「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 81 82 83 84 85 86 87 88 89 .... 161 162 次へ＞- A test observing system 1 comprises a first system 2 on a person responsible to test side who performs a test in the test field, a second system on the attester side who present in the position distant from the test field, and Internet 4 for data-communicably connecting the first system 2 to the second system 3, and this method is applied thereto.
試験立会いシステム１を、試験現場において試験を行う試験担当者側の第１のシステム２と、試験現場から離れた位置に居る立会者側の第２のシステム３と、第１のシステム２と第２のシステム３とをデータ通信可能に接続するインターネット４とから構成し、前記方法を適用した。 - 特許庁 - TEST CHART FOR PRINTING AREA SIZE MEASUREMENT, DEVICE AND METHOD FOR GENERATION THEREOF, QUALITY CONTROL METHOD FOR PRINTING AREA OUTPUT DEVICE, AND GENERATING PROGRAM FOR THE TEST CHART FOR PRINTING AREA SIZE MEASUREMENT
画線寸法測定用テストチャート及びその作成方法並びにその作成装置、画線出力装置の品質管理方法、並びに画線寸法測定用テストチャートの作成プログラム - 特許庁 - To provide a method for designing a proper random vibration test specification by finding a shortening rate of a test time by using a peculiar accumulated fatigue calculation method, while applying correspondingly a linear damage rule.
直線被害法則に準じながらも、独自の蓄積疲労計算方法を用いて試験時間の短縮率を求め、適正なランダム振動試験仕様を設計する方法を得る。 - 特許庁 - To provide a package for an electronic component, an airtightness test method for it and an airtightness test method for a functional element and a device for it which can reduce time and cost for inspection.
検査時間の短縮と検査コストの低減を可能とする電子部品用パッケージ及びその気密試験方法並びに機能素子の気密封止方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method which improves a test method performed in a siloxane gas atmosphere, enhanced in the reliability of the concentration of gas and enables an experiment in a stable concentration.
シロキサンガス雰囲気中で行う試験方法を改良し、ガス濃度の信頼性が高く、かつ安定した濃度で実験を行うことができる試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The refraction factor of the thin film under test is determined using Kramers-Kroning analytical method when measuring the thin film under test from a distance between side bursts using a Fourier conversion infrared spectrometry method.
フーリエ変換赤外分光法を用いてサイドバースト間距離から被測定薄膜の膜厚を測定する際に、前記被測定薄膜の屈折率をKramers-Kroning 解析法を用いて求めたことにある。 - 特許庁 - To provide a test pattern with which a circuit pattern can be inspected for defects with high sensitivity in a semiconductor manufacturing process, a method for detecting defect, and a method for managing manufacturing process both of which use the test pattern.
半導体製造プロセスにおける回路パターンの不良を高感度に検査可能なテストパターンと、これを用いた不良検出方法および製造プロセス管理方法を提供する。 - 特許庁 - The present invention refers to a test pattern 1, a set of test patterns and a method of evaluating the transfer properties of a pattern as well as a method of determining at least one parameter of a transfer process.
転移処理の少なくとも一つのパラメータを決める方法と同様に，テストパターン１，テストパターンの集合，テストパターンの転移特性を評価する方法についても言及している。 - 特許庁 - To provide a method of analyzing a medical appliance operation efficiency which can shorten a test processing time and a test latency time sharply, and to provide a method of supporting a medical appliance operation plan planning.
検査処理時間と検査待ち時間を大幅に短縮することが可能な医療機器稼動効率分析方法と医療機器稼動計画立案支援方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface treatment method for applying galvanization capable of preventing hydrogen release from a test piece in which hydrogen is stored, in a test method for evaluating hydrogen embrittlement resistance characteristic.
耐水素脆化特性を評価する試験方法において、水素を吸蔵させた試験片からの水素放出を防止できる亜鉛めっきを施す表面処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an antibody test method and an antibody specifying method using a lymphocyte used when a pathogen is a bacterium or a virus, and capable of shortening a test time.
病原体が細菌またはウイルスの場合に利用でき、検査時間の短縮を図ることができるリンパ球を利用した抗体検査方法および病原体特定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for performing a tensile test of a sample in a loaded state where the load is applied or reduced, more particularly, a peak excess loading device and method in a creep rupture test.
印加及び低減される荷重状態で試料を引張試験する装置及び方法、より詳細には、クリープ破断試験におけるピーク超過載荷装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a penetration test machine and method capable of surely hearing and recording sound propagating through a penetration rod in a penetration test.
