発生器制御方法及び電圧発生器の動作制御のための制御回路をもつ半導体メモリ装置 - 特許庁 - To provide a method for accurately estimating an adiabatic temperature rise of concrete from an experiment using a small test body, without requiring expensive devices.
高価な装置を必要とせず、小さな試験体を用いた実験から精度よくコンクリートの断熱温度上昇量を推定する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.
サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method, a test device and a diagnostic kit for predicting, assessing, and diagnosing the risk of a disease using salivary analysis.
唾液分析を用いて疾患のリスクを予測、評価、および診断するための方法、試験デバイス、および診断キットを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method of layout of a boundary scan test circuit by which the area efficiency as a device is increased and its design can be more simple.
デバイス自体としての面積効率を高めて且つ、その設計をより簡易なものとすることのできるバウンダリスキャンテスト回路のレイアウト方法を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
