「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 93 94 95 96 97 98 99 100 101 .... 161 162 次へ＞- METHOD AND SYSTEM OF MAKING/GRADING TEST QUESTION, SERVER OF MAKING/GRADING TEST QUESTION, PORTABLE RESPONDENT TERMINAL DEVICE, PROGRAM, AND PROGRAM TO BE MOUNTED ON PORTABLE RESPONDENT TERMINAL DEVICE
試験問題作成・採点方法およびそのシステム、試験問題作成・採点サーバ、携帯型解答者端末装置、プログラム、並びに携帯型解答者端末装置搭載用プログラム - 特許庁 - SPECIMEN-TESTING SYSTEM AND METHOD, COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING SPECIMEN TEST PROCESSING PROGRAM BY COMPUTER, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER CONDUCT SPECIMEN TEST PROCESSING
検体検査システム、検体検査方法、コンピュータによる検体検査処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、コンピュータに検体検査処理を実行させるためのプログラム - 特許庁 - To provide a boundary test architecture usable for executing a boundary test in an integrated circuit when the integrated circuit is in an operation mode, and especially its processing method.
集積回路において、該集積回路が動作モードである時に境界試験を行うために使用することができる境界試験アーキテクチャ、特にその処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method capable of easily measuring and evaluating the transistor characteristic of the same lot or the same wafer, and measuring a high-speed timing with high accuracy.
同一ロットあるいは同一ウェハのトランジスタ特性をテスタ上で容易に測定、評価でき、高速タイミングを高精度で測定することができるテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for corrosion test of a metallic tube container being used as a container for cosmetic in which corrosion test can be carried out in a short time with high accuracy.
本発明は化粧料容器等として用いられる金属チューブ容器の腐食性試験方法に関し、腐食性試験を短時間で高精度に行なうことを課題とする。 - 特許庁 - To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.
動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁 - To provide an output characteristic test method at a low cost for a D/A converter capable of executing the test without the need for using an expensive fast analyzer and without the need for the D/A converter to use a special addition circuit.
Ｄ／Ａコンバータ側に特別な付加回路を必要とせず、高価な高速アナライザを用いずに実施できる低コストな、Ｄ／Ａコンバータの出力特性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for an integrated circuit in which a test concerning a secret part is executed without being made access to the secret part included in the integrated circuit by unauthorized persons.
集積回路に含まれた機密部分の内容が無権限者にアクセスされずに該機密部分に関する試験が実行され得るという集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus, a method, and a program for generating test patterns and capable of preventing increases in the number of test patterns and highly accurately detecting bridge faults and open faults.
テストパターン数の増大を抑制し、ブリッジ故障及びオープン故障を高精度で検出可能なテストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びテストパターン作成プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of detecting generation of a glitch noise, using a scanning test circuit, irrespective of a timing window of a flip-flop in the scanning test circuit, and a testing method therefor.
スキャン試験回路のフリップフロップのタイミングウインドウに関係なく、スキャン試験回路を用いてグリッチノイズの発生を検出する半導体集積回路及びその試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a heat storage test apparatus and heat storage test method that can quantitatively evaluate the deformation in which heat storage due to the direct sunlight and the like is taken into account.
直射日光等による蓄熱を考慮に入れた変形を定量的に評価することができる蓄熱試験装置および蓄熱試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test circuit of a semiconductor integrated circuit and a test method which can collectively measure the resistances of transistors of a plurality of output buffers connected to the same power source.
同一電源に接続された複数の出力バッファのトランジスタの抵抗値を一括して測定することができる半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a collision test device for a body frame of a truck having established a method for performing a bench test of only a body frame, without using an actual truck.
本発明はトラックの車体フレームの衝突試験装置に係り、実車を使わず、車体フレームのみの台上試験手法を確立した衝突試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a sham test piece for non-destructive inspection capable of easily and inexpensively obtaining a sham test piece having a grain boundary stress corrosion crack and a non-destructive inspection method applied to this technique.
粒界応力腐食割れを有する模擬試験体を容易且つ安価に得ることができる非破壊検査用模擬試験体及びこの技術を応用した非破壊検査方法の提供。 - 特許庁 - To provide a method and a device for inspecting semiconductor integrated circuit achieving a significant reduction of the test time and a highly precise test regardless of the measuring accuracy of a judging module.
