「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 40 41 42 43 44 45 46 47 48 .... 161 162 次へ＞- FLIP-FLOP CIRCUIT WITH SCANNING FUNCTION, SCANNING TEST CIRCUIT, AND SCANNING TEST CIRCUIT WIRING METHOD
スキャン機能付フリップフロップ回路およびスキャンテスト回路ならびにスキャンテスト回路配線方法 - 特許庁 - STAMP FOR ANTIFOULING PROPERTY TEST OF RECORDING MEDIUM AND ANTIFOULING PROPERTY TEST METHOD OF RECORDING MEDIUM
記録媒体の防汚性試験用スタンプ及び記録媒体の防汚性試験方法 - 特許庁 - PROGRAM TEST SCHEDULE PREPARATION PROCESSING METHOD AND PROGRAM TEST SCHEDULE PREPARATION PROCESSING PROGRAM
プログラム検査スケジュール作成処理方法およびプログラム検査スケジュール作成処理プログラム - 特許庁 - MULTIPLE TEST MULTIPLEXING SUSPENSION AND MULTIPLE TEST MULTIPLEXING METHOD USING IT
複数検査多重化用懸濁液およびその懸濁液を用いた複数検査多重化方法 - 特許庁 - TEST DATA GENERATION SYSTEM AND METHOD THEREFOR AND RECORD MEDIUM RECORDING TEST DATA GENERATION PROGRAM
テストデータ生成システム及び方法並びにテストデータ生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a parallel bit test method and a parallel bit test circuit of a semiconductor memory device.
半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法及び並列ビットテスト回路を提供する。 - 特許庁 - MEDICAL NETWORK SYSTEM, MEDICAL TEST REQUEST ACCEPTING DEVICE, AND MEDICAL TEST RESERVATION METHOD
医用ネットワークシステム及び医用検査依頼受付装置並びに医用検査予約方法 - 特許庁 - TEST CASE GENERATION APPARATUS, GENERATION METHOD THEREFOR, AND PROGRAM FOR TEST CASE GENERATION
テストケース生成装置およびその生成方法、ならびにテストケース生成のためのプログラム - 特許庁 - TEST MODE CHANGEOVER METHOD AND TEST MODE CHANGEOVER DEVICE FOR IC FOR FDD, FDD DEVICE
ＦＤＤ装置用ＩＣのテストモード切換方法およびテストモード切換装置、ＦＤＤ装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and its self test method in which test time is reduced.
テスト時間を短縮できる半導体装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a MRAD test circuit, a semiconductor memory provided with this circuit, and an MRAD test method.
MRADテスト回路、これを具備する半導体メモリ装置及びMRADテスト方法を提供する。 - 特許庁 - TEST TERMINAL, METHOD OF CONTROLLING TRIP COIL USING THE SAME, AND APPARATUS WITH TEST TERMINAL
テストターミナル、それを用いたトリップコイルの制御方法及びそのテストターミナルを備えた装置 - 特許庁 - INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN DELAY TEST FACILITATION CIRCUIT AND PATH DELAY TEST METHOD THEREFOR
ディレイテスト容易化回路を内蔵した集積回路および集積回路のパスディレイテスト方法 - 特許庁 - To provide a SOC with a built-in self-test circuit and a self-test method therefor.
内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ及びそのセルフテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of integrating a vendor provision test module into a modular test system.
ベンダ提供試験モジュールをモジュール式試験システムに統合する方法を提供する。 - 特許庁 - TRANSLATOR TOOL AND METHOD FOR CONVERTING TEST DATA ON EVENT BASE INTO TEST DATA ON CYCLE BASE
イベントベースの試験データをサイクルベースの試験データに変換するトランスレータツール及び方法 - 特許庁 - PSEUDO ROAD SURFACE GENERATION DEVICE FOR VEHICLE TEST, AND RUNNING TEST METHOD OF AUTOMOTIVE VEHICLE
車両試験用疑似路面発生装置及び自走式車両の走行試験方法 - 特許庁 - TEST CASE GENERATING DEVICE AND ITS METHOD AND MEDIUM FOR RECORDING TEST CASE GENERATION PROGRAM
テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SELECTING TEST POINT NODE FOR CIRCUIT TEST WITH LIMITED ACCESS
アクセスを制限した回路テストのためのテストポイントのノ—ドを選択する方法及び装置 - 特許庁 - HOLDING DEVICE FOR ELECTRONIC PART TEST, ELECTRONIC PART TESTING DEVICE AND ELECTRONIC PART TEST METHOD
電子部品試験用保持装置、電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁 - TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF CONTROLLING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST
半導体集積回路のテスト回路及び半導体集積回路のテストの制御方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT DESIGN DEVICE
半導体集積回路装置、スキャンテスト回路設計方法、スキャンテスト回路設計装置 - 特許庁 - TEST CIRCUIT OF LIGHT RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT, TEST METHOD, AND OPTICAL PICKUP DEVICE USING THE SAME
受光増幅回路のテスト回路、テスト方法、及びこれを用いた光ピックアップ装置 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING TEST PIECE FOR CALIBRATION OF SEAM DEFECT INSPECTION MACHINE, AND TEST PIECE FOR CALIBRATION
巻締め不良検査機の較正用試験片の作成方法および較正用試験片 - 特許庁 - TEST DESIGN SUPPORT DEVICE AND TEST DESIGN SUPPORT METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM
半導体集積回路のテスト設計支援装置、テスト設計支援方法及びプログラム - 特許庁 - TEST CENTER SYSTEM UTILIZING CREDIT CARD AND METHOD OF PROCESSING AT THE TEST CENTER UTILIZING THE CREDIT CARD
クレジットカードを利用したテストセンターシステムとクレジットカードを利用したテストセンターの処理方法 - 特許庁 - MICROCONTROLLER, MULTI-CHIP PACKAGE TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS TEST DEVICE AND TEST METHOD
マイクロコントローラ、マルチチップパッケージ型半導体装置およびそのテスト装置ならびにテスト方法 - 特許庁 - SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST APPARATUS AND SOLAR CELL MODULE RELIABILITY TEST METHOD