貫入試験において貫入ロッドを伝播する音を確実に聴取して記録することができる貫入試験機および貫入試験方法の提供。 - 特許庁 - In one embodiment, this method measures a plurality of transient currents by an instrument, electrically connected to an electrochemical test piece by using a test piece.
一態様において、本方法は、試験片を用いて、電気化学的試験片と電気的に接続した計器により複数の過渡電流を測定する。 - 特許庁 - To provide a tensile test method and a device capable of performing inexpensively a test in a low speed area, in a tensile tester of a Hopkinson bar system.
ホプキンソンバー方式の引張り試験機において、安価に低速域の試験も行える引張り試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor device and a test method wherein different kinds of chips can be properly tested by using a jig for test which is constituted of a common probe card.
異なる品種のチップを共通のプローブカードからなるテスト用治工具により適切にテストできる半導体装置およびテスト方法を得る。 - 特許庁 - To provide a device and method for a water pressure test of a tire which is advantageous for executing a test of high accuracy, while improving workability.
作業性の向上を図りつつ精度の高い試験を実施する上で有利なタイヤ水圧試験装置およびタイヤ水圧試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a diagnosing method by using a bi-digital O-ring test, by which the bi-digital O-ring test is performed even unless a subject directly faces an inspector.
被検者が検者と直接相対しなくてもバイデジタルＯ−リングテストを可能としたバイデジタルＯ−リングテストによる診断方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a control method contributing to the enhancement of precision by sensing eccentric loading during a test and correcting it, in a compression strength test of concrete.
コンクリートの圧縮強度試験において、試験中の偏心載荷を感知して修正することにより精度向上に寄与する管理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile memory test method and a memory test device capable of giving stress to a reading circuit as well as to a data holding part.
データ保持部だけでなく、読出し回路にも同じようにストレスを与えることができる不揮発性メモリの試験方法及びメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To settle the defects of conventional soft agar colony forming test methods so as to provide a simple and sure antitumor agent sensibility screening method replacing the conventional test methods.
従来の軟寒天コロニー形成試験法の欠点を解決し、それに代わる簡便・確実な抗癌剤感受性スクリーニング方法を提供する。 - 特許庁 - To provide test data compression method applicable to System-on Chip (SoC) which can attain maximum compression, while shortening the test run time.
試験実行時間を短縮するとともに最大圧縮を達成可能な、システムオンチップ（ＳｏＣ；System-on Chip）チップに適用可能なデータ圧縮方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and its test method in which a defect relieving process using an anti-fuse and a time required for its test process can be shortened.
アンチヒューズを用いた不良救済工程及びそのテスト工程に要する時間を短縮できる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and a circuit testing method, which can perform the test for all clock cycles without omission, without decreasing the operational clock frequency.
動作クロック周波数を落とさずに全てのクロックサイクルについてのテストを漏らさずに行うことが可能なテスト回路及び回路テスト方法を提供すること。 - 特許庁 - Furthermore, as another test method, voltages are simultaneously applied to the test pads 2 to the circuit blocks which are not adjacent to each other to detect the current value.
更に別の試験方法として、互いに隣接していない回路ブロックへの試験パッド２に同時に電圧を印加して、電流値を検出する。 - 特許庁 - To provide a road noise test road enabling the easy evaluation of road noise by increasing the sound pressure level of the road noise and also provide a road noise test method.
新設した試験路においてロードノイズの音圧レベルを増加させ、ロードノイズを評価し易くすることが可能なロードノイズ試験路及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a scenario creation program, a scenario creation device and a scenario creation method which create test data for correctly determining the success/failure of a test.
テストの合否判定を正しく行うことができるテストデータを作成するシナリオ作成プログラム、シナリオ作成装置およびシナリオ作成方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a tank pipe pressure test method and a tank pipe pressure testing device by a leak test, by filling water requiring only a small load from the viewpoint of cost and processes.
費用面と工程面の負担が少なくて済む水張り試験によるタンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To realize a test system and a charging method of the test system, which have a superior efficiency of fund and can automatically carry out charging while maintaining secrecy.
機密性を維持しつつ、資金効率がよく、自動的に課金が行えるテストシステム及びテストシステムの課金方法を実現することを目的にする。 - 特許庁 - To provide a system and a method for subscriber line digital continuity test which efficiently perform a subscriber line digital continuity test.
加入者線ディジタル導通試験を効率良く行うことができる加入者線ディジタル導通試験システム及びその導通試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method and a test circuit of a differential buffer for simplifying a constitution, and evaluating an offset voltage and a differential voltage of a differential signal.
