「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 115 116 117 118 119 120 121 122 123 .... 161 162 次へ＞- By this method, the thin silicon substrate 10 can be protected from cracking in a wafer test or an assembly process, and a conventional manufacturing apparatus can be used as is.
この方法によれば、ウエハテストやその後のアセンブリ工程において薄いシリコン基板１０の割れを防ぐことができ、従来装置をそのまま使用できる。 - 特許庁 - To provide a method which optimizes design specifications by evaluating and examining a defogger function obtained with specifications of a hot-wire pattern, etc., under conducted test conditions.
実施の試験条件のもとで、熱線パターン等の仕様により得られるデフォッガー機能を評価検討し、設計仕様の最適化を行う方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a semiconductor chip capable of efficiently removing a test pattern in a simple process while keeping versatility.
テストパターンの除去を汎用性を確保しながら簡素な工程で効率よく行うことができる半導体チップの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - This pressing method allows pressed positions of the seat 1 to be freely selected and can be carried out in each of the processes, 'conditioning', 'calibration', and 'product test'.
この加圧方法によれば、シート１の加圧場所を自由に選択することが可能であり、「慣らし」、「キャリブレーション」、「製品検査」の各工程で実施することができる。 - 特許庁 - To provide a bear chip mounting circuit device capable of safe and highly accurate high power supply voltage impression tests of IC chips to be inspected, and to provide its test method.
安全かつ精度良く被検査用ＩＣチップの高電源電圧印加試験が可能なベアチップ実装回路装置及びその試験方法を提供すること。 - 特許庁 - In this manufacturing method, a billet is rolled to a long size, a round bar steel is obtained, and presence/absence of any flaw on the surface of the round bar steel is inspected by a magnetic leakage flux test.
ビレットが圧延によって長尺化されて丸棒鋼が得られ、その後、丸棒鋼表面の疵の有無が、漏洩磁束探傷法によって検査される。 - 特許庁 - To provide a novel test writing method for making recording laser power follow a substantially intermediate part of a limit value of cross erasure suppression and a limit value of writing error suppression.
記録レーザパワーをクロスイレーズ抑制の限界値と書き込みエラー抑制の限界値の中間近傍に追従させる新たなテストライトの手法を提供する。 - 特許庁 - To provide a recording medium judging method which can detect the characteristics of a recorded test pattern by a comparatively simple constitution and under a high performance state.
記録されたテストパターンの特徴を、比較的簡易な構成で且つ性能の高い状態で検出できるような記録媒体判別方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a peening intensity measuring method for measuring the deformation quantity of a test piece with high accuracy to set conditions for optimum peening intensity in peening.
高精度に試験片の変形量を計測するためのピーニング強度測定方法を提供し、ピーニングの際の最適なピーニング強度の条件出しを行う。 - 特許庁 - To provide a method for preparing high-concentration prion protein that is useful for a challenge test of prion protein, homogeneous and colorless and transparent and has a sufficient infectivity titer.
プリオン蛋白のチャレンジ試験に有用な、均質な無色透明で、且つ充分な感染力価を保持した高濃度プリオン蛋白の調製方法。 - 特許庁 - To provide a test method for easily detecting the presence/absence of ADM contraction, using a peptide having a specific bindability to an ADM-peculiar antibody.
ＡＤＭ特有の抗体に対して特異的な結合性を有するペプチドを用いてＡＤＭの羅患の有無を簡便に検出する検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor laser product including a process which can inspect the ESD withstanding property of a semiconductor laser by a nondestructive test.
非破壊試験により半導体レーザのＥＳＤ耐性を検査することができる工程を含む半導体レーザ生産物の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and its test method, which change the number and combinations of memories which are simultaneously tested even after manufacture.
製造後であっても、同時にテストするメモリの数および組み合わせを変更することのできる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of evaluation and test which is high in reproducibility of conditions and high in reliability in evaluating the difficulty in flawing of a spectacle lens and an apparatus for the same.
眼鏡レンズの傷つき難さを評価する際、条件の再現性が高く、信頼性の高い評価試験方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a method for manufacturing semiconductor device which realizes high accuracy DC current test as well as high integration and high speed.
高集積化あるは高速化を図りつつ、高精度での直流電流試験を実現した半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a circuit inspection method capable of employing a relatively low-cost probe test technique even when it has fine narrow pitch terminals.
微小で狭ピッチの端子を有していても、比較的低コストのプローブテスト技術を用いることのできる半導体装置及び回路検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method and program by which a physical address is reused without increasing costs and the number of component items of a computer.
