「Test method」を含む例文一覧(8060)
＜前へ 1 2 .... 89 90 91 92 93 94 95 96 97 .... 161 162 次へ＞- The system and method generate digital images of printed documents that do not have test pattern data within them.
インクジェット画像生成システムにおいて、テストパターンデータをもたない印刷物のデジタル画像を生成する。 - 特許庁 - SPANNER FOR IMPACT TENSION TESTER, TEST PIECE MOUNTING METHOD FOR IMPACT TENSION TESTER, AND IMPACT TENSION TESTER
衝撃引張試験機用スパナ、衝撃引張試験機の試験片装着方法および衝撃引張試験機 - 特許庁 - TESTING METHOD RELATED TO IMPREGNATION OR PENETRATION PROPERTIES OF ELECTRIC INSULATING RESIN COMPOSITION AND ITS TEST PIECE
電気絶縁用樹脂組成物の含浸性または浸透性に関する試験方法およびその試験片 - 特許庁 - The method for diagnosing the pancreatic cancer uses the expression level of the PCA-1 in a sample originated from a test animal as an index.
被験動物由来の試料中のPCA-1の発現量を指標とする、膵臓癌の診断方法。 - 特許庁 - To provide a loading test method for a building foundation having a pile, a ground improving body and a spread foundation.
杭と、地盤改良体と、直接基礎とを有する建物基礎の載荷試験方法を提供する。 - 特許庁 - NEW FLUORESCENT PROBES, KIT FOR MEASURING METAMPHETAMINE OBTAINED BY COMBINING THE SAME, AND SIMPLIFIED TEST METHOD OF METAMPHETAMINE
新規な蛍光プローブ類、これらを組み合わせたメタンフェタミンの測定キットおよびメタンフェタミンの簡易測定法 - 特許庁 - CONCRETE QUALITY TEST RESULT TABLE PREPARING APPARATUS AND PREPAR METHOD, AND RECORD MEDIUM
コンクリート品質試験結果表作成装置、コンクリート品質試験結果表作成方法、および記録媒体 - 特許庁 - ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, CONTACT STRUCTURE, ELECTRONIC DEVICE AND INSPECTION DEVICE FOR PERFORMANCE TEST
異方導電性シート、その製造方法、接点構造体、電子装置及び動作試験用検査装置 - 特許庁 - To provide a test program preparing device and method which is capable of performing failure analysis of a tested LSI.
試験後のＬＳＩの故障解析を考慮したテストプログラム作成装置およびその方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING UTERINE CANCER, TEST DRUG FOR UTERINE CANCER AND ANTIBODY FOR UTERINE CANCER ANTIGEN
子宮体がんの検査方法、子宮体がんの検査薬、並びに子宮体がん抗原に対する抗体 - 特許庁 - IC MEMORY DEVICE AND OPERATING METHOD THAT ARE CONFIGURED TO OUTPUT DATA BIT AT LOW TRANSFER RATE IN TEST MODE OF OPERATION
テストモードにおいて低い転送速度でデータビットを出力するＩＣメモリ装置及びその動作方法 - 特許庁 - CHIP-ON-FILM PACKAGE HAVING TEST PAD FOR ELECTRICAL CHARACTERISTIC EVALUATION AND METHOD FOR FORMING THE SAME
電気的特性評価のためのテストパッドを有するチップオンフィルムパッケージ及びチップオンフィルムパッケージ形成方法 - 特許庁 - TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING DISK AND DATA STORAGE DEVICE FOR EXECUTING THE SAME
記録ディスクにおける欠陥を検出するためのテスト方法及びそれを実行するデータ記憶装置 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a solar cell module with an efficient and precise hot spot test.
効率的かつ正確なホットスポット試験を盛り込んだ太陽電池モジュールの製造方法を提供する。 - 特許庁 - ELECTRONIC PARTS TESTER, SPECTRAL ANALYZER, ELECTRONIC PARTS TEST METHOD, AND TESTER FOR MAGNETIC HEAD PARTS/MAGNETIC MEDIA PARTS
電子部品テスタ、スペクトラム分析装置、電子部品テスト方法および磁気ヘッド部品／磁気媒体部品用テスタ - 特許庁 - To provide a test method for determining disconnection of a coaxial cable assembly at high speed and with high precision.
同軸ケーブルアセンブリの断線の有無を高速かつ高精度に判定する試験方法を提供する。 - 特許庁 - To simultaneously test a first memory and a second memory of which data storage method is different from that of the first memory.
第１メモリと、第１メモリとはデータの記憶方式が異なる第２メモリとを同時にテストすること。 - 特許庁 - To provide an integrated circuit for a smart card having improved test performance and to provide a related method.
テスト性能を向上させたスマートカード用の集積回路及びそれに関連する方法を提供する。 - 特許庁 - The method has an engineering process, an analysis process, a test process and a control process and accesses an information.
エンジニアリングプロセス、分析プロセス、テストプロセス及び制御プロセスを有するとともに、情報システムにアクセスする。 - 特許庁 - SYSTEM, APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR CONTROLLING RECEPTION OF TEST DRUG
試験薬受領管理システム及び試験薬受領管理装置，試験薬受領管理方法並びにプログラム - 特許庁 - To provide a system for automating a test for an image processing system and its method.
本発明は、画像処理システムの試験を自動化するシステムおよびその方法を提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a system and a method that measures understanding stat of each flow, without the need for using a test packet.
試験パケットを用いずに各フローの疎通状況を測定する装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - DIAGNOSING METHOD BY BI-DIGITAL O-RING TEST AND CLINICAL RECORD CARD TO BE USED IN DIAGNOSIS
バイデジタルＯ−リングテストによる診断方法及びバイデジタルＯ−リングテストによる診断に用いられるカルテ - 特許庁 - To provide a sediment sampling adaptor which allows sampling of sediment in method for Swedish weight sounding test.
