「Test method」を含む例文一覧(8060)
＜前へ 1 2 .... 87 88 89 90 91 92 93 94 95 .... 161 162 次へ＞- To provide an impact test device and an impact test method capable of obtaining an impact stress-strain characteristic or the like when applying impact force onto an impact absorbing material.
衝撃吸収材料の衝撃力作用時における衝撃応力—歪み特性等を得ることができる衝撃試験装置及び衝撃試験方法を提供する。 - 特許庁 - In this method, a test ligand and a target compound are mixed together, and the test ligand and the target compound are mixed together, in the presence of at least one kind of blocker.
該方法はテストリガンドと標的化合物とを併合すること、および少なくとも１種の遮断剤の存在下にテストリガンドと標的化合物とを併合することからなる。 - 特許庁 - To provide an evaluation test apparatus and evaluation test method in which an object to be tested can be tested by applying a load, which is temporally continuous, to the object to be tested.
時間的に連続した負荷を被試験体に印加して、被試験体の試験を行うことを可能とする、評価試験装置および評価試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an operation synthesis device and a method, and a program, for generating a test bench in which a same test vector can be used in an action simulation and an RTL simulation.
動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a test piece that can easily and surely arrange each member constituting a test piece in a straight line along its axis direction (tensile direction) and integrate them.
試験片を構成する各部材を、簡単かつ確実に軸心方向（引張方向）に一直線に揃えて一体化できる試験片の製作方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a test method by which a simultaneous non-contact test of a plurality of non-volatile memory chips can be performed without providing wireless receiving circuits in respective chips.
各チップに無線受信回路を設けることなく、複数の不揮発性メモリチップの同時非接触テストが可能な半導体装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method and a test circuit in which confirmation of operation when a time interval between refresh-operation and read-out/write- in operation is forcedly approached can be performed.
リフレッシュ動作と読出し・書込み動作との時間間隔を強制的に近接させたときの動作確認を行なうことができるテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁 - In a wafer processing method before cutting an outer periphery of a wafer 12, a test wafer 30 held by a test wafer holding means 40 is cut by a cutting blade 22.
本発明のウェハ加工方法は，ウェハ１２外周部を切削する前に，切削ブレード２２により，テストウェハ保持手段４０に保持されたテストウェハ３０を切削する。 - 特許庁 - In the method for adjusting the lens for spectacles for the moving astigmatic testee, the eye examination data are obtained in a test stage using an eye test instrument, and the lens is worked and formed on the basis of the examination data.
特に、移動乱視の被検者に対しては、眼鏡用レンズの調整がうまくいかない場合が多く、かえって眼精疲労の要因にもなっていた。 - 特許庁 - To provide a load test system and a load test data creation method, which create data for load tests properly incorporating fluctuation of a machine load due to usage by a user.
ユーザの使用方法によるマシン負荷の変動を適切に組み込んだ負荷試験のデータを作成することができる負荷試験システムおよび負荷試験データ作成方法の実現 - 特許庁 - To provide a power steering characteristic test method for automobile and apparatus thereof that performs a characteristic test by providing a constant load with no pulsation and vibration to an output shaft.
脈動や振動等の変動のない一定負荷を出力軸に与えて特性試験する自動車用パワーステアリングの特性試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for bending test of wire harness wherein bending life span of the wire harness can be tested with an apparatus for the test that is compact and with a nimbly movement.
ワイヤーハーネスの屈曲寿命を、コンパクトかつ軽快な動作の試験装置によって試験することができるワイヤーハーネスの屈曲試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for printing a test pattern and a test pattern image allowing adjustment of various conditions such as supplying conditions of ink and water to be performed easily.
インキ、水の供給条件等の各種条件の調整を容易に行なうことができるようにするためのテストパターン印刷方法及びテストパターン画像の提供。 - 特許庁 - To solve the problem that it has been difficult to determine whether test vectors are as sufficient as they need to be or not in a method for verifying semiconductor integrated circuits for performing function simulation through the use of test vectors.
テストベクタを用いて機能シミュレーションを行う半導体集積回路の検証方法では、テストベクタが必要十分であるかの判断が困難である。 - 特許庁 - To provide a method and an equipment for thermal fatigue test in which thermal fatigue test can be conducted effectively and conveniently even for a material being used under high temperature.
高温で使用される材料に対しても有効な熱疲労試験片を簡易に実施することができる，熱疲労試験方法及び熱疲労試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test load applying method and a test load applying mechanism for stably applying a pressing load to a plurality of point on a specimen.
