「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 94 95 96 97 98 99 100 101 102 .... 161 162 次へ＞- EXCESS CURRENT PROTECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATION TEST THEREOF
過電流保護回路、過電流保護回路を備える半導体装置及び過電流保護回路の動作テストの方法 - 特許庁 - To obtain an accurate ground resistance from a measured wave obtained by a dynamic load test, by using a characteristic curve method.
動的載荷試験により得られる計測波から、特性曲線法を使用して、正確な地盤抵抗を得る。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATICALLY GENERATING TEST ITEM AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED
テスト項目自動生成システム及びテスト項目自動生成方法並びにプログラムを記録した機械可読記録媒体 - 特許庁 - MALFUNCTION DETECTOR FOR EACH OF PLURALITY OF TEST CIRCUITS AND MALFUNCTION DETECTION METHOD USING THE DETECTOR
複数個の各テスト回路を対象とする誤動作検出装置及び当該装置を使用した誤動作検出方法 - 特許庁 - To provide a method and an instrument for measuring electrochemically a concentration of a test object in a physiological sample.
生理学的サンプル中の被検体の濃度を電気化学的に測定する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - DEVICE, METHOD, AND SYSTEM FOR IEEE1394 INSPECTION TEST
ＩＥＥＥ１３９４検査試験装置、ＩＥＥＥ１３９４検査試験方法、及びＩＥＥＥ１３９４検査試験システム - 特許庁 - To provide a test piece sampling method sampling in a short time with only a slight damage to a structure.
構造物への損傷が軽微であり短時間で採取可能な試験片採取方法を提供することである。 - 特許庁 - The method further includes a step of obtaining CD measurement data from a plurality of test areas on the heat-treated wafers.
さらに、熱処理されたウエハ上の複数の検査領域からＣＤ計測データを取得する工程を有する。 - 特許庁 - To provide a drawing device capable of quickly drawing a test pattern for adjusting alignment, and a drawing method.
アライメント調整用のテストパターンを高速に描画可能な描画装置、および描画方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an optical fiber cable testing method, capable of evaluating mechanical test characteristics of every optical fiber conductor.
光ファイバ心線毎の機械試験特性の評価が可能な光ファイバケーブルの試験方法を提供すること。 - 特許庁 - Alternatively, in the method for filtering the analyzing test solution, the filter is automatically fed at each time when a definite time is elapsed.
または、分析用試験液を濾過する方法において、一定時間経過毎に自動的にフィルターを送る。 - 特許庁 - A method of the present invention may be used particularly for a process monitoring and quality test at the time of manufacturing a substrate (1) having its surface covered.
方法は、特に表面を被覆された基板（１）の製造時のプロセス監視及び品質検査に用い得る。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for the test of a temperature characteristic of an electronic component wherein the space is saved and the cost is lowered.
省スペース化、低コスト化がなされた電子部品の温度特性試験方法および装置の提供。 - 特許庁 - To provide a remote loop back control method and the system which improve the operability of a remote loop back test.
リモートループバックテストの操作性を向上させるリモートループバック制御方法およびシステムを提供することにある。 - 特許庁 - POWDER SUBSTANCE LEAK REPRODUCING DEVICE, POWDER SUBSTANCE LEAK TESTING DEVICE, AND POWDER SUBSTANCE LEAK TEST METHOD
粉状物質漏洩再現装置及び粉状物質漏洩試験装置ならびに粉状物質漏洩試験方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING INFORMATION COLLECTION SYSTEM AND RECORDING WITH RECORDING INFORMATION COLLECTION SYSTEM TEST PROGRAM RECORDED THEREIN
情報収集システム試験装置および方法と情報収集システム試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide an image forming method that is excellent in pressure-fixing properties under a room temperature and in a pencil hardness test.
室温以下での圧力定着性及び鉛筆硬度試験に優れた画像形成方法を提供すること。 - 特許庁 - To decrease frequency of maintenances and raise throughput by providing a test pattern print method with a high clogging preventing effect.
目詰まり防止効果の高いテストパターン印刷方法を提供し、メンテナンスの回数を減らし、スループットを高める。 - 特許庁 - To provide an airtightness test method for an ammonia tank, capable of preventing corrosion of a tank body bottom part of an ammonia tank.
アンモニアタンクのタンク本体底部の腐蝕を防止することができるアンモニアタンク気密試験方法を提供する。 - 特許庁 - In this testing method, the surfactant solution A is used as the solution in which the composite test piece 3 is immersed.
かかる方法によれば、複合試験片３を浸漬させる溶液として、界面活性剤溶液Ａを用いる。 - 特許庁 - To provide a method for testing a semiconductor circuit that can inexpensively and accurately perform test using a logic tester.
ロジックテスタを用いて安価で正確なテストを行うことができる半導体回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - In S2, transfer to the test pattern is simulated by using a model used for the proximity effect correction method for the model base.
Ｓ_２ でモデルベースの近接効果補正法に使用するモデルを使ってテストパターンに転写シミュレーションを行う。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a wafer which can improve test efficiency.
検査効率を向上させることができることができるウェハの検査装置及びウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁 - To develop a method for mathematically analyzing a diagnostic test based on PCR to detect a pathogenic bacterium.
病原体を検出するための、ＰＣＲに基づく診断試験を数学的に解析する方法の開発。 - 特許庁 - METHOD FOR SPECIFICALLY DETECTING TEST SUBSTANCE USING PHOTOCURRENT, AND SENSOR UNIT AND MEASURING INSTRUMENT USED THEREFOR
光電流を用いた被検物質の特異的検出方法、それに用いられるセンサユニットおよび測定装置 - 特許庁 - To provide a method for a quality control test of laser shock peening operation of a workpiece 108 for production.
