REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF 赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁
TESTMETHOD OF POLYELECTROLYTE TYPE FUEL CELL, AND POLYELECTROLYTE TYPE FUEL CELL 高分子電解質型燃料電池の試験方法及び高分子電解質型燃料電池 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING HERBICIDAL ACTIVITY OF TEST COMPOUND USING CHANGE OF GENE EXPRESSION AS INDEX 遺伝子の発現の変化を指標とした、被験化合物の除草活性の評価方法。 - 特許庁
To provide an improved apparatus and method for the antibacterial susceptibility test of microorganisms. 微生物の抗菌感受性試験のための改良された装置及び方法の提供。 - 特許庁
FAIL INFORMATION TAKE-IN DEVICE, TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND ANALYZING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY フェイル情報取り込み装置、半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ解析方法 - 特許庁
To acquire an electronic documentation management system and the same method which raise the efficiency of a field test. フィールド試験の効率性を高めた電子文書管理システムおよび同方法を得る。 - 特許庁
To provide a built-in data transmitting device and method in a boundary scanning test interface. 境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法の提供。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING CONSTITUTION OF HARDWARE RESOURCE SPECIFIED IN TEST TEMPLATE 試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供する方法及び装置 - 特許庁
PHOTOINHIBITION EVALUATION DEVICE AND METHOD FOR MEASURING PHOTOINHIBITION RATE OF TEST SUBSTANCE 光線阻害能の評価装置および被験物質の光線阻害率を測定する方法 - 特許庁
To provide a method for testing an integrated circuit by using an automatic test device. 自動テスト装置12を使用して、集積回路10をテストする方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for determining the preference of a test subject for specific information. 特定の情報に対する被験者の嗜好性を判定する方法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING LIQUID ABSORPTION OF TEST LAYER IN ANALYZING 分析要素における試験層の液体吸収を検査するための方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THIS ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DETECTOR ERROR IN TEST WITH LIMITED ACCESS アクセスを制限したテストにおける検出器誤りを補正するための方法及び装置 - 特許庁
LOOPBACK TESTMETHOD USING HYBRID TRANSFORMER, AND LINE TERMINATOR USED FOR IT ハイブリッドトランスを用いた折返し試験方法、及びそれに用いられる回線終端装置 - 特許庁
METHOD FOR VERIFYING DISK DEFFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PREFORMING THE SAME ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
To provide a Young's modulus calculation, analysis and calibration method utilizing an instrumented indentation test. インストルメンテッドインデンテーション試験を利用したヤング率算出解析・較正法を提供する。 - 特許庁
To provide a system and method for graphically actuating a trigger in a test and measurement device. 試験測定装置にてトリガを図形的に作動させるシステム及び方法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND LABORATORY SYSTEM FOR HANDLING SAMPLE TEST TUBE, AND IMAGE ANALYZING UNIT 試料試験管を取り扱う方法および研究室システム並びに画像解析ユニット - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE 被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断/接続治具 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING EXPRESSION DEGREE OF ANTI-FUNGAL ACTION BY TEST SUBSTANCE THAT MIGRATED INTO TISSUE 組織内へ移行した被験物質による抗真菌作用の発現度合いの鑑別法 - 特許庁
CALIBRATION METHOD OF QUADRATURE MODULATION DEVICE, QUADRATURE MODULATION DEVICE, AND RADIO TERMINAL TEST DEVICE 直交変調装置の校正方法、直交変調装置および無線端末試験装置 - 特許庁
To improve a yield in a method of stress test of a nonvolatile semiconductor memory. 不揮発半導体記憶装置のストレス検査方法において歩留向上を目的とする。 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING SOIL BEARING WITH FIXED BEAM IN CAISSON WORK ROOM, AND SOIL BEARING TESTMETHOD ケーソン作業室における不動梁付き地耐力試験装置及び地耐力試験方法 - 特許庁