判定モジュールの測定精度に関わらず、テスト時間の大幅な削減と高精度な試験を実現する半導体集積回路の検査方法及びその検査装置を提供する。 - 特許庁 - This method includes a step of performing a test in a domain and implementing a first subset of a domain of a plurality of circuits provided with a dynamic defect detection test pattern.
１つの実施形態では、方法は、ドメイン内テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第１サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁 - To obtain a polyester having a short foam bubble extinction time by the foaming test of pharmaceutical plastic container test presented by the Japanese pharmacopoeia and provide a method for producing the same.
日本薬局方プラスチック製医薬品容器試験の泡立ち試験による泡の消失時間が短い、医療用器具の材料に好適なポリエステルおよびその製造法を提供する。 - 特許庁 - To achieve a semiconductor integrated circuit and its test method which can facilitate the decision of the quality of an analog integrated circuit in a test of the semiconductor integrated circuit including the analog integrated circuit.
アナログ集積回路を含む半導体集積回路において、アナログ集積回路の良否の判定を容易化できる半導体集積回路およびその検査方法を実現する。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor memory in which noise interference between signal lines transmitting data to a memory cell can be examined by an I/O degeneration test mode and a test method for a semiconductor memory.
メモリセルにデータを伝送する信号線間のノイズ干渉をＩ／Ｏ縮退テストモードで調べることができる半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法を得る。 - 特許庁 - To provide a loading test device and its force control method capable of matching a waveform of a response wave showing a displacement of a test object with a target triangular waveform without deviation.
試験対象の変位を示す応答波の波形を偏差なく目標の三角波形と一致させることができる加力試験装置及びその加力制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a pseudo call for a load test and a result-verifying information generation method, capable of easily generating data for verification and the pseudo call for the load test corresponding to a load after operation.
稼動後の負荷に相当する負荷テスト用擬似呼及び検証のためのデータを容易に生成可能な負荷テスト用擬似呼・結果検証用情報生成方法を提供する。 - 特許庁 - (ii) The film has ≥500 times in folding endurance test in both MD and TD directions according to the MIT test method when a flowing direction and a width direction of the film are defined as MD and TD, respectively.
（ｉｉ）フィルムの流れ方向をＭＤ、幅方向をＴＤとしたとき、ＭＤ方向、及びＴＤ方向のＭＩＴ試験法による耐折回数が共に５００回以上である。 - 特許庁 - To provide a method for measuring water vapor permeability of a film by a calcium corrosion test, which can calculate the water vapor permeability without being affected by irregularities or foreign materials produced in a test piece.
試験片に生じたムラや異物の影響を受けずに水蒸気透過度の算出が可能なカルシウム腐食法によるフィルムの水蒸気透過度測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device and an inspection method of a semiconductor test program for automatically conducting inspection of plural conditional branches of a conditional branching instruction in the inspection of the semiconductor test program.
半導体試験プログラムの検査において、条件分岐命令の複数の条件分岐の検査を自動で行う半導体試験プログラムの検査装置及び検査方法の提供。 - 特許庁 - To achieve an apparatus and a method for testing a hardness meter, capable of carrying out its test or calibration more simply.
より簡便な校正又は検査が可能な、硬度計の検査装置及び硬度計の検査方法を実現する。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR DIAGNOSING TEST OF DEVICE AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM FOR THE SAME
デバイス試験診断システム及びそのデバイス試験診断方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - LIGHT GUIDE INSPECTION SENSOR TO BE USED FOR DETERMINING TEST BODY IN FLUID SAMPLE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
流体試料中の検体の判定を行うために使用される光導体検査センサ、およびその製作方法 - 特許庁 - To provide a test method for boring capable of simulating boring by an ovipositor of a cicada without using the cicada.
セミを用いずにセミの産卵管による穿孔を模擬することができる穿孔試験方法を提供する。 - 特許庁 - IMAGE FORMING DEVICE, LUMINOUS ENERGY CORRECTION TEST CHART OUTPUT METHOD AND LUMINOUS ENERGY CORRECTION DEVICE FOR OPTICAL WRITING HEAD
画像形成装置、光量補正用テストチャートの出力方法及び光書き込みヘッドの光量補正装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TELEGRAPHIC MESSAGE DATA, SERVER DEVICE, TEST SYSTEM FOR APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
電文データ生成方法、電文データ生成装置、サーバ装置、アプリケーションプログラムの試験システムおよび記録媒体 - 特許庁 - To provide a metallic corrosion acceleration test method having high correlation to actual exposure to the outside air, out of doors.
