「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 84 85 86 87 88 89 90 91 92 .... 161 162 次へ＞- To provide a method for performing the read/write test of a magnetic tape recorder in a short time.
磁気テープ記録装置のリード・ライト試験を短時間で行う方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an eddy current test system (5) and method for testing a constituting part (12).
構成部品（１２）を検査するための渦電流探傷検査システム（５）及び方法を提供する。 - 特許庁 - TEST METHOD OF CONDUCTOR ADHESION STRENGTH FOR PRINTED WIRING BOARD MATERIAL AND PRINTED WIRING BOARD
プリント配線板用基板材料およびプリント配線板の導体密着強度試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR DISPOSING THROUGH-HOLE, EVALUATION OF SOLDERING. AND TEST BOARD EQUIPMENT FOR SOLDERING EVALUATION
スルーホール配置方法および半田付け評価方法および半田付け評価用テストボード装置 - 特許庁 - To provide a method and device for testing memory for shortening an erase test of non-volatile memory.
不揮発性メモリの消去試験を短縮するメモリ試験方法及び装置を提案する。 - 特許庁 - A variety of test strips and skin piercing elements are produced by the production method.
上記製造方法は種々の検査細片および皮膚穿刺要素を形成する方法を与える。 - 特許庁 - To provide a method of characterizing of an SOI wafer without forming any physical test structure.
物理的なテスト構造を形成せずに、ＳＯＩウエハの特性を決定する方法を提供。 - 特許庁 - SWITCHGEAR, PERFORMANCE EVALUATION METHOD OF INSULATOR IN SWITCHGEAR, AND TEST PIECE FOR MEASURING INSULATION RESISTANCE
スイッチギヤ、スイッチギヤの絶縁物の性能評価方法、及び絶縁抵抗測定用の試験片 - 特許庁 - TEST BENCH AND TESTING METHOD FOR MEASURING SOUND INSULATION, THAT IS, INSERTION LOSS, IN OBJECT OF TESTING
試験対象物における遮音すなわち挿入損失を測定するための試験台と方法 - 特許庁 - CONTACTOR FOR ELECTRICAL TEST, ELECTRICAL CONNECTING APPARATUS USING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTACTOR
電気試験用接触子、これを用いる電気的接続装置、及び接触子の製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR CONFIRMING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁 - To provide a voice speech equipment evaluation test method capable of obtaining quantitative evaluation results.
定量的な評価結果を得ることができる音声通話装置評価試験方法を提供する。 - 特許庁 - DETERMINISTIC COMPONENT MODEL DETERMINATION DEVICE, DETERMINATION METHOD, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, TEST SYSTEM AND ELECTRONIC DEVICE
確定成分モデル判定装置、判定方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁 - METHOD FOR GENERATING TEST SIGNAL FOR TESTING ACCURACY OF CINR MEASUREMENT OF SUBSCRIBER STATION THROUGH BASE STATION EMULATOR
基地局エミュレータによる端末のＣＩＮＲ測定精度試験用テスト信号の生成方法 - 特許庁 - MICROBIOLOGICAL TESTING APPARATUS, TEST AND CULTURE SYSTEM INCLUDING THE SAME AND METHOD FOR USING THE SAME
微生物学的試験装置、それを含む試験および培養システム、ならびにそれを使用する方法 - 特許庁 - A novel method and immunodiagnostic test kit for the detection of the hantavirus infection are disclosed.
ハンタウイルス感染の検出のための新規な方法および免疫診断試験キットが開示される。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of shortening a test time of a semiconductor chip.
半導体チップのテスト時間を短縮可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TEST GENERATION FROM HYBRID DIAGRAMS WITH COMBINED DATA FLOW AND STATECHART NOTATION
データ・フロー及びステートチャート表記を組み合わせた混成図からの検査生成方法及び装置 - 特許庁 - To provide a method for estimating a test yield to a semiconductor before a design layout.
設計レイアウト前に半導体製品に対するテスト歩留まりを予測する方法を提供する。 - 特許庁 - IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR VERIFYING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE TEST FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
集積回路デバイスを試験するための集積回路デバイス試験を検証する方法及び装置 - 特許庁 - IMAGE FORMING APPARATUS, CORRECTION VALUE CALCULATOR, TEST CHART FOR DENSITY MEASUREMENT, AND CORRECTION VALUE CALCULATION METHOD
画像形成装置、補正値算出装置、濃度測定用テストチャート、及び補正値算出方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING SUBSTANCE TO BE DETECTED ON POROUS SOLID-PHASE LIGAND MEASURING TEST PIECE
多孔質固相リガンド測定試験片上における被検物質の定量法および装置 - 特許庁 - TEST FACILITY SYSTEM, TIME SYNCHRONIZING METHOD FOR APPLICATION SOFTWARE TO BE USED THEREFOR AND PROGRAM THEREFOR
試験設備システム及びそれに用いるアプリケーションソフトウェアの時刻同期方法並びにそのプログラム - 特許庁 - MEASURED VALUE CORRECTION METHOD AND TEST ANVIL HOLDING DEVICE IN MEASUREMENT OF CONCRETE HARDNESS BY REBOUND HAMMER
リバウンドハンマーによるコンクリート硬度測定における測定値補正方法及びテストアンビル保持装置。 - 特許庁 - TEST PIECE FOR ESTIMATING CREEP LIFETIME, AND ESTIMATION METHOD OF CREEP LIFETIME USING THE SAME
クリープ寿命を推定するための試験片、およびそれを用いたクリープ寿命の推定方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PROVIDING RADIO-FREQUENCY CONDITION TO TEST RADIO COMMUNICATIONS EQUIPMENT
無線通信設備をテストするための無線周波数条件を提供するための装置および方法 - 特許庁 - AUTOMATIC CHARGED CONTENT PURCHASE TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED
有償コンテンツ自動購入テストシステム、方法、プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - EVENT RESPONSE TEST AND LOAD MEASURING METHOD IN SBC ENVIRONMENT, SERVER, CLIENT, AND MANAGING DEVICE
ＳＢＣ環境におけるイベント応答試験及び負荷測定方式、並びにサーバ、クライアント、管理装置 - 特許庁 - To provide a method for screening the demethylation activity against a DNA of a test specimen.
