「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 39 40 41 42 43 44 45 46 47 .... 161 162 次へ＞- SIGNAL LOOPBACK DEVICE AND COMMUNICATION CHANNEL TEST METHOD
信号折返装置及び通信回線試験方法 - 特許庁 - ELECTRIC TEST-USE CONTACTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
電気試験用接触子及びその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DISCRIMINATING CONFLICT OF TEST NUMBER
テスト番号の衝突を識別する方法と装置 - 特許庁 - INTERNET ENGINEER LICENSE TEST QUESTION PUBLIC-COLLECTION METHOD
インターネット技術者検定試験問題公募方法 - 特許庁 - WIRING BOARD FOR ELECTRICAL TEST AND ITS MANUFACTURING METHOD
エレクトリカルテスト用配線基板及びその製造法 - 特許庁 - FALSE TRIP PREVENTING COVER AND ACTUAL INTERRUPTION TEST METHOD
ミストリップ防止用カバーおよび実遮断試験方法 - 特許庁 - DIGITAL LSI TEST EQUIPMENT AND METHOD FOR EVALUATING SHMOO
デジタルＬＳＩ試験装置およびシュム評価方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS USE METHOD, ITS TEST METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD
半導体記憶装置、その使用方法、その試験方法及びその製造方法 - 特許庁 - The present invention is a test method for testing the characteristics of a columnar test object by loading compressive or tensile force on the test object.
柱状の試験体の特性を試験するために当該試験体を圧縮・引張する載荷試験方法である。 - 特許庁 - To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.
リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test data generation device and a test data generation method, allowing generation of test data of an effective date.
有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供する。 - 特許庁 - FUNCTION TEST ITEM DEVELOPMENT SUPPORT SYSTEM, FUNCTION TEST ITEM DEVELOPMENT SUPPORT METHOD AND FUNCTION TEST ITEM DEVELOPMENT SUPPORT PROGRAM
機能試験項目展開支援システム、機能試験項目展開支援方法および機能試験項目展開支援プログラム - 特許庁 - To provide a test piece manufacturing method which enables a compression test to be performed with respect to a test piece in a state near to actual construction time.
実際の施工時に近い状態の供試体で圧縮試験を行うことができる供試体作成方法を得る。 - 特許庁 - To provide a scan test circuit for a semiconductor integrated circuit capable of shortening a scan test time, and to provide a scan test circuit design method.
スキャンテスト時間を短縮する半導体集積回路のスキャンテスト回路、スキャンテスト回路設計方法を提供する。 - 特許庁 - EXTERNAL TEST AUXILIARY DEVICE USED FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE AUXILIARY DEVICE
半導体装置の試験に用いる外部試験補助装置およびその装置を用いた半導体装置の試験方法 - 特許庁 - VIRTUAL TESTER, TEST DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND VERIFICATION METHOD OF TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
仮想テスタ、テスト装置、半導体集積回路用テストシステム、及び半導体集積回路用テストプログラムの検証方法 - 特許庁 - PREPARATION DEVICE AND METHOD FOR MATERIAL, PREPARATION MATERIAL AND TEST METHOD
材料の調製装置、方法、調製材料および試験方法 - 特許庁 - PORE SIZE MEASURING METHOD AND INTEGRITY TEST METHOD FOR POROUS SEPARATION MEMBRANE
多孔性分離膜の孔径測定法及び完全性試験方法 - 特許庁 - READ ONLY STORAGE APPARATUS, ITS TEST METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD
読み出し専用記憶装置、そのテスト方法及びその製造方法 - 特許庁 - BLOOD TEST METHOD, NUCLEIC ACID RECOVERY METHOD AND NUCLEIC ACID RECOVERY EQUIPMENT
血液検査方法、核酸回収方法、及び、核酸回収器具 - 特許庁 - METHOD FOR PROBE TEST, PROBE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
プローブ試験方法、プローブ装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - FLOW CONTROLLER AND TEST METHOD THEREFOR, AND FLOW CONTROL METHOD
流量制御装置、その検定方法及び流量制御方法 - 特許庁 - RECEPTACLE, MICROTUBE, RECEPTACLE MANUFACTURING METHOD AND TEST OR INSPECTION METHOD
容器、マイクロチューブ、容器製造方法並びに試験または検査方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, ITS RELIEVING METHOD , AND TEST METHOD
半導体記憶装置およびその救済方法並びにテスト方法 - 特許庁 - BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, TEST METHOD, AND MANUFACTURING METHOD
半導体メモリのテスト用ボードおよびテスト方法並びに製造方法 - 特許庁 - TESTING DEVICE, TESTING METHOD OF FATIGUE TEST, AND CRACK EVOLUTION TESTING METHOD