生産用加工物（１０８）のレーザ衝撃ピーニング操作の品質管理試験のための方法を提供する。 - 特許庁 - AUDIO PLAYBACK DEVICE TEST SYSTEM, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AUDIO PLAYBACK EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR AUDIO PLAYBACK DEVICE
音声再生装置テストシステム、集積回路装置、音声再生評価システム、音声再生装置のテスト方法 - 特許庁 - The internal circuit is tested by the scan method on the basis of the test input data set in the storage cell.
内部回路は、この記憶素子に設定されるテスト入力データに基づいてスキャン方式で試験される。 - 特許庁 - PRIMER FOR NUCLEIC ACID AMPLIFICATION IN DETECTING HOUSEKEEPING GENE mRNA AND TEST METHOD USING THE SAME
ハウスキーピング遺伝子のｍＲＮＡ検出のための核酸増幅用プライマー及び該プライマーを用いた検査方法 - 特許庁 - SIGNAL TRANSMITTING METHOD ON INTEGRATED CIRCUIT MOUNTING BOARD, INTEGRATED CIRCUIT MOUNTING BOARD AND SEMICONDUCTOR TEST INSTRUMENT
集積回路実装基板における信号伝送方法、集積回路実装基板及び半導体試験装置 - 特許庁 - To provide a test method capable of efficiently carrying out a work for testing required before shipping sheet-like lens products.
シート状レンズ製品の出荷前に必要な検査作業を効率よく行える検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method and a testing device which tests a viscoelastic body by an optional initial strain.
任意の初期歪みで粘弾性体の試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a power supply clamping circuit that protects an internal circuit even in a latch-up test of C-V method.
Ｃ−Ｖ法のラッチアップ試験でも内部回路を保護することができる電源クランプ回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for decreasing complexity related to the test and utilization of a multicore central processing unit(CPU).
マルチコアＣＰＵのテストおよび利用に関連する複雑さを減少する方法およびシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device, a test substrate, a testing system of the semiconductor device, and to provide a testing method of the semiconductor device.
半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - BONDING ARRANGEMENT STRUCTURE AND TEST METHOD USING THE SAME
ボンディングプロセスにおける電気性能テストを容易にする為のボンディング配列構造及び同構造を用いたテスト方法 - 特許庁 - To provide a test method of an integrated circuit device for improving SPQL, reliability performance, and yield performance.
ＳＰＱＬ、信頼性性能、歩留まり性能を向上させる集積回路デバイスの試験技法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for rupture strength and durability under an operation condition of a plastic gear, and a device therefor.
プラスチック歯車の動作状態での破壊強度、耐久性の試験方法及びその試験装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING FUEL CELL, TEST APPARATUS FOR EVALUATING FUEL CELL, AND ANALYSIS PROGRAM FOR EVALUATING FUEL CELL
燃料電池評価方法及び燃料電池評価試験装置並びに燃料電池評価用解析プログラム - 特許庁 - To test reliability for a gate array using many transistors as much as possible, pursuant to a method close to an LSI operation.
ＬＳＩ動作に近い方法で、できるだけ多くのトランジスタを使用してゲートアレイの信頼性を試験する。 - 特許庁 - To provide a wiring test pattern and an evaluation method therefor capable of easily specifying a short-circuit defective part.
ショート不良の箇所を容易に特定可能な配線テストパターン及びその評価方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus capable of measuring a height of a test piece in a thermostatic tank.
恒温槽内で試験片の高さを測定できる試験片の高さ測定方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING IC DEVICE TEST IMPROVED IN SPQL, RELIABILITY, AND YIELD PERFORMANCE
ＳＰＱＬ、信頼性、および歩留まり性能を向上させたＩＣデバイス試験の実施のための方法および装置 - 特許庁 - The test strip and a method of the present invention are used for various purposes, in particular, for measurement of a glucose concentration.
本発明によるテストストリップおよび方法は、様々な用途、特にグルコースの濃度の測定において使用される。 - 特許庁 - To provide a duplex circuit which is capable of detecting a failure in a comparator circuit, a semiconductor device and a test method.
比較回路の故障検出が可能な二重化回路、半導体装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a controlling method thereof capable of executing a performance limit test for a tRP period.
ｔＲＰ期間の性能限界試験を実行可能な半導体装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁 - The test data 3 adopt a describing method such as the modification of a command or an address related with a signal unique to the LSI.
試験データ３は、LSI固有の信号に関するコマンドやアドレス修飾等の記載方法を採用している。 - 特許庁 - TEST PIECE FOR ENVIRONMENTAL INVESTIGATION USING MICRO- ORGANISM AS INDICATOR, AND ENVIRONMENTAL INVESTINGATION METHOD USING IT
微小生物を指標生物とする環境調査用試験片およびそれを使用する環境調査方法 - 特許庁 - To provide a ultrasonic flaw detection method and test object structure which do not generate a dead zone.
不感帯領域を生じさせない超音波探傷方法及び被検査対象物構造を提供すること。 - 特許庁 - To provide an IC testing apparatus for shortening its test time and to provide a method of controlling the IC testing apparatus.
ＩＣ試験装置の試験時間を短縮するＩＣ試験装置およびその制御方法を提供する。 - 特許庁
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