太陽電池モジュールの信頼性試験装置、及び太陽電池モジュールの信頼性試験方法 - 特許庁 - TEST METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテストプログラム生成プログラム - 特許庁 - CLOCK GENERATION CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体試験用クロック生成回路、半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁 - REFRIGERANT VISUAL TEST DEVICE AND TRANSPARENT RESIN BODY MANUFACTURING METHOD FOR REFRIGERANT VISUAL TEST
冷媒視認試験装置及び冷媒視認試験用の透明樹脂製ボディ製造方法 - 特許庁 - CIRCUIT FOR OUTPUT VOLTAGE LEVEL TEST OF SEMICONDUCTOR, DEVICE AND TEST METHOD FOR THE OUTPUT VOLTAGE LEVEL
半導体装置の出力電圧レベルテスト用回路及び出力電圧レベルテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH SCAN TEST CIRCUIT FOR REDUCING CHIP SIZE, AND ITS TEST METHOD THEREFOR
チップサイズを縮小させるスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD CAPABLE OF EFFICIENTLY TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE WITH MANY PINS
多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法 - 特許庁 - MEMORY TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND OPERATION CONTROL METHOD FOR MEMORY TEST CIRCUIT
メモリテスト回路、半導体集積回路装置、およびメモリテスト回路の動作制御方法 - 特許庁 - ANTENNA TRANSMISSION TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM OF WIRELESS DEVICE, WIRELESS DEVICE AND ANTENNA TRANSMISSION TEST DEVICE
無線機のアンテナ送信試験システム、方法、プログラム、無線機及びアンテナ送信試験装置 - 特許庁 - ADAPTOR FOR PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST OF COMPACT HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER, AND PRESSURE-RESISTANT EXPANSION TEST METHOD
小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法 - 特許庁 - To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.
ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a test method and device capable of implementing a test for maintenance and operation such as a loopback test and a code error rate test by means of remote control.
折返し試験や符号誤り率試験などの保守運用のための試験を遠隔制御により実施できる試験方法および装置を得ることである。 - 特許庁 - DEVICE FOR TEST ITEM EXTRACTION SYSTEM, TEST ITEM EXTRACTION METHOD, RECORDING MEDIUM IN WHICH TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM IS RECORDED AND TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM
試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラム - 特許庁 - TEST APPARATUS, TEST DATA PROVIDING METHOD, TEST DATA PROVIDING PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE TEST DATA PROVIDING PROGRAM RECORDIED THEREON
試験装置及び試験データ提供方法及び試験データ提供プログラム及び試験データ提供プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a device for quick loading test of a pile and a method for quick loading test of a pile capable of conducting a test easily and obtaining a highly accurate test result.
簡単に実施でき、精度の高い試験結果が得られる杭の急速載荷試験装置及び杭の急速載荷試験の方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a stress test fixture for preventing a test piece from being buckled in a tensile and compression stress test, and a tensile and compression stress test method using it.
引張圧縮応力試験において座屈の発生を防止できる応力試験治具及びこれを用いた引張圧縮応力試験方法の提供。 - 特許庁 - To provide a tool for test and test method capable of performing chip unit test, even if the chip to be mounted in an MCM does not have a built-in test circuit.
ＭＣＭに搭載されるチップがテスト回路を内蔵していなくても、チップ単体テストを行うことのできるテスト用治具およびテスト手法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for semiconductor device by which a test time of a redundancy relieving post test can be shortened based on a result of a redundancy relieving previous test.
冗長救済前試験の結果に基づいて、冗長救済後試験の試験時間の短縮を図り得る半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION DEVICE, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION SYSTEM, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING MULTIVARIABLE TEST FUNCTION
多変数テスト関数生成装置、多変数テスト関数生成システム、多変数テスト関数生成方法および多変数テスト関数を生成するためのプログラム - 特許庁 - To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.
感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for obtaining a test order of test items easily in a short time, by which the total test time becomes shortest, in an integrated circuit test constituted by plural test items.
複数のテスト項目で構成される集積回路のテストに於いて、総テスト時間が最短となるテスト項目の試験順序を短時間で容易に求める手法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR EVALUATION TEST OF VOICE SPEECH EQUIPMENT
音声通話装置の評価試験方法及びシステム - 特許庁 - TEST METHOD OF DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT USING IT
デバイスのテスト方法およびそれを用いた電子機器 - 特許庁
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