「Test method」を含む例文一覧(8060)

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  • SOFTWARE DEVELOPMENT DEVICE, VEHICLE TEST METHOD, AND EMULATION METHOD
    ソフトウェア開発装置、実車試験方法、及びエミュレーション方法 - 特許庁
  • ALTERNATIVE METHOD OF SOFT AGAR COLONY FORMING TEST AND APPLICATION METHOD THEREOF
    軟寒天コロニー形成試験代替法及びその利用方法 - 特許庁
  • To provide a microarray chip manufacturing method and its test method.
    マイクロアレイチップの製造方法及びその検査方法の提供。 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR WAFER, AND TEST METHOD
    半導体装置の製造方法、半導体ウェハ、およびテスト方法 - 特許庁
  • METHOD FOR DESIGNING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SCANNING TEST METHOD
    半導体集積回路の設計方法およびスキャンテスト方法 - 特許庁
  • Method called immediately after the test method has been called and the result recorded.
    テストを実行し、結果を記録した直後に呼び出されます。 - Python
  • To provide a test device, a test system, and a test method which are capable of shortening a test time by solving at least a part of the various problems in a conventional multi-site test or concurrent test.
    従来のマルチサイト・テストやコンカレント・テストにおける各種の問題点の少なくとも一部を解決し、テスト時間の短縮を図ること等ができる、テスト装置、テストシステム、及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁
  • COMPUTER ADAPTIVE TEST DEVICE, COMPUTER ADAPTIVE TEST SYSTEM, COMPUTER ADAPTIVE TEST METHOD, AND RECORDING MEDIUM STORING COMPUTER ADAPTIVE TEST PROGRAM
    コンピュータ適応型テスト装置、コンピュータ適応型テストシステム、コンピュータ適応型テスト方法およびコンピュータ適応型テストプログラムを格納する記録媒体 - 特許庁
  • To provide a test method, a tester, and a test system capable of obtaining a highly accurate test result of a magnetic responsive unit equipped with a test object.
    テスト対象物に備わる磁気反応ユニットの高精度なテスト結果を得ることができるテスト方法、テスタおよびテストシステムを提供する。 - 特許庁
  • COMPUTER ADAPTIVE TEST DEVICE, COMPUTER ADAPTIVE TEST SYSTEM, COMPUTER ADAPTIVE TEST METHOD, AND RECORDING MEDIUM WITH COMPUTER ADAPTIVE TEST PROGRAM STORED THEREIN
    コンピュータ適応型テスト装置、コンピュータ適応型テストシステム、コンピュータ適応型テスト方法およびコンピュータ適応型テストプログラムを格納する記録媒体 - 特許庁
  • SCANNING FLIP-FLOP CIRCUIT, SCANNING TEST CIRCUIT USING SCANNING FLIP-FLOP CIRCUIT, AND TEST DESIGN METHOD
    スキャンフリップフロップ回路とこれを用いたスキャンテスト回路およびテスト設計手法 - 特許庁
  • To provide a micro-controller and a test method which can shorten accurately a test time.
    テスト時間の短縮を的確に行えるマイクロコントローラおよびテスト方法を得る。 - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST APPARATUS FOR DA CONVERTER, AND DA CONVERTER
    ＤＡ変換器の試験方法、ＤＡ変換器の試験装置およびＤＡ変換器 - 特許庁
  • TEST ITEM GENERATION DEVICE AND METHOD, NETWORK TEST SUPPORT DEVICE AND METHOD, AND COMPUTER PROGRAM FOR ACHIEVING TEST ITEM GENERATING DEVICE AND NETWORK TEST SUPPORT DEVICE
    試験項目生成装置及び方法、ネットワーク試験支援装置及び方法、試験項目生成装置及びネットワーク試験支援装置を実現するためのコンピュータプログラム - 特許庁
  • To provide a test pattern of a semiconductor device, and to provide a test method using the same.
    半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法が提供される。 - 特許庁
  • COIN HANDLING DEVICE, AND TEST SYSTEM AND TEST METHOD USING COIN HANDLING DEVICE
    硬貨取扱装置、硬貨取扱装置を用いた試験システムおよび試験方法 - 特許庁
  • To provide an electrode tension test method, which can lead accurater data to an electrode tension test, a device for the electrode tension test method and a substrate/probe support device for an electrode tension test.
    より正確なデータを導くことのできる電極引張試験方法及びその装置並びに電極引張試験用の基板／プローブ支持装置を提供すること。 - 特許庁
  • METHOD FOR TEST PROGRAM GENERATION, APPARATUS THEREFOR AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    試験プログラム生成方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁
  • COMMUNICATION NETWORK TEST DATA GENERATION DEVICE AND COMMUNICATION NETWORK TEST DATA GENERATION METHOD
    通信ネットワーク試験データ生成装置及び通信ネットワーク試験データ生成方法 - 特許庁
  • To provide a scanning test circuit and a scanning test method capable of shortening a clock cycle.