被検物質のＤＮＡに対する脱メチル化作用をスクリーニングするための方法を提供する。 - 特許庁 - CONTROL SYSTEM AND TEST FOR MEDICAL TECHNOLOGY AND/OR METHOD OF OPERATION OF TREATMENT APPARATUS
医療技術の制御システムおよび医療技術の検査および／または治療装置の操作方法 - 特許庁 - FERROELECTRIC MEMORY, MANUFACTURE OF FERROELECTRIC MEMORY, AND TEST METHOD FOR FERROELECTRIC MEMORY
強誘電体メモリ、強誘電体メモリの製造方法及び強誘電体メモリの試験方法 - 特許庁 - PROBE NEEDLE FOR WAFER TEST AND ITS PRODUCTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTED WITH THE PROBE NEEDLE
ウエハテスト用プロ—ブ針とその製造方法およびそのプロ—ブ針によってテストした半導体装置 - 特許庁 - DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY CIRCUIT PROVIDED WITH TEST SYSTEM AND METHOD FOR DECIDING SENSITIVITY OF SENSE AMPLIFIER
センスアンプの感度を決定するためのテストシステム及び方法を具備するダイナミックランダムアクセスメモリ回路 - 特許庁 - To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time.
試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a method of performing a bearer path assurance test via a packet-based IP network.
パケット・ベースのＩＰネットワークを介してベアラ・パス検証テストを実施する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor circuit which can be tested efficiently, and a test method for the same.
効率よくテストを行うことが可能な半導体回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - DIAGNOSTIC KIT HAVING MEMORY FOR STORING TEST STRIP CALIBRATION CODE, AND RELATED METHOD
試験片較正コードを記憶している一定のメモリーを有する診断キットおよび関連の方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ELIMINATING ERROR BEING INDUCED BY MEASUREMENT SYSTEM DURING CIRCUIT TEST
回路テスト中に測定システムによって誘発されるエラ—を除去するための方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR AUTONOMIC TEST CASE FEEDBACK USING HARDWARE ASSISTANCE FOR CODE COVERAGE
コード・カバレッジ用のハードウェア支援を使用する自律テスト・ケース・フィードバックのための方法および装置 - 特許庁 - ANALYZING METHOD FOR CONSOLIDATION YIELD STRENGTH AND ALLOWABLE STRESS OF GROUND USING SOUNDING TEST
サウンディング試験を用いた地盤の圧密降伏応力解析法および許容応力度解析法 - 特許庁 - To provide an IC card having high durability against an ATM insertion-extraction test, and to provide its manufacturing method.
ＡＴＭ挿抜試験に対して耐久性の高いＩＣカードとその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.
半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method, which evaluate a test piece exactly and quantitatively with an electron beam microscope.
電子顕微鏡により試料を正確に定量評価する装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for facilitating test printing of the same data in a plurality of print methods.
複数の印刷方法で同一データの試し刷りを容易に行える方法を提供する。 - 特許庁 - Preferably, the width of the protrusion is smaller in comparison with the width of the lateral groove in the test method.
好ましくは、この試験方法では、上記凸条の幅は、上記横溝の幅に比して小さい。 - 特許庁 - To provide an electronic circuit device lowering production costs and a test method thereof.
製造コストを低く抑えることのできる電子回路装置およびその試験方法を実現する。 - 特許庁 - CONTROL COMPOSITION AND METHOD OF USE FOR COAGULATION TEST, EVALUATION DEVICE AND KIT
対照組成物および該対照組成物の凝固試験への使用方法、評価装置およびキット - 特許庁 - To provide a serial access memory and a data-write/read-method in which a test time can be shortened.
テスト時間を短縮することが可能なシリアルアクセスメモリおよびデータライト／リード方法を提供する - 特許庁 - CONVENIENT METHOD FOR TESTING COMPOSITIONAL MEMBER OF EXISTING BUILDING AND CONVENIENT PORTABLE TEST INSTRUMENT THEREFOR
既設建造物における構成材の簡易試験方法とそのための携帯式簡易試験器具 - 特許庁
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