本発明の目的は、供試体の複数個所に押し荷重を安定的に負荷することが可能な試験荷重負荷方法及び試験荷重負荷機構を提供することである。 - 特許庁 - To provide a power train testing device and method which can easily test a test piece of a power train under various road disturbance environments.
本発明は、パワートレーン系試験装置及び試験方法に関し、様々な路面外乱下で行うパワートレーン系の供試体の試験を簡易に実現することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for a leak test in which a reinforcing member is not required during the leak test, and in which the monitoring of the pressure difference between the inside and the outside of a work is not required.
漏洩試験に際して補強部材を不要とし、ワークの内外圧力差を監視する必要がない漏洩試験方法及び漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for measuring the inner size of a test object, capable of accurately measuring the size of a measurement object, even if the measurement object inside the test object is large.
被検体内部における測定対象が大きくても精度良く測定対象の寸法を測定することを可能な被検体の内部寸法測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a program, device and method for software test management, which are utilized between test support functions by unifying management of information related to tests.
テストに関する情報を一元管理することにより、テスト支援機能間で活用するソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide integral welding and a test method for performing the on-going quality management test of a super-compact electronic connecting part in manufacturing a non-contact smart card.
非接触スマートカードの製造における超小型電子接続部の進行中の品質管理テストを行なうための、一体型溶接およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - A 1chipATPG executing means 110 produces a 1chipATPG test pattern 111 by using the conventional ATPG(automatic test pattern generating method) algorithm based on the new circuit information 102.
１ｃｈｉｐＡＴＰＧ実行手段１１０は、新回路情報１０２に基づき、従来のＡＴＰＧアルゴリズムを用いて１ｃｈｉｐＡＴＰＧテストパタン１１１を生成する。 - 特許庁 - To provide an adhesion resistance test method to sealed liquid of a rubber compound product for sealing liquid, and a device therefor, for shortening a test time.
試験時間の短縮を図ることのできる液体密封用ゴム複合製品の密封液体に対する接着耐性試験方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a game device allowing an operator to grasp the result of a test for action of an analog control means intuitively and a method of displaying the test result in the game device.
アナログ的な操作手段の動作をテストするときに、テスト結果を直感的に把握できるゲーム装置、およびゲーム装置のテスト結果表示方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a bit cell test circuit that conducts a write and a readout test of a bit cell to be tested through simple operation, and a method of detecting a defective bit cell.
簡易な動作によりテスト対象ビットセルの書き込み及び読み出しテストを実行するビットセルテスト回路及び不良ビットセル検出方法を提供すること - 特許庁 - There is disclosed a method for determining the existence of Bacillus coagulans in a test sample, wherein RNA is extracted from the test sample and PCR reaction is performed using a specific oligonucleotide primer.
被検試料におけるバチルスコアグランスの存在の判定方法であって、被検試料からRNAを抽出し、特定のオリゴヌクレオチドプライマーを用いてPCR反応を行う判定方法。 - 特許庁 - To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.
不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁 - In the test substance immunomodulatory function evaluating method, the test substance is cultured with peripheral blood mononuclear cells, and granulysin in a culture supernatant is detected.
被検物質を末梢血単核球とともに培養し、培養上清のグラニュライシンを検出することを特徴とする、被検物質の免疫賦活能評価方法。 - 特許庁 - The method and system comprises extracting resources required to run a discrete test case or set of associated test cases on a design.
この方法およびシステムは、ある設計に対して離散的なテスト・ケースまたは１組の関連するテスト・ケースを実行するのに必要とされるリソースを抽出することを含む。 - 特許庁 - To provide an elution test method of medical drugs suitable for evaluating the quality of the medical drugs inexpensively and simply, and a bag material for the elution test.
安価で、簡便に医薬品製剤の品質評価を行なうに適した、医薬品製剤の溶出試験方法および試料充填用バッグ材料を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method by which burn in test for each integrated circuit chip to be tested formed on a semiconductor wafer can be conducted in a lump in the state of semiconductor wafer.
半導体ウエハ上に形成された各被試験集積回路チップのバーンイン試験を半導体ウエハ状態で一括して実施することができる試験方法の提供。 - 特許庁 - To provide a delay fault test quality calculation method for high-accuracy calculation test quality to delay fault, caused by physical defects and defectiveness that are to be the objects.
対象とする物理欠陥・不良に起因する遅延故障に対するテスト品質を高精度に算出する遅延故障テスト品質算出方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of calculating a fracture transition temperature, from a test result in a Charpy impact test for obtaining the same result even when an observer is different.