簡単な構成で差動信号のオフセット電圧と差動電圧の評価を行うことができる差動バッファのテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.
検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of generating a test pattern capable of conducting a dynamic test for each path in a semiconductor integrated circuit including a memory circuit.
メモリ回路を含む半導体集積回路の各パスの動的な試験を行うことが可能となるテストパターン生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a probe card and a test method capable of efficiently executing the successive test, with respect to the chips formed on a wafer.
ウエハに形成されたチップに対して連続的に行う試験を、効率的に行うことが可能となるプローブカードおよび試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sensory test device and a sensory test method, which can set an optimum pass/fail determination criterion with the small number of learning samples.
少ない学習用のサンプルで最適な良否判定基準を定めることを可能とした官能検査装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a new method for identifying and inserting test points in register transfer level RTL for reducing the volume of scan-base transition test patterns.
スキャンベースの遷移試験パターンの量を減らすためにレジスタ転送レベルＲＴＬで試験点を識別し、挿入する新しい方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an AC test facilitating circuit and an AC test method enabling easy measuring AC of any semiconductor devices.
どのような半導体装置であってもＡＣ測定を容易に行うことができるＡＣテスト容易化回路およびＡＣテスト方法を提供することにある。 - 特許庁 - At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.
このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁 - To provide a test case designing support method for a software system which can test important functions preferentially and selectively.
本発明では、状況に応じて重要な機能を優先的かつ重点的にテストできるような、ソフトウェアシステムのテストケース設計支援方法の提供。 - 特許庁 - To achieve a design method for facilitating tests which can design an integrated circuit which has optimum size and is superior in processing efficiency and test cost during scan test.
最適な規模を有し、スキャンテストの際の処理効率およびテストコストに優れた集積回路を設計可能なテスト容易化設計方法を得ること。 - 特許庁 - To provide a circuit opening test system and circuit opening testing method which permit elimination of a waiting time for an opening test even when the opening tests overlap with each other.
開通試験が重なっても、開通試験の待ち時間を無くすことを可能にする回線開通試験システムおよび回線開通試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and program for supporting the determination of how much resources should be assigned, and how those resources should be assigned to the test of a software system as a test plan.
ソフトウェアシステムのテストにどれだけのリソースをどのように割り当てるべきかを、テスト計画として決定することを支援する方法およびプログラムの提供。 - 特許庁 - To provide a flat display inspecting method capable of performing a visual test and a gross test successively with a single apparatus, and to provide a unit for flat display inspection.
ビジュアルテスト及びグロステストを一つの装備で順次に行える平板型ディスプレイ検査方法及び平板型ディスプレイ検査用ユニットを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing the corrosion resistance of a work, capable of executing a stable corrosion resistance test in a high test accelerative manner, and to provide an apparatus for testing corrosion resistance.
高い試験加速性をもって安定した耐食試験を実施することのできるワークの耐食試験方法および耐食試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for setting an inexpensive test environment in which a communication test of mobile communication terminal can be carried out.
低コストで移動通信端末の通信試験を行うことが可能な試験環境設定装置及び試験環境設定方法を提供すること。 - 特許庁 - In this method of manufacturing the high-purity gas-filled vessel, the high-purity gas-filled vessel is pressured in a test by hydraulic pressure in a pressure test process.
高純度ガス充填容器の製造方法において、耐圧試験工程では、高純度ガス充填容器に対して水圧による耐圧試験を行う。 - 特許庁 - As one or more test models do not depend on an environmental model, this problem will be solved by the method of testing simultaneously with the environmental model in test operation.
１つないしは複数のテストモデルは環境モデルに依存せず、テスト動作時には環境モデルと同時に実行する方法によって解決される。 - 特許庁 - A plurality of transient currents is measured by an instrument connected electrically to an electrochemical test piece, using the test piece, in one embodiment in this method of the present invention.
一態様において、本方法は、試験片を用いて、電気化学的試験片と電気的に接続した計器により複数の過渡電流を測定する。 - 特許庁 - The analyte test strip employed in the method includes a first port in fluidic communication with the sample-receiving chamber and proximate a platform portion of the analyte test strip.
この方法に使用される検体試験片は、サンプル受容チャンバと流体連絡し、検体試験片のプラットフォーム部に近接する第１のポートを備える。 - 特許庁 - To provide a storage device and its self-test method in which circuit correction can be prevented and a manufacturing cost can be reduced even when a test process is changed.
テスト工程の変更があった場合でも、回路修正を防止でき、製造コストを低減できる記憶装置およびその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