本発明によれば、コストおよびコンピュータの部品点数の増加を招くことなく、物理アドレスを再利用することが可能なテスト方法およびプログラムを実現する。 - 特許庁 - The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.
本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁 - To provide a test apparatus and method which can evaluate the characteristics of a wedge junction of bonding wire for semiconductors.
本発明の目的は、半導体用ボンディングワイヤのウェッジ接合部の特性評価を実施するための試験装置および試験方法を提供するものである。 - 特許庁 - To provide a test method of an electron gun wherein an inter-electrode distance L between the first electrode 13 and the second electrode 14 of an electron gun structural body 11 can be measured precisely.
電子銃構体11の第１電極13と第２電極14との電極間間隔Ｌを正確に測定できる電子銃の検査方法を提供する。 - 特許庁 - The method further includes configuring a trigger of the test and measurement device in response to the graphical user input, by setting a value for a trigger parameter of the trigger.
この方法は、トリガのトリガ・パラメータの値を設定することにより、図形的ユーザ入力に応じて試験測定装置のトリガを構成することを更に含む。 - 特許庁 - By the method, times of the data rewriting actually performed in the test process before delivery are correctly managed concerning each IC chip.
このような方法によれば、個々のＩＣチップについて、その出荷前の試験工程で実際に行われたデータの書き換え回数を正確に管理することができる。 - 特許庁 - To provide a laser beam machining method and apparatus capable of performing accurate laser beam machining upon a simple test machining.
簡単なテスト加工を行うことで、正確なレーザ加工を行うことが可能なレーザ加工方法、並びにレーザ加工装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To shorten the time until an timing verified ATPG pattern is obtained by use of STA in a timing verification method of LSI test data.
ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法において、ＳＴＡの利用によってタイミング検証済みのＡＴＰＧパターンを得るまでの時間を短縮すること。 - 特許庁 - To provide a very simple method and a system for uniformly mixing the contents in the containers arranged in order such as vials, test tubes and deep well type microplates.
バイアル、試験管、または深井戸型マイクロプレート等の容器の配列の内容物を均等に混合する非常に簡便な方法およびシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device for accurately discriminating diversified test modes from a normal operation mode, and to provide a method for discriminating its operation mode.
様々なテストモードと通常動作モードとを正確に判別できる半導体装置及びその動作モードの判別方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an ozone exposure test method capable of obtaining good reproducibility and reliability even in a material having water or moisture absorbability.
吸水性または吸湿性を有する材料であっても良好な再現性及び信頼性が得られるオゾン暴露試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of minimizing steam boiler pressure changes or turbine output changes in a process of a turbine control valve (28) operation safety test.
タービン制御弁（２８）動作安全試験工程中の蒸気ボイラ圧力変化またはタービン出力変化を最小限に抑える方法を提供する。 - 特許庁 - DIAGNOSIS METHOD FOR DETECTING RETROVIRUS BELONGING TO HIV GROUP, MVP-2901/94, AND ITS VARIANT, AND TEST KIT AND VACCINE THEREFOR
ＨＩＶグル−プに属するレトロウイルス、ＭＶＰ−２９０１／９４、およびその変異体を検出する診断方法及びそのための試験キット並びにワクチン - 特許庁 - The test method of the mass flowmeter that receives a predetermined vibrational stimulation, records a vibrational response, and operates according to Coriolis principle.
本発明は、予め決定された振動励起がかけられ、振動応答が記録される、コリオリ原理で動作する質量流量計のテスト方法に関する。 - 特許庁 - In another embodiment, the method of patient evaluation includes a process for performing an exercise test including an exercise phase and a recovery phase on the patient.
別の実施形態では、患者を評価するための方法は、患者に対してエクササイズフェーズ及び回復フェーズを含むエクササイズ検査を実施する工程を含む。 - 特許庁 - Provided is the method for the detection of the GPCR ligand in the test sample by using a single cell biosensor expressing the GPCR.
本発明は、ＧＰＣＲを発現する単一細胞バイオセンサーを使用することによって試験サンプルにおけるＧＰＣＲリガンドを検出する方法に関する。 - 特許庁 - To provide a method for preparing a transformation table for transforming fail bit map data in the test process of a semiconductor memory into physical coordinates using design data.
半導体メモリのテスト工程におけるフェイルビットマップデータを物理座標に変換するテーブルを設計データを利用して作成する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device and a test method for evaluating the rigidity and long-term heat resistance of a brake piston made of a resin in a high temperature atmosphere.