実際に屋外で外気に晒された場合との相関性が高い金属腐食加速試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for determining the position of a substrate with respect to a test stage both quickly and accurately.
試験ステージに対する基板の位置を迅速かつ正確に判定する方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus in which the timing accuracy of a testing device is calibrated during the test of an integrated circuit.
集積回路の試験中に試験装置タイミング精度を較正する方法および装置を提供する。 - 特許庁 - Also, a method for evaluating the possibility of a test substance inducing the torsades de pointes type ventricular tachycardia, is disclosed.
また、試験物質がトルサード・ド・ポアンツ型心室頻拍を誘発する可能性を評価する方法も開示される。 - 特許庁 - By this method, a group delay within the limit of fixed offset of device under test and chromatic dispersion can be obtained.
これにより、被測定デバイスの一定オフセットの範囲内までの群遅延と、色分散とを求めることができる。 - 特許庁 - TEST METHOD FOR MEDICINE TO MAINTAIN, PREVENT LOSS, OR RECOVER NERVE CELL FUNCTION
神経細胞機能を維持し、その喪失を防止し、または回復させる活性について薬物を試験する方法 - 特許庁 - To provide a device and a method capable of shortening an airtightness test time, even if a pipe connecting a sniffer probe and a gas measuring device is long.
スニファープローブとガス測定装置とを接続する配管が長くても気密試験時間を短縮する。 - 特許庁 - To provide a test system for determining the performance of inhibiting system sensor for air bag and a method therefor.
エアバッグ用の抑制システムセンサの性能を決定するための試験システムおよびその方法を提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND MECHANISM FOR CONTROLLING TEST PIECE-SETTING AND PASSAGE CORROSION-TESTING APPARATUS INCORPORATED THEREIN
試験片装着制御方法と試験片装着制御機構及びその機構が組み込まれた流路耐食試験装置 - 特許庁 - The system and method for selling vehicles include an adjustable suspension module on a test drive vehicle.
車を販売するシステム及び方法は、テスト用の車に調節可能なサスペンションモジュールを搭載したものである。 - 特許庁 - HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING DEVICE, NON-DESTRUCTIVE TEST DEVICE OF TUBE-SHAPED MEMBER, AND HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING METHOD
高エネルギー粒子発生装置及び管状部材非破壊検査装置並びに高エネルギー粒子発生方法 - 特許庁 - To provide a method for detecting Bacillus coagulans in a test sample specifically, in a short period of time and with high sensitivity.
被検試料中のバチルスコアグランスを特異的、短時間、かつ、高感度で検出する方法を提供する。 - 特許庁 - TEST DATA BACKUP SYSTEM AND METHOD, BACKUP CONTROL PROGRAM AND STORAGE MEDIUM STORING THE SAME
試験データバックアップシステム及び試験データバックアップ方法、並びに、バックアップ制御プログラム及びこれを記憶した記憶媒体 - 特許庁 - WITHSTAND VOLTAGE TEST ROLL FOR LAMINATED MATERIAL FOR CAPACITOR, AND METHOD OF MEASURING WITHSTAND VOLTAGE USING THE SAME
キャパシタ層用積層材の耐電圧検査ロール及びそのキャパシタ層用積層材ロールを用いた耐電圧測定方法 - 特許庁 - To provide an authentication processing device, a data processing method and its device for carrying out a test in a short time.
テストを短時間で行うことが可能な認証処理装置とデータ処理方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - The present invention discloses the method and the instrument for measuring electrochemically a concentration value of the test object in the physiological sample.
生理学的サンプル中の被検体の濃度の値を電気化学的に求める方法および装置が開示される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and its test method, enabling high-speed tests at a desired operation frequency.
所望の動作周波数での高速テストが可能である半導体装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - LANGUAGE LISTENING/SPEAKING TRAINING SYSTEM AND METHOD PROVIDED WITH FUNCTION OF RANDOM TEST, APPROPRIATE SHADOWING, AND IMMEDIATE REPHRASING
ランダムテスト、適切なシャドーイングおよび即座に言い換える機能を備えた言語聴話トレーニングシステムおよび方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and a scanning test method for improving a failure detection rate.
故障検出率を向上することができる半導体集積回路及びスキャンテスト方法を提供すること - 特許庁 - To provide a detection device capable of detecting a test material by a simple method by utilizing antigen-antibody reaction.
簡便な手法で被検物質を抗原抗体反応を利用して検出できる検出装置の提供。 - 特許庁
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