PRINTER, IMAGE PROCESSOR, PRINTING CONTROL METHOD, PROGRAM, TEST PATTERN DATA, AND RECORDING MEDIUM 印刷装置、情報処理装置、印刷制御方法、プログラム、テストパターンデータ及び記録媒体 - 特許庁
RECHARGEABLE ELECTRONIC TIMEPIECE AND CHARACTERISTIC TESTMETHOD OF POWER GENERATION MEANS OF RECHARGEABLE ELECTRONIC TIMEPIECE 充電式電子時計及び充電式電子時計の発電手段の特性テスト方法 - 特許庁
OPERATION TEST SYSTEM, AND JIG AND METHOD FOR ADJUSTING POSITION OF PROBE TERMINAL 動作試験装置、プローブ端子の位置調整用治具及びプローブ端子の位置調整方法 - 特許庁
METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁
SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT HAVING TEST CIRCUIT AND METHOD OF TESTING SELF-SYNCHRONIZATION LOGIC CIRCUIT テスト回路を有する自己同期型論理回路および自己同期型論理回路のテスト方法 - 特許庁
CONTROL TIMING TEST SYSTEM FOR ENCODER, AND CONTROL TIMING TESTING METHOD OF THE ENCODER エンコーダ装置の制御タイミング試験システム及びエンコーダ装置の制御タイミング試験方法 - 特許庁
TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER 半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST CIRCUIT DESIGNING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE 半導体集積回路装置および半導体集積回路装置のテスト回路設計方法 - 特許庁
To determine a primary water amount without performing a torque test in a dividing kneading and mixing method. 分割練り混ぜ工法においてトルク試験を行うことなく一次水量を決定する。 - 特許庁
GRINDING TOOL OF CONTACT PIN FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC AND TESTMETHOD FOR SEMICONDUCTOR IC 半導体ICのテスト用コンタクトピンの研磨治具及び半導体ICのテスト方法 - 特許庁
To provide a browser test system and a method for it capable of efficiently testing various browsers. 種々のブラウザを効率的にテストできるブラウザテストシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁
FLEXIBLE PRINTED CIRCUIT FOR HEAD GIMBAL ASSEMBLY, HEAD GIMBAL ASSEMBLY, AND TESTMETHOD OF SLIDER ヘッドジンバルアセンブリー用のフレキシブルプリント回路、ヘッドジンバルアセンブリー、およびスライダーの試験方法 - 特許庁
COMBUSTION GAS GENERATING METHOD, COMBUSTION GAS GENERATING DEVICE AND GAS SENSOR TEST DEVICE USING THE SAME 燃焼ガス発生方法、燃焼ガス発生装置およびそれを用いたガスセンサ試験装置 - 特許庁
To provide a data generation method that dynamically generates test data to be used in a model inspection. モデル検査で用いるテストデータを動的に生成するデータ生成方法を提供する。 - 特許庁
PRINTING METHOD AND DEVICE ON CASSETTE FOR HISTOLOGICAL SAMPLE OR TEST SAMPLE SUPPORT 組織学的標本のためのカセット又は被検試料支持体のプリント方法及び装置 - 特許庁
INSERT OPENING UNIT FOR TEST TRAY AND INSTALLATION METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE SAME テストトレイ用インサート開放ユニット及びこれを用いた半導体素子の装着方法 - 特許庁
AUTOMATIC COMMUNICATION PROTOCOL TEST SYSTEM HAVING MESSAGE/SEQUENCE COMPILATION FUNCTION AND TET METHOD メッセ—ジ/シ—ケンス編集機能を有する自動通信プロトコル試験システムおよび試験方法 - 特許庁
WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM 無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁
TESTPIECE HOLDER, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND HOLDING METHOD OF TESTPIECE 試料保持機,半導体製造装置,半導体検査装置、および試料の保持方法 - 特許庁
TEST RIG AND PARTICULATE DEPOSIT AND CLEANING EVALUATION METHOD USING THE SAME 試験リグ及び同装置を用いて微粒子堆積及び清浄化を評価する方法 - 特許庁
To improve reproducibility in a vehicle collision simulation test device and method thereof. 自動車衝突模擬試験装置及びその方法において、再現性を向上可能とする。 - 特許庁
METHOD FOR DECIDING PARAMETER FOR RADIO WAVE ENVIRONMENT IN RADIO TERMINAL TEST AND RADIO TERMINAL TESTING DEVICE 無線端末試験における電波環境のパラメータ決定方法、無線端末試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTMETHOD OF PRODUCT LOADING THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT 半導体集積回路および半導体集積回路を搭載した製品のテスト方法 - 特許庁
STANDARD MOLECULE USED FOR REAL-TIME PCR TEST AND METHOD FOR DETECTING THE STANDARD MOLECULE リアルタイムPCR検査に用いる標準分子及びその標準分子の検出法 - 特許庁
METHOD, SYSTEM, AND SOFTWARE FOR EVALUATING ADJUSTMENT FACTOR IN TEST PROCESS OR MONITOR PROCESS 試験プロセス又は監視プロセスにおいて調整因子を評価する方法、システム及びソフトウェア - 特許庁