樹脂製ブレーキピストンの高温雰囲気中における剛性、長期耐熱性を評価する試験装置並びにその試験方法を提供する。 - 特許庁 - In this Mooney viscosity measuring method, a test piece prepared by compression molding the unvulcanized rubber is used when the Mooney viscosity of the unvulcanized rubber is measured.
未加硫ゴムのムーニー粘度を測定するに際し、該未加硫ゴムを圧縮成形して作製した試験片を使用することを特徴とするムーニー粘度測定方法。 - 特許庁 - To provide a method of delivering a rAAV (recombinant adeno-associated virus) virion to the CNS (central nervous system) of a test object.
被検体の中枢神経系（ＣＮＳ）への導入遺伝子を保有する組換えアデノ随伴ウイルス（ｒＡＡＶ）ビリオンを送達するための方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.
半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁 - SEALABILITY TESTING DEVICE OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN, AND SEALABILITY TEST METHOD OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN USING THE DEVICE
接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験装置及びこれを用いた接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験方法 - 特許庁 - The RTL simulation method calculates register 0/1 probability data of each register and the operation rate data of each register in the logic circuit changing according to test data.
ＲＴＬシミュレーション手段は、テストデータに従って変化する各レジスタの論理回路中のレジスタ０／１確率データとレジスタ毎の動作率データを算出する。 - 特許庁 - In the detection method, an anti-glial fibrillary acidic protein (GFAP) antibody or GFAP in a test sample originated in a living body of a mammal is analyzed.
前記検出方法では、哺乳動物の生体由来の被検試料中の抗グリア繊維酸性タンパク質（ＧＦＡＰ）抗体又はＧＦＡＰを分析する。 - 特許庁 - The apparatus and method are particularly useful for digital signal processing in communications and for performing digital transition timing testing on a device under test.
装置および方法は、通信におけるデジタル信号処理および試験対象デバイスについてデジタル遷移タイミング試験を実行するのに特に有効である。 - 特許庁 - SYSTEM HAVING FUNCTION OF AUTOMATICALLY INCREASING ENGINE TORQUE FOR CONTROLLING DRIVING SLIP IN STARTING PROCESS ON TEST COURSE DIFFERENT IN STATIC FRICTION COEFFICIENT AND METHOD THEREFOR
静摩擦係数が異なる走行路での始動プロセスにおける自動エンジン・トルク上昇機能付きの駆動時滑りを制御するシステム及びその方法 - 特許庁 - To provide a wind tunnel simulation device for improving efficiency in designing by a wind tunnel test and a method for designing an airframe using the device.
風洞試験による設計の効率化が得られる風洞シミュレーション装置及び風洞シミュレーション装置を用いた機体設計方法を提供する。 - 特許庁 - And, by the method, sensitization reinforcing action or sensitization suppressing action of the test substances to the sensitizing substances can be evaluated.
また、本発明は、感作性物質に対する被験物質の感作性増強作用、又は、感作性抑制作用についても評価することが可能である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test system and a method of testing a semiconductor device reliably finding a failure caused by a measurement system before testing the semiconductor device.
半導体デバイスを試験する前に測定系起因の故障を確実に発見する半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a breaking test method fit for evaluating a bonding strength of bonding parts between a wiring board and a spherical solder used in mounting semiconductor chips.
半導体チップ実装に用いる配線板と球状はんだの接合部分の接合強度評価に適した破壊試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a light emitting component measuring system and a method thereof, capable of measuring the optical proprieties of a plurality of devices under test (DUT).
複数の被測定装置（ＤＵＴ）の光学的性質を測定することが可能である発光部品測定システムおよびその方法を提供する。 - 特許庁 - (vi) When peeling test is conducted in compliance with JIS-C6471-1990 B method, peel strength between the layers which constitute the laminated body is 1 N/cm or higher.
（vi）ＪＩＳ−Ｃ６４７１−１９９０ Ｂ法準拠の剥離試験において、積層体を構成する層間の剥離強度が１Ｎ／ｃｍ以上である。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an exhaust gas cleaning catalyst, by which the activity of the catalyst after the test for endurance can be restrained from being deteriorated, and to provide the exhaust gas cleaning catalyst.
耐久後における触媒の活性低下を抑制できる排ガス浄化触媒の製造方法及び排ガス浄化触媒を提供する。 - 特許庁 - To provide a performance test method for a pressure regulating valve, capable of efficiently and early performing performance decision related to pressure control in a gas supply device.
ガス供給装置における圧力制御に関する性能判断を効率良く早期に行える圧力調整弁の性能試験方法を提供する。 - 特許庁
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