    クロックサイクルを短縮できるスキャンテスト回路及びスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • RAM TEST CIRCUIT, AND WRITE-IN METHOD FOR RAM TEST DATA BY THE CIRCUIT
    ＲＡＭのテスト回路およびその回路によるＲＡＭテストデータの書き込み方法 - 特許庁
  • TEST PLAN PREPARATION SUPPORT METHOD FOR SOFTWARE SYSTEM AND TEST PLAN PREPARATION SUPPORT PROGRAM
    ソフトウェアシステムのテスト計画作成支援方法およびテスト計画作成支援プログラム - 特許庁
  • FRAGILITY TEST INSPECTION PROVIDING SYSTEM AND FRAGILITY TEST INFORMATION PROVIDING METHOD
    脆弱性検査情報提供システム及び脆弱性検査情報提供方法 - 特許庁
  • ADHESION PERFORMANCE TEST METHOD IN SHEARING DIRECTION AND SITE-TYPE SHEARING TEST MACHINE USED THEREFOR
    剪断方向の接着性能試験法とそれに使用される現場型剪断試験機 - 特許庁
  • OPERATION CONTROL METHOD OF REFRIGERATOR IN ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM, AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM
    環境試験装置における冷凍機の動作制御方法及び環境試験装置 - 特許庁
  • REGISTER TRANSFER LEVEL (RTL) TEST POINT INSERTION METHOD TO REDUCE DELAY TEST VOLUME
    遅延試験量を減らすためのレジスタ転送レベル（ＲＴＬ）試験点挿入方法 - 特許庁
  • METHOD OF RELEASING IN BURN-IN TEST AND ALIGNMENT DEVICE FOR USE IN BURN-IN TEST
    バーンイン検査における引き離し方法及びバーンイン検査に用いるアライメント装置 - 特許庁
  • GAME CONTROL ELEMENT TEST EQUIPMENT IN GAME MACHINE AND GAME CONTROL ELEMENT TEST METHOD
    遊技機における遊技制御素子検査装置及び遊技制御素子検査方法 - 特許庁
  • TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR COMMUNICATION DEVICE IN MOBILE OBJECT COMMUNICATION SYSTEM
    移動体通信システムにおける通信装置の試験システム及びその試験方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS, AND TEST BOARD
    半導体デバイスの製造方法、半導体デバイス、半導体テスト装置、及びテストボード - 特許庁
  • TEST DATA MANAGEMENT SYSTEM, TEST DATA MANAGEMENT METHOD, DATA PROCESSING DEVICE, AND DATA PROCESSING PROGRAM
    テストデータ管理システム、テストデータ管理方法、データ処理装置及びデータ処理プログラム - 特許庁
  • TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SYSTEM THEREFOR, AND THE SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験システム、半導体装置 - 特許庁
  • IC TEST DATA OUTPUT DEVICE, IC TEST DATA OUTPUT METHOD, AND STORAGE MEDIUM
    ＩＣ試験データ出力装置、ＩＣ試験データ出力方法および記憶媒体 - 特許庁
  • SPEED BINNING TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SPEED BINNING TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
    スピードビニングテスト回路、半導体装置、及び半導体装置のスピードビニングテスト方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体装置、半導体メモリの試験システムおよび半導体メモリの試験方法 - 特許庁
  • SOFTWARE TEST ITEM EDITING SUPPORT DEVICE AND SOFTWARE TEST ITEM EDITING SUPPORT METHOD
    ソフトウェアテスト項目編集支援装置およびソフトウェアテスト項目編集支援方法 - 特許庁
  • To propose a test method that can test a correlated double sampler for which a high-speed operation is required, by using an inexpensive device, and to propose a test device employing this test method.
    高速動作が要求される相関二重サンプラを安価な装置で試験することができる試験方法と、この試験方法を用いた試験装置を提案する。 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION DEVICE, CONTROL METHOD OF TEST PATTERN GENERATION DEVICE, AND FAILURE DETECTION DEVICE
    テストパターン生成器、テストパターン生成器の制御方法、および、故障検出装置 - 特許庁
  • LOAD TEST PERFORMANCE EVALUATION SYSTEM AND LOAD TEST PERFORMANCE EVALUATION METHOD FOR USE THEREIN
    負荷試験性能評価システム及びそれに用いる負荷試験性能評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING MEASLES VIRUS, MEMBRANE ASSAY TEST DEVICE, AND MEMBRANE ASSAY TEST KIT
    麻疹ウイルス検出方法、メンブレンアッセイ用試験具およびメンブレンアッセイ用試験キット - 特許庁
  • MEASUREMENT AND TEST METHOD, MEASUREMENT AND TEST DEVICE, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING PROCESSING APPARATUS
    測定検査方法、測定検査装置、露光装置及びデバイス製造処理装置 - 特許庁
  • The non-evaporating getter material (ZrV) of raw material ( test piece A) is pulverized by a jet mill method and a test piece B is manufactured, and by pulverizing the test piece B by a bead mill method, a test piece C and a test piece D are manufactured.
    原料（試料Ａ）の非蒸発ゲッター材料（ＺｒＶ）を、ジェットミル法により粉砕して試料Ｂを製造し、その試料Ｂをビーズミル法により粉砕して試料Ｃ、試料Ｄを製造する。 - 特許庁
  • WIRING BOARD FOR ELECTRICAL TEST, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
    エレクトリカルテスト用配線基板及びその製造法 - 特許庁
  • BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD
    組込み自己テスト回路及び設計検証方法 - 特許庁
  • DRIVING CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF
    表示装置の駆動回路およびそのテスト方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR VERIFICATION OF VALIDITY OF TEST PATTERN
    テストパターン妥当性検証方法及びその装置 - 特許庁
  • COMMUNICATION EQUIPMENT TEST CONTROL METHOD, DEVICE, AND PROGRAM
    通信装置試験制御方法、装置及びプログラム - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR SAMPLING BLOOD FOR DIAGNOSTIC TEST
    診断テスト用血液の採取方法及び装置 - 特許庁
  • CHARGING AND DISCHARGING TEST METHOD OF BATTERY AND APPARATUS THEREFOR
    バッテリーの充放電試験方法及びその装置 - 特許庁
  • IC TEST PROGRAM INSPECTING DEVICE AND INSPECTION METHOD
    ＩＣ試験プログラムの検査装置及び検査方法 - 特許庁
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