観察者が異なる場合にも同一の結果の得られるようなシャルピー衝撃試験の試験結果から破面遷移温度を算出する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.
遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁 - For example, the method takes into account an affection on a test yield of sensitivity to short-circuiting between the library elements and an affection on a test yield of sensitivity to wiring fault.
例えば、この方法は、ライブラリ・エレメント間の短絡に対する感度のテスト歩留まりへの影響と配線故障に対する感度のテスト歩留まりへの影響とを考慮する。 - 特許庁 - TEST/MEASUREMENT METHOD OF ELECTRIC PROPERTY OF IC CHIP BUILT IN CONTACT TYPE IC CARD OR IC MODULE, TEST/MEASUREMENT SYSTEM AND STABILIZED POWER SUPPLY USED FOR IT
接触式ＩＣカードまたはＩＣモジュールに内蔵されたＩＣチップの電気特性の検査・測定方法及び検査・測定システム並びにこれに用いる安定化電源 - 特許庁 - In an aging acceleration test of the automobile tire, this test method is characterized by being exposed alternately to a wet heat cycle and a dry heat cycle.
自動車用タイヤの老化促進試験において、湿熱サイクルと乾熱サイクルに交互に暴露させることを特徴とする試験方法により目的を達成する。 - 特許庁 - To provide a behavioral synthesis device and method, and program, for generating a test bench in which the same test vector can be used in an action simulation and an RTL (register transfer level) simulation.
動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a mixing test evaluation device and a method for determining the place of a mixed interface formed in a mixing test, and evaluating physical properties at each place.
混合試験において形成される混合界面の場所を確定し、各場所における物性を評価する混合試験評価システム装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - A method is provided which uses this analytical test element, to determine analytes in a liquid and analytes in the liquid with the aid of this analytical test element.
また、液体中のアナライトを定量するための、この分析用テストエレメントの使用、ならびにこの分析用テストエレメントを用いた、液体中のアナライトを定量する方法。 - 特許庁 - To provide a magnetic storage apparatus which reduces influence of side erase in writing a read data pattern in measurement of side erase, to provide a head test method, and a head test apparatus.
サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for rubber fatigue which can predict the fatigue life of the rubber for a short period of time while conducting the operations of tensile deformation of a rubber test piece without its rupture.
ゴム試験片に対する引張変形操作を破断まで行うことなく、ゴムの疲労寿命を短時間で予測できるようにしたゴムの疲労試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a fill-test method, a fill-test apparatus and a fill-control apparatus, capable of checking whether or not a sliced part of a roll bread is appropriately filled up with a filling.
ロール状のパンのスライス部にフィリングが適切に充填されているか否かを確認できる充填検査方法、充填検査装置、充填制御装置を提供する。 - 特許庁 - To develop a TCC's surrogate cleaning device and a cleaning method for keeping the tip of a test probe clean by cleaning pin elements of IC device or receptacles for a test chip.
ＩＣ装置のピン素子やテスト・チップ・レセプタクルを清掃して、テスト・プローブの尖端を清潔に保つ、清掃用ＴＣＣ清掃装置及びその清掃方法の開発。 - 特許庁 - To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.
クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁 - To provide a power transmitter and a method for testing the power transmitter, efficiently and reliably executing a test (e.g., test by public certificate authority) for the power transmitter in a noncontact power transmission system.
無接点電力伝送システムにおける送電装置の試験（例えば、公的認証機関による試験）を、効率的かつ確実に実行できるようにする。 - 特許庁 - To provide a durability test method by which a durability test for testing the durability of an automobile coating film in its actual use is simply carried out.
自動車用塗膜の実際の使用時における自動車塗膜の耐性を試験するための耐性試験を、簡便に行うことができる耐性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an evaluation method and an evaluation test device capable of conducting easily an evaluation test for the condition where a worked material is welded onto a material for a tool or the like.
工具などの材料へ被加工材料が溶着する状態の評価試験を簡単に行うことができる評価方法および評価試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method, capable of performing an input level test by one function test and capable of inspecting an electronic circuit, without being affected by hysteresis characteristics.
１回のファンクションテストで入力レベルテストを行うことができ、しかもヒステリシス特性に影響されないで電子回路を検査することができる方法等を提供する - 特許庁 - To provide a database for designing an integrated circuit device in which a test strategy is stored at a state that it can be optimized and a designing method to optimize the test strategy.
テスト戦略を最適化しうる状態で格納した集積回路装置の設計用データベース及びテスト戦略を最適化するための設計方法を提供する。 - 特許庁
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