試験装置、疲労試験の試験方法、およびき裂進展試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR
半導体装置、半導体装置の製造方法及び試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING TEST PIECE AND METHOD FOR MEASURING PROPERTY VALUE OF COATING LAYER
試験片製造方法及びコーティング層の物性値測定方法 - 特許庁 - BURN-IN APPARATUS, BURN-IN TEST METHOD, AND CONTACT STATE DETECTION METHOD
バーンイン装置、バーンイン試験方法および接触状態検知方法 - 特許庁 - NONLINEAR EDITING DEVICE, NONLINEAR EDITING METHOD, RECORDING MEDIUM, TEST METHOD
ノンリニア編集装置、ノンリニア編集方法、記録媒体、テスト方法 - 特許庁 - Ca2+ ELUTION AMOUNT TEST METHOD OF SLUG, AND EVALUATION METHOD OF SLUG
スラグのＣａ２＋溶出量試験方法及びスラグの評価方法 - 特許庁 - LASER BEAM CONTROL METHOD, TEST RECORDING METHOD, AND OPTICAL RECORDING DEVICE
レーザ光制御方法、テスト記録方法および光ディスク記録装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING TEST PATTERN AND RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN GENERATION PROGRAM RECORDED
テストパタン生成方法および装置ならびにテストパタン生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - BALANCING TEST METHOD AND SUPPORTING DEVICE FOR BALANCING TEST FOR ROTOR WITHOUT JOURNAL
ジャーナルを備えていないロータのための釣合い試験方法および釣合い試験用支持装置 - 特許庁 - To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.
ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁 - To provide a test method for a semiconductor device which can shorten the test time efficiently.
テスト時間を効率的に短縮できる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - ARTIFICIAL TEST COMPUTER SYSTEM FOR LIVING BODY, COMPUTER PROGRAM THEREOF, AND ARTIFICIAL TEST METHOD OF LIVING BODY
生体の疑似試験コンピュータシステム、そのコンピュータプログラム、及び生体の疑似試験方法 - 特許庁 - PRODUCT FOR SUPPLYING TEST EXECUTIVE SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING TEST EXECUTIVE SYSTEM
試験実行システムを供給する製品および試験実行システムを動作させる方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING ENDING TIME IN LIFE TEST AND TEST STOP REFERENCE
打切り試験における打切り時間および試験中止基準見積もり方法・装置 - 特許庁 - HARD DISC DRIVE TEST METHOD, HARD DISC DRIVE TEST DEVICE, DATA STORAGE DEVICE AND RECORDING MEDIUM
ハードディスクドライブテスト方法，ハードディスクドライブテスト装置，データ保存装置および記録媒体 - 特許庁 - REGRESSION TEST SYSTEM FOR LSI CIRCUIT, DEVICE USED FOR THE SAME AND REGRESSION TEST METHOD
ＬＳＩ回路のリグレッションテストシステム、及びそれに用いる装置とそのリグレッションテスト方法 - 特許庁 - TEST PIECE FOR BIAXIAL LOAD TEST OF TENSION AND COMPRESSION, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD
引張と圧縮の二軸負荷試験用試験片及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁 - FILL-TEST METHOD, FILL-TEST APPARATUS AND FILL-CONTROL APPARATUS FOR FILLING
フィリング充填検査方法、フィリング充填検査装置、および、フィリング充填制御装置 - 特許庁 - DEVICE FOR PREPARING CIRCUIT, DEVICE FOR PREPARING TEST PATTERN, DEVICE FOR SUPPORTING DESIGN, AND METHOD OF PREPARING TEST PATTERN
回路作成装置、テストパターン作成装置、設計支援装置、及びテストパターン作成方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ASSIGNING TEST NUMBER BY USING CONTEXTUAL TEST NUMBER FACTOR
コンテクスチュアル・テスト番号ファクタを使用してテスト番号を割り当てる方法および装置 - 特許庁 - CONCRETE TEST PIECE FORMING FORM AND METHOD FOR MANUFACTURE OF TEST PIECE USING THE FORM
コンクリートテストピース作成用型枠及びこの型枠を用いたコンクリートテストピースの製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD, RECORDING MEDIUM IN WHICH PROGRAM FOR TEST SYSTEM IS RECORDED
半導体検査システム及び方法並びに検査システム用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING TEST SPECIFICATION FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SYSTEM FOR SUPPORTING PREPARATION OF TEST SPECIFICATION
半導体集積回路のテスト仕様生成方法およびテスト仕様生成支援システム - 特許庁 - FLEXURAL STRENGTH TEST METHOD AND FLEXURAL STRENGTH TEST DEVICE OF GLASS SUBSTRATE FOR MAGNETIC DISK
磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法および抗折強度試験装置 - 特許庁 - SOCKET FOR TEST, ITS MANUFACTURE, TESTING METHOD USING SOCKET FOR TEST, AND MEMBER TO BE TESTED
テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁
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