スウェーデン式サウンディング試験法において土砂のサンプリングを可能とする土砂サンプリングアダプタを提供する。 - 特許庁 - To provide a method of evaluating groove bottom crack resistance performance of a tread groove by using a test piece of a simple structure.
構造が簡単な試験片を用いて、トレッド溝の耐溝底クラック性能を評価するための方法。 - 特許庁 - TEST PATTERN FOR STEREOSCOPIC IMAGE EXTINCTION EVALUATION, STEREOSCOPIC IMAGE CROSSTALK EVALUATION METHOD AND COMPUTER STORAGE DEVICE
立体画像消失評価用試験パターン、立体画像クロストーク評価方法及びコンピュータ記憶装置 - 特許庁 - To provide a system and a related method for an asynchronous code test in an integrated development environment (IDE).
統合開発環境（ＩＤＥ）における非同期コード・テストのシステムおよび関連する方法を提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH DESIGN FOR TEST FACILITATION, AND FAULT LOCATION DIAGNOSING METHOD THEREFOR
検査容易化設計の半導体集積回路および半導体集積回路の故障箇所診断方法 - 特許庁 - To provide an adhesion test method which is advantageous for accurately evaluating an adhesive ability of a tile.
タイルの接着性能を正確に評価する上で有利な接着性能試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a jitter analysis method and a test measurement instrument for decomposing and analyzing jitter components using a spectrum analysis and a time-domain probability density.
スペクトラム分析及び時間領域の確率密度を用いて、ジッタ成分を分離して分析する。 - 特許庁 - To provide a method for evaluating bond strength of a test chemical substance to an ecdysone receptor of a crustacea.
試験化学物質の甲殻類のエクジソンレセプターに対する結合強度の評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for processing a user defined-event generated during the test of a device etc.
デバイス等のテスト中に生成されたユーザ定義イベントの処理方法および処理装置を提供する。 - 特許庁 - ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR AND TEST DEVICE HAVING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME
異方導電性コネクターおよびそれを有する検査装置並びに異方導電性コネクターの製造方法 - 特許庁 - COMPRESSION/DECOMPRESSION METHOD FOR PATTERN DATA FOR SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS AND TEST PATTERN- COMPRESSING/EXPANDING APPARATUS
半導体試験装置用パタ—ンデ—タのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパタ—ン圧縮・伸張装置 - 特許庁 - To provide an IC tester and a testing method of the IC tester capable of shortening the test time.
テスト時間を短縮できるＩＣテスタ及びＩＣテスタの試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁 - To provide an improved substrate test device for testing a substrate having a large area, and a method.
大面積を有する基板の試験をさらに改良した基板の試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - The method performs an initial input step of setting a test initial value to the flip-flop using a serial scan input.
フリップフロップにテスト用の初期値をシリアルスキャン入力により設定する初期入力工程を行う。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAVY LOAD IN ENCRYPTION SYSTEM AND RECORDING MEDIUM STORING HEAVY LOAD TEST PROGRAM
暗号化システムにおける高負荷試験方法及び装置と高負荷試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM
試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁 - WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS BASE STATION, WIRELESS MOBILE STATION, AND LOOPBACK TEST METHOD OF WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM
無線通信システム、無線基地局、無線移動局、および無線通信システムにおけるループバック試験方法 - 特許庁 - To provide a test method of an IC capable of processing data at two or more different data rates.
２つまたはそれ以上の異なるデータ・レートでデータを処理することができるＩＣのテストに関する。 - 特許庁 - ASSEMBLING MOLD FOR CASTING PARTIALLY SOLIDIFIED INGOT, AND PREPARATION METHOD FOR WORKING TEST FOR PARTIALLY SOLIDIFIED INGOT
部分凝固鋳塊鋳造用組立鋳型及び部分凝固鋳塊の加工試験用準備方法。 - 特許庁 - EXCLUSIVE COMPONENT FOR CONNECTION EVALUATION AND TEST METHOD FOR EVALUATING CONNECTION OF ELECTRONIC COMPONENT TO MOUNTING SUBSTRATE
接続評価専用部品およびそれを用いた電子部品と実装基板の接続の評価試験方法 - 特許庁 - MUSIC RECORDING/REPRODUCING SYSTEM EVALUATION METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM FOR MUSIC RECORDING/REPRODUCING SYSTEM EVALUATION
音楽録音再生システム評価方法および音楽録音再生システム評価用テストプログラム生成プログラム - 特許庁 - ADHESION RESISTANCE TEST METHOD TO SEALED LIQUID OF RUBBER COMPOUND PRODUCT FOR SEALING LIQUID, AND DEVICE THEREFOR
液体密封用ゴム複合製品の密封液体に対する接着耐性試験方法およびその装置 - 特許庁 - To provide a light stability testing method capable of keeping a designated temperature to make an accurate test.
所定温度を維持し、正確な試験を行うことのできる光安定性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for managing a pattern object file in a module type test system of an open architecture.
オープンアーキテクチャのモジュール式試験システム内のパターンオブジェクトファイルを管理するための方法を提供する。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME
超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁 - According to the present invention, a design method for semiconductor integrated circuit based on TPI (test point insertion) technique is provided.
本発明によれば、ＴＰＩ手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁 - To provide an improved method to adjust or calibrate the set value of a weak write test mode (WWTM).
弱い書き込みテストモード(WWTM) の設定値を調整又は較正するための改善された手法の提供。 - 特許庁
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